JP2008165874A - 磁界分布測定装置、温度分布測定装置、磁界分布測定方法及び温度分布測定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定装置及び磁界分布測定方法と、光磁気記録媒体における磁区記録時のレーザビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定装置及び温度分布測定方法と、を提供する。
【解決手段】磁区が記録された光磁気記録媒体Ｍを偏光顕微鏡１で観察して得た画像データから階調度データを算出し、そして、当該階調度データから算出された磁界強度データに基づいて磁界分布を出力して、光磁気記録媒体Ｍに記録された磁区の磁界分布を測定するとともに、記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体Ｍを偏光顕微鏡１で観察して得た画像データから階調度データを算出し、当該階調度データから磁界強度データを算出し、そして、当該磁界強度データから算出された温度データに基づいて温度分布を出力して、光磁気記録媒体Ｍにおける磁区記録時のレーザビームスポット内の温度分布を測定するよう構成した。
【選択図】図１

Description

本発明は、磁気記録媒体における磁界分布測定装置及び磁界分布測定方法、光磁気記録媒体における温度分布測定装置及び温度分布測定方法に関する。

磁気記録媒体や光磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布は、微小磁区を形成する上で重要なパラメータになる。
また、光磁気記録媒体は、熱（記録用レーザビーム）と外部磁界とによって磁区を記録するため、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布も、微小磁区を形成する上で重要なパラメータになる。

しかしながら、現在、磁気記録媒体や光磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布や、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布は、シミュレーションによって得られているだけで、実測されていない。

ところで、例えば、情報（磁区）が記録された記録媒体の記録領域を、走査型プローブ顕微鏡により観察する方法（例えば、特許文献１参照）や、例えば、光磁気記録媒体に磁区を記録した後、偏光顕微鏡により磁区観察を行う方法（例えば、特許文献２参照）が提案されている。
また、磁気記録媒体の飽和記録磁界を測定する方法、磁気記録媒体に対する磁気ヘッドの飽和記録電流を測定する方法、磁気ヘッドの垂直磁界強度の分布を測定する方法が提案されている（例えば、特許文献３参照）。

また、産業プラントの機器材料の損傷や残留応力の状態などを評価するために、機器材料の磁気的性質を磁気センサにより検出することによって磁区の大きさを求める方法が提案されている（例えば、特許文献４参照）。
特開２００２−１３１２１２号公報 特開平０７ー３３４８７７号公報 特開平０５−１２８４４８号公報 特開平０５−２６４５１１号公報

しかしながら、特許文献１に開示された技術では、実測によって、記録媒体に対する磁界感度や熱的安定性の評価、磁区の形状の安定性を評価することはできるが、磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布や、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布は評価することができない。
また、特許文献２に開示された技術では、実測によって、磁区を観察することはできるが、磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布や、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布は評価することができない。
また、特許文献３に開示された技術では、実測によって、磁気記録用の磁気ヘッドの磁界変換効率等を評価することはできるが、磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布や、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布は評価することができない。
また、特許文献４に開示された技術は、実測によって、産業プラントの機器材料の磁区の状態変化を求めることはできるが、産業プラントの機器材料に対応した技術であるため、微小磁区が記録された磁気記録媒体や光磁気記録媒体に対応させるのは困難である。

本発明の課題は、磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定装置及び磁界分布測定方法と、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定装置及び温度分布測定方法と、を提供することにある。

上記課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、
磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定装置において、
磁区が記録された磁気記録媒体の表面を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影手段と、
前記撮影手段にて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出手段と、
前記階調度データ算出手段にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出手段と、
前記磁界強度データ算出手段にて得られた磁界強度データに基づいて、前記磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を出力する磁界分布出力手段と、
を備えることを特徴とする。

請求項２に記載の発明は、
光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定装置において、
前記記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体の表面におけるビームスポット内を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影手段と、
前記撮影手段にて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出手段と、
前記階調度データ算出手段にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出手段と、
前記磁界強度データ算出手段にて得られた磁界強度データから温度データを算出する温度データ算出手段と、
前記温度データ算出手段にて得られた温度データに基づいて、前記光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を出力する温度分布出力手段と、
を備えることを特徴とする。

請求項３に記載の発明は、
磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定方法において、
磁区が記録された磁気記録媒体の表面を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影ステップと、
前記撮影ステップにて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出ステップと、
前記階調度データ算出ステップにて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出ステップと、
前記磁界強度データ算出ステップにて得られた磁界強度データに基づいて、前記磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を出力する磁界分布出力ステップと、
を備えることを特徴とする。

