JP2005291720A - 蛍光検出装置、濃淡情報補正方法および濃淡情報補正プログラム - Google Patents

蛍光検出装置、濃淡情報補正方法および濃淡情報補正プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP2005291720A
JP2005291720A JP2004102602A JP2004102602A JP2005291720A JP 2005291720 A JP2005291720 A JP 2005291720A JP 2004102602 A JP2004102602 A JP 2004102602A JP 2004102602 A JP2004102602 A JP 2004102602A JP 2005291720 A JP2005291720 A JP 2005291720A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
information
sensitivity
amplification factor
sample
density information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2004102602A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuya Koike
鉄也 小池
Sukehito Arai
祐仁 荒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2004102602A priority Critical patent/JP2005291720A/ja
Publication of JP2005291720A publication Critical patent/JP2005291720A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

【課題】 測定画像の画質に影響を及ぼす各種測定パラメータの設定を行うことなく、好適なコントラストで、かつ広いダイナミックレンジの画像が得られ、また、画像間の比較が容易な蛍光検出装置等を提供すること。
【解決手段】 レーザビームに基づく試料からの光信号を感知し電気信号に変換する手段と、光電変換における光信号に対する感度または電気信号への変換の増幅率を設定する手段と、試料を観察するのに最も適した濃淡情報の値を濃淡情報目標値として設定する手段と、感度または増幅率を一定にした際の、2次元走査のX−Y方向以外の3次元目情報に対応する濃淡情報を取得する手段と、現在設定されている感度または増幅率、設定された濃淡情報目標値、および取得した濃淡情報に基づいて、設定する感度または増幅率を調整する手段とを備える。
【選択図】 図1

Description

本発明は、点光源であるレーザビームで試料を2次元走査して得られた輝度情報等の濃淡情報から試料画像を形成する走査型共焦点レーザ顕微鏡等の蛍光検出装置ならびに該蛍光検出装置を用いた濃淡情報補正方法および該蛍光検出装置上で動作する濃淡情報補正プログラムに関し、特に、3次元方向における画像間のばらつきを補正する蛍光検出装置ならびに該蛍光検出装置を用いた濃淡情報補正方法および該蛍光検出装置上で動作する濃淡情報補正プログラムに関する。
従来、レーザ走査型顕微鏡は、レーザ光を走査光学系および対物レンズを介して標本のX軸およびY軸方向に走査しながら照射し、標本からの透過光や反射光または標本に発生する蛍光を、再び対物レンズおよび走査光学系を介して検出器で検出して透過光や反射光または蛍光の2次元の輝度情報を得ている。また、この輝度情報をX−Y走査位置に対応させてディスプレイなどに輝度の2次元分布として表示することによって、標本の蛍光像、透過像あるいは反射像を観察することも可能である。
このレーザ走査型顕微鏡のうち、走査型共焦点レーザ顕微鏡は、検出光学系の標本と共役な位置に、被測定光の回折限界程度の径を有した絞りを設けることにより、焦点の合っている面の情報のみを検出するものである。この走査型共焦点レーザ顕微鏡では、合焦面の情報だけを検出できるため、標本を傷付けることなく、光学杓な断層像、すなわち3次元情報を得ることができ、しかも、非合焦面の情報を排除することによって、非常にシャープな画像が得られる特徴を有している。
