JP2008310316A - 対物レンズ、光学測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】顕微鏡の対物レンズ200は、被測定物に対向するとともに、この被測定物Aの測定面で反射した光を透過するレンズ222と、レンズ222の後段に設けられるとともに、レンズ222を透過した光の主光軸に対して略直交する光通過面における光通過孔の開口径を変更する虹彩絞り230と、光通過孔を通過した光を結像するズーム結像レンズを備えた胴体部のレボルバに着脱可能に設けられるとともに、レンズ222および虹彩絞り230を保持する筒状本体部210と、を具備した。
【選択図】図2
Description
この無限遠補正光学系を構成する顕微鏡対物レンズにおいて、NA(開口数)は、使用する波長とともに解像度と、焦点深度とを決める重要なパラメータである。
そして、多くの光学機器メーカでは、1つの倍率において、標準的な分解能および焦点深度を持つ対物レンズと、高分解能で焦点深度が浅い高NA対物レンズと、NAを抑え焦点深度が比較的深い対物レンズと、を準備し、ユーザの観察要求に対応している。
また、特許文献1に記載のような構成では、例えば観察したい被測定物がその形状や大きさなどの理由により観察できない場合、対物レンズを交換することなくそのNAを変更できるという利便性を享受できないという問題点が一例として挙げられる。
このため、絞り手段における光の通過範囲を適宜変更することにより、対物レンズのNA(Numerical Aperture:開口数)が調整される。したがって、NAを調整するために対物レンズを交換する必要がなく、作業効率が向上する。
また、NAを調整可能な対物レンズを、被測定物の形状や大きさに応じて変更するなどの作業が不要であり、例えば顕微鏡の本体部に着脱可能に取り付けることにより、結像レンズに対して対物レンズの反対側に絞りを設けた特別な顕微鏡を用いることなく、対物レンズを交換せずにそのNAを変更できるという利便性を得られる。したがって、被測定物に応じた観察を適切に実施可能となる。
この発明によれば、絞り手段がレンズの射出瞳の位置に設けられている。すなわち、絞り手段は、レンズの被測定物とは反対側の像側焦点である、いわゆる射出瞳が形成される位置に設けられている。
このため、絞り手段による光通過面の光の通過範囲の変化により、像を形成する一部の光のみが遮断されることがないため、分解能および焦点深度のずれがなく、良好に被測定物の像を透過させることが可能となる。
この発明によれば、絞り手段にて光通過面の光の通過範囲を連続的に変化させることが可能であるため、NAを連続に変化させることができる。これにより、被測定物の形状や大きさに応じたより適切なNAを設定することができ、より適切な被測定物の観察が実施可能となる。
この発明によれば、絞り手段が、光通過面の通過範囲の有効径を変化させる虹彩絞りである。これにより、光通過面の通過範囲の有効径、すなわち光路の径寸法をスムーズに変化させることができるため、容易に連続的に光通過範囲を変化させることができる。
この発明によれば、絞り手段にて光通過面の光の通過範囲を段階的に変化させることが可能であるため、NAも段階的に変化させることができる。これにより、被測定物の形状や大きさに応じたより適切なNAを容易に設定することができる。
この発明によれば、絞り制御手段により絞り手段を制御して、光通過面における光の通過範囲を変更している。これにより、絞り制御手段により、例えばコントローラやキーボードなどの入力操作手段からの入力信号に応じて絞り手段を制御することができ、容易に適切なNAを設定することができ、作業効率をより向上させることが可能となる。
この発明によれば、光学測定装置は、上記のような対物レンズからの光を、光路部を介して接眼レンズに導いている。これにより、光学測定装置は、対物レンズの絞り手段により容易に適切なNAに調節することができ、また、対物レンズを交換することなくNAを調節可能であるため、測定作業における作業効率が向上する。
図1は、本発明の一実施の形態に係る光学測定装置としての顕微鏡の光学要部における概略構成を示す図である。図2は、前記実施の形態の対物レンズの一部を断面した側面図である。図3は、対物レンズにおける虹彩絞りの構成を示す平面図である。
図1において、100は、光学測定装置としての顕微鏡であり、この顕微鏡100は、図示しない台座部と、台座部に設けられる図示しないステージと、台座部に連結される胴体部110と、対物レンズ200と、接眼レンズ300と、を備えている。胴体部110には、対物レンズ200と接眼レンズ300とを連結する光路部120が設けられている。そして、この顕微鏡100は、被測定物Aの測定面で反射されて対物レンズ200に入射された光が、光路部120を介して接眼レンズ300に導かれることにより、接眼レンズ300から被測定物Aの像を所定倍率で観察することが可能となる。なお、胴体部110および接眼レンズ300により本発明の本体部が構成される。
