JP2008124142A - 位置検出方法、位置検出装置、パターン描画装置及び被検出物 - Google Patents
位置検出方法、位置検出装置、パターン描画装置及び被検出物 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008124142A JP2008124142A JP2006304298A JP2006304298A JP2008124142A JP 2008124142 A JP2008124142 A JP 2008124142A JP 2006304298 A JP2006304298 A JP 2006304298A JP 2006304298 A JP2006304298 A JP 2006304298A JP 2008124142 A JP2008124142 A JP 2008124142A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- position detection
- image
- mark
- substrate
- specifying
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Abandoned
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70383—Direct write, i.e. pattern is written directly without the use of a mask by one or multiple beams
- G03F7/70391—Addressable array sources specially adapted to produce patterns, e.g. addressable LED arrays
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F9/00—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
- G03F9/70—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically for microlithography
- G03F9/7003—Alignment type or strategy, e.g. leveling, global alignment
- G03F9/7046—Strategy, e.g. mark, sensor or wavelength selection
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F9/00—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
- G03F9/70—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically for microlithography
- G03F9/7073—Alignment marks and their environment
- G03F9/7076—Mark details, e.g. phase grating mark, temporary mark
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F9/00—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
- G03F9/70—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically for microlithography
- G03F9/7088—Alignment mark detection, e.g. TTR, TTL, off-axis detection, array detector, video detection
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
【解決手段】パターン描画装置が処理の対象とする基板9においては、アライメント領域92としての所定の範囲内に、それぞれが基板9上の基準位置と自身との相対位置を記録した情報記録コードである複数のアライメントマーク60が集合して形成されている。基板9のアライメントの際には、このように複数のアライメントマーク60が集合しているアライメント領域92を撮像して画像を取得するため、撮像倍率を高倍率として撮像範囲が小さくなったとしても、複数のアライメントマーク60のいずれかを画像中に含めることができる。そして、この画像中に像として含まれる一つのアライメントマーク60が注目マークとされ、画像中の注目マークに基づいて基板9の位置が導出されることから、一度の撮像で基板9の位置を検出できる。
【選択図】図9
Description
<1−1.構成>
図1及び図2は、第1の実施の形態に係る位置検出装置としての機能を有するパターン描画装置1の構成を示す図であり、図1は側面図、図2は上面図である。このパターン描画装置1は、液晶表示装置のカラーフィルタを製造する工程において、感光材料(本実施の形態ではカラーレジスト)が形成されたカラーフィルタ用のガラス基板(以下、単に「基板」という。)9に、所定のパターンを描画するための装置である。図1及び図2に示すように、パターン描画装置1は主に、基台11と、基板9が載置されるステージ10と、基台11に対してステージ10を駆動する駆動部20と、複数の露光ヘッド30と、基板9のアライメント用の二つのカメラ41とを備えている。
次に、パターン描画装置1の基本的な動作について説明する。図4は、パターン描画装置1の基本的な動作の流れを示す図である。まず、予め感光材料が塗布された基板9が搬送ロボットなどにより搬入され、ステージ10の上面に載置される。基板9は、ステージ10の上面に形成された吸着口に吸引され、ステージ10の上面に略水平姿勢で保持される(ステップS1)。