また、分光光学系を有するレーザ走査型顕微鏡では、標本からの蛍光をグレーティングにより分光し、分光された光の幅を可変可能なスリットを通して検出することもできる。このレーザ走査型顕微鏡では、ある幅の波長の情報のみを検出するため、多重染色時に各蛍光波長に、非常にシャープな画像が得られる特徴を有している。
このようなレーザ走査型顕微鏡において、好適なコントラストの画像を得るためには、検出器の感度、増幅回路の増幅率、オフセット減算回路のオフセット量などの測定パラメータを適宜調整する必要がある。この調整が適当でない場合、例えばオフセット量の設定が不十分な場合はオフセット成分がA/D変換回路のダイナミックレンジの大半を占めてしまったり、逆に信号成分までを減算してしまったりといった不具合を生じる。また、光電変換器の感度または増幅回路の増幅率を過大に設定すると、信号がA/D変換回路のダイナミックレンジを越えて飽和し、逆に過小に設定するとの振幅が不十分で測定対象が像として観察できない等の不具合を生じる。
このような従来のレーザ走査型顕微鏡では、得られた画像を目視しながら各測定パラメータの設定を順次調整していく方法がとられていた。そこで、入射光量に応じた電気信号を出力する回路の感度、増幅率、オフセット量などの測定パラメータを、ユーザが設定すること無く、好適なコントラストと広いダイナミックレンジの画像が得られるようにしたレーザ走査型顕微鏡が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。具体的には、光電変換素子の出力電流がリファレンス値と一致するように光電変換素子の感度をフィードバック制御し、その感度データを光量情報として取得するようにし、光電変換素子の感度調整範囲を最大限使用するようにしている。
特開平10−68657号公報
しかしながら、従来のレーザ走査型顕微鏡では、ダイナミックレンジを画素毎に調整しているため、2次元画像ではダイナミックレンジの均一化を実現できているが、3次元画像では画像毎にダイナミックレンジが違うため、画像毎の比較が難しいという問題点がある。
また、従来のレーザ走査型顕微鏡に分光光学系を装備し、分光画像を取得できるようにした場合、分光された光の幅毎の2次元画像では、ダイナミックレンジの調整を実現できているが、波長幅の2次元画像の間の比較が難しいという問題点がある。
本発明は、上記従来技術の欠点に鑑みてなされたもので、測定画像の画質に影響を及ぼす各種測定パラメータの設定を行うことなく、好適なコントラストで、かつ広いダイナミックレンジの画像が得られ、また、画像間の比較が容易な蛍光検出装置、濃淡情報補正方法、濃淡情報補正プログラムを提供することを目的とする。
本発明は、上記課題を解決するため、下記のような構成を採用した。
すなわち、本発明の一態様によれば、本発明の蛍光検出装置は、試料をレーザビームで2次元走査して得られる濃淡情報から試料画像を形成する蛍光検出装置であって、上記レーザビームに基づく上記試料からの光信号を感知し電気信号に変換する光電変換手段と、上記光電変換手段における光信号に対する感度または電気信号への変換の増幅率を設定する感度設定手段と、上記試料を観察するのに最も適した濃淡情報の値を濃淡情報目標値として設定する濃淡情報目標値設定手段と、上記感度または上記増幅率を一定にした際の、上記2次元走査のX−Y方向以外の3次元目情報に対応する上記濃淡情報を取得する濃淡情報取得手段と、現在設定されている上記感度または上記増幅率、上記濃淡情報目標値設定手段によって設定された濃淡情報目標値、および上記濃淡情報取得手段によって取得した濃淡情報に基づいて、上記感度設定手段によって設定する感度または増幅率を調整する感度調整手段とを備えたことを特徴とする。
また、本発明の蛍光検出装置は、上記濃淡情報が、輝度であることが望ましい。
また、本発明の蛍光検出装置は、上記3次元目情報が、高さ(Z方向)、経過時間、または2次元走査回数であることが望ましい。
また、本発明の蛍光検出装置は、上記3次元目情報が高さ(Z方向)、経過時間、または2次元走査回数である場合には、上記濃淡情報取得手段が、上記試料を所定の感度または増幅率で予め2次元走査することにより濃淡情報を取得することが望ましい。
また、本発明の蛍光検出装置は、上記3次元目情報が、波長域であることが望ましい。
また、本発明の蛍光検出装置は、上記3次元目情報が波長域である場合には、上記濃淡情報取得手段が、上記試料を所定の感度または増幅率で予め2次元走査することにより濃淡情報を取得するか、または3次元目情報と対応付けて格納されたプロファイルから取得することが望ましい。
