JP2010038762A - 検査装置 - Google Patents
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【課題】液晶パネル3をプローブユニット11に対して確実に位置合わせする。
【解決手段】検査対象板を検査するために、カメラで前記検査対象板の表面のアライメントマークを撮影し当該アライメントマークと基準マークとを整合させて前記検査対象板の位置合わせを行う検査装置である。前記カメラで撮影した、印字状態の異なる複数の検査対象板のアライメントマークを基準マークとして記憶する記憶手段と、前記カメラで撮影した前記検査対象板のアライメントマークに近似した基準マークを前記記憶手段に記憶した複数の基準マークの中から選択してその基準マークと前記検査対象板のアライメントマークとを整合させて位置合わせ制御を行う制御部とを備えた。
【選択図】図1
【解決手段】検査対象板を検査するために、カメラで前記検査対象板の表面のアライメントマークを撮影し当該アライメントマークと基準マークとを整合させて前記検査対象板の位置合わせを行う検査装置である。前記カメラで撮影した、印字状態の異なる複数の検査対象板のアライメントマークを基準マークとして記憶する記憶手段と、前記カメラで撮影した前記検査対象板のアライメントマークに近似した基準マークを前記記憶手段に記憶した複数の基準マークの中から選択してその基準マークと前記検査対象板のアライメントマークとを整合させて位置合わせ制御を行う制御部とを備えた。
【選択図】図1
Description
本発明は、液晶表示パネル等の検査対象板のアライメントマークと基準マークとを整合させて当該検査対象板の位置合わせを行う検査装置に関する。
アライメントマークをもとに液晶表示パネル等の検査対象板の位置合わせを行う検査装置は一般に知られている。この例としては、特許文献1のプローブ装置がある。
このプローブ装置では、液晶表示パネルの製造過程において、コンタクトを行うための基準となるアライメントマークが液晶表示パネルの端子付近(例えば2か所の位置)に印字される。
簡易点灯検査やフルコンタクト点灯検査において、液晶表示パネル上の電極の位置と、フレーム側のプローブ針の位置とが整合するように調整された後、画像処理機能を用いて、液晶表示パネルに印字されているアライメントマークの画像を保持、登録する。そして、この登録されたアライメントマークの画像を元に、各液晶表示パネル毎に位置合わせが行われる。即ち、液晶表示パネル上の電極とフレーム側のプローブ針とが整合するように、アライメントマークを基準にして位置合わせが行われ、プローブ針が電極にコンタクトされる。
ところで、前記アライメントマークは液晶表示パネル毎にそれぞれ印字されるが、液晶表示パネルの枚数が多い場合等においては、アライメントマークの印字状態が液晶表示パネル毎に次第に変わってくることがある。
特開2000−35465号公報
ところが、アライメントマークの印字状態がパネル毎に次第に変わってくると、カメラで撮影したマークをアライメントマークとは異なるマークと誤認することがある。即ち、カメラで撮影した画像を基に画像処理されるときに、登録したアライメントマークと異なるマークと誤認してアライメントエラーを起こして、コンタクトできないことがある。
この場合、検査担当者がその度に、プローブ針の位置と電極の位置とを手動で調整してコンタクトさせる必要があり、作業性が悪いという問題があった。
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたもので、アライメントマークの印字状態が異なっても検査対象板の位置合わせを正確に行うことができる検査装置を提供することを目的とする。
本発明に係る検査対象板を検査するために、カメラで前記検査対象板の表面のアライメントマークを撮影し当該アライメントマークと基準マークとを整合させて前記検査対象板の位置合わせを行う検査装置において、前記カメラで撮影した、印字状態の異なる複数の検査対象板のアライメントマークを基準マークとして記憶する記憶手段と、前記カメラで撮影した前記検査対象板のアライメントマークに近似した基準マークを前記記憶手段に記憶した複数の基準マークの中から選択してその基準マークと前記検査対象板のアライメントマークとを整合させて位置合わせ制御を行う制御部とを備えたことを特徴とする。
前記制御部は、前記記憶手段に記憶した複数の基準マークから選択したマークを基準として前記検査対象板の位置合わせができないとき、当該検査対象板のアライメントマークを前記記憶手段に基準マークとして記憶させる処理機能を備えることが望ましい。
また、前記制御部は、前記記憶手段に記憶した複数の基準マークを順次選択してその選択したマークを基準として前記検査対象板の位置合わせを行い、全ての基準マークに対して位置合わせができないとき、前記検査対象板のアライメントマークを前記記憶手段に基準マークとして記憶させる処理機能を備えることが望ましい。