次に、パターン描画装置1でなされる基板9のアライメント(図4のステップS2)について詳細に説明する。
Y3 = Y1−Y2 …式(2)
すなわち、基板基準位置Osとカメラ41の光軸位置Opとの相対位置が特定される。前述のように、カメラ41は基台11に対して固定され、基板9が載置されるステージ10は基台11の位置で規定されるアライメント位置に配置されることから、これにより、実質的にパターン描画装置1(の基台11)に対する基板9の実際の位置が導出されることになる(ステップS26)。
dY = Y3−Y0 …式(4)
このようにしてずれ量dX,dYが導出されると、導出されたずれ量dX,dYを補正するように、位置修正部52が駆動部20を駆動して、ステージ10及びそれに保持された基板9が移動される。これにより、基板9の位置が理想位置に修正される。ずれ量dX,dYは、二つのカメラ41の双方に関してそれぞれ求められる。このため、基板9のX軸方向(副走査方向)及びY軸方向(主走査方向)のずれのみならず基板9のZ軸周りの回転ずれも求められ、主走査機構25、副走査機構23及び回転機構21により、これらのずれが補正されることになる(ステップS28)。以降の処理では、このようにして位置が修正された基板9に対してパターンが描画されるため、基板9上の正しい位置に高精度にパターンを描画できることになる。
次に、第2の実施の形態について説明する。以下では、第1の実施の形態との相違点を中心に説明する。第1の実施の形態では複数のアライメントマーク60のそれぞれが、自身の位置を記録していた。これに対して、第2の実施の形態では、複数のアライメントマーク60のそれぞれは自身の位置ではなく他のアライメントマーク60から自身を識別する識別情報を記録しており、この識別情報に基づいてアライメントマーク60の位置が特定できるようになっている。
以上、本発明の実施の形態について説明してきたが、この発明は上記実施の形態に限定されるものではなく様々な変形が可能である。以下では、このような他の実施の形態について説明する。もちろん、以下で説明する形態を適宜に組み合わせてもよい。
20 駆動部
30 露光ヘッド
41 カメラ
50 制御部
51 位置導出部
52 位置修正部
60 アライメントマーク
70 画像
92 アライメント領域
Claims (16)
- 所定の配置領域内に配置された被検出物の位置を検出する位置検出方法であって、
それぞれが前記被検出物上の基準位置と自身との相対位置である第1位置を特定可能な複数の位置検出マークが集合して形成された前記被検出物を撮像して、画像を取得する撮像工程と、
前記複数の位置検出マークのうち前記画像中に像として含まれる一の位置検出マークの前記画像中の像に基づいて、該一の位置検出マークの前記第1位置を特定し、該第1位置に基づいて前記被検出物の位置を導出する位置導出工程と、
を備えることを特徴とする位置検出方法。 - 請求項1に記載の位置検出方法において、
前記位置導出工程は、
前記一の位置検出マークの前記第1位置を特定する第1特定工程と、
前記画像中における前記一の位置検出マークの像の位置に基づいて、前記一の位置検出マークと前記画像を撮像した撮像手段との相対位置を第2位置として特定する第2特定工程と、
前記第1位置及び前記第2位置に基づいて、前記被検出物の位置を特定する第3特定工程と、
を備えることを特徴とする位置検出方法。 - 請求項1または2に記載の位置検出方法において、
前記複数の位置検出マークのそれぞれは、二次元格子状に配置された複数のドットの有無により情報を表現し、
前記位置導出工程では、前記画像中の前記一の位置検出マークの像が示す情報に基づいて前記第1位置が特定されることを特徴とする位置検出方法。 - 請求項1ないし3のいずれかに記載の位置検出方法において、
前記複数の位置検出マークのそれぞれは、自身に係る前記第1位置を記録した情報記録コードであり、
前記位置導出工程では、前記画像中の前記一の位置検出マークの像が示す前記情報記録コードの読み取りにより、前記位置検出マークの前記第1位置が特定されることを特徴とする位置検出方法。 - 請求項1ないし3のいずれかに記載の位置検出方法において、
前記複数の位置検出マークのそれぞれは、他の位置検出マークから自身を識別する識別情報を表現し、
前記位置導出工程では、前記複数の位置検出マークそれぞれの前記識別情報と前記第1位置との対応関係を示す対応テーブルと、前記画像中の前記一の位置検出マークの像が示す前記識別情報とから、前記一の位置検出マークの前記第1位置が特定されることを特徴とする位置検出方法。 - 請求項2に記載の位置検出方法において、
前記複数の位置検出マークのそれぞれは、該位置検出マーク内における基準となる位置を規定するシンボルを有し、
前記第2特定工程では、前記画像中の前記シンボルの像に基づいて、前記画像中における前記一の位置検出マークの像の位置が特定されることを特徴とする位置検出方法。 - 所定の配置領域内に配置された被検出物の位置を検出する位置検出装置であって、
それぞれが前記被検出物上の基準位置と自身との相対位置である第1位置を特定可能な複数の位置検出マークが集合して形成された前記被検出物を撮像して、画像を取得する撮像手段と、
前記複数の位置検出マークのうち前記画像中に像として含まれる一の位置検出マークの前記画像中の像に基づいて、該一の位置検出マークの前記第1位置を特定し、該第1位置に基づいて前記被検出物の位置を導出する位置導出手段と、
を備えることを特徴とする位置検出装置。 - 請求項7に記載の位置検出装置において、
前記位置導出手段は、
前記一の位置検出マークの前記第1位置を特定する第1特定手段と、
前記画像中における前記一の位置検出マークの像の位置に基づいて、前記一の位置検出マークと前記撮像手段との相対位置を第2位置として特定する第2特定手段と、
前記第1位置及び前記第2位置に基づいて、前記被検出物の位置を特定する第3特定手段と、
を備えることを特徴とする位置検出装置。 - 請求項7または8に記載の位置検出装置において、
前記複数の位置検出マークのそれぞれは、二次元格子状に配置された複数のドットの有無により情報を表現し、
