JP2010098036A - 樹脂ケース及び樹脂ケース製造方法 - Google Patents

樹脂ケース及び樹脂ケース製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2010098036A
JP2010098036A JP2008266144A JP2008266144A JP2010098036A JP 2010098036 A JP2010098036 A JP 2010098036A JP 2008266144 A JP2008266144 A JP 2008266144A JP 2008266144 A JP2008266144 A JP 2008266144A JP 2010098036 A JP2010098036 A JP 2010098036A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin case
external connection
connection terminal
resin
nut
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008266144A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5125975B2 (ja
Inventor
Shin Soyano
伸 征矢野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Systems Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Systems Co Ltd filed Critical Fuji Electric Systems Co Ltd
Priority to JP2008266144A priority Critical patent/JP5125975B2/ja
Publication of JP2010098036A publication Critical patent/JP2010098036A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5125975B2 publication Critical patent/JP5125975B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1306Field-effect transistor [FET]
    • H01L2924/13091Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

【課題】半導体素子を収容する樹脂ケースの品質を向上させる。
【解決手段】樹脂ケース41内に表面が突出するように固定されたナット60と、少なくとも一部が折り曲げられ、樹脂ケース40内に一部が固定された外部接続用端子50と、を有した半導体装置1が提供される。半導体装置1では、樹脂ケース40と樹脂ケース41とが一体化している。また、当該半導体装置1では、予め折り曲げられた外部接続用端子50の一部が樹脂ケース40内に固定されているので、ナット60の表面と外部接続用端子50の一部とが密接している。
【選択図】図1