また、本発明の蛍光検出装置は、上記濃淡情報目標値が、上記濃淡情報取得手段によって取得した濃淡情報のうち、最大値の近傍であることが望ましい。
また、本発明の蛍光検出装置は、上記蛍光検出装置が、レーザ走査型顕微鏡であることが望ましい。
また、本発明の一態様によれば、本発明の濃淡情報補正方法は、試料をレーザビームで2次元走査して得られる濃淡情報から試料画像を形成するコンピュータが実行する濃淡情報補正方法であって、上記試料を観察するのに最も適した濃淡情報の値を濃淡情報目標値として設定し、上記レーザビームに基づく上記試料からの光信号を感知し電気信号に変換する際の上記感度および上記増幅率を一定にして、上記2次元走査のX−Y方向以外の3次元目情報に対応する上記濃淡情報を取得し、現在設定されている上記感度または上記増幅率、上記設定された濃淡情報目標値、および上記取得した濃淡情報に基づいて、上記光信号の感度または増幅率を調整し、上記調整した感度または増幅率で、上記レーザビームに基づく上記試料からの光信号を感知し電気信号に変換することを特徴とする。
また、本発明の一態様によれば、本発明の濃淡情報補正プログラムは、試料をレーザビームで2次元走査して得られる濃淡情報から試料画像を形成するコンピュータに対して、上記試料を観察するのに最も適した濃淡情報の値を濃淡情報目標値として設定する手順と、上記レーザビームに基づく上記試料からの光信号を感知し電気信号に変換する際の上記感度および上記増幅率を一定にして、上記2次元走査のX−Y方向以外の3次元目情報に対応する上記濃淡情報を取得する手順と、現在設定されている上記感度または上記増幅率、上記設定された濃淡情報目標値、および上記取得した濃淡情報に基づいて、上記光信号の感度または増幅率を調整する手順と、上記調整した感度または増幅率で、上記レーザビームに基づく上記試料からの光信号を感知し電気信号に変換する手順とを実行させるための濃淡情報補正プログラムである。
上述のような構成を採用することにより、測定画像の画質に影響を及ぼす各種測定パラメータの設定を行うことなく、好適なコントラストで、かつ広いダイナミックレンジの画像が得られ、また、画像間の比較が容易となる。
本発明によれば、目標輝度値をもって輝度変化の取り込みを行うことにより、3次元画像や蛍光画像等で好適なダイナミックレンジおよびコントラストの良好な、かつ画像間の比較が容易である画像を取り込むことができる。
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態について述べる。
図1は、本発明を適用した蛍光検出装置の機能ブロック図である。
図1において、蛍光検出装置100は、蛍光染色した試料をレーザビームで2次元走査することにより輝度情報等の濃淡情報を得て、その濃淡情報から試料画像を形成する走査型共焦点レーザ顕微鏡等であり、光電変換手段101、感度設定手段102、濃淡情報目標値設定手段103、濃淡情報取得手段104および感度調整手段105を備える。
光電変換手段101は、上記レーザビームに基づく上記試料からの光信号を感知し電気信号に変換する。
感度設定手段102は、上記光電変換手段101における光信号に対する感度または電気信号への変換の増幅率を設定する。
濃淡情報目標値設定手段103は、上記試料を観察するのに最も適した濃淡情報の値を濃淡情報目標値として設定する。例えば、上記濃淡情報取得手段104によって取得した濃淡情報のうち、最大値あるいは最大値の近傍の値を濃淡情報目標値として設定する。
濃淡情報取得手段104は、上記感度または上記増幅率を一定にした際の、上記2次元走査のX−Y方向以外の3次元目情報に対応する上記濃淡情報を取得する。上記3次元目情報としては、例えば、波長域、高さ(Z方向)、経過時間または2次元走査回数であるが、上記3次元目情報が高さ(Z方向)、経過時間または2次元走査回数の場合、上記濃淡情報取得手段104は、上記試料を所定の感度または増幅率で予め2次元走査することにより濃淡情報を取得する。また、上記3次元目情報が波長域の場合、上記濃淡情報取得手段104は、上記試料を所定の感度または増幅率で予め2次元走査することにより濃淡情報を取得するか、または3次元目情報と対応付けて格納されたプロファイル106から取得する。
感度調整手段105は、現在設定されている上記感度または上記増幅率、上記濃淡情報目標値設定手段103によって設定された濃淡情報目標値、および上記濃淡情報取得手段104によって取得した濃淡情報に基づいて、上記感度設定手段102によって設定する感度または増幅率を調整する。
図2は、本発明の実施の形態を適用した走査型共焦点レーザ顕微鏡の構成例を示す図である。