ここで、接眼レンズ側光路孔122に係合される接眼レンズ300は、例えば略筒状に形成され、筒の軸方向に沿って複数の接眼構成レンズ310が配置されている。この接眼構成レンズ310は、例えば入射した光を集光する複数の視野レンズ311、接眼レンズ300の一端側に設けられる対眼レンズ312などの複数の光学レンズにより構成されている。そして、この接眼構成レンズ310は、胴体部110のズーム結像レンズ124にて集光されて、中間像位置T1に結像された光を拡大するとともに、接眼レンズ300の接眼レンズ側光路孔122から離れる側の一端部近傍に対眼レンズ312の射出瞳が形成される状態に、前記光を集光する。
光ファイバ141は、光源から射出された照明光を胴体部110内の所定位置に導く。また、光ファイバ141の射出側端面近傍には、照明光の光量を調整する開口絞り141Aが設けられている。
コンデンサレンズ142は、光ファイバ141のファイバ端面から射出された照明光を集光する。すなわち、光ファイバ141から射出された照明光は、略放射状に拡散して射出されるが、コンデンサレンズ142は、これらの照明光を集光し、略平行光として反射ミラー143に向かって射出される。
反射ミラー143は、コンデンサレンズ142からの照明光を光路部120に向かって反射させる。なお、本実施の形態では、1つの反射ミラー143が設けられる例を示すが、複数の反射ミラー143により照明光が導かれる構成などとしてよい。
ハーフミラー144は、光路部120内に設けられる。そして、ハーフミラー144は、反射ミラー143から入射した光を対物レンズ200に向かって反射させる。また、ハーフミラー144は、対物レンズ200から入射された光をそのまま透過して光路部120内に導く。
以上により、照明光導入部140は、光源からの照明光を平行光化して対物レンズ200から被測定物Aに照射させることが可能となる。
次に、胴体部110のレボルバ130に固定される対物レンズ200の説明をする。
対物レンズ200は、図2に示すように、保持手段としての筒状本体部210と、筒状本体部の内部に設けられるレンズホルダ220と、絞り手段としての虹彩絞り230と、などを備えている。
調整部材211Bは、図示しないネジによりコマ部材211Aに螺合され、調整部材211Bとコマ部材211Aとが互いに締め付ける状態で固定されている。また、調整部材211Bは、筒状本体部210に摺動可能に接合されており、調整部材211Bの下部の段差により抜け落ちないようになっている。さらに、調整部材211Bは、その外周面に沿って調整ネジ211Cの先端が係合されるV溝211B1が一筋に形成されている。そして、調整ネジ211CがV溝211B1に締め付けられた状態では、筒状本体部210が固定され回転できなくなり、調整ネジ211Cが緩められた状態では、筒状本体部210が回転可能となる。レボルバ130に固定された対物レンズ200を光路部120の延長上に配置した際に、筒状本体部210を回転させ、絞り調節ノブ233を操作し易い所定位置に調整した後に、調整ネジ211CをV溝211B1に締め付け固定する。
対物レンズ200のレボルバ130への固定は、コマ部材211Aの一端側(上部外周)に雄ねじ山が形成されていて、レンズ固定孔131に設けられた雌ねじ部に螺合することにより固定される。
この虹彩絞り230は、図3に示すように、枠部231と、可動枠232と、絞り調節ノブ233と、複数の虹彩羽根234とを備えている。
枠部231は、略環状に形成され、筒状本体部210の内周面に固定されている。
可動枠232は、枠部231に対して、周方向に移動可能に設けられている。
絞り調節ノブ233は、枠部231から径方向に向かって突出するともに、筒状本体部210の内外を連通するノブ孔212から筒状本体部210の外部に突出して設けられている。また、絞り調節ノブ233は、可動枠232と図示しない連動部にて連結されている。そして、絞り調節ノブ233が回転されると、連動部を介して可動枠232に動力が伝達され、可動枠232も周方向に沿って回転移動する。
虹彩羽根234は、可動枠232から虹彩絞りの内径側に向かう板状に形成され、可動枠232に回動自在に設けられている。これらの虹彩羽根234は、絞り調節ノブ233の操作により可動枠232が回転されると、回転方向に先端部が径方向に向かって進退する状態に移動する。これにより、例えば図3において可動枠232が反時計回りに回転すると、虹彩羽根234の先端が外径側に移動し、これら虹彩羽根234の先端側にて囲われることで形成される、光通過範囲としての光通過孔235が拡大する。また、例えば可動枠232が時計回り方向に回転すると、虹彩羽根234の先端が内径側に移動し、光通過孔235が縮小する。
ここで、対物レンズ200のNAは、次式(1)により求めることができる。
(NA)=n・sinθ …(1) この(1)式において、θは、対物レンズ200の最も外側を通過する光線と、対物レンズ200の軸とのなす角である。また、nは、対物レンズ200と、被測定物Aとの間の媒質が持つ屈折率であり、例えば空気の場合n=1である。