前記位置導出手段は、前記画像中の前記一の位置検出マークの像が示す情報に基づいて前記第1位置を特定することを特徴とする位置検出装置。 - 請求項7ないし9のいずれかに記載の位置検出装置において、
前記複数の位置検出マークのそれぞれは、自身に係る前記第1位置を記録した情報記録コードであり、
前記位置導出手段は、前記画像中の前記一の位置検出マークの像が示す前記情報記録コードの読み取りにより、前記位置検出マークの前記第1位置を特定することを特徴とする位置検出装置。 - 請求項7ないし9のいずれかに記載の位置検出装置において、
前記複数の位置検出マークのそれぞれは、他の位置検出マークから自身を識別する識別情報を表現し、
前記位置導出手段は、前記複数の位置検出マークそれぞれの前記識別情報と前記第1位置との対応関係を示す対応テーブルと、前記画像中の前記一の位置検出マークの像が示す前記識別情報とから、前記一の位置検出マークの前記第1位置を特定することを特徴とする位置検出装置。 - 請求項8に記載の位置検出装置において、
前記複数の位置検出マークのそれぞれは、該位置検出マーク内における基準となる位置を規定するシンボルを有し、
前記第2特定手段は、前記画像中の前記シンボルの像に基づいて、前記画像中における前記一の位置検出マークの像の位置を特定することを特徴とする位置検出装置。 - 請求項7ないし12のいずれかに記載の位置検出装置において、
前記配置領域内に配置された処理対象物に対して所定の処理を行う処理手段、
をさらに備え、
前記被検出物は、前記処理対象物を含むことを特徴とする位置検出装置。 - 請求項7ないし12のいずれかに記載の位置検出装置において、
前記配置領域内に配置される可動部品と、
前記可動部品を移動させる移動機構と、
をさらに備え、
前記被検出物は、前記可動部品を含むことを特徴とする位置検出装置。 - 感光材料が形成された基板に規則的なパターンを描画するパターン描画装置であって、
前記基板が配置される配置領域と、
前記配置領域内に配置された前記基板の位置を検出する請求項7ないし14のいずれかに記載の位置検出装置と、
前記位置検出装置の検出結果に基づいて、所定の理想位置に前記基板の位置を修正する位置修正手段と、
前記位置修正手段により位置が修正された基板に対して、前記パターンを描画する描画手段と、
を備えることを特徴とするパターン描画装置。 - 位置検出装置による位置の検出対象となる被検出物であって、
本体部と、
前記本体部に集合して形成され、それぞれが前記本体部上の基準位置と自身との相対位置を特定可能な複数の位置検出マークと、
を備えることを特徴とする被検出物。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006304298A JP2008124142A (ja) | 2006-11-09 | 2006-11-09 | 位置検出方法、位置検出装置、パターン描画装置及び被検出物 |
TW096124035A TW200821761A (en) | 2006-11-09 | 2007-07-02 | Location detection method, location detection apparatus, pattern drawing apparatus and detected material |
KR1020070076994A KR100909159B1 (ko) | 2006-11-09 | 2007-07-31 | 위치 검출 방법, 위치 검출 장치, 패턴 묘화 장치 및 피검출물 |
CN2007101426016A CN101178545B (zh) | 2006-11-09 | 2007-08-15 | 位置检测方法、位置检测装置、图案绘制装置 |
US11/933,490 US20080112609A1 (en) | 2006-11-09 | 2007-11-01 | Position detecting method and device, patterning device, and subject to be detected |
EP07119916A EP1921506A3 (en) | 2006-11-09 | 2007-11-02 | Position Detecting Method and Device, Patterning Device, and Subject to be detected |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006304298A JP2008124142A (ja) | 2006-11-09 | 2006-11-09 | 位置検出方法、位置検出装置、パターン描画装置及び被検出物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008124142A true JP2008124142A (ja) | 2008-05-29 |
Family
ID=39111548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006304298A Abandoned JP2008124142A (ja) | 2006-11-09 | 2006-11-09 | 位置検出方法、位置検出装置、パターン描画装置及び被検出物 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20080112609A1 (ja) |
EP (1) | EP1921506A3 (ja) |
JP (1) | JP2008124142A (ja) |
KR (1) | KR100909159B1 (ja) |
CN (1) | CN101178545B (ja) |
TW (1) | TW200821761A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011170144A (ja) * | 2010-02-19 | 2011-09-01 | Hitachi High-Technologies Corp | フォトマスク、プロキシミティ露光装置、及びプロキシミティ露光装置のアライメントマーク検出方法 |
