JP2009206278A - バックグラインド用基体フィルム及びその製造方法 - Google Patents

バックグラインド用基体フィルム及びその製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】本発明は、薄型半導体ウェハのバックグラインド工程において、該半導体ウェハに反りが生じにくい優れた寸法安定性を有するバッググラインド用基体フィルムを提供する。
【解決手段】ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むA層、非晶性オレフィン15〜100重量%及びポリプロピレン系樹脂0〜85重量%を含むB層、並びにビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むC層、を有し、A層/B層/C層の順で積層されてなるバックグラインド用基体フィルム、及びその製造方法に関する。
【選択図】なし

Description

本発明は、半導体ウェハの裏面研削(以下、「バックグラインド」という)する際に、該半導体ウェハに貼着して使用される用基体フィルムに関する。
半導体を製造する場合には、半導体ウェハの表面にイオン注入、エッチング等で回路を形成した後、ウェハを所定の厚さにするためにウェハの回路形成面とは反対の面をグラインダー等で研削するバックグラインド工程を経るのが一般的である。
この半導体ウェハのバックグラインド時に、半導体ウェハの破損を防止し、研削加工を容易にするため、半導体ウェハの回路形成面(表面)に裏面研削用表面保護フィルム(バッググラインドフィルム)を貼着して保護する方法がとられている。
バッググラインドフィルムはバックグラインド時の摩擦熱により加熱され、バックグラインド終了後は常温まで冷却される。従来用いられているバッググラインドフィルムは、バックグラインド終了後の冷却過程で収縮するため半導体ウェハ側に反りが発生することが知られている。
近年、半導体ウェハの超薄型化(50μm以下)の進行により、バッググラインドフィルムの反りに追随して貼着された半導体ウェハにも反りが発生しやすくなり、ひいては半導体ウェハチップに欠けが発生するという問題が生じている(例えば、図1)。
そのため、薄型半導体ウェハのバックグラインド工程で反りが生じにくい寸法安定性に優れるバッググラインドフィルムが望まれてきている。
かかるウェハの反りの問題を解決するべく、特許文献1には、粘着剤層上にEVAフィルムをラミネートし、さらに粘着剤及びPETフィルムをラミネートして得られる半導体ウェハ加工用保護シートが提案されている(実施例1等)。
また、特許文献2には、エチレン−酢酸ビニル共重合体等のポリオレフィン系共重合体からなる基材フィルムの方表面に粘着剤を塗布した半導体ウェハ表面保護用粘着フィルムが提案されている(請求野範囲、実施例1等)。
また、特許文献3には、ジエン系ブロック重合体の水素添加物及び極性基変性オレフィン系重合体から選ばれる少なくとも1種を含むエラストマーからなるバックグラインドテープが記載されている。
特開2006−128292号公報 特開2006−261482号公報 特開2005−191296号公報
本発明は、薄型半導体ウェハのバックグラインド工程において、該半導体ウェハに反りが生じにくい優れた寸法安定性を有するバッググラインド用基体フィルムを提供することを目的とする。
本発明者は、上記の課題を解決するために鋭意研究を行った結果、ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体をそれぞれ所定割合含むA層及びC層、並びに非晶性オレフィン及びポリプロピレン系樹脂を含むB層を有するバックグラインド用基体フィルムが、バックグラインド工程において寸法安定性に優れることを見いだした。かかる知見に基づき、さらに研究を重ねて本発明を完成するに至った。
即ち、本発明は下記のバックグラインド用基体フィルム及びその製造方法を提供する。
項1. ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むA層、非晶性オレフィン15〜100重量%及びポリプロピレン系樹脂0〜85重量%を含むB層、並びにビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むC層を有し、A層/B層/C層の順で積層されてなるバックグラインド用基体フィルム。
項2. 厚みが50〜300μmである項1に記載のバックグラインド用基体フィルム。
項3. 項1又は2に記載のバックグラインド用基体フィルムのA層の表面に粘着剤層及び離型フィルムを有するバックグラインドフィルム。