レーザ光源1から照射されるレーザ光は、共焦点用スキャナ2によってX−Y平面方向に振られ、対物レンズ3を通り、ステージ4上の試料面を走査する。なお、共焦点用スキャナはPC8が有するCPU81により制御される。
試料面からの蛍光は分光光学系5により分光され、光検出器6によって電気信号に変換される。変換された電気信号は、 A/D変換器7によってデジタルデータに変換され一時的にA/D変換器7に蓄えられる。なお、光検出器6の感度を変えると、輝度値を調整することができる。上記A/D変換器7に一時的に蓄えられたデジタルデータは、ある一定のデータ量になるとCPU81を介してフレームメモリ10にデータが記録される。フレームメモリ10に記録されたデータは、フレームメモリ10に接続されている出力装置11上に表示される。
CPU81は、各所へ制御命令を送る他、後述する輝度補正量の計算を実行する。
またPC8は、記録媒体82、輝度変化量記憶領域83を有している。記録媒体82には、輝度補正プログラム91が記録されている。この記録媒体82としては、例えばフレキシブルディスク、ハードディスク、CD−ROM、MO(magneto−optic)等を適用可能である。また、この記録媒体82に記録されている各プログラムは、ネットワークを介して別のサーバーコンピュータ等からダウンロードされて実行されるものであっても良い。輝度変化量記憶領域83には、スキャン(2次元走査)する試料を染色した蛍光色素の蛍光スペクトル(波長域毎に予め定められた色素に固有の色素固有輝度情報)が保存されている。このデータは使用者がスキャンを開始する前に予め読み込んでおく。
またPC8には入力装置12が接続されており、使用者が画像を取得するための条件(以降画像取得条件と記載する。)であるスキャン画像領域、スキャン開始波長(λs)、スキャン終了波長(λe)、波長ステップ幅(λst)を入力するために用いる。
以上のように構成した走査型共焦点レーザ顕微鏡で、画像を取得するための条件を入力すると、スキャン画像を取得することができる。
次に、使用者が入力装置12を用いて入力する入力値とスキャン後に得られる画像との関係を説明する。
図3は、試料とスキャン領域との関係を説明するための図である。
まず、試料に外接する長方形領域であるスキャン領域をレーザビームでスキャンし、得られる蛍光から波長域[λs,λs+λst)の蛍光を分光光学系5により取り出し画像化する。次に、スキャン領域をレーザビームでスキャンし、波長域[λs+λst,λs+2λst)の蛍光を分光光学系5により取り出し画像化する。このようにスキャン領域をレーザビームで繰り返しスキャンし、得られる蛍光から画像化する波長域をλstずつずらして画像化していく。すなわちi回目のスキャンが終了したときには、波長域[λs+(i−1)λst,λs+iλst)の常光を画像化する。なお、すべてのスキャンが終了するのはλs+iλst>λeとなるスキャン時である。ここで波長域[λs,λs+λst)は、λs以上λs+λst未満の波長域をあらわす。
例として図3に示した試料をスキャンするために、λs=400nm、λe=600nm、λst=50nmと入力した場合を考える。
この条件で試料をスキャンすると、図4に示したように合計4枚の画像が取得できる。
次に、本発明の実施の形態を適用した濃淡情報補正処理について詳細に説明する。
図5は、本発明の実施の形態を適用した濃淡情報補正処理の流れを示すフローチャートである。
3次元目情報の例としては特に波長域を用いて説明する。
ステップS1において、入力装置12を用いて画像取得条件を入力する。画像取得条件として、たとえばλs=400nm、λe=600nm、λst=50nmと入力する。
そして、ステップS2において、後述の補正に用いるための輝度値を、蛍光スペクトルが格納されたプロファイルデータを使うか否かを判断する。特に、3次元目の情報が波長域の場合には、蛍光スペクトルが格納されたプロファイルデータを使うのか、または試料を所定の感度または増幅率で予め2次元走査することにより輝度値を取得するのかの判断を行う。なお、3次元目情報が高さ(Z方向)、経過時間、または2次元走査回数である場合は、試料を所定の感度または増幅率で予め2次元走査することにより、3次元画像を取り込んでZ方向への移動、経過時間、または2次元走査回数による輝度変化量を計測し、輝度値を取得する。そして、その計測した輝度値のデータを輝度変化量記憶領域83に保存しておき、これを読み出して用いることで同一の効果を得ることができる。