請求項４に記載の発明は、
光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定方法において、
前記記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体の表面におけるビームスポット内を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影ステップと、
前記撮影ステップにて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出ステップと、
前記階調度データ算出ステップにて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出ステップと、
前記磁界強度データ算出ステップにて得られた磁界強度データから温度データを算出する温度データ算出ステップと、
前記温度データ算出ステップにて得られた温度データに基づいて、前記光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を出力する温度分布出力ステップと、
を備えることを特徴とする。

請求項１及び３に記載の発明によれば、磁区が記録された磁気記録媒体の表面を偏光顕微鏡により観察して画像データが撮影され、得られた画像データから階調度データが算出される。そして、階調度と磁界強度との間には、一定の相関関係があるため、階調度データから磁界強度データが算出できる。さらに、得られた磁界強度データに基づいて、磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布が出力される。
したがって、実際に磁気記録媒体を観察して得た結果を用いて、磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定することができる。

請求項２及び４に記載の発明によれば、記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体の表面におけるビームスポット内を偏光顕微鏡により観察して画像データが撮影され、得られた画像データから階調度データが算出される。そして、階調度と磁界強度との間には一定の相関関係があるため、階調度データから磁界強度データが算出できる。さらに、得られた磁界強度データから温度データが算出され、当該温度データに基づいて、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布が出力される。
したがって、実際に光磁気記録媒体を観察して得た結果を用いて、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定することができる。

以下、図を参照して、本発明にかかる磁気記録媒体における磁界分布測定装置及び磁界分布測定方法、光磁気記録媒体における温度分布測定装置及び温度分布測定方法の最良の形態を詳細に説明する。なお、発明の範囲は、図示例に限定されない。

＜磁界分布測定装置＞
まず、磁気記録媒体としての、例えば、図２に示す光磁気記録媒体Ｍに記録された磁区ｍｄの磁界分布Ｄ１を測定する磁界分布測定装置Ｅ１について、図１〜図５を参照して説明する。

光磁気記録媒体Ｍには、例えば、熱（記録用レーザビームＢ）と外部磁界とによって磁区ｍｄが記録される。
具体的には、光磁気記録媒体Ｍに記録用レーザビームＢを照射すると、その記録用レーザビームＢが照射された領域内は温度が上昇して保磁力が減少する。このときに外部磁界を与えると、記録用レーザビームＢが照射された領域内の磁化が反転するため、磁区ｍｄを記録することができる。
ここで、光磁気記録媒体Ｍに記録された磁区ｍｄは、例えば、底面及び上面の半径が「ｒ１」の円筒形をなしているとする。

光磁気記録媒体Ｍに記録された磁区ｍｄの磁界分布Ｄ１を測定する磁界分布測定装置Ｅ１は、例えば、図１に示すように、偏光顕微鏡１と、偏光顕微鏡１に接続された磁界分布測定部３と、などを備えて構成される。

偏光顕微鏡１は、例えば、磁界分布測定部３から入力される制御信号に従って、磁区ｍｄが記録された光磁気記録媒体Ｍの表面を観察して画像データを撮影し、そして、当該画像データを磁界分布測定部３に出力する。

具体的には、偏光顕微鏡１は、例えば、図１に示すように、観察用レーザビームを発光する発光部１１と、発光部１１により発光された観察用レーザビームを偏光する偏光板（ポラライザー）１２と、偏光板１２により偏光された観察用レーザビームを光磁気記録媒体Ｍへと導くとともに、光磁気記録媒体Ｍにより反射された観察用レーザビームを偏光板１４へと導くハーフミラー１３と、ハーフミラー１３により導かれた観察用レーザビームを偏光する偏光板（アナライザー）１４と、偏光板１４により偏光された観察用レーザビームに基づく画像データを撮影して磁界分布測定部３に出力するＣＣＤカメラ１５と、発光部１１により発光された観察用レーザビームがＣＣＤカメラ１５に到着するまでの光路上に配置された１又は複数の所定のレンズ（図示省略）と、などにより構成される。

磁界分布測定部３は、例えば、図１に示すように、ＣＰＵ（Central Processing Unit）３１と、ＲＡＭ（Random Access Memory）３２と、ＲＯＭ（Read Only Memory）３３と、表示部３４と、プリント出力部３５と、などを備えている。

ＣＰＵ３１は、例えば、ＲＯＭ３３に記憶された磁界分布測定部３用の各種処理プログラムに従って各種の制御動作を行う。

ＲＡＭ３２は、例えば、ＣＰＵ３１によって実行される処理プログラムなどを展開するためのプログラム格納領域や、入力データや上記処理プログラムが実行される際に生じる処理結果などを格納するデータ格納領域などを備える。

ＲＯＭ３３は、例えば、磁界分布測定部３で実行可能なシステムプログラム、当該システムプログラムで実行可能な各種処理プログラム、これら各種処理プログラムを実行する際に使用されるデータ、ＣＰＵ３１によって演算処理された処理結果のデータなどを記憶する。なお、プログラムは、コンピュータが読み取り可能なプログラムコードの形でＲＯＭ３３に記憶されている。