項4. 項3に記載のバックグラインドフィルムを半導体ウェハの表面(回路面)に貼着し、該半導体ウェハの裏面を研削し、該半導体ウェハからバックグラインドフィルムを除去することを特徴とする半導体ウェハのバックグラインド方法。 項5. バックグラインド用基体フィルムの製造方法であって、ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むA層用樹脂、非晶性オレフィン15〜100重量%及びポリプロピレン系樹脂0〜85重量%を含むB層用樹脂、並びにビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むC層用樹脂を、A層/B層/C層の順で共押出成形することを特徴とする製造方法。
本発明のバッググラインド用基体フィルムは、薄型半導体ウェハのバックグラインド工程において、該半導体ウェハに反りが生じにくく寸法安定性に優れている。また、基体フィルム巻き取り時におけるブロッキングを効果的に抑制することができる。
I.バックグラインドフィルム
本発明のバックグラインド用基体フィルムは、次のA層/B層/C層を含む少なくとも3層からなり、特に3層のバックグラインド用基体フィルムが典型例として挙げられる。
ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むA層、非晶性オレフィン15〜100重量%及びポリプロピレン系樹脂0〜85重量%を含むB層、並びにビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むC層を有し、A層/B層/C層の順で積層されてなるバックグラインド用基体フィルムが挙げられる。ここで、(メタ)アクリル酸とは、アクリル酸又はメタクリル酸を意味する。
このバックグラインド用基体フィルムは、バックグラインド工程において発生する熱に対し高い寸法安定性を有し、半導体ウェハの反りを抑制することができる。しかも、該基体フィルムをロール状に巻き取った場合でもブロッキングの発生を抑えることができる。
ここで、ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物とは、ビニル芳香族炭化水素と共役ジエン炭化水素との共重合体を水素添加した化合物である。該化合物は市販されているか、或いは公知の方法により容易に製造ですることができる。ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体は、ランダム、ブロックのいずれでもよいが、好ましくはブロックである。
ビニル芳香族炭化水素としては、例えば、スチレン、α−メチルスチレン、p−メチルスチレン、ジビニルベンゼン、1,1−ジフェニルエチレン、N,N−ジメチル−p−アミノエチルスチレン、N,N−ジエチル−p−アミノエチルスチレン等があげられ、これらは一種のみならず二種以上を使用してもよい。特にスチレンが好適である。
共役ジエン炭化水素とは、1対の共役二重結合を有するジオレフィンであり、例えば1,3−ブタジエン、2−メチル−1,3−ブタジエン(イソプレン)、2,3−ジメチル−1,3−ブタジエン、1,3−ペンタジエン、2−メチル−1,3−ペンタジエン、1,3−ヘキサジエンなどであるが、特に一般的なものとしては1,3−ブタジエン、イソプレンが挙げられる。これらは一種のみならず二種以上を使用してもよい。特にブタジエンが好適である。
ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物におけるビニル芳香族炭化水素単位の含有量は、通常8〜75重量%、好ましくは10〜70重量%であり、また、共役ジエン炭化水素単位の含有量は、通常25〜92重量%、好ましくは20〜90重量%である。スチレン系単量体単位の含有量は、紫外分光光度計又は核磁気共鳴装置(NMR)を用いて、ジエン系単量体単位の含有量は、核磁気共鳴装置(NMR)を用いて測定することができる。
ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物の硬度(JIS K6253 デュロメータータイプA)は40〜90程度、好ましくは、55〜85程度である。その比重(ASTM D297)は0.85〜1.0程度であり、MFR(ASTM D1238:230℃、21.2N)は2〜6g/10min程度である。
ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物の重量平均分子量(Mw)は、例えば、10万〜50万程度、好ましくは15万〜30万程度であればよい。重量平均分子量は、市販の標準ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)を用いて測定できる。