ステップS2でプロファイルデータを使うと判断した場合(ステップS2:Yes)は、ステップS3において、プロファイルデータを読み込む。
図6は、予め作成されるプロファイルデータの例を示す図である。
図6において、プロファイルデータは、波長ごとの濃淡輝度情報と濃淡輝度情報を取得した際に設定された増倍率とが合わせて格納されている。増倍率は、図5のステップS1で設定されている、増倍率との比率を比較するために用いられる。
図5の説明に戻る。
他方、ステップS2でプロファイルデータを使わないと判断した場合(ステップS2:No)は、ステップS4乃至ステップS7において、試料を所定の感度または増幅率で予め2次元走査することにより輝度値を取得する(プレスキャン)。
まず、ステップS4において、スキャン回数iに1を代入する。そして、ステップS5において、λs+iλst>λeかどうかをチェックし、スキャンを終了するかどうかを判断する。もしλs+iλst>λeが成立する場合(ステップS5:Yes)は、ステップS9へ進む。成立しない場合(ステップS5:No)は、ステップS6に進む。
ステップS6において、スキャン領域をスキャンし検出した蛍光から波長域[λs+(i−1)λst,λs+iλst)の蛍光を画像化する。そして、ステップS7において、スキャン回数iをインクリメントしてステップS5に戻る。ステップS5でスキャンが終了することにより、波長域、高さ(Z方向)、経過時間、または2次元走査回数と輝度値との関係が得られる。
そして、ステップS8において、入力装置12を使って任意の目標輝度値(Itar)を設定する。目標輝度値としては、例えば、ステップS2で読み込んだプロファイルデータに格納されている輝度値あるいはステップS6で取得した輝度値のうち、最大の輝度値を用いてもよいし、この最大輝度値の前後の近傍の値を用いてもよい。また、予め蛍光検出装置の推奨値または使用者による既定値を設定しておくことにより、使用者が入力装置12を用いて設定を実施しない場合であっても、自動的に目標輝度値が設定されるようにしてもよい。
次に、ステップS9において、スキャン回数iに1を代入する。そして、ステップS10において、λs+iλst>λeかどうかをチェックし、スキャンを終了するかどうかを判断する。もしλs+iλst>λeが成立する場合(ステップS10:Yes)は、処理を終了する。成立しない場合(ステップS10:No)は、ステップS11に進む。
ステップS11では、ステップS3あるいはステップS6で取得された蛍光スペクトルから設定する光検出器の感度値あるいは増幅率Ga(i)を次の式(1)により計算する。
Ga(i)=Gs×Itar/Iref[λs+(i−1)λst,λs+iλst)・・・式(1)
Gs:現在設定されている光検出器の感度値あるいは増幅率
Itar:輝度目標値
Iref[λs+(i−1)λst,λs+iλst):プロファイルデータあるいはプレスキャンにより取得した波長域[λs+(i−1)λst,λs+iλst)における輝度値
i:取り込み回数
そして、ステップS12において、ステップS11で計算された光検出器の感度値または増幅率Ga(i)を、CPU8を介して光検出器6へ設定するよう調整する。
ステップS13において、ステップS12で調整された光検出器の感度値または増幅率Ga(i)で、スキャン領域をスキャンし検出した蛍光から波長域[λs+(i−1)λst,λs+iλst)の蛍光を画像化する。そして、ステップS14において、スキャン回数iをインクリメントしてステップS10に戻る。
ステップS 10で所望の波長域に対応する全ての画像を取得すると、取得した画像は全て好適なコントラストで広いダイナミックレンジの画像となる。
図7は、光検出器の調整前後における波長域と輝度値との関係を説明するための図である。
図7に示すように、光検出器6を調整する前は、波長域の違いによる輝度値の差が大きいが、光検出器6を調整すると、全波長域にわたって目標輝度値近傍の輝度値を取得することができる。したがって、画像間のダイナミックレンジの差がなくなり、画像間の比較が容易になる。
なお、光検出器6を調整しても目標値に達しない場合であっても、再度調整することにより目標値前後に達したら終了するようにしてもよい。
上述の本実施の形態では、光検出器の感度値または増幅率を調整しているが、レーザ光源の出力値を調整してもよい。また、本実施の形態では1つの画像の取込み回数は1回としているが、画像を繰り返し取り込んで積算することにより、輝度目標値に達するまで画像を積算することで目標輝度値とできる画像を得るようにしてもよい。また、これら方法を組み合わせて目標輝度値の画像を得るようにしてもよい。
