JP2010130412A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010130412A5 JP2010130412A5 JP2008303616A JP2008303616A JP2010130412A5 JP 2010130412 A5 JP2010130412 A5 JP 2010130412A5 JP 2008303616 A JP2008303616 A JP 2008303616A JP 2008303616 A JP2008303616 A JP 2008303616A JP 2010130412 A5 JP2010130412 A5 JP 2010130412A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- frequency
- controlled oscillator
- control
- voltage controlled
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Claims (14)
- フェーズ・ロックッド・ループと制御ユニットとを具備して、
前記フェーズ・ロックッド・ループは、位相周波数比較器とループフィルタと電圧制御発振器と分周器とを含み、
前記位相周波数比較器の一方の入力端子と他方の入力端子には、基準信号と前記分周器の出力からの帰還信号がそれぞれ供給可能であり、
前記位相周波数比較器の出力は前記ループフィルタを介して前記電圧制御発振器の制御入力に供給され、前記電圧制御発振器の出力の発振出力信号が前記分周器の入力に供給され、前記電圧制御発振器の前記発振出力信号の周波数は前記制御入力に供給される制御電圧に応答して制御可能であり、
前記電圧制御発振器は、電圧電流変換器とリング発振器とを含むものであり、
前記リング発振器は、奇数段の遅延回路を有するものであり、
前記電圧電流変換器は前記制御電圧に応答して制御電流を生成して、前記制御電流によって前記リング発振器の前記奇数段の遅延回路の各動作電流が設定されるものであり、
前記制御ユニットは、前記フェーズ・ロックッド・ループをキャリブレーション動作期間と通常動作期間とに切り換えることが可能とされたものであり、
前記通常動作期間では前記制御ユニットにより前記フェーズ・ロックッド・ループはクローズドループに制御される一方、前記キャリブレーション動作期間では前記制御ユニットにより前記フェーズ・ロックッド・ループはオープンループに制御されるものであり、
前記通常動作期間では、前記クローズドループの前記フェーズ・ロックッド・ループにおいて前記位相周波数比較器の前記出力が前記ループフィルタを介して前記電圧制御発振器の前記制御入力に所定のレベルの前記制御電圧として供給されることによって、前記電圧制御発振器の前記発振出力信号の前記周波数は前記基準信号の周波数と前記分周器の分周数とにより決定される所定の周波数とされるものであり、
前記キャリブレーション動作期間では、前記オープンループの前記フェーズ・ロックッド・ループにおいて前記所定のレベルの前記制御電圧と略等しいレベルの基準電圧が前記電圧制御発振器の前記制御入力に供給された状態の前記電圧制御発振器の前記発振出力信号の前記周波数の計測を、前記制御ユニットが実行するものであり、
前記周波数の前記計測の実行の間に前記基準電圧が前記電圧制御発振器に供給された状態の前記電圧制御発振器の前記発振出力信号の前記周波数が前記所定の周波数と略等しくなるように、前記制御ユニットは前記電圧制御発振器の前記電圧電流変換器の第1動作パラメータの値を設定して、
前記フェーズ・ロックッド・ループは、前記制御ユニットによって制御されるセレクタを更に含むものであり、
前記セレクタは、前記通常動作期間に前記所定のレベルの前記制御電圧を選択する一方、前記キャリブレーション動作期間に前記基準電圧を選択して、選択された電圧を前記電圧制御発振器の前記制御入力に供給して、
前記キャリブレーション動作期間で、前記電圧電流変換器の前記第1動作パラメータの値が設定されるのに先立って、接地電位のレベルの前記制御電圧が前記オープンループの前記フェーズ・ロックッド・ループの前記電圧制御発振器の前記制御入力に供給された状態の前記電圧制御発振器の前記発振出力信号の前記周波数の計測を、前記制御ユニットが実行するものであり、
前記キャリブレーション動作期間で、前記計測の実行の間に前記接地電位のレベルの前記制御電圧が前記電圧制御発振器に供給された状態の前記発振出力信号の前記周波数が所定のオフセット周波数と略等しくなるように、前記電圧電流変換器の前記第1動作パラメータの値が設定されるのに先立って前記制御ユニットは前記電圧制御発振器の前記電圧電流変換器の第2動作パラメータの値を設定する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1において、
前記キャリブレーション動作期間で、前記電圧電流変換器の前記第1動作パラメータの値が設定されるのに先立って、前記セレクタは前記接地電位のレベルの前記制御電圧が前記オープンループの前記フェーズ・ロックッド・ループの前記電圧制御発振器の前記制御入力に供給する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項2において、
前記キャリブレーション動作期間で前記電圧制御発振器の前記電圧電流変換器の前記第2動作パラメータの値が設定された後に、前記接地電位のレベルより高く前記所定のレベルの前記制御電圧よりも低いレベルの他の基準電圧が前記オープンループの前記フェーズ・ロックッド・ループの前記電圧制御発振器の前記制御入力に供給された状態の前記電圧制御発振器の前記発振出力信号の前記周波数の他の計測を、前記制御ユニットが更に実行するものであり、
前記キャリブレーション動作期間で、前記他の計測の実行の間に前記他の基準電圧が前記電圧制御発振器に供給された状態の前記発振出力信号の前記周波数が前記所定の周波数よりも低い他の所定の周波数と略等しくなるように、前記制御ユニットは前記電圧制御発振器の前記電圧電流変換器の前記第1動作パラメータの値を設定する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項3において、
前記キャリブレーション動作期間で前記第2動作パラメータの値が設定された後に、前記セレクタは前記他の基準電圧を前記オープンループの前記フェーズ・ロックッド・ループの前記電圧制御発振器の前記制御入力に供給する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項4において、