アライメントマークの印字状態が異なる場合でも確実に検査対象板を位置合わせすることができる。
以下、本発明の実施形態に係る検査装置について、添付図面を参照しながら説明する。図1は本発明の実施形態に係る検査装置のパネル検査処理機能を示すフローチャート、図2は本発明の実施形態に係る検査装置を示す正面図、図3は本発明の実施形態に係る検査装置を示す側面断面図、図4は本発明の実施形態に係るプローブユニットを示す正面図、図5は本発明の実施形態に係るアライメントマークの正常パターンを示す要部平面図、図6は本発明の実施形態に係るアライメントマークの異常パターンを示す要部平面図、図7は本発明の実施形態に係る検査装置のマーク登録処理機能を示すフローチャートである。
検査装置1は、図2及び図3に示すように、その筐体2の内部に、液晶パネル3の供給排出を行う受渡部4と、液晶パネル3の検査を行う検査部5と、これら受渡部4及び検査部5の間で液晶パネル3を搬送する搬送装置6とを備えて構成されている。
受渡部4は、外部から挿入された液晶パネル3を検査部5へ搬送し、検査終了後の液晶パネル3を外部へ搬出するための装置である。受渡部4は、外部の受渡装置(図示せず)と連携され、搬送ライン等から搬送されたパネル3を受渡装置で受渡部4まで搬送し、検査終了後の液晶パネル3を搬送ライン等へ戻す。
搬送装置6は、前記受渡装置から受け取った液晶パネル3を検査部5へ搬送すると共に、検査終了後の液晶パネル3を検査部5から受渡装置へ搬送するための装置である。搬送装置6は、受渡部4と検査部5とに亘って配設されている。
検査部5は主に、ワークテーブル8と、バックライト9と、XYZθステージ10と、プローブユニット11と、フレーム12から構成されている。
ワークテーブル8は、検査対象板である液晶パネル3を支持するための部材である。ワークテーブル8は、後述するワークテーブル受け13等を介してXYZθステージ10に支持され、このXYZθステージ10によってXYZ方向及びθ回転方向への移動が制御される。ワークテーブル8には、液晶パネル3の位置決め及び保持のために、パネルプッシャー8A及び位置決めピン8Bが設けられている。
バックライト9は、ワークテーブル8に支持された液晶パネル3を裏側から照明するための部材である。バックライト9は、ワークテーブル受け13と、支柱14と、ベース15とで形成された空間内に収納されて設けられている。
XYZθステージ10は、その前面でワークテーブル8とバックライト9とを支持して検査対象の液晶パネル3の位置合わせを行う部材である。XYZθステージ10は、ワークテーブル8を、X軸方向、Y軸方向、Z軸方向及びθ回転方向に回転又は移動させる機構を備えている。
フレーム12は、筐体2の骨組みであり、ワークテーブル8、バックライト9、XYZθステージ10及びプローブユニット11等を支持するための部材である。フレーム12は、これらXYZθステージ10やプローブユニット11等の配置位置に合わせて組み上げられている。
プローブユニット11は、液晶パネル3の各電極に直接的に接触して液晶パネル3に電気信号を与えることで、液晶パネル3を点灯させるための装置である。プローブユニット11は主に、フレーム12側に支持されたプローブステージ17と、このプローブステージ17に支持されたプローブベース18と、このプローブベース18に支持されたプローブブロック19及びアライメントカメラ20と、各部を制御する制御装置21とを備えて構成されている。
プローブステージ17は、フレーム12側に支持された状態で、プローブベース18を支持している。プローブベース18は、プローブステージ17に支持された状態で、プローブブロック19及びアライメントカメラ20を支持している。プローブブロック19は、その先端にプローブ19Aを備え、このプローブ19Aが液晶パネル3の電極に接触して検査信号を印加する。アライメントカメラ20は、ワークテーブル8に支持された液晶パネル3を正確に位置合わせするために、その位置合わせの基準となる液晶パネル3の表面のアライメントマーク(図示せず)を撮影するためのカメラである。
制御装置21は、XYZθステージ10、プローブブロック19、アライメントカメラ20等に接続されて、これを制御するための装置である。制御装置21は主に、記憶手段23と、画像処理部24と、制御部25とを備えて構成されている。これら、記憶手段23、画像処理部24及び制御部25は、個別のハードウエアによって構成してもよく、ソフトウエアによってそれぞれの機能を持たせて構成してもよい。