実施の形態を説明した図5のフローチャートでは、目標輝度値を持った画像を取り込むために光検出器6に対して感度値または増幅率を設定しているが、感度値または増幅率を設定せずにステップS14の後、取り込んだ後の画像に対して画像処理を行い、輝度値を調整してもよい。
以上、本発明を適用した実施の形態を説明してきたが、本発明が適用される蛍光検出装置は、その機能が実行されるのであれば、上述の実施の形態に限定されることはなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の構成または形状を取ることができる。
本発明を適用した蛍光検出装置の機能ブロック図である。 本発明の実施の形態を適用した走査型共焦点レーザ顕微鏡の構成例を示す図である。 試料とスキャン領域との関係を説明するための図である。 取り込む画像の例を説明するための図である。 本発明の実施の形態を適用した濃淡情報補正処理の流れを示すフローチャートである。 予め作成されるプロファイルデータの例を示す図である。 光検出器の調整前後における波長域と輝度値との関係を説明するための図である。
符号の説明
1 レーザ光源
2 共焦点用スキャナ
3 対物レンズ
4 ステージ
5 分光光学系
6 光検出器
7 A/D変換器
8 PC
10 フレームメモリ
11 出力装置
12 入力装置
81 CPU
82 記録媒体
83 輝度変化量記憶領域
91 褪色量補正プログラム
100 蛍光検出装置
101 光電変換手段
102 感度設定手段
103 濃淡情報目標値設定手段
104 濃淡情報取得手段
105 感度調整手段
106 プロファイルデータ


Claims (10)

  1. 試料をレーザビームで2次元走査して得られる濃淡情報から試料画像を形成する蛍光検出装置において、
    前記レーザビームに基づく前記試料からの光信号を感知し電気信号に変換する光電変換手段と、
    前記光電変換手段における光信号に対する感度または電気信号への変換の増幅率を設定する感度設定手段と、
    前記試料を観察するのに最も適した濃淡情報の値を濃淡情報目標値として設定する濃淡情報目標値設定手段と、
    前記感度または前記増幅率を一定にした際の、前記2次元走査のX−Y方向以外の3次元目情報に対応する前記濃淡情報を取得する濃淡情報取得手段と、
    現在設定されている前記感度または前記増幅率、前記濃淡情報目標値設定手段によって設定された濃淡情報目標値、および前記濃淡情報取得手段によって取得した濃淡情報に基づいて、前記感度設定手段によって設定する感度または増幅率を調整する感度調整手段と、
    を備えたことを特徴とする蛍光検出装置。
  2. 前記濃淡情報は、輝度であることを特徴とする請求項1に記載の蛍光検出装置。
  3. 前記3次元目情報は、高さ(Z方向)、経過時間、または2次元走査回数であることを特徴とする請求項1または2に記載の蛍光検出装置。
  4. 前記濃淡情報取得手段は、前記試料を所定の感度または増幅率で予め2次元走査することにより濃淡情報を取得することを特徴とする請求項3に記載の蛍光検出装置。
  5. 前記3次元目情報は、波長域であることを特徴とする請求項1または2に記載の蛍光検出装置。
  6. 前記濃淡情報取得手段は、前記試料を所定の感度または増幅率で予め2次元走査することにより濃淡情報を取得するか、または3次元目情報と対応付けて格納されたプロファイルから取得することを特徴とする請求項5に記載の蛍光検出装置。
  7. 前記濃淡情報目標値は、前記濃淡情報取得手段によって取得した濃淡情報のうち、最大値の近傍であることを特徴とする請求項1乃至6の何れか1項に記載の光電検出装置。
  8. 前記蛍光検出装置は、レーザ走査型顕微鏡であることを特徴とする請求項1乃至7の何れか1項に記載の光電検出装置。
  9. 試料をレーザビームで2次元走査して得られる濃淡情報から試料画像を形成するコンピュータが実行する濃淡情報補正方法であって、
    前記試料を観察するのに最も適した濃淡情報の値を濃淡情報目標値として設定し、
    前記レーザビームに基づく前記試料からの光信号を感知し電気信号に変換する際の前記感度および前記増幅率を一定にして、前記2次元走査のX−Y方向以外の3次元目情報に対応する前記濃淡情報を取得し、
    現在設定されている前記感度または前記増幅率、前記設定された濃淡情報目標値、および前記取得した濃淡情報に基づいて、前記光信号の感度または増幅率を調整し、