使用するビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物は、共役ジエン炭化水素に由来の二重結合を、公知の方法により水素添加(例えば、ニッケル触媒等)して飽和にしておくのがよい。これにより、耐熱性、耐薬品性、耐久性等に優れたより安定な樹脂になるからである。そのビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物の水添率は、共重合体中の共役ジエン炭化水素に基づく二重結合の85%以上、好ましくは90%以上、より好ましくは95%以上である。この水添率は、核磁気共鳴装置(NMR)を用いて測定できる。
また、(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体としては、(メタ)アクリル酸アルキルエステル系単量体とスチレン系単量体、さらに必要に応じジエン系単量体、アクリロニトリル系単量体等からなる共重合体が挙げられる。
(メタ)アクリル酸アルキルエステル系単量体としては、(メタ)アクリル酸のアルキルエステルであり、該アルキルは一般に炭素数1〜5のアルキル(特に、メチル、エチル等)であり、炭素数が大きくなる程該重合体の硬度は低下する傾向にある。(メタ)アクリル酸アルキルエステル系単量体の具体例としては、例えば、アクリル酸メチル、アクリル酸エチル、メタアクリル酸メチル、メタアクリル酸エチル等が挙げられる。
ジエン系単量体としては、1対の共役二重結合を有するジオレフィンが挙げられ、例えば1,3−ブタジエン、2−メチル−1,3−ブタジエン(イソプレン)、2,3−ジメチル−1,3−ブタジエン、1,3−ペンタジエン、2−メチル−1,3−ペンタジエン、1,3−ヘキサジエンなどであるが、特に一般的なものとしては1,3−ブタジエン、イソプレンが挙げられる。これらは一種のみならず二種以上を使用してもよい。特にブタジエンが好適である。
スチレン系単量体は、例えば、スチレン、α−メチルスチレン、p−メチルスチレン、ジビニルベンゼン、1,1−ジフェニルエチレン、N,N−ジメチル−p−アミノエチルスチレン、N,N−ジエチル−p−アミノエチルスチレン等があげられ、これらは一種のみならず二種以上を使用してもよい。特にスチレンが好適である。
具体的なメタアクリル酸アルキルエステル系重合体としては、例えば、メタアクリル酸アルキルエステル系単量体単位と、スチレン系単量体単位とからなる共重合体(MS2元共重合体)が挙げられ、好ましくは(メタ)アクリル酸アルキルエステル系単量体単位40〜60重量%(特に50〜60重量%)と、スチレン系単量体単位40〜60重量%(特に40〜50重量%)とからなる共重合体が挙げられる。
MS2元共重合体は硬質樹脂であり、その硬度(JIS K6253 デュロメータータイプD)は、70〜90程度、好ましくは、80〜90である。その比重(ASTM D297)は1.10〜1.12程度であり、MFR(ASTM D1238:230℃、21.2N)は1.0〜5.0g/10min程度であり、ガラス転移温度(Tg)は、示差走査熱量測定法(DSC法)により測定した値で85〜105℃程度、好ましくは、90〜100℃程度である。また、MS2元樹脂の重量平均分子量(Mw)は、10万〜40万程度、好ましくは10万〜20万程度である。測定は、GPC法による。
また、(メタ)アクリル酸アルキルエステル系単量体単位と、ジエン系単量体単位と、スチレン系単量体単位とからなる共重合体(MBS3元共重合体)が挙げられ、好ましくは(メタ)アクリル酸アルキルエステル系単量体単位30〜62重量%(特に30〜40重量%)と、ジエン系単量体単位3〜35重量%(特に10〜20重量%)と、スチレン系単量体単位35〜67重量%(特に40〜60重量%)とからなる共重合体が挙げられる。
MBS3元共重合体は硬質樹脂であり、その硬度(JIS K6253 デュロメータータイプD)は、20〜50程度、好ましくは、30〜40である。その比重(ASTM D297)は1.09〜1.11程度であり、MFR(ASTM D1238:230℃、21.2N)は2.0〜6.0g/10min程度であり、ガラス転移温度(Tg)は、示差走査熱量測定法(DSC法)により測定した値で80〜95℃程度、好ましくは、85〜90℃程度である。また、MBS3元樹脂の重量平均分子量(Mw)は、10万〜40万程度、好ましくは10万〜20万程度である。測定は、GPC法による。
