JP2009198375A - 部品試験装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】部品試験装置は部品試験部の複数のテストソケットScに電子部品Tを搬送する2つの搬送ハンド50A,50Bを有する。各搬送ハンド50A,50Bは水平方向に独立して移動可能である。また各搬送ハンド50A,50Bには垂直方向に移動可能なインデックスユニット60が設けられている。インデックスユニット60には、テストソケットScの数及び間隔に対応して延出されて電子部品Tを把持する部分であるユニットホルダ60A,60Bが、対向するインデックスユニット60から延出されたユニットホルダ60A,60Bと互いに上下方向へのすれ違いが可能な態様で櫛状に設けられている。
【選択図】図5
Description
テストソケットが搬送ハンドの移動方向に沿って複数配列される場合であれ、電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供することにある。
このような構成によれば、電子部品のテストソケットへの入れ替えが常に少なくともインデックスユニットの有するユニットホルダの1つの幅分だけのシフト(移動)量で済むこととなり、複数の搬送ハンドとしての上記構造によるメリットを最大限に享受することが可能となる。
このような構成によれば、搬送ハンドに設けられた複数のインデックスユニットの数に対応する回数だけその搬送ハンドは電子部品の給排を行なうことなく電子部品のテストソケットへの入れ替えをすることができる。すなわち、搬送ハンドはそれが備えるインデックスユニットの数分の回数だけ最短時間にて電子部品のテストソケットへの入れ替えを行うことができる。さらに、搬送ハンドのうちの1つがインデックスユニットのうちの1つに保持した電子部品の試験を終了した後に、その搬送ハンドのインデックスユニットのうちの他の1つに保持した電子部品を試験させるテストソケットに隣接する位置まで移動させることができる。このようなテストソケットの隣接位置までの移動を他の搬送ハンドの試験中に随時行なうことを通じ、電子部品をテストソケットに最短時間で入れ替えることのできる回数を増やすことができる。これにより、部品試験装置として搬送時間をも含めた電子部品のテストにかかるスループットも更に飛躍的に向上されることとなる。
以下、本発明を具体化した第1の実施形態を図1〜図3に従って説明する。図1は、本実施形態にかかる部品試験装置の構造を斜視図により示したものである。
貫通穴12が形成され、その貫通穴12に対応する下層支持体の位置にはテストソケットScがそれぞれ嵌め込まれるかたちで設置されている。すなわち、4つのテストソケットScの中心の間隔はこれも部品試験部10の長手方向にはソケット長手間隔Lp、幅方向にはソケット幅間隔Lsとなっている。
直線上に配列されており、説明の便宜上、この配列のことを以下では部品搬送配列とも言う。
動するようになっている。
その各部品把持部70のそれぞれに把持することができる。また、ポケットPcがこのように配置された排出トレイETを用いた場合、第1及び第2の搬送装置40A,40Bは、排出位置P3において、各々その搬送ハンド50のインデックスユニット60を移動させて各部品把持部70に把持した計4個の電子部品Tを排出トレイETに排出することができる。また、各トレイST,ETにはポケットPcが相対向する搬送ハンド50の両方に同時に対応するように配置されてもよい。すなわち、各トレイST,ETにおいて、基台1長手方向にソケット長手間隔Lp/2の間隔で4つ、基台1幅方向にソケット幅間隔Lsの間隔で2つ(計8個)のようにポケットPcを配置する。これにより、第1及び第2の搬送装置40A,40Bは供給位置P2において、一方の搬送ハンド50が電子部品Tを把持した後に供給トレイSTが電子部品Tを再び供給するための入れ替え動作をすることなく、供給動作のタイミングに合わせて電子部品Tをその各部品把持部70のそれぞれに把持することもできる。すなわち、供給動作のタイミングに合わせて各搬送ハンド50のインデックスユニット60をそれぞれ昇降させて供給トレイSTから4個ずつ(計8個)の電子部品Tをそれぞれに把持することができる。さらに、第1及び第2の搬送装置40A,40Bは排出位置P3において、一方の搬送ハンド50が電子部品Tを排出した後に排出トレイETが電子部品Tを再び排出するための入れ替え動作をすることなく、排出動作のタイミングに合わせて電子部品Tを排出トレイETに排出することもできる。すなわち、排出動作のタイミングに合わせて各搬送ハンド50のインデックスユニット60をそれぞれ移動させて各部品把持部70に把持した4個ずつ(計8個)の電子部品Tをそれぞれに把持することができる。
(1)各搬送ハンド50A及び50Bのインデックスユニット60には4つのテストソケットScに対応して延出された櫛状のユニットホルダ60A,60Bを、相対向するインデックスユニット60から延出されたユニットホルダ60A,60Bと互いに上下方向へのすれ違いが可能な態様で設けた。また、テストソケットSc自体をインデックスユニット60の1つに櫛状に設けられた複数のユニットホルダ60A,60Bの把持する電子部品Tに対応するように配列するようにした。これにより、搬送ハンド50A,50Bの移動方向に沿って複数配列された同一機能のテストソケットScに複数の電子部品Tを同時に配置してそれら電子部品Tの試験(テスト)を一括して行う場合であれ、少なくとも2つの搬送ハンドの一方をそれらテストソケットへの電子部品の配置に用いることができ
