JP2008248347A - プラズマガン周辺を電気的中性にしたプラズマ生成装置 - Google Patents

プラズマガン周辺を電気的中性にしたプラズマ生成装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008248347A
JP2008248347A JP2007093356A JP2007093356A JP2008248347A JP 2008248347 A JP2008248347 A JP 2008248347A JP 2007093356 A JP2007093356 A JP 2007093356A JP 2007093356 A JP2007093356 A JP 2007093356A JP 2008248347 A JP2008248347 A JP 2008248347A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plasma
tube
droplet
diameter
pipe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007093356A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5189784B2 (ja
Inventor
Yuichi Shiina
祐一 椎名
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ferrotec Material Technologies Corp
Original Assignee
Ferrotec Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ferrotec Corp filed Critical Ferrotec Corp
Priority to JP2007093356A priority Critical patent/JP5189784B2/ja
Priority to US12/449,951 priority patent/US20100059369A1/en
Priority to EP08738991A priority patent/EP2138603A4/en
Priority to PCT/JP2008/055841 priority patent/WO2008120656A1/ja
Priority to CN2008800086753A priority patent/CN101636520B/zh
Publication of JP2008248347A publication Critical patent/JP2008248347A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5189784B2 publication Critical patent/JP5189784B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32623Mechanical discharge control means
    • H01J37/32633Baffles
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/147Arrangements for directing or deflecting the discharge along a desired path
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/317Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation
    • H01J37/3178Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation for applying thin layers on objects
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32055Arc discharge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/02Details
    • H01J2237/022Avoiding or removing foreign or contaminating particles, debris or deposits on sample or tube
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/05Arrangements for energy or mass analysis
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/30Electron or ion beam tubes for processing objects