前記フェーズ・ロックッド・ループは、前記位相周波数比較器の前記出力に応答して前記ループフィルタの充放電を行うチャージポンプを更に含む
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項5において、
前記チャージポンプは、第1チャージポンプと第2チャージポンプとから構成されており、
前記第1チャージポンプと前記第2チャージポンプは前記位相周波数比較器の前記出力としてのアップ出力信号とダウン出力信号とに応答して相互に逆相に駆動され、前記第1チャージポンプの第1充放電電流と前記第2チャージポンプの第2充放電電流とは所定の比率に設定されており、
前記ループフィルタは零点周波数を決定する抵抗と容量とを含み、前記抵抗の一端は前記ループフィルタの入力端子に接続され、前記抵抗の他端は前記容量を介して接地電位に接続され、
前記ループフィルタの前記抵抗の前記一端と前記他端は、前記第1チャージポンプの前記第1充放電電流と前記第2チャージポンプの前記第2充放電電流とによってそれぞれ駆動され、
前記ループフィルタの前記抵抗と前記容量とは、半導体チップに内蔵された
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項6において、
前記半導体集積回路は、ディスク記録再生装置の記憶メディアとしてのディスクのデータ読み出しとデータ書き込みとを行うピックアップとホスト・コンピュータの間に接続可能とされたものであり、
前記半導体集積回路は、前記ホスト・コンピュータに読み出しデータを供給する一方、前記ホスト・コンピュータからの書き込みデータが供給されるホスト・インターフェースを含み、
前記半導体集積回路は、前記ピックアップからの読み出し信号の信号処理を行う一方、前記ピックアップへの書き込み信号の信号処理を行う信号処理ユニットを含み、
前記フェーズ・ロックッド・ループは、前記ホスト・インターフェースと前記信号処理ユニットとの少なくともいずれか一方で使用されるクロック信号を生成する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項7において、
前記ホスト・インターフェースはATAインターフェースである
ことを特徴とする半導体集積回路。 - フェーズ・ロックッド・ループと制御ユニットとを具備して、
前記フェーズ・ロックッド・ループは、位相周波数比較器とループフィルタと電圧制御発振器と分周器とを含み、
前記位相周波数比較器の一方の入力端子と他方の入力端子には、基準信号と前記分周器の出力からの帰還信号がそれぞれ供給可能であり、
前記位相周波数比較器の出力は前記ループフィルタを介して前記電圧制御発振器の制御入力に供給され、前記電圧制御発振器の出力の発振出力信号が前記分周器の入力に供給され、前記電圧制御発振器の前記発振出力信号の周波数は前記制御入力に供給される制御電圧に応答して制御可能であり、
前記電圧制御発振器は、電圧電流変換器とリング発振器とを含むものであり、
前記リング発振器は、奇数段の遅延回路を有するものであり、
前記電圧電流変換器は前記制御電圧に応答して制御電流を生成して、前記制御電流によって前記リング発振器の前記奇数段の遅延回路の各動作電流が設定されるものであり、
前記制御ユニットは、前記フェーズ・ロックッド・ループをキャリブレーション動作期間と通常動作期間とに切り換えることが可能とされたものであり、
前記通常動作期間では前記制御ユニットにより前記フェーズ・ロックッド・ループはクローズドループに制御される一方、前記キャリブレーション動作期間では前記制御ユニットにより前記フェーズ・ロックッド・ループはオープンループに制御されるものであり、
前記通常動作期間では、前記クローズドループの前記フェーズ・ロックッド・ループにおいて前記位相周波数比較器の前記出力が前記ループフィルタを介して前記電圧制御発振器の前記制御入力に所定のレベルの前記制御電圧として供給されることによって、前記電圧制御発振器の前記発振出力信号の前記周波数は前記基準信号の周波数と前記分周器の分周数とにより決定される所定の周波数とされるものであり、
前記キャリブレーション動作期間では、前記オープンループの前記フェーズ・ロックッド・ループにおいて接地電位よりも高く比較的低いレベルの第1基準電圧が前記電圧制御発振器の前記制御入力に供給された状態の前記電圧制御発振器の前記発振出力信号の前記周波数の第1の計測を、前記制御ユニットが実行するものであり、
前記周波数の前記第1の計測の実行の間に前記第1基準電圧が前記電圧制御発振器に供給された状態の前記電圧制御発振器の前記発振出力信号の前記周波数が前記第1の所定の周波数と略等しくなるように、前記制御ユニットは前記電圧制御発振器の前記電圧電流変換器の第1動作パラメータの値を設定するものであり、
前記キャリブレーション動作期間で、前記電圧電流変換器の前記第1動作パラメータの値の設定の後に、前記第1基準電圧よりも高いレベルであり前記所定のレベルの前記制御電圧と略等しいレベルの第2基準電圧が前記電圧制御発振器の前記制御入力に供給された状態の前記電圧制御発振器の前記発振出力信号の前記周波数の第2の計測を、前記制御ユニットが実行するものであり、
前記周波数の前記第2の計測の実行の間に前記第2基準電圧が前記電圧制御発振器に供給された状態の前記電圧制御発振器の前記発振出力信号の前記周波数が前記第1の所定の周波数よりも高い第2の所定の周波数と略等しくなるように、前記制御ユニットは前記電圧制御発振器の前記電圧電流変換器の前記第2動作パラメータの値を設定する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項9において、
前記フェーズ・ロックッド・ループは、前記制御ユニットによって制御されるセレクタを更に含むものであり、
前記セレクタは、前記通常動作期間に前記所定のレベルの前記制御電圧を選択する一方、前記キャリブレーション動作期間に前記第1基準電圧と前記第2基準電圧とのいずれかを選択して、選択された電圧を前記電圧制御発振器の前記制御入力に供給する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項10において、
前記フェーズ・ロックッド・ループは、前記位相周波数比較器の前記出力に応答して前記ループフィルタの充放電を行うチャージポンプを更に含む
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項11において、
前記チャージポンプは第1チャージポンプと第2チャージポンプとから構成されており、
前記第1チャージポンプと前記第2チャージポンプは前記位相周波数比較器の前記出力としてのアップ出力信号とダウン出力信号とに応答して相互に逆相に駆動され、前記第1チャージポンプの第1充放電電流と前記第2チャージポンプの第2充放電電流とは所定の比率に設定されており、