上記(1)式により、虹彩絞り230における光通過孔235が拡大された状態と、虹彩絞り230における光通過孔235が縮小された状態とでは、対物レンズ200を透過して、光通過孔235を通過する範囲が異なり、これによりNAも異なる値となる。
また、対物レンズ200における分解能Rは次式(2)により求められ、焦点深度Dは、次式(3)により求められる。
R(μm)=λ/2・NA …(2)
D(μm)=λ/2・(NA)2 …(3)
上記(2)(3)式において、λは光の波長であり、例えば可視光の場合、約0.4〜0.8(μm)である。
(2)(3)式に示すように、分解能Rおよび焦点深度Dは、NAの値により変化する。
従って、虹彩絞り230を調整して光通過孔235を連続的に変化させて拡大縮小することにより、分解能Rおよび焦点深度Dの値を連続的に変化させることが可能となる。
次に顕微鏡100の動作について説明する。
顕微鏡100を操作して、ステージに載置された試料を測定するには、先ず、レボルバ130を回転させて、所望の倍率を有する対物レンズ200を光路部120の延長上に配置する。そして、照明光導入部140から照明光を射出させ、照明光の調整ハンドルを調整するなどして試料に所望の光量の照明光を照射する。また、フォーカスハンドル111を操作するなどして、接眼レンズ300から試料が良好に観察可能な位置に、ステージを昇降する。
以上により、操作者が所望する対物レンズ200の倍率で、操作者が所望する分解能R、焦点深度D、像の明るさでの試料の観察が可能となる。
上述したように、上記実施の形態の顕微鏡100では、対物レンズ200は、レボルバ130に固定可能な筒状本体部210と、筒状本体部210内部に設けられて被測定物Aからの光を受けるレンズ222と、筒状本体部210の固定部211近傍に設けられるとともに、光通過孔235の開口径を適宜変更可能な虹彩絞り230と、を備えている。
このため、虹彩絞り230の絞り調節ノブ233を調整して、光通過孔235の開口径を適宜変更することで、容易にNAの値を変更することができ、操作者が所望する分解能R、焦点深度D、像の明るさに設定することができる。したがって、従来のように対物レンズ200を交換する必要がなく、対物レンズ200の調節作業が容易になり、作業効率を向上させることができる。
また、上記のような対物レンズ200をレボルバ130に取り付けるだけで、容易にNAの値を変更することができ、別途対物レンズ200から導入される光を絞る絞り手段を胴体部110に設ける必要がなく、顕微鏡100の構成をも簡単にすることができる。
また、虹彩絞り230がレンズ222の射出瞳の位置である射出瞳面230Aに設けられている。 さらに、本実施の形態の顕微鏡100の対物レンズ200では、絞り手段として、虹彩絞り230を適用している。
このため、絞り調節ノブ233を操作することにより、連続的に光通過孔235の開口径を変化させることができる。したがって、NAを連続的に変化させて微調整することができるので、被測定物Aの形状や大きさに応じた、より適切な分解能Rや焦点深度Dを設定することができる。
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲で以下に示される変形をも含むものである。
そして、例えばステッピングモータを用いる場合では、このステッピングモータを例えば顕微鏡100の全体動作を制御する制御回路部に接続し、制御回路部に設けられる絞り制御手段によりステッピングモータに印加するパルス電圧を制御することで、ステッピングモータの回転角度を制御し、虹彩絞り230の光通過孔235の開口径を調節する。この構成では、制御回路部に接続される例えばコントローラを操作することで、絞り制御手段が操作信号に応じたパルス電圧をステッピングモータに印加する構成としてもよい。また、例えばキーボードなどの入力装置により光通過孔235の具体的な開口径を入力するなどすることで、絞り制御手段が入力された値に応じたパルス電圧をステッピングモータに印加する構成としてもよい。このような構成では、顕微鏡100の自動観測やインライン計測など様々な分野への応用が可能となる。
また、虹彩絞り230の絞り調節ノブ233に係合ピンを設け、光通過孔235の開口径が予め設定された所定寸法となった際に、係合ピンが枠部に設けられる係止部に係止される構成などとしてもよい。このような構成では、絞り調節ノブ233を微調整することで、連続的に光通過孔235の開口径を変化させることができるとともに、例えば光学性能が所定値に固定される画像測定などを実施する際には、絞り調節ノブ233を回転させて係合ピンを係止部に係止させることで、即座に光通過孔235の開口径を所定径寸法に設定することができ、より作業効率を向上させることができる。
さらに、射出瞳が対物レンズ200の各レンズ222の間に形成される場合は、虹彩絞り230を隣り合うレンズ222間に配置する構成などとしてもよい。
