JP2010189563A5 - - Google Patents
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合成例1
1,3,5-トリス(2-ヒドロキシエチル)イソシアヌレート(33.56g,0.129mo
l)、デカヒドロ-2,6-ナフタレンジカルボン酸ジメチル(32.68g, 0.129mol)、p-トルエンスルホン酸-水和物(pTSA)(1.303g,6.85mmol)、及びアニソール(39.80g)を三口フラスコに充填し、Dean-Starkトラップを用いて脱水及び脱メタノール反応を行いながら130℃で10時間重合した。その後、テトラヒドロフラン(THF)で希釈して、テトラメトキシグリコールウリル(TMGU)(12.81g,0.805mol)添加し、20℃で5.5時間反応させてトリエチルアミン(0.6932g,6.85mmol)を加えて反応を停止させた。この反応液をTHF及びIPA(2-プロパノール)で希釈し、ヘキサンとIPAの混合物に再沈殿し、下記式に示すポリエステル系高分子化合物(重量平均分子量:9,142、収率:約40%)を得た。
1,3,5-トリス(2-ヒドロキシエチル)イソシアヌレート(33.56g,0.129mo
l)、デカヒドロ-2,6-ナフタレンジカルボン酸ジメチル(32.68g, 0.129mol)、p-トルエンスルホン酸-水和物(pTSA)(1.303g,6.85mmol)、及びアニソール(39.80g)を三口フラスコに充填し、Dean-Starkトラップを用いて脱水及び脱メタノール反応を行いながら130℃で10時間重合した。その後、テトラヒドロフラン(THF)で希釈して、テトラメトキシグリコールウリル(TMGU)(12.81g,0.805mol)添加し、20℃で5.5時間反応させてトリエチルアミン(0.6932g,6.85mmol)を加えて反応を停止させた。この反応液をTHF及びIPA(2-プロパノール)で希釈し、ヘキサンとIPAの混合物に再沈殿し、下記式に示すポリエステル系高分子化合物(重量平均分子量:9,142、収率:約40%)を得た。
合成例2
1,3,5-トリス(2-ヒドロキシエチル)イソシアヌレート(33.56g,0.129mol)、2,6-ナフタレンジカルボン酸ジメチル(34.10g,0.129mol)、p-トルエンスルホン酸-水和物(pTSA)(1.303g,6.85mmol)、及びアニソール(39.80g)を三口フラスコに充填し、Dean-Starkトラップを用いて脱水及び脱メタノール反応を行いながら130℃で10時間重合した。その後、テトラヒドロフラン(THF)で希釈して、テトラメトキシグリコールウリル(TMGU)(12.81g,0.805mol)添加し、20℃で5.5時間反応させてトリエチルアミン(0.6932g,6.85mmol)を加えて反応を停止させた。この反応液をTHF及びIPA(2-プロパノール)で希釈し、ヘキサンとIPAの混合物に再沈殿し、下記式に示すポリエステル系高分子化合物(重量平均分子量:10,378、収率:約45%)を得た。
1,3,5-トリス(2-ヒドロキシエチル)イソシアヌレート(33.56g,0.129mol)、2,6-ナフタレンジカルボン酸ジメチル(34.10g,0.129mol)、p-トルエンスルホン酸-水和物(pTSA)(1.303g,6.85mmol)、及びアニソール(39.80g)を三口フラスコに充填し、Dean-Starkトラップを用いて脱水及び脱メタノール反応を行いながら130℃で10時間重合した。その後、テトラヒドロフラン(THF)で希釈して、テトラメトキシグリコールウリル(TMGU)(12.81g,0.805mol)添加し、20℃で5.5時間反応させてトリエチルアミン(0.6932g,6.85mmol)を加えて反応を停止させた。この反応液をTHF及びIPA(2-プロパノール)で希釈し、ヘキサンとIPAの混合物に再沈殿し、下記式に示すポリエステル系高分子化合物(重量平均分子量:10,378、収率:約45%)を得た。
合成例3
1,3,5-トリス(2-ヒドロキシエチル)イソシアヌレート(33.56g,0.129mol)、1,3-ジメチルシクロヘキサンジカルボキシレート(25.83g,0.129mol)、p-トルエンスルホン酸-水和物(pTSA)(1.303g,6.85mmol)、及びアニソール(39.80g)を三口フラスコに充填し、Dean-Starkトラップを用いて脱水及び脱メタノール反応を行いながら130℃で10時間重合した。その後、テトラヒドロフラン(THF)で希釈して、テトラメトキシグリコールウリル(TMGU)(12.81g,0.805mol)添加し、20℃で5.5時間反応させてトリエチルアミン(0.6932g,6.85mmol)を加えて反応を停止させた。この反応液をTHF及びIPA(2-プロパノール)で希釈し、ヘキサンとIPAの混合物に再沈殿し、下記式に示すポリエステル系高分子化合物(重量平均分子量:7,572、収率:約40%)を得た。
1,3,5-トリス(2-ヒドロキシエチル)イソシアヌレート(33.56g,0.129mol)、1,3-ジメチルシクロヘキサンジカルボキシレート(25.83g,0.129mol)、p-トルエンスルホン酸-水和物(pTSA)(1.303g,6.85mmol)、及びアニソール(39.80g)を三口フラスコに充填し、Dean-Starkトラップを用いて脱水及び脱メタノール反応を行いながら130℃で10時間重合した。その後、テトラヒドロフラン(THF)で希釈して、テトラメトキシグリコールウリル(TMGU)(12.81g,0.805mol)添加し、20℃で5.5時間反応させてトリエチルアミン(0.6932g,6.85mmol)を加えて反応を停止させた。この反応液をTHF及びIPA(2-プロパノール)で希釈し、ヘキサンとIPAの混合物に再沈殿し、下記式に示すポリエステル系高分子化合物(重量平均分子量:7,572、収率:約40%)を得た。
合成例4
重合溶媒として乳酸エチルを使用し、γ−ブチロラクトン−2−イルメタクリレート(75.1g、0.31mol)、6-ヒドロキシナフタレン-2-2イルメチルメタクリレート(53.6g、0.31mol)、2’-アゾビスイソブチロニトリル(AIBN)(0.328g、2.0mmol)を滴下溶液重合法にて高分子化合物を得た。その後、20℃において、p-トルエンスルホン酸およびテトラメトキシグリコールウリルを添加し、7時間反応させてトリエチルアミン(0.6932g,6.85mmol)を加えて反応を停止させた。この反応液を乳酸エチルで1.5倍希釈し、IPE(ジイソプロピルエーテル)に再沈殿し、下記式に示すメタクリル系高分子化合物(重量平均分子量:21,204、収率:約85%)を得た。
重合溶媒として乳酸エチルを使用し、γ−ブチロラクトン−2−イルメタクリレート(75.1g、0.31mol)、6-ヒドロキシナフタレン-2-2イルメチルメタクリレート(53.6g、0.31mol)、2’-アゾビスイソブチロニトリル(AIBN)(0.328g、2.0mmol)を滴下溶液重合法にて高分子化合物を得た。その後、20℃において、p-トルエンスルホン酸およびテトラメトキシグリコールウリルを添加し、7時間反応させてトリエチルアミン(0.6932g,6.85mmol)を加えて反応を停止させた。この反応液を乳酸エチルで1.5倍希釈し、IPE(ジイソプロピルエーテル)に再沈殿し、下記式に示すメタクリル系高分子化合物(重量平均分子量:21,204、収率:約85%)を得た。
実施例2
合成例2で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行ったフィルターシート(CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジEC GNグレード)により金属イオン不純物の除去を行った後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
合成例2で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行ったフィルターシート(CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジEC GNグレード)により金属イオン不純物の除去を行った後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
実施例3