Description

本発明は樹脂ケース及び樹脂ケース製造方法に関し、特に半導体素子を収納する樹脂ケース及び樹脂ケース製造方法に関する。
インバータ装置、無停電電源装置、工作機械、産業用ロボット等では、その本体装置とは独立して、パワー半導体素子を搭載した半導体装置(汎用モジュール)が使用されている。そして、このような半導体装置は、複数のパワー半導体素子、回路基板、配線等を樹脂ケース(外装用ケース)内に封止させた構造をしている(例えば、特許文献1参照)。
図6に樹脂ケースの要部図を示す。ここで、図6(a)には、樹脂ケースの上面が示され、図6(b)には、図6(a)のX−Y断面が示されている。
図示する如く、樹脂ケース100上面の外形は長方形をなし、その内部には上述したパワー半導体素子等が収納される。そして、当該樹脂ケース100の上端面100aから樹脂ケース100の内部には、上記パワー半導体素子の主電極に導通する外部接続用端子(パワー端子)101が延出されている(図6(a)参照)。
特開平06−045518号公報(図1)
しかし、樹脂ケース100の上端面100aから延出させた外部接続用端子101においては、図6(b)に示す如く、予め、上端面100aに垂直に封止され、その後に矢印aの方向に折り曲げ加工されて、樹脂ケース100内に封止されたナット102との位置合わせがなされる。
このような折り曲げ加工を施すと、
(1)樹脂ケース100の上端面100aにおいて、外部接続用端子101の根本部分にクラックが発生する場合がある。
(2)外部接続用端子101の折り曲げた部分101aにおいて、外部接続用端子101のめっき膜の裂け、剥離が発生する場合がある。
(3)折り曲げた後の外部接続用端子101と上端面100aとの平行性、並びに上端面100aからの外部接続用端子101の高さにばらつきが生じる。
(4)外部接続用端子101の先端に設けられた孔部101hとナット孔102hとの位置精度が向上しない。
という、問題点があった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、品質が高い樹脂ケース及び当該樹脂ケースを製造する樹脂ケース製造方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、第1の樹脂ケースに表面が突出するように固定された締付部材と、少なくとも一部が折り曲げられ、第2の樹脂ケースに一部が固定された外部接続用端子と、を有し、前記第1の樹脂ケースと前記第2の樹脂ケースとが一体化し、前記締付部材の前記表面と前記外部接続用端子の一部とが密接していることを特徴とする樹脂ケースが提供される。
また、締付部材の表面が第1の樹脂ケースから突出するように、前記締付部材を前記第1の樹脂ケース内に固定する工程と、少なくとも一部が折り曲げられた外部接続用端子の一部を前記締付部材上に配置する工程と、前記第1の樹脂ケースと前記外部接続用端子とを金型で挟持しながら、前記外部接続用端子の一部を第2の樹脂ケース内に固定すると共に、前記第1の樹脂ケースと前記第2の樹脂ケースとを一体化する工程と、を有することを特徴とする樹脂ケース製造方法が提供される。
上記手段によれば、樹脂ケースの品質が向上する。
以下、本実施の形態に係る樹脂ケースを使用した半導体装置を、図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は半導体装置の要部断面模式図である。
半導体装置1においては、板厚が数ミリの金属ベース板10を基体とし、当該金属ベース板10上に、錫(Sn)−銀(Ag)系の鉛フリー半田層(図示しない)を介して絶縁基板20が接合・搭載されている。そして、絶縁基板20上層には、半導体素子30が搭載されている。半導体素子30としては、例えば、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)素子、パワーMOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)素子が該当する。或いは、半導体素子30は、FWD(Free Wheeling Diode)素子であってもよい。これらの素子、配線等が組み合わされて、当該半導体装置1では、例えば、インバータ回路を備えた半導体モジュール(パワーモジュール)を構成している。
更に、半導体装置1では、金属ベース板10の上端縁に樹脂ケース40,41が固設され、上記半導体素子等が樹脂ケース40,41により封止(パッケージ)されている。このような樹脂ケース40,41は、先に一次成形された樹脂ケース40がさらに二次成形され、一体となっている。
絶縁基板20は、絶縁板20aと、絶縁板20aの下面にDCB(Direct Copper Bonding)法で形成された金属箔20bと、絶縁板20aの上面に同じくDCB法で形成された金属箔20c,20dを備えている。
