JP2009513026A5 - - Google Patents
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- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims 5
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- 230000001070 adhesive Effects 0.000 claims 4
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Claims (5)
- 第1表面を有する基板と、
基板の第1表面の上に配置される半導体チップと、
基板の第1表面の上に配置される電気絶縁構造と、前記電気絶縁構造は電気リード、及び電気リードと一体成形される有機系要素を有することと、
電気絶縁構造及び基板の第1表面を一体的に接続する半田要素とを備え、
前記電気絶縁構造は金属要素をさらに備え、
前記有機系要素は前記金属要素と一体成形され、
前記有機系要素は前記金属要素と電気リードの間に配置される、半導体構造。 - 半導体チップと基板の第1表面との間に配置され、かつ半導体チップ及び基板の第1表面を一体的に接続する接着剤をさらに備え、
半田要素は第1溶融温度を有し、
接着剤は第1溶融温度よりも高い第2溶融温度を有する、請求項1記載の半導体構造。 - 前記基板は導電材料からなり、前記半導体チップに電気的に接続される、請求項1記載の半導体構造。
- 第1表面を有する基板と、
基板の第1表面の上に配置される半導体チップと、
基板の第1表面の上に配置される電気絶縁構造と、前記電気絶縁構造は電気リード、及び電気リードと一体成形される有機系要素を有することと、
電気絶縁構造及び基板の第1表面を一体的に接続する半田要素とを備え、
前記有機系要素はプラスチックからなり、
前記電気絶縁構造は金属要素をさらに備えている、半導体構造。 - 第1表面を有する基板と、
基板の第1表面の上に配置される半導体チップと、
基板の第1表面の上に配置される電気絶縁構造と、前記電気絶縁構造は電気リード、及び電気リードと一体成形される有機系要素を有することと、
電気絶縁構造及び基板の第1表面を一体的に接続する半田要素と、
半導体チップと基板の第1表面との間に配置され、かつ半導体チップ及び基板の第1表面を一体的に接続する接着剤とを備え、
前記半田要素は第1溶融温度を有し、
前記接着剤は第1溶融温度よりも高い第2溶融温度を有し、
前記有機系要素はプラスチックからなる、半導体構造。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/257,784 US7446411B2 (en) | 2005-10-24 | 2005-10-24 | Semiconductor structure and method of assembly |
PCT/US2006/039649 WO2007050287A2 (en) | 2005-10-24 | 2006-10-10 | Semiconductor structure and method of assembly |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009513026A JP2009513026A (ja) | 2009-03-26 |
JP2009513026A5 true JP2009513026A5 (ja) | 2009-11-26 |
Family
ID=37968334
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008537739A Pending JP2009513026A (ja) | 2005-10-24 | 2006-10-10 | 半導体構造及び組み立て方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7446411B2 (ja) |
JP (1) | JP2009513026A (ja) |
CN (1) | CN101553918B (ja) |
TW (1) | TWI489602B (ja) |
WO (1) | WO2007050287A2 (ja) |
Families Citing this family (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2005
- 2005-10-24 US US11/257,784 patent/US7446411B2/en active Active
-
2006
- 2006-10-10 WO PCT/US2006/039649 patent/WO2007050287A2/en active Application Filing
- 2006-10-10 CN CN2006800397429A patent/CN101553918B/zh active Active
- 2006-10-10 JP JP2008537739A patent/JP2009513026A/ja active Pending
- 2006-10-20 TW TW095138667A patent/TWI489602B/zh active
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