120…光路部
200…対物レンズ
210…保持手段としての筒状本体部
222…レンズ
230…絞り手段としての虹彩絞り
300…接眼レンズ
A…被測定物
Claims (7)
- 被測定物に対向するとともに、前記被測定物の測定面で反射した光を透過する少なくとも1つ以上のレンズと、
前記レンズの後段に設けられるとともに、前記レンズを透過した光の主光軸に対して略直交する光通過面における前記光の通過範囲を変更する絞り手段と、
前記光通過面を通過した光を結像する結像部を備えた本体部に設けられるとともに、前記レンズおよび前記絞り手段を保持する保持手段と、
を具備したことを特徴とした対物レンズ。 - 請求項1に記載の対物レンズであって、
前記絞り手段は、前記レンズの射出瞳の位置に設けられた
ことを特徴とした対物レンズ。 - 請求項1または請求項2に記載の対物レンズであって、
前記絞り手段は、前記光通過面の通過範囲を連続的に変更する
ことを特徴とした対物レンズ。 - 請求項3に記載の対物レンズであって、
前記絞り手段は、虹彩絞りである
ことを特徴とした対物レンズ。 - 請求項1または請求項2に記載の対物レンズであって、
前記絞り手段は、前記光通過面の通過範囲を段階的に変更する
ことを特徴とした対物レンズ。 - 請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の対物レンズであって、
前記絞り手段を制御して、前記通過範囲を変更する絞り制御手段を備えた
ことを特徴とした対物レンズ。 - 請求項1ないし請求項6のいずれかに記載の対物レンズと、
前記対物レンズを透過した光を結像する前記結像部、前記光が射出される接眼レンズ、および前記対物レンズから前記接眼レンズに前記光を導く光路部が設けられた本体部と、
を具備したことを特徴とした光学測定装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2175318A1 (en) | 2008-10-07 | 2010-04-14 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Illuminating device, image display device, and mirror unit |
JP2012113188A (ja) * | 2010-11-26 | 2012-06-14 | Olympus Corp | 光強度測定ユニット、及びそれを備えた顕微鏡 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102009012707A1 (de) | 2009-03-11 | 2010-09-16 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Mikroskop mit mehreren optischen Systemen im Abbildungsstrahlengang |
JP6000546B2 (ja) | 2011-06-30 | 2016-09-28 | 浜松ホトニクス株式会社 | 顕微観察用光学装置 |
CN102722019A (zh) * | 2012-06-24 | 2012-10-10 | 南通江中光电有限公司 | 一种显微镜的聚光镜 |
CN102722018A (zh) * | 2012-06-24 | 2012-10-10 | 南通江中光电有限公司 | 一种新型显微镜的聚光镜 |
CN105378379A (zh) | 2013-08-30 | 2016-03-02 | 西门子公司 | 操作按钮 |
EP4030201A1 (en) | 2014-10-14 | 2022-07-20 | Nanotronics Imaging, Inc. | An imaging apparatus and a process for imaging a surface of a specimen |
CN106840392A (zh) * | 2015-12-03 | 2017-06-13 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 助于光谱信号收集的装置、光谱信号系统及半导体设备 |
CN107728303A (zh) * | 2016-08-10 | 2018-02-23 | 奥林巴斯株式会社 | 显微镜和光学单元 |
CN108761818B (zh) * | 2018-08-16 | 2024-01-23 | 深圳臻像科技有限公司 | 一种自由立体显示系统 |
CN110596876A (zh) * | 2019-09-26 | 2019-12-20 | 杭州科洛码光电科技有限公司 | 多功能物镜转盘 |
CN111399160B (zh) * | 2020-04-29 | 2024-04-09 | 宁波大学科学技术学院 | 一种多功能可变光阑装置 |