前記ループフィルタは零点周波数を決定する抵抗と容量とを含み、前記抵抗の一端は前記ループフィルタの入力端子に接続され、前記抵抗の他端は前記容量を介して接地電位に接続され、
前記ループフィルタの前記抵抗の前記一端と前記他端は、前記第1チャージポンプの前記第1充放電電流と前記第2チャージポンプの前記第2充放電電流とによってそれぞれ駆動され、
前記ループフィルタの前記抵抗と前記容量とは、半導体チップに内蔵される
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項12において、
前記半導体集積回路は、ディスク記録再生装置の記憶メディアとしてのディスクのデータ読み出しとデータ書き込みとを行うピックアップとホスト・コンピュータの間に接続可能とされたものであり、
前記半導体集積回路は、前記ホスト・コンピュータに読み出しデータを供給する一方、前記ホスト・コンピュータからの書き込みデータが供給されるホスト・インターフェースを含み、
前記半導体集積回路は、前記ピックアップからの読み出し信号の信号処理を行う一方、前記ピックアップへの書き込み信号の信号処理を行う信号処理ユニットを含み、
前記フェーズ・ロックッド・ループは、前記ホスト・インターフェースと前記信号処理ユニットとの少なくともいずれか一方で使用されるクロック信号を生成する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項13において、
前記ホスト・インターフェースはATAインターフェースである
ことを特徴とする半導体集積回路。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008303616A JP2010130412A (ja) | 2008-11-28 | 2008-11-28 | 半導体集積回路 |
US12/622,604 US8134392B2 (en) | 2008-11-28 | 2009-11-20 | Phase locked loop |
CN200910225087A CN101753136A (zh) | 2008-11-28 | 2009-11-26 | 半导体集成电路 |
US13/351,745 US8289057B2 (en) | 2008-11-28 | 2012-01-17 | Phase locked loop |
US13/610,003 US20130002360A1 (en) | 2008-11-28 | 2012-09-11 | Semiconductor integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008303616A JP2010130412A (ja) | 2008-11-28 | 2008-11-28 | 半導体集積回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010130412A JP2010130412A (ja) | 2010-06-10 |
JP2010130412A5 true JP2010130412A5 (ja) | 2011-12-22 |
Family
ID=42222238
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008303616A Pending JP2010130412A (ja) | 2008-11-28 | 2008-11-28 | 半導体集積回路 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US8134392B2 (ja) |
JP (1) | JP2010130412A (ja) |
CN (1) | CN101753136A (ja) |
Families Citing this family (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010130412A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路 |
WO2011106055A1 (en) * | 2010-02-23 | 2011-09-01 | Rambus Inc. | Coordinating memory operations using memory-device generated reference signals |
KR101199780B1 (ko) * | 2010-06-11 | 2012-11-12 | (주)에프씨아이 | 주파수 합성기의 주파수 보정 장치 및 그 방법 |
US8513992B1 (en) * | 2010-09-10 | 2013-08-20 | Integrated Device Technology, Inc. | Method and apparatus for implementation of PLL minimum frequency via voltage comparison |
EP2659589A4 (en) * | 2010-12-29 | 2015-01-21 | Ericsson Telefon Ab L M | FREQUENCY PHASE DETECTION METHOD |
JP2012191275A (ja) * | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Toshiba Corp | Vco回路 |
US8378725B2 (en) * | 2011-03-14 | 2013-02-19 | Freescale Semiconductor, Inc. | Adaptive bandwidth phase-locked loop |
CN102130684B (zh) * | 2011-04-28 | 2015-06-24 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 压控振荡器的保护电路 |
US8593227B2 (en) * | 2011-08-05 | 2013-11-26 | Qualcomm Incorporated | System and method of controlling gain of an oscillator |
JP5738749B2 (ja) * | 2011-12-15 | 2015-06-24 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | Pll回路 |