    前記調整した感度または増幅率で、前記レーザビームに基づく前記試料からの光信号を感知し電気信号に変換することを特徴とする濃淡情報補正方法。
  10. 試料をレーザビームで2次元走査して得られる濃淡情報から試料画像を形成するコンピュータに対して、
    前記試料を観察するのに最も適した濃淡情報の値を濃淡情報目標値として設定する手順と、
    前記レーザビームに基づく前記試料からの光信号を感知し電気信号に変換する際の前記感度および前記増幅率を一定にして、前記2次元走査のX−Y方向以外の3次元目情報に対応する前記濃淡情報を取得する手順と、
    現在設定されている前記感度または前記増幅率、前記設定された濃淡情報目標値、および前記取得した濃淡情報に基づいて、前記光信号の感度または増幅率を調整する手順と、
    前記調整した感度または増幅率で、前記レーザビームに基づく前記試料からの光信号を感知し電気信号に変換する手順と、
    を実行させるための濃淡情報補正プログラム。


JP2004102602A 2004-03-31 2004-03-31 蛍光検出装置、濃淡情報補正方法および濃淡情報補正プログラム Withdrawn JP2005291720A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004102602A JP2005291720A (ja) 2004-03-31 2004-03-31 蛍光検出装置、濃淡情報補正方法および濃淡情報補正プログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004102602A JP2005291720A (ja) 2004-03-31 2004-03-31 蛍光検出装置、濃淡情報補正方法および濃淡情報補正プログラム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005291720A true JP2005291720A (ja) 2005-10-20

Family

ID=35324833

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004102602A Withdrawn JP2005291720A (ja) 2004-03-31 2004-03-31 蛍光検出装置、濃淡情報補正方法および濃淡情報補正プログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005291720A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007139884A (ja) * 2005-11-15 2007-06-07 Olympus Corp 共焦点走査型顕微鏡
JP2008112059A (ja) * 2006-10-31 2008-05-15 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡及びその調整方法、並びにプログラム
JP2008292722A (ja) * 2007-05-24 2008-12-04 Olympus Corp 走査型光学装置
CN103620390A (zh) * 2011-06-21 2014-03-05 浜松光子学株式会社 光测定装置、光测定方法以及光测定程序
JP2015108717A (ja) * 2013-12-04 2015-06-11 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
US10379334B2 (en) 2011-06-21 2019-08-13 Hamamatsu Photonics K.K. Light measurement device, light measurement method, and light measurement program

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007139884A (ja) * 2005-11-15 2007-06-07 Olympus Corp 共焦点走査型顕微鏡
JP2008112059A (ja) * 2006-10-31 2008-05-15 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡及びその調整方法、並びにプログラム