KR101857414B1 (ko) * | 2016-02-25 | 2018-05-15 | 주식회사 이오테크닉스 | 마킹 위치 보정장치 및 방법 |
WO2019142443A1 (ja) * | 2018-01-22 | 2019-07-25 | 株式会社Screenホールディングス | 補正情報生成方法、描画方法、補正情報生成装置および描画装置 |
KR20210074415A (ko) * | 2018-11-15 | 2021-06-21 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 리소그래피 시스템들을 위한 자기 정렬 시스템들 및 방법들 |
JP2021517960A (ja) * | 2018-02-27 | 2021-07-29 | エーファウ・グループ・エー・タルナー・ゲーエムベーハー | マークフィールドならびにポジションを特定する方法および装置 |
KR20220040365A (ko) * | 2020-09-23 | 2022-03-30 | 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 | 묘화 시스템 |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8391587B2 (en) * | 2008-06-02 | 2013-03-05 | Shimadzu Corporation | Liquid crystal array inspection apparatus and method for correcting imaging range |
JP2010038762A (ja) * | 2008-08-06 | 2010-02-18 | Micronics Japan Co Ltd | 検査装置 |
CN101713635B (zh) * | 2008-10-06 | 2012-03-21 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 印刷电路板及其定位系统和方法 |
JP2012013802A (ja) * | 2010-06-29 | 2012-01-19 | Hitachi High-Technologies Corp | Fpdモジュールの位置決めマーク認識装置及びfpdモジュールの組立装置 |
KR20130020404A (ko) * | 2011-08-19 | 2013-02-27 | 삼성전자주식회사 | 정렬계를 이용한 계측 시스템 및 위치 계측 방법 |
CN102501615A (zh) * | 2011-10-12 | 2012-06-20 | 江苏锐毕利实业有限公司 | 刚性印制电路板喷印定位方法 |
TWI434368B (zh) * | 2011-12-08 | 2014-04-11 | Metal Ind Res & Dev Ct | 無標記基板組裝對位方法 |
JP5793457B2 (ja) * | 2012-03-26 | 2015-10-14 | 株式会社Screenホールディングス | 転写方法および転写装置 |
JP5948102B2 (ja) * | 2012-03-26 | 2016-07-06 | 株式会社Screenホールディングス | 転写装置および転写方法 |
CN102681369B (zh) * | 2012-05-10 | 2015-02-18 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种适用于无掩模光刻机的对准方法 |
US9429856B1 (en) | 2013-01-21 | 2016-08-30 | Kla-Tencor Corporation | Detectable overlay targets with strong definition of center locations |
EP3486839B1 (en) * | 2014-05-14 | 2020-09-09 | Kyodo Printing Co., Ltd. | Two-dimensional-code analysis system |
CN104236540B (zh) * | 2014-06-24 | 2017-06-23 | 上海大学 | 室内无源导航定位方法 |
DE102014220168B4 (de) | 2014-10-06 | 2017-10-12 | Carl Zeiss Ag | Optisches System zur lithografischen Strukturerzeugung und Verfahren zur Bestimmung von Relativkoordinaten |
CN105184208B (zh) * | 2015-09-02 | 2017-10-31 | 福建联迪商用设备有限公司 | 一种二维码初步定位方法及系统 |
ITUA20161347A1 (it) * | 2016-03-04 | 2017-09-04 | System Spa | Metodo/dispositivo di localizzazione di un substrato per stampa e metodo/sistema di stampa comprendente detto metodo/dispositivo di localizzazione |
NL2020858A (en) | 2017-05-24 | 2018-12-04 | Asml Holding Nv | Alignment mark for two-dimensional alignment in an alignment system |
CN107437592B (zh) * | 2017-08-21 | 2019-04-30 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 自适应对位方法 |