る。またこのときには、他方を少なくともホルダ幅Ldに対応する幅だけ位相をずらして待機させることが可能となる。すなわち、一方の搬送ハンド50A(50B)の把持している電子部品Tの試験が終了した後は、待機している他方の搬送ハンド50B(50A)も含め、それら2つの搬送ハンド50A,50BをテストソケットScの少なくともホルダ幅Ldに対応する幅である最短距離(1ピッチ)分だけシフト(移動)させることで最短時間で済むようになる。これにより、同待機している他方の搬送ハンド50B(50A)に把持されている電子部品TのテストソケットScに対する円滑でかつ迅速な配置が可能となる。このため、同一機能のテストソケットScが搬送ハンド50A,50Bの移動方向に沿って複数配列される場合であれ、電子部品TのそれらテストソケットScへの入れ替えに伴う時間は確実に短縮されることとなり、ひいては部品試験装置としてその搬送時間をも含めた電子部品Tのテストにかかるスループットも的確に向上されるようになる。また、複数の搬送ハンド50A,50Bとしてのこのような構造により、電子部品Tの試験時間を利用しての各搬送ハンド50A,50Bのいわばロータリー移動が可能となる。すなわちこの場合、上記供給位置P2と排出位置P3とを単一の箇所として共用することも可能となり、設備コストの低減も併せて図られるようになる。
図12に、本発明にかかる部品試験装置の第2の実施形態についてその斜視図を示す。なお、この第2の実施形態は1つの搬送ハンドに備えるインデックスユニットの数を2つにしたものであり、以下では主に、先の第1の実施形態との相違点を中心に、同部品試験装置としての具体構成について説明する。また、第1の実施形態と同様の部材には同じ符号を付しその説明を省略する。
独立駆動可能な2つの垂直モータM5の正逆回転に伴って上下動可能に備えられている。
ホルダ60Aとユニットホルダ60Bとの間の位置に配置される。またこのとき、第3インデックスユニットIx3の各ユニットホルダ60A,60Bは、第2インデックスユニットIx2のそれぞれ対応する各ユニットホルダ60B,60Aにそれぞれ1ピッチの距離に配置されている。
尚、上記各実施形態は以下のように変更してもよい。
・上記各実施形態では、テストソケットScをその中に電子部品Tを載置させる形状のものとしたが、テストソケットの形状は任意であり、IC等の電子部品の各電極との電気的接続が確実に図られる構造のものであればよい。
番に並べた。しかしこれに限らず、部品搬送配列を配置の都合によりその他の配置としてもよい。例えば排出位置、供給位置、試験位置や供給位置、排出位置、試験位置などのように自由度をもたせることができる。また、供給位置、排出位置は必ずしも別々の位置である必要はなく、同じ位置とすることもでき、この場合にあっては部品供給装置と部品排出装置の共用も可能となる。
・上記各実施形態では、インデックスユニット60には2つのユニットホルダ60A,60Bが設けられ、それに対応するように部品試験部10にはテストソケットScが基台1の長手方向にも2つ設けられた。しかしこれに限らず、インデックスユニット60に設けられるユニットホルダの数は3以上であってもよく、これに対応して基台1の長手方向のテストソケットScの数も3以上でもよい。そしてこの場合には、ユニットホルダの数に対応するかたちで、搬送ハンドの移動方向への幅が変更されるなどしたインデックスユニットが各搬送ハンドに対して独立駆動可能に複数設けられることとなる。
Claims (5)
- 部品供給手段によって供給位置に供給された電子部品を部品把持部により把持して試験位置に設けられたテストソケットに搬送し、配置させるとともに、試験の済んだ電子部品を前記部品把持部により把持してテストソケットから排出位置まで搬送し、部品排出手段に載置する搬送ハンドを備えた部品試験装置であって、
前記搬送ハンドは、前記テストソケットを該搬送ハンドの移動方向に直交する方向から挟む態様で、独立駆動の可能な複数の搬送ハンドからなるとともに、それら搬送ハンドには、前記電子部品を各別に把持可能な割り出しユニットであるインデックスユニットが互いに前記テストソケットに向き合う方向でかつ各対応する搬送ハンドとは上下方向に独立駆動可能に設けられてなり、
前記インデックスユニットには、前記テストソケットに対応するように延出されて前記電子部品を把持する部分であるアーム状のユニットホルダが、対向するインデックスユニットから延出されたユニットホルダと互いに上下方向へのすれ違いが可能な態様で櫛状に複数設けられてなり、
前記テストソケットは、前記搬送ハンドのうちの1つに備えられた前記インデックスユニットの有する複数のユニットホルダに把持される前記電子部品の数及び間隔に対応して複数配列されてなる
ことを特徴とする部品試験装置。 - 前記インデックスユニットは前記搬送ハンドの各々に対して一つずつ設けられてなる
請求項1に記載の部品試験装置。 - 前記インデックスユニットは前記搬送ハンドの各々に対して独立駆動可能に複数設けられてなる
請求項1に記載の部品試験装置。 - 前記ユニットホルダの各々には、前記電子部品の把持機構として、電子部品を吸着する機構及び電子部品を前記テストソケットに押込む機構がそれぞれ設けられてなる
請求項1〜3のいずれか一項に記載の部品試験装置。 - 前記ユニットホルダの各々には、これら搬送ハンドの移動方向と直交する方向に前記電子部品の把持機構として、前記電子部品を吸着する機構及び前記電子部品をテストソケットに押込む機構が複数設けられてなり、前記テストソケットは同一機能のソケットが前記ユニットホルダに備えられた複数の前記電子部品の把持機構に対応して前記搬送ハンドの移動方向と直交する方向にも複数配列されてなる
請求項4に記載の部品試験装置。
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