更に、それぞれの絶縁基板20の金属箔20c上には、半田層(図示しない)を介して、少なくとも一つの半導体素子30が搭載されている。即ち、半導体素子30の裏面電極(主電極)が金属箔20cに接合している。
また、半導体素子30の上記裏面電極とは反対側の主面、即ち、半導体素子30の上面側の主電極30eには、ボンディングワイヤ30wの一端が接合され、ボンディングワイヤ30wの他端が金属箔20dに接合している。そして、当該金属箔20dには、樹脂ケース40内に成形され、固定された外部接続用端子50の一端が接合している。
尚、以上の接合は、例えば、上記半田材による半田付け、レーザ溶接、または超音波接合によりなされている。
また、前記一端と反対側の外部接続用端子50の他端は、樹脂ケース41内に挿入され、固定されたナット(締付部材)60に密接している。
このような外部接続用端子50は、樹脂ケース40,41内に収納する回路構成に応じて、インバータ回路の正極入力端子(P端子)、負極入力端子(N端子)、或いは交流出力端子(U,V,W相)とすることもできる。
尚、半導体素子30がIGBT素子、パワーMOSFET素子の場合には、半導体素子30の上面側に主電極30eの他、制御用電極を配置している(図示しない)。
ここで、絶縁板20aは、例えば、アルミナ(Al23)焼結体のセラミックで構成され、金属箔20b,20c,20d、外部接続用端子50は、銅(Cu)を主成分とする金属で構成されている。
また、樹脂ケース40,41の材質は、例えば、PPS(ポリ・フェニレン・サルファイド)製である。
そして、半導体装置1においては、樹脂ケース40,41及び金属ベース板10で取り囲まれた空間に、半導体素子30、ボンディングワイヤ30w等の保護を目的として、封止用樹脂70を充填している。封止用樹脂70の材質は、例えば、ゲルまたはエポキシ樹脂を主成分とする樹脂が適用される。
このように、本実施の形態の樹脂ケース40,41では、樹脂ケース41内に表面が突出するように固定されたナット60と、少なくとも一部が折り曲げられ、樹脂ケース40内に一部が固定された外部接続用端子50と、を有している。そして、樹脂ケース40と樹脂ケース41とが一体化し、ナット60の表面と外部接続用端子50の一部とが密接している。
次に、樹脂ケース40,41の製造方法を詳細に説明しながら、上記半導体装置1の製造方法について説明する。本実施の形態では、樹脂ケース41自体を製造する一次成形と、樹脂ケース40と樹脂ケース41とを一体化させた成形体を製造する二次成形とに分けて半導体装置1を製造している。
図2〜図5は半導体装置の製造方法を説明する要部断面模式図である。
先ず、図2に示す如く、ナット60が挿入・固定された樹脂ケース41を予め製造する。当該樹脂ケース41は、トランスファモールド法により製造される。例えば、溶融した樹脂を金型(図示しない)内に注入し、当該樹脂を金型内で固化させることにより、ナット60を封止・固定した樹脂ケース41を形成する。
ここで、ナット60においては、ナット60の上面60sが樹脂ケース41の上面41sから突出するように樹脂ケース41内に挿入・固定される。ナット60は、その側面の上部が前記上面41sから0.2mm以上、好ましくは1mm以上露出する。ナット60が突出する大きさの上限は、ナット60を固定できる程度の任意の値をとりうるが、例えば、その側面の高さの半分から3分の2である。
この段階で一次成形が終了する。
尚、一次成形では、ナット60の下方の樹脂ケース41に空間部41hが形成される。当該空間部41hは、ナット60にボルト締めをする際のボルト先端の遊びとなる。
次に、図3に示す如く、樹脂ケース41と外部接続用端子50との位置合わせを行った後、ナット60上に外部接続用端子50を配置する。
例えば、プレス加工により、予め数箇所を折り曲げた外部接続用端子50を準備し、外部接続用端子50に設けられた貫通孔50hの中心と、ナット孔60hの中心とが合致するようにナット60上に外部接続用端子50を配置する。
尚、外部接続用端子50においては、折り曲げ加工の後に、めっきによって、例えば、ニッケル(Ni)/金(Au)層等のコーティング膜が形成されている。
次に、図4に示す如く、下金型80と上金型81とによって、上述した樹脂ケース41及び外部接続用端子50を挟持し、二次成形を行う。当該二次成形は、トランスファモールド法により実施される。例えば、樹脂ケース41及び外部接続用端子50を下金型80上に載置した後、下金型80と上金型81とを衝合させて、溶融した樹脂を金型内に注入する。そして、当該樹脂を前記金型内で固化させることにより、樹脂ケース40を形成する。
この段階で外部接続用端子50の一部が樹脂ケース40に固定されるとともに、ナット60の側面の一部が同様に固定される。
また、本実施の形態の二次成形では、樹脂ケース41の下面41dと下金型80とを直接的に接触させている。即ち、二次成形中、樹脂ケース41の下面41dは、下金型80から直接的に圧力を受けている。