また、(メタ)アクリル酸アルキルエステル系単量体単位と、アクリロニトリル系単量体単位と、ジエン系単量体単位と、スチレン系単量体単位とからなる共重合体(MABS4元共重合体)が挙げられ、好ましくは(メタ)アクリル酸アルキルエステル系単量体単位20〜40重量%(特に20〜30重量%)と、アクリロニトリル系単量体単位5〜15重量%(特に5〜10重量%)と、ジエン系単量体単位5〜15重量%(特に5〜10重量%)と、スチレン系単量体単位30〜70重量%(特に50〜70重量%)とからなる共重合体が挙げられる。
MABS4元共重合体は硬質樹脂であり、その硬度(JIS K6253 デュロメータータイプD)は、20〜50程度、好ましくは、30〜40である。その比重(ASTM D297)は1.09〜1.11程度であり、MFR(ASTM D1238:230℃、21.2N)は1.0〜5.0g/10min程度であり、ガラス転移温度(Tg)は、示差走査熱量測定法(DSC法)により測定した値で80〜95℃程度、好ましくは、85〜90℃程度である。また、MABS4元樹脂の重量平均分子量(Mw)は、10万〜40万程度、好ましくは10万〜20万程度である。測定は、GPC法による。
非晶性オレフィンとしては、エチレン及び炭素数3〜20のα−オレフィンからなる群から選ばれた二種以上のオレフィンを必須として構成されるオレフィン共重合体が挙げられる。
炭素数3〜20のα−オレフィンとしては、直鎖状及び分岐状のα−オレフィンが含まれ、具体的には、直鎖状のα−オレフィンとしては、プロピレン、1−ブテン、1−ペンテン、1−ヘキセン、1−へプテン、1−オクテン、1−ノネン、1−デセン、1−ウンデセン、1−ドデセン、1−トリデセン、1−テトラデセン、1−ペンタデセン、1−ヘキサデセン、1−ヘプタデセン、1−オクタデセン、1−ノナデセン、1−エイコセン等が例示され、分岐状のα−オレフィンとしては、3−メチル−1−ブテン、3−メチル−1−ペンテン、4−メチル−1−ペンテン、2−エチル−1−ヘキセン、2,2,4−トリメチル−1−ペンテン等が例示される。
非晶性オレフィンは、温度135℃におけるテトラリン溶媒による極限粘度[η]が好ましくは0.3〜10.0であり、より好ましくは0.5〜7.0であり、更に好ましくは0.7〜5.0である。極限粘度[η]の測定は、135℃テトラリン中でウベローデ粘度計を用いて行う。サンプルは300mgを100mlテトラリンに溶解し、3mg/mlの溶液を調製した。更に当該溶液を1/2、1/3、1/5に希釈し、それぞれを135℃(±0.1℃)の恒温油槽中で測定する。それぞれの濃度で3回繰り返し測定し、得られた値を平均して用いる。
非晶性オレフィンは、示差走査熱量計(DSC)を用い、JIS K 7122に準拠して測定した場合に、結晶の融解に基く1J/g以上のピーク及び結晶化に基づく1J/g以上のピークのいずれをも有しないことが好ましい。示差走査熱量計は、たとえば島津製作所製 DSC−60を用い、昇温及び降温過程のいずれも10℃/minの速度で測定を行う。
非晶性オレフィンは、樹脂ペレットにした場合、粘着性を示すことがあり、市販されているもののなかには、ポリプロピレン系樹脂等とブレンドすることにより粘着性を抑えたものがある。ここでのポリプロピレン系樹脂は、第1層に用いられるポリプロピレン系樹脂と同様のものである場合がある。
非晶性オレフィンとしては、たとえば、住友化学株式会社製「タフセレン」、三井化学株式会社製「タフマー」等が例示できる。
また、ポリプロピレン系樹脂(PP)としては結晶性のものが好ましい。結晶性プロピレン系樹脂としては、プロピレンの単独重合体あるいはプロピレンと少量のα−オレフィン及び/又はエチレンとのランダム又はブロック共重合体が挙げられる。
ポリプロピレン系樹脂が共重合体である場合には、ランダム共重合体の場合、該共重合体中の他のα−オレフィン及び/又はエチレンの共重合割合は一般に合計で10重量%以下、好ましくは0.5〜7重量%であり、ブロック共重合体の場合、該共重合体中の他のα−オレフィン及び/又はエチレンの共重合割合は一般に1〜40重量%、好ましくは1〜25重量%、更に好ましくは2〜20重量%、特に好ましくは3〜15重量%である。これらのポリプロピレン系重合体は、2種以上の重合体を混合したものであってもよい。ポリプロピレンの結晶性の指標としては例えば、融点、結晶融解熱量などが用いられ、融点は120℃〜176℃、結晶融解熱量は60J/g〜120J/gの範囲にあることが好ましい。
該ポリプロピレン系樹脂は、気相重合法、バルク重合法、溶媒重合法及び任意にそれらを組み合わせて多段重合を採用することができ、また、重合体の数平均分子量についても特に制限はないが、好ましくは10,000〜1,000,000に調整される。
この結晶性ポリプロピレン系樹脂としては、JIS K7210に準拠して、温度230℃で、荷重21.18Nで測定したときのMFR(メルトフローレート)が0.5〜20g/10分好ましくは0.5〜10g/10分の範囲のものがよい。