具体的には、ＲＯＭ３３は、例えば、図１に示すように、偏光顕微鏡制御プログラム３３１と、階調度データ算出プログラム３３２と、磁界強度データ算出プログラム３３３と、磁界分布出力制御プログラム３３４と、などを記憶している。

偏光顕微鏡制御プログラム３３１は、例えば、偏光顕微鏡１に制御信号を入力して、磁区ｍｄが記録された光磁気記録媒体Ｍの表面を観察させて画像データを撮影させ、そして、当該画像データを磁界分布測定部３に出力させる機能を、ＣＰＵ３１に実現させる。

ここで、磁区ｍｄが記録された光磁気記録媒体Ｍの表面に、偏光された観察用レーザビームを照射すると、磁区ｍｄの磁化の向きに応じて、観察用レーザビームの偏光面が回転する。
したがって、例えば、光磁気記録媒体Ｍに記録された磁化が上向きの磁区ｍｄを偏光顕微鏡１により観察して画像データを撮影すると、例えば、図２の左側に示すような画像データが撮影され、例えば、光磁気記録媒体Ｍに記録された磁化が下向きの磁区ｍｄを偏光顕微鏡１により観察して画像データを撮影すると、例えば、図２の右側に示すような、磁化が上向きの磁区ｍｄの画像データ（例えば、図２の左側の画像データ）よりも淡い色の画像データが撮影される。

さらに、磁化が上向きの磁区ｍｄと、磁化が下向きの磁区ｍｄと、が隣り合う場合、これらの磁区ｍｄ同士の境界付近の磁化の向きは、隣の磁区ｍｄの磁化の向きに影響されるため、隣の磁区ｍｄとの境界付近の磁界強度は、磁区ｍｄの中心付近の磁界強度よりも小さくなる。
したがって、例えば、光磁気記録媒体Ｍに記録された磁化が上向きの磁区ｍｄを偏光顕微鏡１により観察して画像データを撮影すると、例えば、図２の左側に示すような、隣の磁区ｍｄとの境界付近の色が、磁区ｍｄの中心付近よりも淡い色の画像データが撮影され、例えば、光磁気記録媒体Ｍに記録された磁化が下向きの磁区ｍｄを偏光顕微鏡１により観察して画像データを撮影すると、例えば、図２の右側に示すような、隣の磁区ｍｄとの境界付近の色が、磁区ｍｄの中心付近よりも濃い色の画像データが撮影される。

なお、撮影手段は、例えば、ＣＣＤカメラ１５と、偏光顕微鏡制御プログラム３３１を実行したＣＰＵ３１と、によって構成される。

階調度データ算出プログラム３３２は、例えば、偏光顕微鏡１のＣＣＤカメラ１５により撮影された画像データから階調度データを算出する機能を、ＣＰＵ３１に実現させる。

具体的には、ＣＰＵ３１は、例えば、偏光顕微鏡１により撮影された画像データに含まれる各ピクセルにおける画像の濃淡に関する情報に基づいて、各ピクセルの階調度データを算出する。
そして、ＣＰＵ３１により算出される階調度データに基づく階調度の段階は「０」〜「ｃ」の「ｃ＋１」段階（例えば、「０」〜「２５５」の「２５６」段階）であるとする。

ここで、ＣＰＵ３１により算出される階調度データに基づく階調度分布のうち、磁化が上向きの磁区ｍｄの階調度分布は、例えば、図３（ａ）に示すように、磁区ｍｄの中心に近づくほど階調度の値が低下する分布を示す。
一方、ＣＰＵ３１により算出される階調度データに基づく階調度分布のうち、磁化が下向きの磁区ｍｄの階調度分布は、例えば、図３（ｂ）に示すように、磁区ｍｄの中心に近づくほど階調度の値が増加する分布を示す。

ＣＰＵ３１は、かかる階調度データ算出プログラム３３２を実行することによって、階調度データ算出手段として機能する。

磁界強度データ算出プログラム３３３は、例えば、階調度データ算出プログラム３３２を実行したＣＰＵ３１により算出された階調度データから磁界強度データを算出する機能を、ＣＰＵ３１に実現させる。

具体的には、ＣＰＵ３１は、例えば、予め設定された階調度（Ｃ）と磁界強度（Ｈ）との関係式（Ｈ＝ｆ(Ｃ)）に基づいて、階調度データから磁界強度データを算出する。
ここで、階調度（Ｃ）と磁界強度（Ｈ）との関係式（Ｈ＝ｆ(Ｃ)）は、例えば、図４に示すように、階調度の値が中間（「ｃ／２」）である場合に、磁界強度が「０」となり、そして、階調度の値が中間から遠ざかるほど磁界強度が増加するように設定されている。