更に、本実施の形態の二次成形では、外部接続用端子50の上面50sと上金型81とを直接的に接触させている。即ち、二次成形中、外部接続用端子50の上面50sは、上金型81により直接的に圧力を受けている。
そして、ナット60においては、上述した如く、その上面60sが樹脂ケース41の上面41sから突出している。
従って、下金型80と上金型81とのプレスにより、外部接続用端子50とナット60の上面60sとが密接した状態で二次成形が行われる。
尚、当該二次成形においては、樹脂ケース40を形成するために溶融した樹脂が金型内に注入されることから、樹脂ケース40と樹脂ケース41の界面が固溶する。即ち、二次成形においては、樹脂ケース40と樹脂ケース41とが一体になる。樹脂ケース41の上面41sとこれに対向する外部接続用端子50は樹脂ケース40を介して接している。
次に、下金型80と上金型81とから、外部接続用端子50を固定した樹脂ケース40,41を取り出す。この状態を図5に示す。当該図5に示す如く、樹脂ケース40,41が一体となった樹脂ケースが製造される。
そして、この後においては、図1に示す金属ベース板10、絶縁基板20、半導体素子30及びボンディングワイヤ30w等を樹脂ケース40,41内に配置して、外部接続用端子50と金属箔20dとを接合する。これにより、上記半導体装置1が形成する。
このように、本実施の形態では、ナット60の表面が樹脂ケース41から突出するように、ナット60を樹脂ケース41内に固定し、少なくとも一部が折り曲げられた外部接続用端子50の一部をナット60上に配置している。そして、樹脂ケース41と外部接続用端子50とを金型で挟持しながら、外部接続用端子50の一部を樹脂ケース40内に固定すると共に、樹脂ケース40と樹脂ケース41とを一体化している。
次に、本実施の形態によってもたらされる有利な効果について説明する。
先ず、本実施の形態では、外部接続用端子50を樹脂ケース40に固定した後に、外部接続用端子50を折り曲げるのではなく、予め折り曲げられた外部接続用端子50の一部を樹脂ケース40内に固定している。
これにより、樹脂ケース40表面から延出させた外部接続用端子50の根本部分の樹脂ケース40にクラックが発生することがない。
また、外部接続用端子50を折り曲げた後に、外部接続用端子50表面にめっきを施すので、外部接続用端子50の折り曲げた部分において、めっき膜が裂けたり、剥離することがない。
また、プレス機により予め折り曲げられた外部接続用端子50の一部を樹脂ケース40内に固定することから、外部接続用端子50の折り曲げ加工の自由度が向上する。例えば、樹脂ケース40内の端、狭部にも複雑に折り曲げられた外部接続用端子50を容易に装着できる。
また、肉厚の厚い外部接続用端子50をプレス機により予め折り曲げて、樹脂ケース40内に固定することも可能である。これにより、電気抵抗がより低い外部接続用端子50を樹脂ケース40に搭載することができる。
また、本実施の形態では、外部接続用端子50の貫通孔50hとナット孔60hとの位置合わせを行った後、金型により外部接続用端子50とナット60とを密接させながら、外部接続用端子50の一部を樹脂ケース40内に固定している。
これにより、ナット60に接触する外部接続用端子50とナット60の上面60sとが平行になると共に、樹脂ケース41の上面41sからの外部接続用端子50の高さが均一になる。また、外部接続用端子50の貫通孔50hの中心とナット孔60hの中心とを精度よく一致させることができる。
また、外部接続用端子50とナット60とを密接させながら、外部接続用端子50の一部を樹脂ケース40内に固定することから、二次成形中に樹脂ケース40の樹脂成分が外部接続用端子50とナット60との間隙に回り込むことがない。
また、外部接続用端子50の貫通孔50hとナット孔60hとの位置が精度よく一致することから、貫通孔50h及びナット孔60hの径をより小径にすることができる。これにより、外部接続用端子50と外部接続用端子50に接続する外部端子との接触面積が増加し、外部接続用端子50と前記外部端子との接触抵抗が減少する。
このように、本実施の形態によれば、外部接続用端子を封止した樹脂ケースの品質が向上する。
半導体装置の要部断面模式図である。 半導体装置の製造方法を説明する要部断面模式図である(その1)。 半導体装置の製造方法を説明する要部断面模式図である(その2)。 半導体装置の製造方法を説明する要部断面模式図である(その3)。 半導体装置の製造方法を説明する要部断面模式図である(その4)。 樹脂ケースの要部図である。
符号の説明
1 半導体装置
10 金属ベース板
20 絶縁基板
20a 絶縁板
20b,20c,20d 金属箔
30w ボンディングワイヤ
30 半導体素子
30e 主電極
40,41 樹脂ケース
41d 下面
41h 空間部
41s,50s,60s 上面
50 外部接続用端子
50h 貫通孔
60 ナット
60h ナット孔
70 封止用樹脂
80 下金型
81 上金型