上記で示される3層バックグラインド用基体フィルムの中間層であるB層は、非晶性オレフィンを15〜100重量%(好ましくは25〜90重量%、より好ましくは35〜80重量%)含み、ポリプロピレン系樹脂を0〜85重量%(好ましくは10〜75重量%、より好ましくは20〜65重量%)含んでいる。かかる組成割合とすることにより、主に、熱に対する優れた寸法安定性をバッググラインド用基体フィルムに付与し反りを生じにくくする働きを有する。
3層バックグラインド用基体フィルムの表裏層であるA層及びC層は、同一又は異なって、ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物を0〜50重量%(好ましくは20〜50重量%、より好ましくは30〜50重量%)含み、(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体を50〜100重量%(好ましくは50〜80重量%、より好ましくは50〜70重量%)含んでいる。かかる組成にすることにより、主に、基体フィルムをロール状に巻き取った状態においてブロッキングを効果的に抑制することができる。
A層及びC層の樹脂組成及び割合は同一又は異なっていてもよい。多層フィルムの製造のしやすさ、熱に対する寸法安定性等を考慮すると、A層及びC層の樹脂組成及び割合が同一のものが好ましい。つまり、基体フィルムの積層構造が対称であることが好ましい。
3層バックグラインド用基体フィルムのA層〜C層の全厚みは、通常50〜300μm、好ましくは60〜250μm、より好ましくは70〜200μmである。3層バックグラインド用基体フィルムの全厚みが70〜200μmの場合、A層の厚みは、通常5〜60μm、好ましくは20〜40μmである。B層の厚みは、通常30〜190μm、好ましくは70〜160μmである。C層の厚みは、通常5〜60μm、好ましくは20〜40μmである。A層とC層の厚みは同等とすることが好ましい。
特に、バックグラインド用基体フィルムの熱に対する寸法安定性を維持するためには、A層〜C層の全厚みに対するB層の厚みが、5〜90%、さらに30〜80%、特に50〜80%とするのが好ましい。
上記により得られるバックグラインド用基体フィルムのA層の表面上に公知の粘着剤をコートして粘着剤層が形成され、さらに該粘着剤層上に離型フィルムが設けられる。 粘着剤層の厚さは、例えば、10〜200μm程度、離型フィルムの厚さは、例えば、10〜100μm程度であればよい。
粘着剤層で用いられる粘着剤成分としては、公知のものが用いられ、例えば、特開平5−211234号公報等に記載された粘着剤成分を用いることができる。なお、離型フィルムも公知のものが用いられる。
この粘着剤層を構成する粘着剤としては、アクリル系粘着剤が好ましく、具体的には、(メタ)アクリル酸エステルを主たる構成単量体単位とする単独重合体および共重合体から選ばれたアクリル系重合体、その他の官能性単量体との共重合体、およびこれら重合体の混合物が用いられる。例えば、(メタ)アクリル酸エステルとしては、メタクリル酸エチル、メタクリル酸ブチル、メタクリル酸2−エチルヘキシル、メタクリル酸グリシジル、メタクリル酸2−ヒドロキシエチル、アクリル酸エチル、アクリル酸ブチル、アクリル酸2−エチルヘキシル、アクリル酸グリシジル、アクリル酸2−ヒドロキシエチルなどが好ましく使用できる。アクリル系重合体の分子量は、1.0×10〜10.0×10であり、好ましくは、4.0×10〜8.0×10である。
また、上記のような粘着剤層中に放射線重合性化合物を含ませることによって、半導体ウェハの裏面を研削した後、該粘着剤層に放射線を照射することによって、粘着力を低下させることができる。このような放射線重合性化合物としては、たとえば、光照射によって三次元網状化しうる分子内に光重合性炭素−炭素二重結合を少なくとも2個以上有する低分子量化合物が広く用いられる(例えば、特開昭60−196956号公報、特開昭60−223139号公報等)。
具体的には、トリメチロールプロパントリアクリレート、テトラメチロールメタンテトラアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、ジペンタエリスリトールモノヒドロキシペンタアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレートあるいは1,4−ブチレングリコールジアクリレート、1,6−ヘキサンジオールジアクリレート、ポリエチレングリコールジアクリレート、市販のオリゴエステルアクリレートなどが用いられる。