CN114112994B (zh) * | 2021-11-29 | 2023-10-20 | 广东电网有限责任公司广州供电局 | 便捷式折射率测量装置 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03503323A (ja) * | 1988-11-04 | 1991-07-25 | ロツシグノル,ゲラルド | 像を投影して3次元観察する光学装置 |
JPH10206752A (ja) * | 1997-01-17 | 1998-08-07 | Tochigi Nikon:Kk | 分離再結合可能な光学系 |
JP2003098439A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-04-03 | Olympus Optical Co Ltd | 観察切り替え可能な顕微鏡 |
JP2005031425A (ja) * | 2003-07-14 | 2005-02-03 | Olympus Corp | 顕微鏡対物レンズ |
JP2005128443A (ja) * | 2003-10-27 | 2005-05-19 | Nikon Corp | 顕微鏡 |
JP2005215693A (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Carl Zeiss Ag | 開口絞り装置 |
JP2006201407A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Hamamatsu Photonics Kk | 固浸レンズホルダ |
JP2006243723A (ja) * | 2005-03-01 | 2006-09-14 | Leica Microsystems Cms Gmbh | 対物レンズおよび顕微鏡 |
JP2007114509A (ja) * | 2005-10-20 | 2007-05-10 | Olympus Corp | 顕微鏡 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4552545A (en) | 1984-06-18 | 1985-11-12 | General Motors Corporation | Centrifugal pressure compensator for a variable drive pulley |
US5020892A (en) * | 1989-09-25 | 1991-06-04 | Burris Company, Inc. | Aperture control for telescopic gunsight |
JPH06214166A (ja) | 1993-01-20 | 1994-08-05 | Nikon Corp | 落射照明型顕微鏡 |
JPH08122651A (ja) | 1994-10-27 | 1996-05-17 | Olympus Optical Co Ltd | 透過暗視野顕微鏡 |
JPH08145872A (ja) | 1994-11-25 | 1996-06-07 | Hitachi Ltd | フロー式粒子画像解析方法および装置 |
JP3636524B2 (ja) * | 1995-12-28 | 2005-04-06 | キヤノン株式会社 | 焦点検出装置及びそれを用いた光学機器 |
US6072600A (en) * | 1996-01-30 | 2000-06-06 | Wertsberger; Shalom | Facsimile camera device |
US5805290A (en) * | 1996-05-02 | 1998-09-08 | International Business Machines Corporation | Method of optical metrology of unresolved pattern arrays |
CN2282197Y (zh) * | 1996-12-26 | 1998-05-20 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 可变倍率的激光光刻投影物镜 |
JP3957351B2 (ja) | 1997-01-17 | 2007-08-15 | 東京航空計器株式会社 | 対物レンズの開口数可変の光学顕微鏡 |
KR100294235B1 (ko) * | 1998-03-12 | 2001-09-17 | 윤종용 | 광학적 가변조리개를 사용한 광픽업 |
US7088395B2 (en) * | 2001-01-29 | 2006-08-08 | Konica Corporation | Image-capturing apparatus |
JP2006084825A (ja) * | 2004-09-16 | 2006-03-30 | Olympus Corp | 顕微鏡システム |