合成例3で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行ったフィルターシート(CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジEC GNグレード)により金属イオン不純物の除去を行った後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
合成例3で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行ったフィルターシート(CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジEC GNグレード)により金属イオン不純物の除去を行った後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
実施例4
合成例4で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行ったフィルターシート(CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジEC GNグレード)により金属イオン不純物の除去を行った後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
合成例4で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行ったフィルターシート(CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジEC GNグレード)により金属イオン不純物の除去を行った後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
比較例1
合成例1で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行った強酸性イオン交換性基としてスルホン酸基を含むフィルターシート(CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジEC SHグレード)により金属イオン不純物の除去を行った。その後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
合成例1で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行った強酸性イオン交換性基としてスルホン酸基を含むフィルターシート(CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジEC SHグレード)により金属イオン不純物の除去を行った。その後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
比較例2
合成例2で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行った強酸性イオン交換性基としてスルホン酸基を含むフィルターシート(CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジEC SHグレード)により金属イオン不純物の除去を行った。その後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
合成例2で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行った強酸性イオン交換性基としてスルホン酸基を含むフィルターシート(CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジEC SHグレード)により金属イオン不純物の除去を行った。その後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
比較例3
合成例3で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行った強酸性イオン交換性基としてスルホン酸基を含むフィルターシート(CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジECSHグレード)により金属イオン不純物の除去を行った。その後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
合成例3で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行った強酸性イオン交換性基としてスルホン酸基を含むフィルターシート(CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジECSHグレード)により金属イオン不純物の除去を行った。その後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
比較例4
合成例4で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行った強酸性イオン交換性基としてスルホン酸基を含むフィルターシート(
CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジECSHグレード)により金属イオ
ン不純物の除去を行った。その後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
合成例4で得られた高分子化合物を含む溶液を、超純水5000mL、THF1000mLで洗浄を行った強酸性イオン交換性基としてスルホン酸基を含むフィルターシート(
CUNOTMゼータプラスTMフィルターカートリッジECSHグレード)により金属イオ
ン不純物の除去を行った。その後、実施例1と同様の方法で処理した後、分子量及び金属イオン不純物濃度の分析を行った。
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---|---|---|---|
JP2009036289A JP5225139B2 (ja) | 2009-02-19 | 2009-02-19 | フォトリソグラフィ用高分子化合物の金属イオン不純物除去方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009036289A JP5225139B2 (ja) | 2009-02-19 | 2009-02-19 | フォトリソグラフィ用高分子化合物の金属イオン不純物除去方法 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010189563A JP2010189563A (ja) | 2010-09-02 |
JP2010189563A5 true JP2010189563A5 (ja) | 2012-03-08 |
JP5225139B2 JP5225139B2 (ja) | 2013-07-03 |
Family
ID=42815932
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009036289A Active JP5225139B2 (ja) | 2009-02-19 | 2009-02-19 | フォトリソグラフィ用高分子化合物の金属イオン不純物除去方法 |
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JP5935328B2 (ja) * | 2012-01-11 | 2016-06-15 | 三菱レイヨン株式会社 | β位に置換基を持つラクトン構造を有する化合物または重合体の製造方法 |
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JP2019040201A (ja) * | 2018-10-30 | 2019-03-14 | 信越化学工業株式会社 | パターン形成方法 |
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JP2001350266A (ja) * | 2000-06-09 | 2001-12-21 | Sumitomo Chem Co Ltd | レジスト組成物の製造方法 |
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