さらに、放射線重合性化合物として、上記のようなアクリレート系化合物のほかに、ウレタンアクリレート系オリゴマーを用いることもできる。ウレタンアクリレート系オリゴマーは、ポリエステル型またはポリエーテル型などのポリオール化合物と、多価イソシアネート化合物とを反応させて得られる末端イソシアネートウレタンプレポリマーに、ヒドロキシル基を有するアクリレートあるいはメタクリレートを反応させて得られる。このウレタンアクリレート系オリゴマーは、炭素−炭素二重結合を少なくとも1個以上有する放射線重合性化合物である。
さらに、粘着剤層中には、上記のような粘着剤と放射線重合性化合物とに加えて、必要に応じ、放射線照射により着色する化合物(ロイコ染料等)、光散乱性無機化合物粉末、砥粒(粒径0.5〜100μm程度)、イソシアネート系硬化剤、UV開始剤等を含有させることもできる。
II.バックグラインドフィルムの製法
本発明の多層構成のバックグラインド用基体フィルムは、Tダイスまたは環状ダイスを使用した押出法やカレンダー法等、従来から用いられている方法で成形することが可能である。基体フィルムの厚み精度の点から考えると、Tダイスを使用した押出法が好ましいため、以下Tダイスを使用した押出法について説明する。 ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むA層用樹脂、非晶性オレフィン15〜100重量%及びポリプロピレン系樹脂0〜85重量%を含むB層用樹脂、並びにビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むC層用樹脂を、A層/B層/C層の順で共押出成形することにより製造することができる。
上記の各層用樹脂は、ドライブレンド又は溶融混練し調製することができる。各層用樹脂をそれぞれこの順でスクリュー式押出機に供給し、180〜225℃で多層Tダイからフィルム状に押出し、これを50〜70℃の冷却ロ−ルに通しながら冷却して実質的に無延伸で引き取る。或いは、各層用樹脂を一旦ペレットとして取得した後、上記の様に押出成形してもよい。
なお、引き取りの際に実質的に無延伸とするのは、バックグラインド工程において、延伸したことによるフィルムの収縮を抑制するためである。この実質的に無延伸とは、無延伸、或いは、バックグラインド時のウェハの反りに影響を与えない程度の僅少の延伸を含むものである。通常、フィルム引き取りの際に、たるみの生じない程度の引っ張りであればよい。
上記で得られるバックグラインド用基体フィルムのA層の表面に粘着剤層及び離型フィルムを設ける方法は、公知の方法を採用することができる。バックグラインド用基体フィルムは、通常テープ状にカットされたロール巻き状態で取得される。
III.半導体ウェハのバックグラインド方法
本発明のバックグラインド方法は、バックグラインドフィルムを半導体ウェハの表面(回路面)に貼着し、該半導体ウェハの裏面を研削し、半導体ウェハからバックグラインドフィルムを除去する。
具体的には、該バックグラインドフィルムの粘着剤層から離型フィルムを剥離して、粘着剤層の表面を露出させて、その粘着剤層を介して集積回路が組み込まれた側の半導体ウェハの表面に貼着する。半導体ウェハの研削前の厚みは、通常、300μm〜1000μm程度である。次いで、半導体ウェハを固定して、その裏面を常法により研削する。研削後の半導体ウェハの厚みは、得られるチップのサイズ、回路の種類、用途等に応じて選択されるが、例えば、50μm〜200μm程度となる。裏面研削が終了した後、必要に応じケミカルエッチング工程やCMP(メカノケミカルポリッシング)工程を追加してもよい。その後、バックグラインドフィルムを剥離(除去)する。また、必要に応じて、バックグラインドフィルム剥離後に、半導体ウェハ表面に対して、水洗、プラズマ洗浄等の洗浄処理が施される。
以下に、本発明を、実施例及び比較例を用いてより詳細に説明するが、本発明はこの実施例に限定されるものではない。なお、「%」は重量%を意味する。
<原料>
実施例及び比較例において下記の原料を用いた。
・スチレン−ブタジエンブロック共重合体水素添加物(SEBS):旭化成ケミカルズ株式会社製 S.O.E. SS9000
・メタアクリル酸メチルエステル−スチレンブロック共重合体(MS):電気化学工業株式会社 TX100K
・メタアクリル酸メチル−ブタジエン−スチレンブロック共重合体(MBS):電気化学工業株式会社 TH23T
・メタアクリル酸メチル−アクリロニトリル−ブタジエン−スチレンブロック共重合体(MABS):電気化学工業株式会社 CL430
・非晶性オレフィン:住友化学株式会社製 タフセレン
・ポリプロピレン系樹脂:サンアロマー株式会社製 PC412A
<反りの評価>