JP6215527B2 (ja) * | 2012-02-02 | 2017-10-18 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 物理量計測装置及び物理量計測方法 |
US9450592B2 (en) * | 2012-04-13 | 2016-09-20 | Intel Corporation | Frequency control system with dual-input bias generator to separately receive management and operational controls |
US9065457B2 (en) * | 2012-04-26 | 2015-06-23 | Skyworks Solutions, Inc. | Circuits and methods for eliminating reference spurs in fractional-N frequency synthesis |
JP5889735B2 (ja) * | 2012-07-05 | 2016-03-22 | カシオ計算機株式会社 | 半導体集積回路 |
JP6044240B2 (ja) * | 2012-10-01 | 2016-12-14 | 株式会社ソシオネクスト | 半導体装置及び半導体装置の設計方法 |
US8964412B2 (en) * | 2012-10-31 | 2015-02-24 | Power Integrations, Inc. | Split current mirror line sensing |
TWI502897B (zh) * | 2012-12-28 | 2015-10-01 | Himax Tech Inc | 壓控振盪器及鎖相迴路 |
KR101985953B1 (ko) * | 2013-06-17 | 2019-06-05 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 펌핑 회로 |
US9641113B2 (en) | 2014-02-28 | 2017-05-02 | General Electric Company | System and method for controlling a power generation system based on PLL errors |
CN104954020B (zh) * | 2014-03-28 | 2018-07-24 | 意法半导体股份有限公司 | 多通道换能器设备和其操作方法 |
US9356609B1 (en) * | 2014-12-19 | 2016-05-31 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) | Phase switching PLL and calibration method |
US9252791B1 (en) * | 2014-12-22 | 2016-02-02 | Freescale Semiconductor,Inc. | Phase locked loop and method for generating an oscillator signal |
US10008854B2 (en) | 2015-02-19 | 2018-06-26 | Enphase Energy, Inc. | Method and apparatus for time-domain droop control with integrated phasor current control |
JP2018101958A (ja) * | 2016-12-21 | 2018-06-28 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置及び制御システム |
EP3361639A1 (en) * | 2017-02-14 | 2018-08-15 | ams AG | Programmable vco, method of calibrating the vco, pll circuit with programmable vco, and setup method for the pll circuit |
JP7224771B2 (ja) * | 2018-04-16 | 2023-02-20 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 発振周波数校正回路及び発振周波数校正方法 |
US10727847B1 (en) | 2019-02-07 | 2020-07-28 | International Business Machines Corporation | Digital control of a voltage controlled oscillator frequency |
CN110474634B (zh) * | 2019-08-30 | 2020-08-11 | 浙江大学 | 一种避免周跳的快速锁定锁相环电路 |
CN110593497A (zh) | 2019-08-30 | 2019-12-20 | 徐州泰和门窗有限公司 | 适用于窗户的自收方雨棚 |
TW202202840A (zh) * | 2020-02-21 | 2022-01-16 | 美商半導體組件工業公司 | 具有偏移校準的恆電位器 |
CN113608106B (zh) * | 2021-08-04 | 2022-09-13 | 湖南迈克森伟电子科技有限公司 | 一种快速检测压控振荡器vco调谐灵敏度的电路及方法 |
CN116405030B (zh) * | 2023-06-09 | 2023-08-18 | 牛芯半导体(深圳)有限公司 | 一种校准电路 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001251186A (ja) * | 2000-03-03 | 2001-09-14 | Nec Microsystems Ltd | Pll回路 |
JP3808338B2 (ja) * | 2001-08-30 | 2006-08-09 | 株式会社ルネサステクノロジ | 位相同期回路 |
JP2003152507A (ja) | 2001-11-15 | 2003-05-23 | Mitsubishi Electric Corp | 電圧制御型発振回路 |
JP2003229764A (ja) | 2002-02-01 | 2003-08-15 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路 |