記憶手段23は、アライメントカメラ20で撮影した、印字状態の異なる複数のアライメントマークを基準マークとして記憶するための装置である。印刷装置の可動年数等の種々の条件により、アライメントマークの印字状態が異なることがある。例えば、図5のように、本来は十字状のアライメントマークが液晶パネル3の表面に印字されなければならないところを、図6のように、十字状に印字されないで、認識できない場合がある。即ち、カメラで撮影されたマークをアライメントマークとして認識することができずに、液晶パネル3の位置合わせができないことがある。このため、印字状態の異なる複数のアライメントマークを基準マークとして予め撮影して記憶しておき、アライメントマークの印字状態が悪い場合でも、そのアライメントマークを認識することができるようにしておく。
画像処理部24は、アライメントカメラ20で撮影した液晶パネル3のアライメントマークを、画像処理して、記憶手段23に記憶させる情報を作成したり、基準マークと画像上で整合させたりする。
制御部25は、記憶手段23に記憶した基準マーク(アライメントマーク)を基準として液晶パネル3の位置合わせ制御を行うための装置である。制御部25は、アライメントカメラ20で撮影した前記アライメントマークの状態を画像処理部24を介して判断して当該アライメントマークに近似したものを記憶手段23に記憶した複数の基準マークの中から選択してその基準マークと前記液晶パネル3のアライメントマークとを整合させて液晶パネル3の位置合わせ制御を行うものである。また、制御部25は、記憶手段23に記憶した複数の基準マークから選択したマークを基準として液晶パネル3の位置合わせができないとき、当該液晶パネル3のアライメントマークを記憶手段23に基準マークとして新たに記憶させる処理機能を有する。
制御部25での具体的な制御は以下のようになっている。図1のフローチャートを基に説明する。
パネル検査が開始されると、まず液晶パネル3をロードする(ステップS1)。即ち、外部から搬入された液晶パネル3を受渡部4で受け取って、搬送装置6で検査部5へ送り、ワークテーブル8に載置する。
基準マークを選択する(ステップS2)。液晶パネル3のアライメントマークに対応する基準マークを記憶手段23から自動的に選択して、液晶パネル3の位置合わせの基準とする。この基準マークの選択方法としては種々のものが考えられる。液晶パネル3の種類に応じて予め対応する基準マークを設定しておき、検査対象となっている液晶パネル3の種類に応じて自動的に選択する態様や、アライメントカメラ20で液晶パネル3のアライメントマークを撮影して、その画像処理によって近似した基準マークを自動的に選択する態様等がある。
次いで、液晶パネル3のアライメントを行う(ステップS3)。具体的には、アライメントカメラ20で液晶パネル3のアライメントマークを撮影して、予め選択した基準マークと比較し、この基準マークに対するアライメントマークのズレ量を計算する。そして、このズレ量に基づいてXYZθステージ10を制御して液晶パネル3の位置を調整し、液晶パネル3のアライメントマークと、基準マークとが正確に重なり合うように、液晶パネル3の位置合わせを行う。
この液晶パネル3の位置合わせ制御により、正常にアライメントできたときは、コンタクト処理を行う(ステップS4)。即ち、XYZθステージ10を制御して、プローブブロック19のプローブ19Aと、液晶パネル3の電極とを接触させる。
次いで、液晶パネル3を検査する(ステップS5)。即ち、バックライト9で液晶パネル3を裏面から点灯した状態で、液晶パネル3の各電極に検査信号を印加して、設定パターンで液晶パネル3を点灯させて検査する。
一方、ステップS3で、正常にアライメントできなかったときは、マーク登録処理を行う(ステップS6)。正常にアライメントできないのは、登録された基準マークの中に、検査対象になっている液晶パネル3のアライメントマークと整合できるものがないためである。このため、異常を起こした液晶パネル3のアライメントマークそのものを登録して、次の液晶パネル3の検査に用いる。
マーク登録処理を図7のフローチャートを基に説明する。なお、マーク登録処理は、前記図1の処理の中のサブルーチンとして機能する場合と、単独のルーチンとして機能する場合がある。予め記憶手段23にアライメントマークを基準マークとして登録する場合は、単独のルーチンとして機能する。
まず、液晶パネル3をロードする(ステップS7)。図1の処理の中のサブルーチンとして機能する場合は、既に液晶パネル3のロードが終わっているので、次の処理を行う。
次いで、アライメントマークを登録する(ステップS8)。即ち、ロードされた液晶パネル3に印字されたアライメントマークをアライメントカメラ20で撮影して画像処理部24で画像処理を行い、記憶手段23に登録する。
次いで、キャリブレーションを行う(ステップS9)。検査担当者が微調整をして、僅かなズレ等を校正する。