ＣＰＵ３１は、かかる磁界強度データ算出プログラム３３３を実行することによって、磁界強度データ算出手段として機能する。

磁界分布出力制御プログラム３３４は、例えば、表示部３４及び／又はプリント出力部３５に制御信号を入力して、磁界強度データ算出プログラム３３３を実行したＣＰＵ３１により算出された磁界強度データに基づいて、光磁気記録媒体Ｍに記録された磁区ｍｄの磁界分布Ｄ１を出力させる機能を、ＣＰＵ３１に実現させる。

ここで、出力される磁界分布Ｄ１のうち、磁化が上向きの磁区ｍｄの磁界分布Ｄ１は、例えば、図５（ａ）に示すように、磁区ｍｄの中心に近づくほど磁界強度が増加する磁界分布Ｄ１を示す。
また、出力される磁界分布Ｄ１のうち、磁化が下向きの磁区ｍｄの磁界分布Ｄ１は、例えば、図５（ｂ）に示すように、磁区ｍｄの中心に近づくほど磁界強度が増加する磁界分布Ｄ１を示す。

表示部３４は、例えば、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）パネルなどから構成され、例えば、ＣＰＵ３１から入力される制御信号に従って、所与の表示処理を行う。

プリント出力部３５は、例えば、給紙部（図示省略）と排紙部（図示省略）などを備え、例えば、ＣＰＵ３１から入力される制御信号に従って、所与のプリント出力処理を行う。

なお、磁界分布出力手段は、例えば、磁界分布出力制御プログラム３３４を実行したＣＰＵ３１と、表示部３４及び／又はプリント出力部３５と、によって構成される。

＜磁界分布測定方法＞
次に、磁界分布測定装置Ｅ１によって光磁気記録媒体Ｍに記録された磁区ｍｄの磁界分布Ｄ１を測定する磁界分布測定方法について、図６に示すフローチャートを参照して説明する。

まず、磁界分布測定部３のＣＰＵ３１は、偏光顕微鏡制御プログラム３３１を実行して、偏光顕微鏡１に制御信号を入力して、磁区ｍｄが記録された光磁気記録媒体Ｍの表面を観察させて画像データを撮影させる（ステップＳ１１（撮影ステップ））。

ステップＳ１１（撮影ステップ）にて得られた画像データが磁界分布測定部３に入力されると、ＣＰＵ３１は、階調度データ算出プログラム３３２を実行して、当該画像データから階調度データを算出する（ステップＳ１２（階調度データ算出ステップ））。

次いで、ＣＰＵ３１は、磁界強度データ算出プログラム３３３を実行して、ステップＳ１２（階調度データ算出ステップ）にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する（ステップＳ１３（磁界強度データ算出ステップ））。

次いで、ＣＰＵ３１は、磁界分布出力制御プログラム３３４を実行して、表示部３４及び／又はプリント出力部３５に制御信号を入力して、ステップＳ１３（磁界強度データ算出ステップ）にて得られた磁界強度データに基づいて、光磁気記録媒体Ｍに記録された磁区ｍｄの磁界分布Ｄ１を出力させ（ステップＳ１４（磁界分布出力ステップ））、本処理を終了する。

＜温度分布測定装置＞
次に、光磁気記録媒体Ｍにおける記録用レーザビームＢのビームスポット内の温度分布Ｄ２を測定する温度分布測定装置Ｅ２について、図７〜図１２を参照して説明する。
なお、温度分布測定装置Ｅ２においては、磁界分布測定装置Ｅ１（図１）の構成と異なる箇所のみについて説明し、その他の共通する部分は同一符号を付して説明する。

磁区ｍｄ記録時（記録用レーザビームＢ照射時）の、光磁気記録媒体Ｍにおける記録用レーザビームＢのビームスポット内の温度分布Ｄ２を測定する温度分布測定装置Ｅ２は、例えば、図７に示すように、偏光顕微鏡１と、記録用レーザビーム照射部５と、偏光顕微鏡１と記録用レーザビーム照射部５とに接続された温度分布測定部７と、などを備えて構成される。

偏光顕微鏡１は、例えば、温度分布測定部７から入力される制御信号に従って、記録用レーザビームＢ照射中の光磁気記録媒体Ｍの表面におけるビームスポット内を観察して画像データを撮影し、そして、当該画像データを温度分布測定部７に出力する。

記録用レーザビーム照射部５は、例えば、温度分布測定部７から入力される制御信号に従って、光磁気記録媒体Ｍに記録用レーザビームＢを照射する。

具体的には、記録用レーザビーム照射部５は、例えば、記録用レーザビームＢを発光する発光部５１と、発光部５１により発光された記録用レーザビームＢを光磁気記録媒体Ｍへと反射する反射板５２と、などにより構成される。
ここで、光磁気記録媒体Ｍにおける記録用レーザビームＢのビームスポット半径は、例えば、「ｒ２」であるとする。
また、反射板５２は、例えば、偏光顕微鏡１の発光部１１により発光された観察用レーザビームは透過するようになっている。