    • H01J2237/31Processing objects on a macro-scale
    • H01J2237/3142Ion plating

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

【課題】プラズマガンにおいて、真空アーク放電により発生させるプラズマの有効量を減退させることなく、プラズマに混入するドロップレットを効率的に除去でき、しかも簡易かつ安価にドロップレット除去部を構成でき、高純度プラズマによる成膜等の表面処理精度の向上を図ることのできるプラズマ生成装置を提供する。
【解決手段】プラズマガン陰極407の周辺は、外囲部材420によって包囲され、外囲部材420の内側には、ドロップレットを捕集する捕集部材411を複数個、多層状に構成したドロップレット除去装置406が設けられている。外囲部材420、捕集部材411及びプラズマ進行路402は、アーク電源409との接続関係がなく、電気的に中性の浮遊状態に保持されているプラズマ生成装置を提案する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、真空雰囲気下に設定されたアーク放電部で真空アーク放電を行ってプラズマを発生させ、プラズマの発生時に陰極から副生する陰極材料粒子(以下、「ドロップレット」という)を除去するドロップレット除去部を備えたプラズマ生成装置に関する。
一般に、プラズマ中で固体材料の表面に薄膜を形成したり、イオンを注入することにより、固体の表面特性が改善されることが知られている。金属イオンや非金属イオンを含むプラズマを利用して形成した膜は、固体表面の耐磨耗性・耐食性を強化し、保護膜、光学薄膜、透明導電性膜などとして有用なものである。特に、カーボンプラズマを利用した炭素膜はダイヤモンド構造とグラファイト構造のアモルファス混晶からなるダイヤモンドライクカーボン膜(DLC膜という)として利用価値が高い。
金属イオンや非金属イオンを含むプラズマを発生する方法として、真空アークプラズマ法がある。真空アークプラズマは、陰極と陽極の間に生起するアーク放電で形成され、陰極表面上に存在する陰極点から陰極材料が蒸発し、この陰極蒸発物質により形成されるプラズマである。また、雰囲気ガスとして反応性ガス又は/及び不活性ガス(希ガスという)を導入した場合には、反応性ガス又は/及び不活性ガスも同時にイオン化される。このようなプラズマを用いて、固体表面への薄膜形成やイオンの注入を行って表面処理を行うことができる。
一般に、真空アーク放電では、陰極点から陰極材料イオン、電子、陰極材料中性粒子(原子及び分子)といった真空アークプラズマ構成粒子が放出されると同時に、サブミクロン以下から数百ミクロン(0.01〜1000μm)の大きさのドロップレットと称される陰極材料微粒子も放出される。しかし、成膜等の表面処理において問題となるのはドロップレットの発生である。このドロップレットが被処理物表面に付着すると、被処理物表面に形成される薄膜の均一性が失われ、薄膜の欠陥品となる。
ドロップレットの問題を解決する一方法として、磁気フィルタ法(P.J. Martin, R.P. Netterfield and T.J. Kinder, Thin Solid Films 193/194 (1990)77)(非特許文献1)がある。この磁気フィルタ法は、真空アークプラズマを湾曲したドロップレット捕集ダクトを通して処理部に輸送するものである。この方法によれば、発生したドロップレットは、ダクト内周壁に付着捕獲(捕集)され、ダクト出口ではドロップレットをほとんど含まないプラズマ流が得られる。また、ダクトに沿って配置された磁石により湾曲磁場を形成し、この湾曲磁場によりプラズマ流を屈曲させ、プラズマを効率的にプラズマ加工部に誘導するように構成されている。
特開2002−8893号公報(特許文献1)にはドロップレット捕集部を有するプラズマ加工装置が開示されている。図13は、従来のプラズマ加工装置の構成概略図である。プラズマ発生部102では、陰極104とトリガ電極106の間に電気スパークを生起し、陰極104と陽極108の間に真空アークを発生させてプラズマ109が生成される。プラズマ発生部102には、電気スパーク及び真空アーク放電を発生するための電源110が接続され、プラズマ109を安定化させるプラズマ安定化磁場発生器116a、116bが配設されている。プラズマ109はプラズマ発生部102からプラズマ加工部112に誘導され、プラズマ加工部112に配置された被処理物114が前記プラズマ109により表面処理される。また、プラズマ加工部112に接続されるガス導入システムGtにより必要に応じて反応性ガスが導入され、ガス排気システムGhにより反応ガスやプラズマ流が排気される。
