JP2010540993A5 - - Google Patents

Claims (41)

1. 顕微鏡を操作する方法であって、
   励起光が試料の様々な点に送出され、
   前記励起光の強度が点固有に変更され、少なくとも１つのスペクトル域内で前記試料によって反射された前記光の強度が、点固有かつ定量的に測定され、
   前記試料の特定点に送出された前記励起光の前記強度と分光組成の少なくとも一方が、調整装置によって、前記点によって前記スペクトル域内で反射された前記光の推定強度と実際強度の少なくとも一方に関する前記試料の測定データから予め得られた情報に基づいて、画素ドウェル時間中にこの点によって前記スペクトル域内で反射された前記光の前記強度の積分が所定の値期間内になるように自動的に調整される顕微鏡を操作する方法。
2. 前記調整装置は、特定点の前記励起光の前記強度を、画素ドウェル時間中に前記点によって反射された前記光の前記強度の前記積分が、この点の信号基準が満たされたときだけ所定の値期間内になるように調整する、請求項１に記載の方法。
3. 前記励起光は、複数の異なる色素を励起するための複数の波長を含み、
   前記試料によって反射された前記光の前記強度は、複数の異なるスペクトル域内で測定される、請求項１に記載の方法。
4. 前記調整装置は、特定点に送出された前記励起光の強度を、前の画像内の前記点に関して検出された前記反射光の強度に基づいて調整する、請求項１に記載の方法。
5. 前記画素ドウェル時間中に点によって反射された前記光の前記強度の前記積分のための前記値期間が、使用検出器が最大感度と最大信号対雑音比で動作するように設定された、請求項１に記載の方法。
6. 前記調整は、特定点の前記励起光の前記強度が、画素ドウェル時間中に、前記調整プロセスの安定段階の後で最大限に一定になるように行われる、請求項１に記載の方法。
7. 前記調整装置は、前記特定点の前記励起光の前記強度を、画素ドウェル時間中に前記点によって反射された前記光の前記強度の前記積分が、この点の信号基準が満たされたときだけ所定の値期間内になるように調整する、請求項１に記載の方法。
8. 前記調整は、画素ドウェル時間中に、信号基準を満たす点、より詳細には全ての点によって反射された前記光の前記強度の前記積分が一定になるように行われる、請求項１に記載の方法。
9. 全ての点に同じ画素ドウェル時間が使用される、請求項１に記載の方法。
10. 信号基準が満たされた全ての点に同じ画素ドウェル時間が使用される、請求項１に記載の方法。
11. 特定点の前記信号基準は、前記点によって反射された前記光の推定強度と実際強度の少なくとも一方が、区別可能なバックグラウンドしきい値を越える場合に満たされる、請求項１に記載の方法。
12. 特定点の前記信号基準は、外部から供給された点固有信号が、所定の値を有するときに満たされる、請求項１に記載の方法。
13. 点によって反射された前記光の前記推定強度に関する前記情報が、前記点によって反射された前記光の前記強度の初期測定によって提供される、請求項１に記載の方法。
14. 前記調整装置は、特定点に送出された前記励起光の前記強度を、前の画像内のこの点に関して測定された前記反射光の強度に基づいて調整する、請求項１に記載の方法。
15. 点によって反射された前記光の前記推定強度に関する情報は、隣接点によって反射された前記光の前記強度の先行測定によって提供される、請求項１に記載の方法。
16. 個々の点によって反射された前記光の前記強度を大雑把に確認するために、試験パターンまたは試験スキャンが記録される、請求項１に記載の方法。
17. 前記試料が、パルス照明され、
    前記励起光のパルス繰返数が、前記試料が作成された前記色素の三重項緩和時間に適応された、請求項１に記載の方法。
18. 前記励起光は、複数の異なる色素を励起するための複数の波長を含み、
    前記試料によって反射された前記光の前記強度が、複数の異なるスペクトル域内で測定される、請求項１に記載の方法。
19. 前記試料の特定点に送出された前記励起光の前記強度と分光組成の少なくとも一方が、前記調整装置によって、前記試料の測定データから予め得られたような前記様々なスペクトル域内のこの点によって反射された前記光の推定強度または実際強度に関する情報に基づいて、前記画素ドウェル時間中に前記様々なスペクトル域内のこの点によって反射された前記光の前記強度の積分が、前記様々なスペクトル域に関して個々に区別可能な各場合に値期間内にあるように自動的に調整される、請求項１８に記載の方法。