なお、偏光顕微鏡１の発光部１１により発光される観察用レーザビームと、記録用レーザビーム照射部５の発光部５１により発光される記録用レーザビームＢとは、波長が異なるため、記録用レーザビームＢは、偏光顕微鏡１での観察に影響を及ぼさないようになっている。

温度分布測定部７は、例えば、図７に示すように、ＣＰＵ７１と、ＲＡＭ７２と、ＲＯＭ７３と、表示部３４と、プリント出力部３５と、などを備えている。

ＣＰＵ７１は、例えば、ＲＯＭ７３に記憶された温度分布測定部７用の各種処理プログラムに従って各種の制御動作を行う。

ＲＡＭ７２は、例えば、ＣＰＵ７１によって実行される処理プログラムなどを展開するためのプログラム格納領域や、入力データや上記処理プログラムが実行される際に生じる処理結果などを格納するデータ格納領域などを備える。

ＲＯＭ７３は、例えば、温度分布測定部７で実行可能なシステムプログラム、当該システムプログラムで実行可能な各種処理プログラム、これら各種処理プログラムを実行する際に使用されるデータ、ＣＰＵ７１によって演算処理された処理結果のデータなどを記憶する。なお、プログラムは、コンピュータが読み取り可能なプログラムコードの形でＲＯＭ７３に記憶されている。

具体的には、ＲＯＭ７３は、例えば、図７に示すように、偏光顕微鏡制御プログラム７３１と、記録用レーザビーム照射部制御プログラム７３２と、階調度データ算出プログラム７３３と、磁界強度データ算出プログラム７３４と、温度データ算出プログラム７３５と、温度分布出力制御プログラム７３６と、などを記憶している。

偏光顕微鏡制御プログラム７３１は、例えば、偏光顕微鏡１に制御信号を入力して、記録用レーザビームＢ照射中の光磁気記録媒体Ｍの表面におけるビームスポット内を観察させて画像データを撮影させ、そして、当該画像データを温度分布測定部７に出力させる機能を、ＣＰＵ７１に実現させる。

具体的には、ＣＰＵ７１は、例えば、記録用レーザビーム照射部制御プログラム７３２を実行したＣＰＵ７１により制御された記録用レーザビーム照射部５の発光部５１による記録用レーザビームＢの発光に同期させて、ＣＣＤカメラ１５に画像データを撮影させる。すなわち、ＣＰＵ７１は、例えば、光磁気記録媒体Ｍに記録用レーザビームＢが照射された瞬間の画像データを、ＣＣＤカメラ１５に撮影させる。

ここで、光磁気記録媒体Ｍに記録用レーザビームＢを照射すると保磁力が減少するが、これは、記録用レーザビームＢ照射領域の温度の上昇に伴って、磁化の向きが一方向に揃わなくなるためである。すなわち、光磁気記録媒体Ｍに記録用レーザビームＢを照射すると、記録用レーザビームＢ照射領域の磁界強度が減少する。
したがって、例えば、磁化の向きが一定方向（例えば、下向き）に揃っている光磁気記録媒体Ｍの表面を偏光顕微鏡１により観察して画像データを撮影すると、記録用レーザビームＢが照射されていないときは、例えば、図８（ａ）に示すような最も淡い色の画像データが撮影され、記録用レーザビームＢが照射された瞬間は、例えば、図８（ｂ）に示すような、記録用レーザビームＢが照射されていないときの画像データ（例えば、図８（ａ）の画像データ）よりも濃い色の画像データが撮影される。

さらに、一般に、レーザビームのビームスポット内では、ビームスポットの中心に近づくにつれて温度が上昇することが知られている。すなわち、光磁気記録媒体Ｍの表面に記録用レーザビームＢを照射すると、ビームスポットの中心に近づくほど、磁化の向きが一方向に揃わなくなり、磁界強度が減少することになる。
したがって、例えば、記録用レーザビームＢ照射中の光磁気記録媒体Ｍの表面におけるビームスポット内を偏光顕微鏡１により観察して画像データを撮影すると、例えば、図８（ｂ）に示すような、ビームスポットの中心に近づくほど色が濃くなる画像データが撮影される。

記録用レーザビーム照射部制御プログラム７３２は、例えば、記録用レーザビーム照射部５に制御信号を入力して、光磁気記録媒体Ｍに記録用レーザビームＢを照射させる機能を、ＣＰＵ７１に実現させる。