プラズマ発生部102から放出されるプラズマ109は、磁場によりプラズマ発生部102と対面しない方向に屈曲され、プラズマ加工部112に流入される。プラズマ発生部102と対面する位置には、プラズマ109の発生時に陰極から副生される陰極材料微粒子(ドロップレット)118が捕集されるドロップレット捕集部120が配設されている。従って、磁場の影響を受けないドロップレット118がドロップレット捕集部120に進行して捕集され、ドロップレット118がプラズマ加工部112内に進入することが防止される。
特開2002−8893号公報 P.J. Martin, R.P. Netterfield and T.J. Kinder, Thin Solid Films 193/194 (1990)77
図13の従来のプラズマ加工装置では、前記磁場の影響を受けないドロップレット118がドロップレット捕集部120に捕集されるが、プラズマ109との相互作用などにより電荷が付与された帯電ドロップレットが磁場によりプラズマ加工部112に誘導される場合があった。更に、ドロップレット捕集部120に捕集されない、粒径の小さなドロップレットがプラズマ流に随伴してプラズマ加工部112に誘導されていた。従って、捕集されずにプラズマ流に混入した帯電ドロップレットや微小なドロップレット等のドロップレットが被処理物表面に付着するため、被処理物表面に対する薄膜形成や表面改質の均一性が失われ、被処理物の表面特性を低下させるといった問題を生じていた。
また、非特許文献1に記載の磁気フィルタ法においても、前述のように、湾曲磁場によりプラズマ流を屈曲させ、プラズマを効率的にプラズマ加工部に移動させるものであるから、プラズマ流に混入する帯電ドロップレットや微小なドロップレットが除去されずにプラズマ加工部に誘導され、被処理物表面に衝突又は付着することを防止できなかった。
最近のプラズマ成膜技術においては、種々の材料を用いた成膜が行われているが、成膜装置による平滑性等の成膜精度の向上が求められている。上述のように、ドロップレット付着が成膜精度に強く影響することから、プラズマ生成装置におけるドロップレット除去効率の向上が必要とされている。また、図13のように、ドロップレット除去用磁場発生装置等を多く設置すると、装置の複雑化を生じ、しかも装置や成膜処理費用のコストアップを招来する問題があった。
本発明者らは、真空アーク放電によるプラズマ生成装置におけるドロップレット除去に関する試験結果から、プラズマ流通路の内壁にリブ(突起状部材)を配置することにより、プラズマ中に含有されるドロップレットを前記リブに衝突、吸収させて回収できるという知見を得るに至った。さらに、本発明者らの知見に基づき、前記プラズマ発生部には、ドロップレットがより多く飛散していることから、前記プラズマ発生部内にリブを配置すれば、効率的なドロップレット除去が行える可能性があることに着目した。
図12は、プラズマ発生部内に捕集部材として複数個のリブ303を多層状に配置したプラズマ生成装置を示す。プラズマ発生部は、陰極304、トリガ電極306及びハウジング309からなるプラズマガンと、アーク電源307を備え、導電性材料からなるハウジング309が接続ケーブル310を介してアーク電源307に接続されることにより陽極となる。前記ハウジング309は、プラズマ流通路302と連結され、前記プラズマガンより発生するプラズマ308がプラズマ流通路302を通じてプラズマ加工部301に導入され、プラズマ被処理物300に照射されるように構成される共に、前記ハウジング309の内壁には複数個のリブ303を取り付けられている。リブ303は、陰極304と同一の導電性材料から形成されることが好ましく、プラズマの生成時にリブ303の温度が上昇してイオンが熱放出されても、プラズマの純度を保持することができる。
しかしながら、前記プラズマガンの外壁を構成するハウジング309の内壁にリブ303を配置したプラズマ生成装置には、以下の問題があった。陰極304とハウジング309からなる陽極との間で真空アーク放電によりプラズマ308を発生させ、プラズマ加工部301側に放出させる。前述のように、リブ303は、陰極304と同一の導電性材料から形成されるから、ハウジング309及びリブ303は互いに電気的に導通し、リブ303がプラス電位になっていた。即ち、ハウジング309が陽極となることにより、前記リブによりドロップレット除去効果は得られるものの、陰極304において発生したプラズマ308中の電子の多くが陰極304と近距離にある前記リブ303に引き寄せられ、その結果、リブと陰極304との間において放電が誘発された。このような放電が起きるとエネルギー損失となるため、また、放電安定性が損なわれるため、陰極304から発生するプラズマ量が低減するという問題があった。
従って、本発明の目的は、前記プラズマガンにおいて、真空アーク放電により発生させるプラズマの有効量を減退させることなく、プラズマに混入するドロップレットを効率的に除去でき、しかも簡易かつ安価にドロップレット除去部を構成でき、高純度プラズマによる成膜等の表面処理精度の向上を図ることのできるプラズマ生成装置を提供することである。
