JP2009198375A5 - - Google Patents

Claims (5)

1. 電子部品を部品供給手段によって部品供給位置に供給し、
   前記電子部品を部品把持部により把持し、
   前記部品把持部で把持された前記電子部品を、テストソケットまで搬送して配置させ、
   前記テストソケットにて所定の試験を行い、
   前記所定の試験を行った前記電子部品を、前記部品把持部で把持して前記テストソケットから取り出し、
   部品排出手段の部品排出位置まで搬送して載置する
   各々独立駆動が可能な第１の搬送ハンド及び第２の搬送ハンドを備えた部品試験装置であって、
   第１の搬送ハンド及び第２の搬送ハンドは、前記テストソケットを挟んで設けられ、
   第１の搬送ハンドには、前記テストソケットから離間する方向、あるいは前記テストソケットに接近する方向に駆動可能な第１のインデックスユニットが設けられ、
   第２の搬送ハンドには、前記テストソケットから離間する方向、あるいは前記テストソケットに接近する方向に駆動可能な第２のインデックスユニットが設けられ、
   前記第１のインデックスユニットには、前記第２の搬送ハンドに向かう方向に片持ち梁状に延出して前記部品把持部を支持する複数のユニットホルダが、隣接するユニットホルダとの間に第１の距離で離間して配置され、
   前記第２のインデックスユニットには、前記第１の搬送ハンドに向かう方向に片持ち梁状に延出して前記部品把持部を支持する複数のユニットホルダが、隣接するユニットホルダとの間に第２の距離で離間して配置され、
   前記第１の距離は、前記第２のインデックスユニットに配置された前記ユニットホルダ個々の配列方向の幅であるホルダ幅よりも長く、
   前記第２の距離は、前記第１のインデックスユニットに配置された前記ユニットホルダ個々の配列方向の幅であるホルダ幅よりも長く、
   前記テストソケットは前記ユニットホルダ個々の配列方向に複数配列され、
   前記テストソケットの配列ピッチは、前記第１インデックスユニット及び前記第２インデックスユニットに設けられた複数の前記部品把持部の配列ピッチと同じである
   ことを特徴とする部品試験装置。
2. 前記第１のインデックスユニットは、前記第１の搬送ハンドに対して一つ設けられ、前
   記第２のインデックスユニットは、前記第２の搬送ハンドに対して一つ設けられている
   ことを特徴とする請求項１に記載の部品試験装置。
3. 前記第１のインデックスユニットは、前記第１の搬送ハンドに対して独立駆動可能に複数設けられ、前記第２のインデックスユニットは、前記第２の搬送ハンドに対して独立駆動可能に複数設けられている
   ことを特徴とする請求項１に記載の部品試験装置。
4. 前記ユニットホルダの各々には、電子部品を吸着する機構及び電子部品を前記テストソケットに押込む機構がそれぞれ設けられている
   ことを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の部品試験装置。
5. 前記ユニットホルダの各々には、前記電子部品を吸着する機構及び前記電子部品を前記テストソケットに押込む機構が前記第１の搬送ハンド及び前記第２の搬送ハンドの移動方向と直交する方向に複数設けられ、
   前記テストソケットは、前記第１の搬送ハンド及び前記第２の搬送ハンドの移動方向と直交する方向に複数配列されている
   ことを特徴とする請求項４に記載の部品試験装置。