CN109976099B (zh) * | 2017-12-27 | 2021-08-10 | 长鑫存储技术有限公司 | 一种测量点的配置选择方法及装置 |
CN108493147B (zh) * | 2018-03-28 | 2020-08-04 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种基板及其对位方法 |
CN109302839B (zh) * | 2018-11-21 | 2020-10-16 | 业成科技(成都)有限公司 | 快速检验组立精度结构及其方法 |
CN109738789B (zh) * | 2019-01-02 | 2021-09-21 | 深圳市大族数控科技股份有限公司 | 飞针测试机测试方法、装置、飞针测试机及存储介质 |
CN111474180A (zh) * | 2019-01-24 | 2020-07-31 | 联策科技股份有限公司 | 检测数据串接系统与方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05290197A (ja) * | 1992-04-06 | 1993-11-05 | Teiriyou Sangyo Kk | 二次元コ−ドシンボルマ−クの解読方法 |
JP3461708B2 (ja) * | 1997-12-25 | 2003-10-27 | 株式会社ミツトヨ | アライメントマーク装置 |
JP2002280288A (ja) | 2001-03-19 | 2002-09-27 | Nikon Corp | 較正用基準ウエハ、較正方法、位置検出方法、位置検出装置、及び露光装置 |
JP2004006527A (ja) * | 2002-05-31 | 2004-01-08 | Canon Inc | 位置検出装置及び位置検出方法、露光装置、デバイス製造方法並びに基板 |
JP4235468B2 (ja) * | 2003-02-28 | 2009-03-11 | キヤノン株式会社 | 半導体製造装置 |
CN1910050A (zh) * | 2004-01-15 | 2007-02-07 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 具有扫描器和分配器的电子画笔 |
US7177009B2 (en) * | 2004-10-01 | 2007-02-13 | Asml Netherlands B.V. | Position determination method and lithographic apparatus |
-
2006
- 2006-11-09 JP JP2006304298A patent/JP2008124142A/ja not_active Abandoned
-
2007
- 2007-07-02 TW TW096124035A patent/TW200821761A/zh unknown
- 2007-07-31 KR KR1020070076994A patent/KR100909159B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-08-15 CN CN2007101426016A patent/CN101178545B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-11-01 US US11/933,490 patent/US20080112609A1/en not_active Abandoned
- 2007-11-02 EP EP07119916A patent/EP1921506A3/en not_active Withdrawn
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011170144A (ja) * | 2010-02-19 | 2011-09-01 | Hitachi High-Technologies Corp | フォトマスク、プロキシミティ露光装置、及びプロキシミティ露光装置のアライメントマーク検出方法 |
KR101857414B1 (ko) * | 2016-02-25 | 2018-05-15 | 주식회사 이오테크닉스 | 마킹 위치 보정장치 및 방법 |
JP7027177B2 (ja) | 2018-01-22 | 2022-03-01 | 株式会社Screenホールディングス | 補正情報生成方法、描画方法、補正情報生成装置および描画装置 |
WO2019142443A1 (ja) * | 2018-01-22 | 2019-07-25 | 株式会社Screenホールディングス | 補正情報生成方法、描画方法、補正情報生成装置および描画装置 |
JP2019128375A (ja) * | 2018-01-22 | 2019-08-01 | 株式会社Screenホールディングス | 補正情報生成方法、描画方法、補正情報生成装置および描画装置 |
TWI709826B (zh) * | 2018-01-22 | 2020-11-11 | 日商斯庫林集團股份有限公司 | 修正資訊產生方法、描繪方法、修正資訊產生裝置及描繪裝置 |
JP7480049B2 (ja) | 2018-02-27 | 2024-05-09 | エーファウ・グループ・エー・タルナー・ゲーエムベーハー | マークフィールドならびにポジションを特定する方法および装置 |
US11680792B2 (en) | 2018-02-27 | 2023-06-20 | Ev Group E. Thallner Gmbh | Incoming runout measurement method |
JP2021517960A (ja) * | 2018-02-27 | 2021-07-29 | エーファウ・グループ・エー・タルナー・ゲーエムベーハー | マークフィールドならびにポジションを特定する方法および装置 |
JP2022508105A (ja) * | 2018-11-15 | 2022-01-19 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | リソグラフィシステムのための自己整合システム及び方法 |