ウェハの代替として、常温(25℃)から50℃の温度域で、半導体ウェハと同程度に寸法安定性の良いポリイミド(PI)テープ(住友スリーエム株式会社製 スコッチポリイミドテープ No.5434、厚さ53μm)を使用した。
作成したバックグラインド用基体フィルムに上記PIテープ(幅2 cm×長さ14 cm)を貼付け、サンプルとして切り出し、2枚のステンレス板(厚み2mm)に挟み、50℃に設定したオーブン内で10分間加熱した。その後、サンプルを取り出して常温(25℃)で10分間放冷し、フィルムの収縮によって発生する反りを測定した。
反り量は、バックグラインド用基体フィルムにPIテープを貼り付けた状態で、バックグラインド用基体フィルムが上側になるように水平面上に置き、該水平面から最も浮いているPIテープの端部の高さ(mm)を測定した(図2)。反りが3mm以下を「○」とし、3mmを越えるものを「×」とした。
<ブロッキングの評価>
得られた基体フィルムの任意の場所から、たて100 mm×よこ30 mm(フィルムの流れ方向をたて方向、幅方向をよこ方向としてサンプルを切り出した)の大きさに測定用サンプルを2枚切り出した。2枚の測定用サンプルを、同一面(冷却ロールと接する面)同士がたて40 mm×よこ30 mm の面積で重なり合うようにし、この重なり合った測定用サンプルを2枚のガラス板で挟み、その上から、サンプルが重なり合っている部分に600 gの重りをのせた。これを40℃の恒温槽の中に入れ、7日間放置した。7日後、恒温槽より取り出したサンプルを、新東科学株式会社製剥離試験器(Peeling TESTER HEIDON−17)にセットし、引張り速度200 mm/minで、180度せん断剥離強度を測定し、4.9 N/10 mm以下であれば、ブロッキングなしとした。
実施例1(A/B/Cの3層フィルム)
SEBS 20重量%及びMBS 80重量%をドライブレンドし、これをA層用樹脂とした。非晶性オレフィン 20重量%及びポリプロピレン系樹脂 80重量%をドライブレンドし、これをB層用樹脂とした。SEBS 20重量%及びMBS 80重量%をドライブレンドし、これをC層用樹脂とした。
A層用樹脂、B層用樹脂及びC層用樹脂をこの順でバレル温度180〜220℃の多層押出機に供給した。230℃のTダイスから押出し、設定温度40℃の引き取りロールにて冷却固化して、無延伸の状態で巻き取った。
得られた3層の基体フィルムの厚みは、A層20μm、B層110μm、C層20μmで総厚み150μmであった。
実施例2−16、比較例1〜3(A/B/Cの3層フィルム)
表1、2に記載の樹脂組成及び配合割合にすること以外は実施例1と同様に処理して、実施例2−16、比較例1〜3の3層の基体フィルムを得た。
Figure 2009206278
Figure 2009206278
バッググラインド用基体フィルムの反りに追随して半導体ウェハにも反りが発生し欠けが発生することを模式的に示した図である。 バッググラインド用基体フィルムの反りの測定方法を模式的に示した図である。

Claims (5)

  1. ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むA層、非晶性オレフィン15〜100重量%及びポリプロピレン系樹脂0〜85重量%を含むB層、並びにビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むC層を有し、A層/B層/C層の順で積層されてなるバックグラインド用基体フィルム。
  2. 厚みが50〜300μmである請求項1に記載のバックグラインド用基体フィルム。
  3. 請求項1又は2に記載のバックグラインド用基体フィルムのA層の表面に粘着剤層及び離型フィルムを有するバックグラインドフィルム。
  4. 請求項3に記載のバックグラインドフィルムを半導体ウェハの表面(回路面)に貼着し、該半導体ウェハの裏面を研削し、該半導体ウェハからバックグラインドフィルムを除去することを特徴とする半導体ウェハのバックグラインド方法。
  5. バックグラインド用基体フィルムの製造方法であって、ビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むA層用樹脂、非晶性オレフィン15〜100重量%及びポリプロピレン系樹脂0〜85重量%を含むB層用樹脂、並びにビニル芳香族炭化水素−共役ジエン炭化水素共重合体の水素添加物0〜50重量%及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル系重合体50〜100重量%を含むC層用樹脂を、A層/B層/C層の順で共押出成形することを特徴とする製造方法。
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