JP2009276215A - プローブ装置及びコンタクト位置の補正方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明のプローブ装置10は、載置台11、プローブカード13、ヘッドプレート15及び制御装置16を備え、テストヘッド18がプローブカード13と電気的に接触した状態で載置台11をオーバードライブさせ半導体ウエハWと複数のプローブ13Aを電気的に接触させて電気的特性検査を行う装置であって、載置台11の現在のオーバードライブ量を測定する距離測定器19をテストヘッド18に設け、制御装置16は、距離測定器19によって測定された現在のオーバードライブ量と予め設定された所定のオーバードライブ量を比較し、この比較結果に基づいて現在のオーバードライブ量を所定のオーバードライブ量になるように補正する。
【選択図】図1
Description
本実施形態のプローブ装置10は、例えば図1の(a)、(b)に示すように、被検査体(例えば、半導体ウエハ)Wを載置するX、Y、Z及びθ方向へ移動可能な載置台11と、載置台11をX、Y及びZ方向へ移動させる駆動機構12と、載置台11の上方に配置され且つ上記被検査体の電極と接触する複数のプローブ13Aを有するプローブカード13と、プローブカード13の固定機構14を支持する支持体(ヘッドプレート)15と、載置台11を含む各種の機器を制御する制御装置16と、を備え、プローブカード13に接続リング17を介して所定の荷重でテストヘッド18を電気的に接続させた状態で載置台11をオーバードライブさせて半導体ウエハWと複数のプローブ13Aを電気的に接触させ、テスタ20からの信号に基づいて半導体ウエハWの電気的特性検査を行うように構成されている。また、図示してないが、プローブ装置10には従来と同様にアライメント機構が設けられている。
本実施形態のプローブ装置10Aは、図3に示すように距離測定器19の測定信号をプローブ装置10Aの制御装置16へ送信すること以外は、第1の実施形態に準じて構成されている。そこで、以下では第1の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付して本実施形態のプローブ装置10Aを説明する。尚、図3ではプローブ装置10Aの要部の構成をブロック図で示している。
本実施形態のプローブ装置10Bは、図4に示すように第1の実施形態と異なるタイプの距離測定器19Aがプローブカード13に設けられていること以外は、第1の実施形態に準じて構成されている。そこで、以下では第1の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付して本実施形態のプローブ装置10Bを説明する。
本実施形態のプローブ装置10Cは、図5の(a)〜(c)に示すように距離測定器19Bが載置台11を支持する基台11Aに設けられていること以外は、第1の実施形態に準じて構成されている。そこで、以下では第1の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付して本実施形態のプローブ装置10Cを説明する。
11 載置台
13 プローブカード
13A プローブ
14 固定機構(固定部)
15 ヘッドプレート(支持体)
16 制御装置
18 テストヘッド
19、19A、19B 距離測定器
W 半導体ウエハ(被検査体)
Claims (14)
- 被検査体を保持する移動可能な載置台と、上記載置台の上方に配置され且つ上記被検査体の電極と接触する複数のプローブを有するプローブカードと、上記プローブカードを支持する支持体と、上記載置台を含む各種の機器を制御する制御装置と、を備え、上記プローブカードにテストヘッドを所定の荷重で電気的に接続させた状態で、上記載置台をオーバードライブさせて上記被検査体と上記複数のプローブを電気的に接触させてテスタからの信号に基づいて電気的特性検査を行うプローブ装置であって、上記載置台の現在のオーバードライブ量を測定する距離測定器を上記テストヘッドの少なくとも一箇所または上記プローブカードの少なくとも一箇所に設け、上記制御装置は、上記現在のオーバードライブ量と予め設定された所定のオーバードライブ量を比較し、この比較結果に基づいて上記現在のオーバードライブ量を上記所定のオーバードライブ量となるように補正することを特徴とするプローブ装置。
- 上記距離測定器は、レーザー光によって上記距離を測定するレーザー光式測長器であることを特徴とする請求項1に記載のプローブ装置。
- 上記距離測定器は、上記テストヘッドに設けられており、上記載置台上の被検査体の上面までの距離を測定する第1の測定部と、上記プローブカードの上面までの距離を測定する第2の測定部と、を有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のプローブ装置。
