JP5623278B2 - 顕微鏡および顕微鏡の操作方法 - Google Patents
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- 顕微鏡を操作する方法であって、
励起光が試料の様々な点に送出され、
前記励起光の強度が点固有に変更され、少なくとも1つのスペクトル域内で前記試料によって反射された前記光の強度が、点固有かつ定量的に測定され、
前記試料の特定点に送出された前記励起光の前記強度と分光組成の少なくとも一方が、調整装置によって、前記点によって前記スペクトル域内で反射された前記光の推定強度と実際強度の少なくとも一方に関する前記試料の測定データから予め得られた情報に基づいて、画素露光時間中にこの点によって前記スペクトル域内で反射された前記光の前記強度の積分が、反射された前記光の推定強度あるいは実際の強度がバックグラウンド閾値を超えるときだけ所定の値になるように自動的に調整され、点によって反射された前記光の前記推定強度に関する前記情報が、画素露光時間の最初に測定される前記点によって反射された前記光の前記強度の初期設定によって提供され、前記調整装置は画素露光時間内に調整する、顕微鏡を操作する方法。 - 前記励起光は、複数の異なる色素を励起するための複数の波長を含み、
前記試料によって反射された前記光の前記強度は、複数の異なるスペクトル域内で測定される、請求項1に記載の方法。 - 前記画素露光時間中に点によって反射された前記光の前記強度の前記積分のための前記値期間が、使用検出器が最大感度と最大信号対雑音比で動作するように設定された、請求項1に記載の方法。
- 前記調整は、画素露光時間中に、点によって反射された前記光の前記強度の前記積分が一定になるように行われる、請求項1に記載の方法。
- 全ての点に同じ画素露光時間が使用される、請求項1に記載の方法。
- 個々の点によって反射された前記光の前記強度を大雑把に確認するために、試験パターンまたは試験スキャンが記録される、請求項1に記載の方法。
- 前記試料が、パルス照明され、
前記励起光のパルス繰返数が、前記試料が作成された前記色素の三重項緩和時間に適応された、請求項1に記載の方法。 - 前記試料の特定点に送出された前記励起光の前記強度と分光組成の少なくとも一方が、前記調整装置によって、前記試料の測定データから予め得られたような前記様々なスペクトル域内のこの点によって反射された前記光の推定強度または実際強度に関する情報に基づいて、前記画素露光時間中に前記様々なスペクトル域内のこの点によって反射された前記光の前記強度の積分が、前記様々なスペクトル域に関して個々に区別可能な各場合に値にあるように自動的に調整される、請求項2に記載の方法。
- 前記様々なスペクトル域に関して測定された前記強度が、前記それぞれの色素に関係する部分に分離され、
前記分離は、前記スペクトル域内の前記位置と幅を考慮しながら前記様々な色素の前記放射スペクトルに関する既知情報に基づいて実行され、
前記様々な色素のそれぞれに関して、重み係数が、スペクトル域に関係する前記それぞれの色素の少なくとも1つの強度部分からその都度決定される、請求項2に記載の方法。 - 前記様々なスペクトル域に関する前記値が、各色素の前記重み係数が値期間内にあるかまたは所定の値を有し、前記値期間または値が、様々な色素に関して個々に区別可能であるように決められた、請求項9に記載の方法。
- 顕微鏡であって、
試料を微視的に調査する励起光を放射するための光源と、
前記励起光の強度を変化させるための強度変調器と、
前記励起光を前記試料の様々な点に導き、前記試料の前記様々な点によって反射された前記光を検出器に導くための顕微鏡光学素子とを含み、
前記検出器が、少なくとも1つのスペクトル域内の前記試料によって反射された前記光の前記強度を点固有かつ定量的に検出し、
前記強度変調器と前記検出器と協力して、前記試料の点に送出された前記励起光の前記強度と分光組成の少なくとも一方を、前記試料の測定データから予め得られ、この点によってスペクトル域内で反射された前記光の推定強度または実際強度に関する情報に基づいて、画素露光時間中に、この点に関して前記検出器によって検出されたような前記スペクトル域内で反射された前記光の前記強度の積分が、反射された前記光の推定強度あるいは実際の強度がバックグラウンド閾値を超えるときだけ所定の値になるように自動的に調整する調整装置が存在し、点によって反射された前記光の前記推定強度に関する前記情報が、画素露光時間の最初に測定される前記点によって反射された前記光の前記強度の初期設定によって提供され、前記調整装置は画素露光時間内に調整する顕微鏡。 - 前記光源は、複数の異なる色素を励起するための複数の波長を有する励起光を放射し、
複数のスペクトル域内の前記試料によって反射された前記光を定量的かつ点固有に決定するための複数の検出器が存在する、請求項11に記載の顕微鏡。 - 前記顕微鏡は、走査顕微鏡である、請求項11に記載の顕微鏡。
- 前記顕微鏡は、線走査顕微鏡である、請求項11に記載の顕微鏡。
- 前記顕微鏡は、広視野顕微鏡である、請求項11に記載の顕微鏡。
- 前記顕微鏡は、蛍光顕微鏡である、請求項11に記載の顕微鏡。
- 前記強度変調器は、AOTF、AOM、ポッケルス・セル、ファラデー・セルおよびカー・セルの少なくとも1つを有する、請求項11に記載の顕微鏡。
- 前記強度変調器は、空間光変調器を有する、請求項11に記載の顕微鏡。
- 前記空間光変調器は、検出ビーム経路から遠くに配置される、請求項18に記載の顕微鏡。
- 前記調整装置は、実時間コンピュータによって構成された、請求項11に記載の顕微鏡。
- 前記調整装置は、アナログ制御回路によって構成された、請求項11に記載の顕微鏡。
- 複数の異なる色素を励起する前記光源は、複数の波長を有する励起光を放射する、請求項11に記載の顕微鏡。
- 複数のスペクトル域内の前記試料によって反射された光を定量的かつ点固有に決定するための複数の検出器が存在する、請求項11に記載の顕微鏡。
- 請求項11に記載されたような顕微鏡が使用される、請求項1に記載の方法。
- 前記励起光は、試料の様々な点に集束される、請求項1に記載の方法。
- 請求項1に記載の方法を実行するように設計された、請求項11に記載の顕微鏡。
- 全反射蛍光顕微鏡として設計された、請求項11に記載の顕微鏡。
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