JP2008292722A (ja) * 2007-05-24 2008-12-04 Olympus Corp 走査型光学装置
CN103620390A (zh) * 2011-06-21 2014-03-05 浜松光子学株式会社 光测定装置、光测定方法以及光测定程序
US10197782B2 (en) 2011-06-21 2019-02-05 Hamamatsu Photonics K.K. Light measurement device, light measurement method, and light measurement program
US10379334B2 (en) 2011-06-21 2019-08-13 Hamamatsu Photonics K.K. Light measurement device, light measurement method, and light measurement program
JP2015108717A (ja) * 2013-12-04 2015-06-11 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
US10114209B2 (en) 2013-12-04 2018-10-30 Olympus Corporation Microscope apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4936985B2 (ja) 走査電子顕微鏡およびそれを用いた三次元形状測定装置
US7436590B2 (en) Scanning laser microscope apparatus and light-amount detection unit
JP5784435B2 (ja) 画像処理装置、蛍光顕微鏡装置および画像処理プログラム
US7709773B2 (en) Scanning optical device which sets hardware in association with a depth of a focus position based on hardware set values stored in association with depths of focus positions
JP4865271B2 (ja) 共焦点走査型顕微鏡
JP2012190021A (ja) レーザ走査顕微鏡およびその動作方法
CA3079243C (en) Image reconstruction method, device and microscopic imaging device
JP4538421B2 (ja) 荷電粒子線装置
JP4917359B2 (ja) 荷電粒子線装置、及びそれを制御するためのプログラム
JP2000275541A (ja) レーザ顕微鏡
JP2005291720A (ja) 蛍光検出装置、濃淡情報補正方法および濃淡情報補正プログラム
JP4542302B2 (ja) 共焦点顕微鏡システム
JP2007322259A (ja) エッジ検出方法、装置、及びプログラム
WO2023276326A1 (ja) 光学画像処理方法、機械学習方法、学習済みモデル、機械学習の前処理方法、光学画像処理モジュール、光学画像処理プログラム、及び光学画像処理システム
JP3618481B2 (ja) レーザ走査型顕微鏡
JPWO2010143375A1 (ja) 顕微鏡装置および制御プログラム
JP6853572B2 (ja) 走査型白色干渉顕微鏡を用いた三次元形状計測方法
JP4847295B2 (ja) 共焦点顕微鏡
JP2008046484A (ja) 自動焦点検出装置及び自動焦点検出方法
JP4426856B2 (ja) 蛍光検出装置、濃淡情報補正方法、濃淡情報補正プログラムおよび走査型共焦点レーザ顕微鏡
JP2005321728A (ja) 走査型顕微鏡の測定パラメータ決定方法
JP2010262104A (ja) 走査型共焦点顕微鏡
JP2008046361A (ja) 光学システム及び光学システムの制御方法
JP4503804B2 (ja) 三次元情報取得方法及び共焦点走査型顕微鏡
WO2023276327A1 (ja) 光学画像処理方法、機械学習方法、学習済みモデル、機械学習の前処理方法、光学画像処理モジュール、光学画像処理プログラム、及び光学画像処理システム

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20070605