次いで、コンタクトする(ステップS10)。即ち、プローブ19Aと電極が互いに整合するか否かを確認する。マーク登録処理が前記図1の処理の中のサブルーチンとして機能する場合は、プローブ19Aが電極にコンタクトして、実際に液晶パネル3の検査が行われる。
以上により、液晶パネル3のアライメントマークが、印字装置の異常等の諸条件によって印字状態が異なる場合でも、その印字状態の異なるアライメントマークに合わせた基準マークを選択して、それを基にXYZθステージ10等を制御するため、検査対象板である液晶パネル3を確実に位置合わせすることができるようになる。
この結果、検査担当者が頻繁にコンタクトの調整をする必要がなくなり、作業性が大幅に向上する。
[変形例]
前記実施形態では、制御部25が、予め選択した基準マークに基づいて処理するように設定したが、記憶手段23に記憶した全ての基準マークを順次選択するようにしてもよい。即ち、記憶手段23に記憶した複数の基準マークを順次選択して、その選択したマークを基準として液晶パネル3の位置合わせを行い、全ての基準マークに対して位置合わせができないとき、マーク登録処理、即ち液晶パネル3のアライメントマークを記憶手段23に基準マークとして記憶する処理を行うようにしてもよい。これにより、より確実に液晶パネル3を位置合わせすることができるようになる。
前記実施形態では、制御部25が、予め選択した基準マークに基づいて処理するように設定したが、記憶手段23に記憶した全ての基準マークを順次選択するようにしてもよい。即ち、記憶手段23に記憶した複数の基準マークを順次選択して、その選択したマークを基準として液晶パネル3の位置合わせを行い、全ての基準マークに対して位置合わせができないとき、マーク登録処理、即ち液晶パネル3のアライメントマークを記憶手段23に基準マークとして記憶する処理を行うようにしてもよい。これにより、より確実に液晶パネル3を位置合わせすることができるようになる。
1:検査装置、2:筐体、3:液晶パネル、4:受渡部、5:検査部、6:搬送装置、8:ワークテーブル、9:バックライト、10:XYZθステージ、11:プローブユニット、12:フレーム、13:ワークテーブル受け、14:支柱、15:ベース、17:プローブステージ、18:プローブベース、19:プローブブロック、19A:プローブ、20:アライメントカメラ、21:制御装置、23:記憶手段、24:画像処理部、25:制御部。
Claims (3)
- 検査対象板を検査するために、カメラで前記検査対象板の表面のアライメントマークを撮影し当該アライメントマークと基準マークとを整合させて前記検査対象板の位置合わせを行う検査装置において、
前記カメラで撮影した、印字状態の異なる複数の検査対象板のアライメントマークを基準マークとして記憶する記憶手段と、
前記カメラで撮影した前記検査対象板のアライメントマークに近似した基準マークを前記記憶手段に記憶した複数の基準マークの中から選択してその基準マークと前記検査対象板のアライメントマークとを整合させて位置合わせ制御を行う制御部とを備えたことを特徴とする検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置において、
前記制御部が、前記記憶手段に記憶した複数の基準マークから選択したマークを基準として前記検査対象板の位置合わせができないとき、当該検査対象板のアライメントマークを前記記憶手段に基準マークとして記憶させる処理機能を備えたことを特徴とする検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置において、
前記制御部が、前記記憶手段に記憶した複数の基準マークを順次選択してその選択したマークを基準として前記検査対象板の位置合わせを行い、全ての基準マークに対して位置合わせができないとき、前記検査対象板のアライメントマークを前記記憶手段に基準マークとして記憶させる処理機能を備えたことを特徴とする検査装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008203009A JP2010038762A (ja) | 2008-08-06 | 2008-08-06 | 検査装置 |
TW98121402A TWI408388B (zh) | 2008-08-06 | 2009-06-25 | 檢查裝置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008203009A JP2010038762A (ja) | 2008-08-06 | 2008-08-06 | 検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010038762A true JP2010038762A (ja) | 2010-02-18 |
Family
ID=42011467
