JP6427890B2 - 検出装置、顕微鏡および処理装置 - Google Patents
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特許文献1 特開2011−257691号公報
Claims (24)
- 対象物において非線形光学効果を生じさせる励起光を照射した場合に前記対象物が損傷した可能性があるか否かを検出する検出部を備え、
前記検出部は、前記対象物および前記対象物を支持する支持体の少なくとも一方の温度が予め定められた温度以上になったか否かを検出することにより前記対象物の損傷の可能性を検出する検出装置。 - 対象物において非線形光学効果を生じさせる励起光を照射した場合に前記対象物が損傷した可能性があるか否かを検出する検出部を備え、
前記検出部は、前記励起光の焦点を含む領域を撮像する撮像部を有する検出装置。 - 前記撮像部は、可視光帯域から近赤外帯域において感度を有する請求項2に記載の検出装置。
- 前記検出部は、前記撮像部の撮像画像における輝点の輝度が予め定めた閾値を超えた場合にアブレーションが発生したと判定する判定部を有する請求項2または3に記載の検出装置。
- 前記検出部は、前記撮像部の撮像画像における輝点のスペクトルパターンのピーク幅が拡がった場合にアブレーションが発生したと判定する判定部を有する請求項2から4のいずれか一項に記載の検出装置。
- 前記検出部は、前記撮像部の撮像画像における輝点の位置に基づいてアブレーションの発生位置を特定する特定部を備える請求項2から5のいずれか一項に記載の検出装置。
- 前記検出部は、前記撮像部の撮像画像における輝点の輝度に基づいてアブレーションの発生位置を特定する特定部を備える請求項2から6のいずれか一項に記載の検出装置。
- 前記検出部は、前記撮像部の撮像画像における輝点のスペクトルパターンと予め格納されているパターンとのマッチングに基づいて、当該輝点に対応するアブレーションの発生位置を特定する特定部を備える請求項2から6のいずれか一項に記載の検出装置。
- 前記対象物は、細胞、生体組織および微生物のいずれかを含む請求項1から8のいずれか一項に記載の検出装置。
- 前記検出部がアブレーションの発生を検出した場合に、当該アブレーションの発生位置を特定する特定部を更に備える請求項1に記載の検出装置。
- 前記検出部は、前記対象物および前記対象物を支持する支持体の少なくとも一方において発生したアブレーションを検出することにより前記対象物の損傷の可能性を検出する請求項1から10のいずれか一項に記載の検出装置。
- 前記対象物は、細胞シートを含む請求項1から11のいずれか一項に記載の検出装置。
- 前記対象物は、高分子材料により形成された部分を含む支持体により支持された状態で前記励起光を照射される請求項1から12までのいずれか一項に記載の検出装置。
- 前記検出部がアブレーションの発生を検出した場合に、前記対象物がアブレーションにより受けた損傷の程度を推定する推定部を更に備える請求項1から13のいずれか一項に記載の検出装置。
- 前記推定部は、一の前記対象物についてアブレーションの発生回数を計数して、当該発生回数が予め定めた閾値を超えた場合に、当該対象物が損傷を受けたと推定する請求項14に記載の検出装置。
- 前記推定部は、前記対象物を支持する支持体においてアブレーションが発生した場合に、当該支持体により支持された前記対象物が損傷を受けたと推定する請求項14または15に記載の検出装置。
- 前記推定部が推定した前記対象物の損傷の程度が予め定めた閾値を超えるまで、当該対象物に対する検出を継続する請求項14から16のいずれか一項に記載の検出装置。
- 請求項1から17までのいずれか一項に記載の検出装置を備え、
前記励起光を照射された前記対象物から射出された散乱光を検出して、当該対象物を観察する顕微鏡。 - 前記検出装置がアブレーションを検出した場合に、前記対象物に照射する前記励起光の強度を抑制する抑制部を備える請求項18に記載の顕微鏡。
- 請求項1から17までのいずれか一項に記載の検出装置を備え、前記検出装置が検出したアブレーションにより損傷を受けた前記対象物を除去する除去部を備える処理装置。
- 前記検出部がアブレーションの発生を検出した場合に、当該アブレーションの発生位置を特定する特定部を更に備え、
前記除去部は、前記特定部が特定したアブレーションの発生箇所を、前記対象物から部分的に除去する請求項20に記載の処理装置。 - 前記検出部がアブレーションの発生を検出した場合に、前記対象物がアブレーションにより受けた損傷の程度を推定する推定部を更に備え、
前記除去部は、前記推定部が損傷を受けたと推定した前記対象物を除去する請求項20または21に記載の処理装置。 - 前記推定部が推定した前記対象物の損傷の程度を、記録する記録部を更に備える請求項22に記載の処理装置。
- 前記記録部は、前記対象物を支持する支持体に記録する請求項23に記載の処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014024970A JP6427890B2 (ja) | 2014-02-13 | 2014-02-13 | 検出装置、顕微鏡および処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2015152370A JP2015152370A (ja) | 2015-08-24 |
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ID=53894801
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2014024970A Active JP6427890B2 (ja) | 2014-02-13 | 2014-02-13 | 検出装置、顕微鏡および処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6427890B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019035669A (ja) * | 2017-08-16 | 2019-03-07 | 株式会社ニコン | 観察装置および観察方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9321054D0 (en) * | 1993-10-09 | 1993-12-01 | Renishaw Plc | Raman spectroscopoc analysis |
EP1482293B1 (en) * | 2002-02-13 | 2016-11-09 | Riken | Method of evaluating non-linear optical crystal and device therefor and wavelength conversion method and device therefor |
WO2008038642A1 (fr) * | 2006-09-27 | 2008-04-03 | Riken | Procédé d'analyse d'échantillon et appareil d'analyse |
DE102008034137A1 (de) * | 2007-09-28 | 2009-04-02 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskops |
JP5147379B2 (ja) * | 2007-12-18 | 2013-02-20 | 花王株式会社 | メラニン分布可視化方法及びその装置 |
US20120050720A1 (en) * | 2009-05-11 | 2012-03-01 | Korea Research Institute Of Standards And Science | System for diagnosing pathological change of lipid in blood vessels using non-linear optical microscopy |
DE102011052686B4 (de) * | 2011-08-12 | 2013-09-05 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Einrichtung und Verfahren zum Verteilen von Beleuchtungslicht und Detektionslicht in einem Mikroskop in Abhängigkeit des jeweiligen Polarisierungszustands und Mikroskop mit einer solchen Einrichtung |
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Publication number | Publication date |
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JP2015152370A (ja) | 2015-08-24 |
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