US7612350B2 (en) * | 2005-01-18 | 2009-11-03 | Olympus Corporation | Scanning microscope and specimen image obtaining method in which adjacent data obtaining points are not consecutively obtained |
US7334950B2 (en) * | 2005-04-26 | 2008-02-26 | Va, Inc. | Quick-change shutter assembly |
JP2006323907A (ja) * | 2005-05-18 | 2006-11-30 | Hitachi Media Electoronics Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
CN100568926C (zh) * | 2006-04-30 | 2009-12-09 | 华为技术有限公司 | 自动曝光控制参数的获得方法及控制方法和成像装置 |
-
2008
- 2008-05-14 US US12/153,135 patent/US7855844B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-05-15 EP EP08009035.0A patent/EP1992977B1/en not_active Expired - Fee Related
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03503323A (ja) * | 1988-11-04 | 1991-07-25 | ロツシグノル,ゲラルド | 像を投影して3次元観察する光学装置 |
JPH10206752A (ja) * | 1997-01-17 | 1998-08-07 | Tochigi Nikon:Kk | 分離再結合可能な光学系 |
JP2003098439A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-04-03 | Olympus Optical Co Ltd | 観察切り替え可能な顕微鏡 |
JP2005031425A (ja) * | 2003-07-14 | 2005-02-03 | Olympus Corp | 顕微鏡対物レンズ |
JP2005128443A (ja) * | 2003-10-27 | 2005-05-19 | Nikon Corp | 顕微鏡 |
JP2005215693A (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Carl Zeiss Ag | 開口絞り装置 |
JP2006201407A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Hamamatsu Photonics Kk | 固浸レンズホルダ |
JP2006243723A (ja) * | 2005-03-01 | 2006-09-14 | Leica Microsystems Cms Gmbh | 対物レンズおよび顕微鏡 |
JP2007114509A (ja) * | 2005-10-20 | 2007-05-10 | Olympus Corp | 顕微鏡 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2175318A1 (en) | 2008-10-07 | 2010-04-14 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Illuminating device, image display device, and mirror unit |
JP2012113188A (ja) * | 2010-11-26 | 2012-06-14 | Olympus Corp | 光強度測定ユニット、及びそれを備えた顕微鏡 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1992977B1 (en) | 2014-05-14 |
CN101308243B (zh) | 2012-11-28 |
US20080285158A1 (en) | 2008-11-20 |
CN101308243A (zh) | 2008-11-19 |
EP1992977A3 (en) | 2009-07-15 |
EP1992977A2 (en) | 2008-11-19 |
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JP5308065B2 (ja) | 2013-10-09 |
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