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008203009A Pending JP2010038762A (ja) | 2008-08-06 | 2008-08-06 | 検査装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010038762A (ja) |
TW (1) | TWI408388B (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014132229A (ja) * | 2013-01-04 | 2014-07-17 | Fujitsu Advanced Engineering Ltd | 検査装置及び検査方法 |
TWI632385B (zh) * | 2011-07-26 | 2018-08-11 | 精工愛普生股份有限公司 | 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置 |
KR101923539B1 (ko) * | 2017-05-16 | 2018-11-29 | (주)제이스텍 | 도전성 필름 부착시 압흔상태 검사장치 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106920493B (zh) * | 2017-04-07 | 2020-12-08 | 广东江粉高科技产业园有限公司 | 一种高压输出的液晶显示屏Cell测试方法 |
CN110780478B (zh) * | 2019-11-30 | 2021-12-17 | 航天科技控股集团股份有限公司 | 一种液晶屏校准检测方法 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH079859A (ja) * | 1993-02-18 | 1995-01-13 | Steyr Daimler Puch Ag | 電気自動車用車軸駆動装置 |
JPH07221009A (ja) * | 1994-02-01 | 1995-08-18 | Nikon Corp | 位置合わせ方法 |
JPH1040380A (ja) * | 1996-07-22 | 1998-02-13 | Sony Corp | マーク検査方法及び装置 |
JPH1154918A (ja) * | 1997-08-06 | 1999-02-26 | Noritake Co Ltd | 厚膜多層回路基板およびその製造方法 |
JP2000035465A (ja) * | 1999-06-25 | 2000-02-02 | Micronics Japan Co Ltd | プロ―ブ装置 |
JP2000213921A (ja) * | 1999-01-25 | 2000-08-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像認識装置および画像認識方法 |
JP2002269560A (ja) * | 2001-03-06 | 2002-09-20 | Seiko Epson Corp | テンプレートマッチング方法、それを実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、テンプレートマッチング装置、位置決め装置および実装装置 |
JP2003243466A (ja) * | 2002-02-15 | 2003-08-29 | Mitsubishi Electric Corp | パターン検査装置及びパターン検査方法 |
JP2003317097A (ja) * | 2002-04-19 | 2003-11-07 | Juki Corp | マーク認識方法および装置 |
JP2005308979A (ja) * | 2004-04-20 | 2005-11-04 | Seiko Epson Corp | 位置合わせ方法、位置合わせ装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置の製造装置及び電子機器 |
JP2008153572A (ja) * | 2006-12-20 | 2008-07-03 | Hitachi High-Technologies Corp | 異物検査装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101191057B1 (ko) * | 2004-08-19 | 2012-10-15 | 가부시키가이샤 니콘 | 얼라인먼트 정보 표시 방법과 그 프로그램, 얼라인먼트방법, 노광 방법, 디바이스 제조 방법, 표시 시스템, 표시장치, 프로그램 및 측정/검사 장치 |