なお、撮影手段は、例えば、ＣＣＤカメラ１５と、記録用レーザビーム照射部５と、偏光顕微鏡制御プログラム７３１を実行したＣＰＵ７１と、記録用レーザビーム照射部制御プログラム７３２を実行したＣＰＵ７１と、によって構成される。

階調度データ算出プログラム７３３は、偏光顕微鏡１のＣＣＤカメラ１５により撮影された画像データから階調度データを算出する機能を、ＣＰＵ７１に実現させる。

具体的には、ＣＰＵ７１は、例えば、偏光顕微鏡１により撮影された画像データに含まれる各ピクセルにおける画像の濃淡に関する情報に基づいて、各ピクセルの階調度データを算出する。
そして、ＣＰＵ７１により算出される階調度データに基づく階調度の段階は「ｃ＋１」段階（例えば、「２５６」段階）であるとする。

ここで、ＣＰＵ７１により算出される階調度データに基づく、記録用レーザビームＢ照射中の光磁気記録媒体Ｍの表面におけるビームスポット内の階調度分布は、例えば、図９に示すように、ビームスポットの中心に近づくほど階調度の値が減少する分布を示す。

ＣＰＵ７１は、かかる階調度データ算出プログラム７３３を実行することによって、階調度データ算出手段として機能する。

磁界強度データ算出プログラム７３４は、例えば、階調度データ算出プログラム７３３を実行したＣＰＵ７１により算出された階調度データから磁界強度データを算出する機能を、ＣＰＵ７１に実現させる。

具体的には、ＣＰＵ７１は、例えば、予め設定された階調度（Ｃ）と磁界強度（Ｈ）との関係式（例えば、図４に示すＨ＝ｆ(Ｃ)）に基づいて、階調度データから磁界強度データを算出する。

ここで、ＣＰＵ７１により算出される磁界強度データに基づく、記録用レーザビームＢ照射中の光磁気記録媒体Ｍの表面におけるビームスポット内の磁界分布Ｄ１は、例えば、図１０に示すように、レーザビームスポットの中心に近づくほど階調度が減少する分布を示す。

ＣＰＵ７１は、かかる磁界強度算出プログラム７３４を実行することによって、磁界強度算出手段として機能する。

温度データ算出プログラム７３５は、例えば、磁界強度データ算出プログラム７３４を実行したＣＰＵ７１により算出された磁界強度データから温度データを算出する機能を、ＣＰＵ７１に実現させる。

具体的には、ＣＰＵ７１は、例えば、予め設定された磁界強度（Ｈ）とビームスポット内温度（Ｔ）との関係式（Ｔ＝ｆ(Ｈ)）に基づいて、磁界強度データから温度データを算出する。
ここで、磁界強度（Ｈ）とビームスポット内温度（Ｔ）との関係式（Ｔ＝ｆ(Ｈ)）は、例えば、図１１に示すように、磁界強度が増加するほどビームスポット内温度が減少するように設定されている。

ＣＰＵ７１は、かかる温度データ算出プログラム７３５を実行することによって、温度データ算出手段として機能する。

温度分布出力制御プログラム７３６は、例えば、表示部３４及び／又はプリント出力部３５に制御信号を入力して、温度データ算出プログラム７３５を実行したＣＰＵ７１より算出された温度データに基づいて、光磁気記録媒体Ｍにおける記録用レーザビームＢのビームスポット内の温度分布Ｄ２を出力させる機能を、ＣＰＵ７１に実現させる。

ここで、出力される記録用レーザビームＢ照射中の光磁気記録媒体Ｍの表面におけるビームスポット内の温度分布Ｄ２は、例えば、図１２に示すように、ビームスポットの中心に近づくほど温度が増加する温度分布Ｄ２を示す。

なお、温度分布出力手段は、例えば、温度分布出力制御プログラム７３６を実行したＣＰＵ７１と、表示部３４及び／又はプリント出力部３５と、によって構成される。

＜温度分布測定方法＞
次に、温度分布測定装置Ｅ２によって光磁気記録媒体Ｍにおける記録用レーザビームＢのビームスポット内の温度分布Ｄ２を測定する温度分布測定方法について、図１３に示すフローチャートを参照して説明する。

まず、温度分布測定部７のＣＰＵ７１は、偏光顕微鏡制御プログラム７３１を実行して、偏光顕微鏡１に制御信号を入力するとともに、記録用レーザビーム照射部制御プログラム７３２を実行して、記録用レーザビーム照射部５に制御信号を入力して、記録用レーザビームＢ照射中の光磁気記録媒体Ｍの表面におけるビームスポット内を観察させて画像データを撮影させる（ステップＳ３１（撮影ステップ））。

ステップＳ３１（撮影ステップ）にて撮影された画像データが温度分布測定部７に入力されると、ＣＰＵ７１は、階調度データ算出プログラム７３３を実行して、当該画像データから階調度データを算出する（ステップＳ３２（階調度データ算出ステップ））。