CN113168087A (zh) * | 2018-11-15 | 2021-07-23 | 应用材料公司 | 用于光刻系统的自对准系统及方法 |
JP7330273B2 (ja) | 2018-11-15 | 2023-08-21 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | リソグラフィシステムのための自己整合システム及び方法 |
KR102653417B1 (ko) * | 2018-11-15 | 2024-03-29 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 리소그래피 시스템들을 위한 자기 정렬 시스템들 및 방법들 |
KR20210074415A (ko) * | 2018-11-15 | 2021-06-21 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 리소그래피 시스템들을 위한 자기 정렬 시스템들 및 방법들 |
CN113168087B (zh) * | 2018-11-15 | 2024-05-14 | 应用材料公司 | 用于光刻系统的自对准系统及方法 |
KR20220040365A (ko) * | 2020-09-23 | 2022-03-30 | 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 | 묘화 시스템 |
KR102653607B1 (ko) * | 2020-09-23 | 2024-04-01 | 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 | 묘화 시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101178545B (zh) | 2010-11-03 |
KR20080042668A (ko) | 2008-05-15 |
CN101178545A (zh) | 2008-05-14 |
EP1921506A3 (en) | 2010-07-28 |
US20080112609A1 (en) | 2008-05-15 |
TW200821761A (en) | 2008-05-16 |
KR100909159B1 (ko) | 2009-07-23 |
EP1921506A2 (en) | 2008-05-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2008124142A (ja) | 位置検出方法、位置検出装置、パターン描画装置及び被検出物 | |
CN110631476B (zh) | 标记位置检测装置、描绘装置及标记位置检测方法 | |
KR100742250B1 (ko) | 화상기록장치, 화상기록방법 및 프로그램이 기억된 기억매체 | |
JP2009204982A (ja) | パターン描画装置及びパターン描画方法 | |
JP2008250072A (ja) | 描画装置及び方法 | |
JP2008233638A (ja) | 描画装置および描画方法 | |
JP2007304546A (ja) | アライメントユニット及びこれを用いた画像記録装置 | |
JP2008051866A (ja) | パターン描画装置、パターン描画方法、および基板処理システム | |
JP2007219011A (ja) | マスクレス露光装置及びその露光方法 | |
JP4179477B2 (ja) | 描画データ取得方法および装置並びに描画方法および装置 | |
US20080205744A1 (en) | Drawing Point Data Obtainment Method and Apparatus | |
JP6595870B2 (ja) | 補正情報生成装置、描画装置、補正情報生成方法および描画方法 | |
JP2007041244A (ja) | ステージ位置変動情報取得方法および装置 | |
KR20140118743A (ko) | 묘화 장치 및 묘화 방법 | |
JP2007034186A (ja) | 描画方法および装置 | |
JP5975785B2 (ja) | 描画装置、露光描画装置、プログラム及び描画方法 | |
JP2017067888A (ja) | 描画装置および位置情報取得方法 | |
JP4179478B2 (ja) | 描画データ取得方法および装置並びに描画方法および装置 | |
JP2024046014A (ja) | 描画位置情報取得方法および描画方法 | |
WO2024070047A1 (ja) | 露光装置および露光装置におけるビーム間隔計測方法 | |
CN117745770A (zh) | 模板生成装置、描绘系统、模板生成方法以及存储介质 | |
JP2024076649A (ja) | 位置検出装置、描画装置、位置検出方法およびプログラム | |
JP2008304834A (ja) | パターン描画装置および歪み補正方法 | |
JP2008116708A (ja) | パターン描画装置及びパターン描画方法 | |
CN115734479A (zh) | 绘制系统、绘制方法以及记录有程序的存储介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090205 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20091211 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110606 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110614 |
|
A762 | Written abandonment of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762 Effective date: 20110726 |