Claims (5)

  1. 第1の樹脂ケースに表面が突出するように固定された締付部材と、
    少なくとも一部が折り曲げられ、第2の樹脂ケースに一部が固定された外部接続用端子と、
    を有し、
    前記第1の樹脂ケースと前記第2の樹脂ケースとが一体化し、前記締付部材の前記表面と前記外部接続用端子の一部とが密接していることを特徴とする樹脂ケース。
  2. 前記締付部材に設けられた孔の中心と、前記締付部材に密接する前記外部接続用端子に設けられた孔の中心とが一致していることを特徴とする請求項1記載の樹脂ケース。
  3. 締付部材の表面が第1の樹脂ケースから突出するように、前記締付部材を前記第1の樹脂ケース内に固定する工程と、
    少なくとも一部が折り曲げられた外部接続用端子の一部を前記締付部材上に配置する工程と、
    前記第1の樹脂ケースと前記外部接続用端子とを金型で挟持しながら、前記外部接続用端子の一部を第2の樹脂ケース内に固定すると共に、前記第1の樹脂ケースと前記第2の樹脂ケースとを一体化する工程と、
    を有することを特徴とする樹脂ケース製造方法。
  4. 前記外部接続用端子を前記締付部材上に配置する前に、前記外部接続用端子をプレス加工により折り曲げることを特徴とする請求項3記載の樹脂ケース製造方法。
  5. 前記締付部材に設けられた孔の中心と前記外部接続用端子に設けられた孔の中心とが一致するように前記外部接続用端子を前記締付部材上に配置することを特徴とする請求項3記載の樹脂ケース製造方法。
JP2008266144A 2008-10-15 2008-10-15 樹脂ケース製造方法 Active JP5125975B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008266144A JP5125975B2 (ja) 2008-10-15 2008-10-15 樹脂ケース製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008266144A JP5125975B2 (ja) 2008-10-15 2008-10-15 樹脂ケース製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010098036A true JP2010098036A (ja) 2010-04-30
JP5125975B2 JP5125975B2 (ja) 2013-01-23

Family

ID=42259532

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008266144A Active JP5125975B2 (ja) 2008-10-15 2008-10-15 樹脂ケース製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5125975B2 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011087353A1 (de) 2010-12-21 2012-06-21 Mitsubishi Electric Corp. Halbleitervorrichtung
EP2530712A2 (en) 2011-05-31 2012-12-05 Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki Power converter and method for manufacturing power converter
DE102017210307A1 (de) 2016-06-22 2017-12-28 Fuji Electric Co., Ltd. Halbleitervorrichtung und Verfahren zum Herstellen derselben
CN107818955A (zh) * 2016-09-14 2018-03-20 富士电机株式会社 半导体模块及半导体模块的制造方法
JP2018107414A (ja) * 2016-12-28 2018-07-05 三菱電機株式会社 半導体装置およびその製造方法
JP2020202239A (ja) * 2019-06-07 2020-12-17 富士電機株式会社 半導体モジュールの外部接続部、半導体モジュールの外部接続部の製造方法、半導体モジュール、車両、及び外部接続部とバスバーとの接続方法
WO2021144980A1 (ja) * 2020-01-17 2021-07-22 三菱電機株式会社 パワーモジュールおよび電力変換装置
US11996374B2 (en) 2019-06-07 2024-05-28 Fuji Electric Co., Ltd. External connector of semiconductor module, method for manufacturing external connector of semiconductor module, semiconductor module, vehicle, and method for connecting external connector to bus bar

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0414249A (ja) * 1990-05-07 1992-01-20 Mitsubishi Electric Corp 電力用半導体装置
JPH0969603A (ja) * 1995-09-01 1997-03-11 Mitsubishi Electric Corp 電力用半導体装置、その外装ケースとその製造方法
JP2004259791A (ja) * 2003-02-25 2004-09-16 Hitachi Ltd パワー半導体モジュール

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0414249A (ja) * 1990-05-07 1992-01-20 Mitsubishi Electric Corp 電力用半導体装置
JPH0969603A (ja) * 1995-09-01 1997-03-11 Mitsubishi Electric Corp 電力用半導体装置、その外装ケースとその製造方法
JP2004259791A (ja) * 2003-02-25 2004-09-16 Hitachi Ltd パワー半導体モジュール