JP4220828B2 (ja) * | 2003-04-25 | 2009-02-04 | パナソニック株式会社 | 低域ろ波回路、フィードバックシステムおよび半導体集積回路 |
US7015735B2 (en) * | 2003-12-19 | 2006-03-21 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor integrated circuit having built-in PLL circuit |
JP2005311945A (ja) * | 2004-04-26 | 2005-11-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Pll回路、無線通信装置及び発振周波数制御方法 |
JP4435723B2 (ja) * | 2005-08-08 | 2010-03-24 | 株式会社ルネサステクノロジ | 位相同期回路およびそれを用いた半導体集積回路装置 |
JP2007129501A (ja) | 2005-11-04 | 2007-05-24 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
JP4866707B2 (ja) * | 2006-11-10 | 2012-02-01 | パナソニック株式会社 | Pll回路及び信号送受信システム |
JP5102603B2 (ja) * | 2007-12-21 | 2012-12-19 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路 |
JP2010130412A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路 |
-
2008
- 2008-11-28 JP JP2008303616A patent/JP2010130412A/ja active Pending
-
2009
- 2009-11-20 US US12/622,604 patent/US8134392B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-11-26 CN CN200910225087A patent/CN101753136A/zh active Pending
-
2012
- 2012-01-17 US US13/351,745 patent/US8289057B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2012-09-11 US US13/610,003 patent/US20130002360A1/en not_active Abandoned
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2010130412A5 (ja) | ||
JP2009152910A5 (ja) | ||
JP5102603B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
US9838025B1 (en) | Method for reducing lock time in a closed loop clock signal generator | |
US8912778B1 (en) | Switching voltage regulator employing current pre-adjust based on power mode | |
US20150194929A1 (en) | Oscillation circuit and semiconductor integrated circuit including the same | |
US9584132B2 (en) | Clock generator with stability during PVT variations and on-chip oscillator having the same | |
US7969231B2 (en) | Internal voltage generating circuit | |
CN101753136A (zh) | 半导体集成电路 | |
JP4539977B2 (ja) | 容量性チャージ・ポンプ | |
US10483984B2 (en) | Temperature compensated oscillation controller and temperature compensated crystal oscillator including the same | |
US7863955B2 (en) | Semiconductor device and operation method thereof | |
US20220107675A1 (en) | Regulator circuit, an electronic device including the regulator circuit, and a processor including the regulator circuit | |
CN111902818A (zh) | 用于时钟和电压的自主安全性和功能安全的装置 | |
KR102608980B1 (ko) | 온도 센서 | |
JPH04196922A (ja) | 位相同期回路ic | |
CN103684439B (zh) | 频率产生系统、电压控制振荡器模块及信号频率调整方法 | |
JPH11168377A (ja) | チャージポンプ | |
US6900701B2 (en) | Automatic detection, selection and configuration of clock oscillator circuitry | |
US11573584B2 (en) | Voltage generation circuits | |
CN111147048B (zh) | 弛缓震荡电路 | |
JP5541378B2 (ja) | 半導体装置 | |
TWI527381B (zh) | 頻率產生系統、電壓控制振盪器模組及其訊號頻率調整方法 | |
US20240118733A1 (en) | Regulator circuit, an electronic device including the regulator circuit, and a processor including the regulator circuit | |
US20240201848A1 (en) | SSD with Reference Clock Loss Tolerant Oscillator |