20. 前記様々なスペクトル域に関して測定された前記強度が、前記それぞれの色素に関係する部分に分離され、
    前記分離は、前記スペクトル域内の前記位置と幅を考慮しながら前記様々な色素の前記放射スペクトルに関する既知情報に基づいて実行され、
    前記様々な色素のそれぞれに関して、重み係数が、スペクトル域に関係する前記それぞれの色素の少なくとも１つの強度部分からその都度決定される、請求項１８に記載の方法。
21. 前記様々なスペクトル域に関する前記値期間が、各色素の前記重み係数が値期間内にあるかまたは所定の値を有し、前記値期間または値が、様々な色素に関して個々に区別可能であるように決められた、請求項１９に記載の方法。
22. 顕微鏡であって、
    試料を微視的に調査する励起光を放射するための光源と、
    前記励起光の強度を変化させるための強度変調器と、
    前記励起光を前記試料の様々な点に導き、前記試料の前記様々な点によって反射された前記光を検出器に導くための顕微鏡光学素子とを含み、
    前記検出器が、少なくとも１つのスペクトル域内の前記試料によって反射された前記光の前記強度を点固有かつ定量的に検出し、
    前記強度変調器と前記検出器と協力して、前記試料の点に送出された前記励起光の前記強度と分光組成の少なくとも一方を、前記試料の測定データから予め得られ、この点によってスペクトル域内で反射された前記光の推定強度または実際強度に関する情報に基づいて、画素ドウェル時間中に、この点に関して前記検出器によって検出されたような前記スペクトル域内で反射された前記光の前記強度の積分が所定の値期間内になるように自動的に調整する調整装置が存在する顕微鏡。
23. 前記調整装置は、特定点に関する前記励起光の前記強度を、画素ドウェル時間中にこの点によって反射された前記光の前記強度の前記積分が、この点の信号基準が満たされたときだけ所定の値期間内になるように調整する、請求項２２に記載の顕微鏡。
24. 前記光源は、複数の異なる色素を励起するための複数の波長を有する励起光を放射し、
    複数のスペクトル域内の前記試料によって反射された前記光を定量的かつ点固有に決定するための複数の検出器が存在する、請求項２２に記載の顕微鏡。
25. 前記調整装置は、特定点に送出された前記励起光の前記強度を、前の画像内のこの点に関して決定されるように前記反射光の強度に基づいて調整する、請求項２２に記載の顕微鏡。
26. 前記顕微鏡は、走査顕微鏡、詳細には点走査顕微鏡である、請求項２２に記載の顕微鏡。
27. 前記顕微鏡は、線走査顕微鏡である、請求項２２に記載の顕微鏡。
28. 前記顕微鏡は、広視野顕微鏡である、請求項２２に記載の顕微鏡。
29. 前記顕微鏡は、蛍光顕微鏡である、請求項２２に記載の顕微鏡。
30. 前記強度変調器は、ＡＯＴＦ、ＡＯＭ、ポッケルス・セル、ファラデー・セルおよびカー・セルの少なくとも１つを有する、請求項２２に記載の顕微鏡。
31. 前記強度変調器は、空間光変調器を有する、請求項２２に記載の顕微鏡。
32. 前記空間光変調器は、検出ビーム経路から遠くに配置される、請求項３１に記載の顕微鏡。
33. 前記調整装置は、実時間コンピュータによって構成された、請求項２２に記載の顕微鏡
    。
34. 前記調整装置は、アナログ制御回路によって構成された、請求項２２に記載の顕微鏡。
35. 複数の異なる色素を励起する前記光源は、複数の波長を有する励起光を放射する、請求項２２に記載の顕微鏡。
36. 複数のスペクトル域内の前記試料によって反射された光を定量的かつ点固有に決定するための複数の検出器が存在する、請求項２２に記載の顕微鏡。
37. 請求項２２に記載されたような顕微鏡が使用される、請求項１に記載の方法。
38. 前記励起光は、試料の様々な点に集束される、請求項１に記載の方法。
39. 前記先行測定が、全く同一の走査プロセスで実行される、請求項１５に記載の方法。
40. 請求項１に記載の方法を実行するように設計された、請求項２２に記載の顕微鏡。
41. 全反射蛍光顕微鏡として設計された、請求項２９に記載の顕微鏡。