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011087353A1 (de) 2010-12-21 2012-06-21 Mitsubishi Electric Corp. Halbleitervorrichtung
EP2530712A2 (en) 2011-05-31 2012-12-05 Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki Power converter and method for manufacturing power converter
JP2012249491A (ja) * 2011-05-31 2012-12-13 Yaskawa Electric Corp 電力変換装置、半導体装置および電力変換装置の製造方法
US8981552B2 (en) 2011-05-31 2015-03-17 Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki Power converter, semiconductor device, and method for manufacturing power converter
US10497586B2 (en) 2016-06-22 2019-12-03 Fuji Electric Co., Ltd. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
CN107527892A (zh) * 2016-06-22 2017-12-29 富士电机株式会社 半导体装置及半导体装置的制造方法
DE102017210307A1 (de) 2016-06-22 2017-12-28 Fuji Electric Co., Ltd. Halbleitervorrichtung und Verfahren zum Herstellen derselben
US10381243B2 (en) 2016-09-14 2019-08-13 Fuji Electric Co., Ltd. Semiconductor module having supporting portion for fastening portion inside a through hole in a resin case
CN107818955A (zh) * 2016-09-14 2018-03-20 富士电机株式会社 半导体模块及半导体模块的制造方法
JP2018046158A (ja) * 2016-09-14 2018-03-22 富士電機株式会社 半導体モジュールおよび半導体モジュールの製造方法
JP2018107414A (ja) * 2016-12-28 2018-07-05 三菱電機株式会社 半導体装置およびその製造方法
US10366933B2 (en) 2016-12-28 2019-07-30 Mitsubishi Electric Corporation Case having terminal insertion portion for an external connection terminal
CN108257940A (zh) * 2016-12-28 2018-07-06 三菱电机株式会社 半导体装置及其制造方法
CN108257940B (zh) * 2016-12-28 2021-07-06 三菱电机株式会社 半导体装置及其制造方法
JP2020202239A (ja) * 2019-06-07 2020-12-17 富士電機株式会社 半導体モジュールの外部接続部、半導体モジュールの外部接続部の製造方法、半導体モジュール、車両、及び外部接続部とバスバーとの接続方法
JP7334485B2 (ja) 2019-06-07 2023-08-29 富士電機株式会社 半導体モジュールの外部接続部、半導体モジュールの外部接続部の製造方法、半導体モジュール、車両、及び外部接続部とバスバーとの接続方法
US11996374B2 (en) 2019-06-07 2024-05-28 Fuji Electric Co., Ltd. External connector of semiconductor module, method for manufacturing external connector of semiconductor module, semiconductor module, vehicle, and method for connecting external connector to bus bar
WO2021144980A1 (ja) * 2020-01-17 2021-07-22 三菱電機株式会社 パワーモジュールおよび電力変換装置
JPWO2021144980A1 (ja) * 2020-01-17 2021-07-22

Also Published As

Publication number Publication date
JP5125975B2 (ja) 2013-01-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5252819B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP5125975B2 (ja) 樹脂ケース製造方法
CN105185752B (zh) 半导体器件及其制造方法
JP4453498B2 (ja) パワー半導体モジュールおよびその製造方法
JP5696780B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP3664045B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP5935374B2 (ja) 半導体モジュールの製造方法
EP2628173A2 (en) Semiconductor module and method of manufacturing a semiconductor module
JP5262983B2 (ja) モールドパッケージおよびその製造方法
US9553068B2 (en) Integrated circuit (“IC”) assembly includes an IC die with a top metallization layer and a conductive epoxy layer applied to the top metallization layer
JP2023030046A (ja) 半導体装置およびその製造方法
US20020022304A1 (en) Semiconductor device, method for fabricating the same, circuit board and electronic device
JP5233853B2 (ja) 半導体装置
WO2018018847A1 (zh) 一种智能功率模块及其制造方法
JP2003197663A (ja) 半導体装置及びその製造方法、回路基板並びに電子機器
TW201839932A (zh) 半導體裝置及其製造方法
JP7188049B2 (ja) 半導体装置
JP2009224529A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP6653235B2 (ja) 半導体装置の製造方法および半導体装置
JPH0870082A (ja) 半導体集積回路装置およびその製造方法ならびにリードフレーム
JP2012227438A (ja) 半導体装置の製造方法及び半導体装置
JP2009038126A (ja) 半導体装置およびその製造方法
KR102617704B1 (ko) 파워 모듈 및 그의 패키징 방법
JP3826776B2 (ja) 半導体装置
CN114038806A (zh) 半导体电路及半导体电路的制备方法

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20110422

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110812

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120423

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120619

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120816

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121002

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121015

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5125975

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151109

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250