- 上記制御装置または上記テスタは、上記載置台上の被検査体と上記複数のプローブが接触し始めた時に上記第1の測定部の測定距離と上記第2の測定部の測定距離との差を第1の距離として求め、上記載置台がオーバードライブした時に上記第1の測定部の測定距離と上記第2の測定部の測定距離との差を第2の距離として求めることを特徴とする請求項3に記載のプローブ装置。
- 上記制御装置は、上記第1の距離と上記第2の距離の差を上記現在のオーバードライブ量として求めることを特徴とする請求項4に記載のプローブ装置。
- 上記距離測定器は、上記プローブカードに設けられており、上記被検査体の上面までの距離を測定する近接センサとして構成されていることを特徴とする請求項1に記載のプローブ装置。
- 上記制御装置は、上記載置台上の被検査体と上記複数のプローブが接触し始めた時に上記距離測定器によって測定された第1の距離と上記載置台がオーバードライブした時に上記距離測定器によって測定された第2の距離との差を上記現在のオーバードライブ量として求めることを特徴とする請求項6に記載のプローブ装置。
- 被検査体を保持する移動可能な載置台と、上記載置台の上方に配置され且つ上記被検査体の電極と接触する複数のプローブを有するプローブカードと、上記プローブカードを固定機構を介して支持する支持体と、上記載置台を含む各種の機器を制御する制御装置と、を備え、上記プローブカードにテストヘッドを所定の荷重で電気的に接続させた状態で、上記載置台をオーバードライブさせて上記被検査体と上記複数のプローブを電気的に接触させてテスタからの信号に基づいて電気的特性検査を行うプローブ装置であって、上記載置台の現在のオーバードライブ量を測定する距離測定器を上記載置台側の少なくとも一箇所に設け、且つ、上記制御装置は、上記現在のオーバードライブ量と予め設定された所定のオーバードライブ量を比較し、この比較結果に基づいて上記現在のオーバードライブ量を上記所定のオーバードライブ量となるように補正することを特徴とするプローブ装置。
- 上記距離測定器は、レーザー光によって上記距離を測定するレーザー光式測長器であることを特徴とする請求項8に記載のプローブ装置。
- 上記距離測定器は、上記載置台上の被検査体と上記複数のプローブが接触し始めた時に上記固定機構までの距離を第1の距離として測定すると共に上記載置台がオーバードライブした時に上記固定機構までの距離を第2の距離として測定することを特徴とする請求項8または請求項9に記載のプローブ装置。
- 載置台をオーバードライブさせ、上記載置台上の被検査体とプローブカードの複数のプローブを電気的に接触させて上記被検査体の電気的特性検査を行う際に、上記載置台のオーバードライブ量を予め設定された所定のオーバードライブ量に補正する方法であって、上記載置台上の被検査体を上記プローブカードの複数のプローブに接触させる工程と、上記載置台をオーバードライブさせた時に現在のオーバードライブ量を求める工程と、上記現在のオーバードライブ量と上記所定のオーバードライブ量とを比較する工程と、上記比較結果に基づいて上記現在のオーバードライブ量が上記所定のオーバードライブ量になるように補正する工程と、を備えたことを特徴とするコンタクト位置の補正方法。
- 上記現在のオーバードライブ量を求める工程は、上記載置台上の被検査体が上記複数のプローブが接触し始めた時に上記被検査体の上面までの距離と上記プローブカードまでの距離をそれぞれ測定し、これら両者間の差を第1の距離として求める工程と、上記載置台がオーバードライブした時に上記被検査体の上面までの距離と上記プローブカードまでの距離をそれぞれ測定し、これら両者間の差を第2の距離として求める工程と、上記第1の距離と上記第2の距離との差を現在のオーバードライブ量として求める工程と、を有することを特徴とする請求項11に記載のコンタクト位置の補正方法。
- 上記現在のオーバードライブ量を求める工程は、上記載置台上の被検査体が上記複数のプローブが接触し始めた時に上記被検査体の上面までの第1の距離を測定する工程と、上記載置台がオーバードライブした時に上記被検査体の上面までの第2の距離を測定する工程と、上記第1の距離と上記第2の距離との差を現在のオーバードライブ量として求める工程と、上記現在のオーバードライブ量と上記所定のオーバードライブ量とを比較する工程と、を有することを特徴とする請求項11に記載のコンタクト位置の補正方法。
- 上記現在のオーバードライブ量を求める工程は、上記載置台上の被検査体が上記複数のプローブが接触し始めた時に上記プローブカードの固定部までの第1の距離を測定する工程と、上記載置台がオーバードライブした時に上記プローブカードの固定部までの第2の距離を測定する工程と、上記第1の距離と上記第2の距離との差を現在のオーバードライブ量として求める工程と、を有することを特徴とする請求項11に記載のコンタクト位置の補正方法。
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