次いで、ＣＰＵ７１は、磁界強度データ算出プログラム７３４を実行して、ステップＳ３２（階調度データ算出ステップ）にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する（ステップＳ３３（磁界強度データ算出ステップ））。

次いで、ＣＰＵ７１は、温度データ算出プログラム７３５を実行して、ステップＳ３３（磁界強度データ算出ステップ）にて得られた磁界強度データから温度データを算出する（ステップＳ３４（温度データ算出ステップ））。

次いで、ＣＰＵ７１は、温度分布出力制御プログラム７３６を実行して、表示部３４及び／又はプリント出力部３５に制御信号を入力して、ステップＳ３４（温度データ算出ステップ）にて得られた温度データに基づいて、光磁気記録媒体Ｍにおける記録用レーザビームＢのビームスポット内の温度分布Ｄ２を出力させ（ステップＳ３５（温度分布出力ステップ））、本処理を終了する。

以上説明した本発明の磁界分布測定装置Ｅ１及び磁界分布測定方法によれば、偏光顕微鏡１（ＣＣＤカメラ１５など）と偏光顕微鏡制御プログラム３３１を実行したＣＰＵ３１とが、磁区ｍｄが記録された光磁気記録媒体Ｍの表面を観察して画像データを撮影する撮影ステップ（ステップＳ１１）と、階調度データ算出プログラム３２２を実行したＣＰＵ３１が、撮影ステップ（ステップＳ１１）にて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出ステップ（ステップＳ１２）と、磁界強度データ算出プログラム３３３を実行したＣＰＵ３１が、階調度データ算出ステップ（ステップＳ１２）にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出ステップ（ステップＳ１３）と、磁界分布出力制御プログラム３３４を実行したＣＰＵ３１と表示部３４及び／又はプリント出力部３５とが、磁界強度データ算出ステップ（ステップＳ１３）にて得られた磁界強度データに基づいて、光磁気記録媒体Ｍに記録された磁区ｍｄの磁界分布を出力する磁界分布出力ステップ（ステップＳ１４）と、を備えている。
したがって、実際に光磁気記録媒体Ｍを観察して得た結果を用いて、光磁気記録媒体Ｍに記録された磁区ｍｄの磁界分布を測定することができる。

また、以上説明した本発明の温度分布測定装置Ｅ２及び温度分布測定方法によれば、偏光顕微鏡１（ＣＣＤカメラ１５など）と記録用レーザビーム照射部５と偏光顕微鏡制御プログラム７３１を実行したＣＰＵ７１と記録用レーザビーム照射部制御プログラム７３２を実行したＣＰＵ７１とが、記録用レーザビームＢ照射中の光磁気記録媒体Ｍの表面におけるビームスポット内を観察して画像データを撮影する撮影ステップ（ステップＳ３１）と、階調度データ算出プログラム７３３を実行したＣＰＵ７１が、撮影ステップ（ステップＳ３１）にて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出ステップ（ステップＳ３２）と、磁界強度データ算出プログラム７３４を実行したＣＰＵ７１が、階調度データ算出ステップ（ステップＳ３２）にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出ステップ（ステップＳ３３）と、温度データ算出プログラム７３５を実行したＣＰＵ７１が、磁界強度データ算出ステップ（ステップＳ３３）にて得られた磁界強度データから温度データを算出する温度データ算出ステップ（ステップＳ３４）と、温度分布出力制御プログラム７３６を実行したＣＰＵ７１が、温度データ算出ステップ（ステップＳ３４）にて得られた温度データに基づいて、光磁気記録媒体Ｍにおける記録用レーザビームＢのビームスポット内の温度分布Ｄ２を出力する温度分布出力ステップ（ステップＳ３５）と、を備えている。
したがって、実際に光磁気記録媒体Ｍを観察して得た結果を用いて、光磁気記録媒体Ｍにおける記録用レーザビームＢのビームスポット内の温度分布Ｄ２を測定することができる。

なお、本発明は、上記した実施の形態のものに限るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。

磁界分布測定方法を光磁気記録媒体Ｍに適用するようにしたが、磁界分布測定方法は、磁区ｍｄが記録された記録媒体であれば、光磁気記録媒体Ｍであっても、磁気記録媒体であっても、適用可能である。

光磁気記録媒体Ｍに記録された磁区ｍｄの磁界分布Ｄ１（例えば、図５）や、光磁気記録媒体Ｍにおける記録用レーザビームＢのビームスポット内の温度分布Ｄ２（例えば、図１２）を、二次元の分布で出力するようにしたが、例えば、三次元の分布で出力するようにしてもよい。