JP4939156B2 (ja) * | 2006-09-19 | 2012-05-23 | 東京エレクトロン株式会社 | 位置合わせ対象物の再登録方法及びその方法を記録した記録媒体 |
JP2008124142A (ja) * | 2006-11-09 | 2008-05-29 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 位置検出方法、位置検出装置、パターン描画装置及び被検出物 |
-
2008
- 2008-08-06 JP JP2008203009A patent/JP2010038762A/ja active Pending
-
2009
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Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH079859A (ja) * | 1993-02-18 | 1995-01-13 | Steyr Daimler Puch Ag | 電気自動車用車軸駆動装置 |
JPH07221009A (ja) * | 1994-02-01 | 1995-08-18 | Nikon Corp | 位置合わせ方法 |
JPH1040380A (ja) * | 1996-07-22 | 1998-02-13 | Sony Corp | マーク検査方法及び装置 |
JPH1154918A (ja) * | 1997-08-06 | 1999-02-26 | Noritake Co Ltd | 厚膜多層回路基板およびその製造方法 |
JP2000213921A (ja) * | 1999-01-25 | 2000-08-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像認識装置および画像認識方法 |
JP2000035465A (ja) * | 1999-06-25 | 2000-02-02 | Micronics Japan Co Ltd | プロ―ブ装置 |
JP2002269560A (ja) * | 2001-03-06 | 2002-09-20 | Seiko Epson Corp | テンプレートマッチング方法、それを実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、テンプレートマッチング装置、位置決め装置および実装装置 |
JP2003243466A (ja) * | 2002-02-15 | 2003-08-29 | Mitsubishi Electric Corp | パターン検査装置及びパターン検査方法 |
JP2003317097A (ja) * | 2002-04-19 | 2003-11-07 | Juki Corp | マーク認識方法および装置 |
JP2005308979A (ja) * | 2004-04-20 | 2005-11-04 | Seiko Epson Corp | 位置合わせ方法、位置合わせ装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置の製造装置及び電子機器 |
JP2008153572A (ja) * | 2006-12-20 | 2008-07-03 | Hitachi High-Technologies Corp | 異物検査装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI632385B (zh) * | 2011-07-26 | 2018-08-11 | 精工愛普生股份有限公司 | 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置 |
JP2014132229A (ja) * | 2013-01-04 | 2014-07-17 | Fujitsu Advanced Engineering Ltd | 検査装置及び検査方法 |
KR101923539B1 (ko) * | 2017-05-16 | 2018-11-29 | (주)제이스텍 | 도전성 필름 부착시 압흔상태 검사장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI408388B (zh) | 2013-09-11 |
TW201013204A (en) | 2010-04-01 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120727 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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