光磁気記録媒体Ｍに記録された磁区の形状は、円筒形の限りではなく、任意である。

図２〜図５や図８〜図１２に示した画像データの図、分布図は、この限りではなく、その要旨を逸脱しない範囲で任意である。

光磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定するための、磁界分布測定装置の構成を示す図である。 光磁気記録媒体に記録された磁区の模式図と、磁化が上向きの磁区を撮影して得た画像データと、磁化が下向きの磁区を撮影して得た画像データと、を示す図である。 磁化が上向きの磁区の画像データから得た階調度分布を示す図（ａ）と、磁化が下向きの磁区の画像データから得た階調度分布を示す図（ｂ）である。 階調度と磁界強度の関係を示す図である。 磁化が上向きの磁区の磁界分布を示す図（ａ）と、磁化が下向きの磁区の磁界分布を示す図（ｂ）である。 磁界分布測定装置によって光磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定方法を説明するためのフローチャートである。 光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定するための温度分布測定装置の構成を示す図である。 記録用レーザビームが照射されていない光磁気記録媒体を撮影して得た画像データ（ａ）と、記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体におけるビームスポット内を撮影して得た画像データ（ｂ）である。 記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体におけるビームスポット内の画像データから得た階調度分布を示す図である。 記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体におけるビームスポット内の磁界分布を示す図である。 磁界強度とビームスポット内温度の関係を示す図である。 記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体におけるビームスポット内の温度分布を示す図である。 温度分布測定装置によって光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定方法を説明するためのフローチャートである。

符号の説明

１ 偏光顕微鏡
５ 記録用レーザビーム照射部（撮影手段）
１５ ＣＣＤカメラ（撮影手段）
３１ ＣＰＵ（撮影手段、階調度データ算出手段、磁界強度データ算出手段、磁界分布出力手段）
７１ ＣＰＵ（撮影手段、階調度データ算出手段、磁界強度算出手段、温度データ算出手段、温度分布出力手段）
３４ 表示部（磁界分布出力手段、温度分布出力手段）
３５ プリント出力部（磁界分布出力手段、温度分布出力手段）
３３１ 偏光顕微鏡制御プログラム（撮影手段）
３３２ 階調度データ算出プログラム（階調度データ算出手段）
３３３ 磁界強度データ算出プログラム（磁界強度データ算出手段）
３３４ 磁界分布出力制御プログラム（磁界分布出力手段）
７３１ 偏光顕微鏡制御プログラム（撮影手段）
７３２ 記録用レーザビーム照射部制御プログラム（撮影手段）
７３３ 階調度データ算出プログラム（階調度データ算出手段）
７３４ 磁界強度算出プログラム（磁界強度算出手段）
７３５ 温度データ算出プログラム（温度データ算出手段）
７３６ 温度分布出力制御プログラム（温度分布出力手段）
Ｂ 記録用レーザビーム
Ｄ１ 磁界分布
Ｄ２ 温度分布
Ｅ１ 磁界分布測定装置
Ｅ２ 温度分布測定装置
Ｍ 光磁気記録媒体（磁気記録媒体）
ｍｄ 磁区

Claims (4)

1. 磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定装置において、
   磁区が記録された磁気記録媒体の表面を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影手段と、
   前記撮影手段にて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出手段と、
   前記階調度データ算出手段にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出手段と、
   前記磁界強度データ算出手段にて得られた磁界強度データに基づいて、前記磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を出力する磁界分布出力手段と、
   を備えることを特徴とする磁界分布測定装置。
2. 光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定装置において、
   前記記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体の表面におけるビームスポット内を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影手段と、
   前記撮影手段にて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出手段と、
   前記階調度データ算出手段にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出手段と、
   前記磁界強度データ算出手段にて得られた磁界強度データから温度データを算出する温度データ算出手段と、
   前記温度データ算出手段にて得られた温度データに基づいて、前記光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を出力する温度分布出力手段と、
   を備えることを特徴とする温度分布測定装置。
3. 磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定方法において、
   磁区が記録された磁気記録媒体の表面を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影ステップと、
   前記撮影ステップにて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出ステップと、
   前記階調度データ算出ステップにて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出ステップと、
   前記磁界強度データ算出ステップにて得られた磁界強度データに基づいて、前記磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を出力する磁界分布出力ステップと、
   を備えることを特徴とする磁界分布測定方法。
4. 光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定方法において、
   前記記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体の表面におけるビームスポット内を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影ステップと、
   前記撮影ステップにて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出ステップと、
   前記階調度データ算出ステップにて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出ステップと、
   前記磁界強度データ算出ステップにて得られた磁界強度データから温度データを算出する温度データ算出ステップと、
   前記温度データ算出ステップにて得られた温度データに基づいて、前記光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を出力する温度分布出力ステップと、
   を備えることを特徴とする温度分布測定方法。