本発明は、上記課題を解決するために提案されたものであって、本発明の第1の形態は、真空雰囲気下にある陰極と陽極の間に真空アーク放電によりプラズマを発生させるプラズマ発生部と、前記プラズマ発生部により発生されたプラズマが被プラズマ処理部側に進行するプラズマ進行路とを備えたプラズマ生成装置において、前記プラズマ発生部は、前記陰極の周辺を包囲する外囲部材を有し、前記外囲部材の内側には、プラズマの発生時に前記陰極から副生される陰極材料粒子(以下「ドロップレット」という)を捕集する捕集部材が配置され、少なくとも前記捕集部材及び前記外囲部材が電気的に中性の浮遊状態に保持されるプラズマ生成装置である。
本発明の第2の形態は、前記第1の形態において、複数個の前記捕集部材が、前記陰極の周囲に、前記プラズマの進行方向に沿って、前記外囲部材の内側に多層状に配置されたプラズマ生成装置である。
本発明の第3の形態は、前記第2の形態において、前記捕集部材は、前記プラズマを流通させる中空部を穿設した環状部材からなり、同一形状の前記環状部材を複数個、多層状に配置したプラズマ生成装置である。
本発明の第4の形態は、前記第2の形態において、複数個の前記捕集部材は、前記中空部の大きさが異なる環状部材を含み、前記プラズマの進行方向に沿って、各中空部の大きさが漸次、拡大するように、複数個の前記環状部材を多層状に配置したプラズマ生成装置である。
本発明の第5の形態は、前記第1〜第4のいずれかの形態において、前記プラズマ進行路を形成するダクト部が電気的に中性の浮遊状態に設定されるプラズマ生成装置である。
本発明の第6の形態は、前記第1〜第5のいずれかの形態において、前記陽極が、前記外囲部材と電気的に絶縁されて配設される環状電極であり、前記環状電極の内径がプラズマの進行方向に沿って縮小するプラズマ生成装置である。
本発明の第7の形態は、前記第1〜第6のいずれかの形態において、前記ドロップレットを除去するドロップレット除去部を前記プラズマ進行路に配置し、前記ドロップレット除去部が、拡径管と、前記拡径管のプラズマ導入側始端に連接された導入側縮径管と、前記拡径管のプラズマ排出側終端に連接された排出側縮径管と、前記拡径管の前記始端及び前記終端に形成された段差部とから構成されるプラズマ生成装置である。
本発明の第8の形態は、前記第7の形態において、前記導入側縮径管及び/又は前記排出側縮径管の管軸を前記拡径管の管軸に対して所定屈曲角で傾斜配置させ、前記導入側縮径管及び/又は前記排出側縮径管を前記拡径管に連接したプラズマ生成装置である。
本発明の第9の形態は、前記第7又は第8の形態において、前記導入側縮径管及び前記排出側縮径管の管軸が前記拡径管に対して互いに交差するように配置したプラズマ生成装置である。
本発明の第10の形態は、前記第7、第8又は第9の形態において、前記プラズマ進行路は、前記プラズマ発生部に連接された直進管を有し、前記導入側縮径管を前記直進管に対して垂直又はほぼ垂直に連接し、前記直進管の終端にドロップレット捕集部を配設したプラズマ生成装置である。
本発明の第11の形態は、前記第7〜第10のいずれかの形態において、前記拡径管は、内周管と外周管からなり、前記内周管を前記外周管に対して挿脱自在にしたプラズマ生成装置である。
本発明の第12の形態は、前記第11の形態において、前記内周管の内壁に複数のドロップレット捕集板が植設されたプラズマ生成装置である。
本発明の第13の形態は、前記第12の形態において、前記ドロップレット捕集板の表面が粗面加工を施されているプラズマ生成装置である。
本発明の第14の形態は、前記第12の形態において、前記ドロップレット捕集板を前記導入側縮径管に向けて斜行配置したプラズマ生成装置である。
本発明の第15の形態は、前記第7〜第14のいずれかの形態において、前記導入側縮径管及び前記排出側縮径管にドロップレット捕集用アパーチャーを配設したプラズマ生成装置である。
本発明の第16の形態は、前記第5〜第13のいずれかの形態において、複数の前記拡径管を、縮径管を介して連接したプラズマ生成装置である。
本発明の第17の形態は、前記第7〜第16のいずれかの形態において、前記導入側縮径管と前記拡径管と前記排出側縮径管は、前記プラズマ発生部及び前記被プラズマ処理部と電気的に絶縁されているプラズマ生成装置である。
本発明の第18の形態は、前記第7〜第17のいずれかの形態において、前記導入側縮径管と前記拡径管と前記排出側縮径管を少なくとも含む前記ダクト部内にプローブを挿入するか、又は前記ダクト部をプローブとして利用してプラズマの物性量を測定するプラズマ生成装置である。
本発明の第19の形態は、前記第1〜第18のいずれかの形態において、前記プラズマ進行路の有効全長、直径、屈曲数及び屈曲角の総和のいずれかひとつ又はその組み合わせがドロップレット低減条件を満足するように設定されたプラズマ生成装置である。
本発明の第20の形態は、前記第19の形態において、前記有効全長が1600〜900mmで設定されたプラズマ生成装置である。
本発明の第21の形態は、前記第19の形態において、前記直径が200〜90mmで設定されたプラズマ生成装置である。
本発明の第22の形態は、前記第19の形態において、前記屈曲数が3〜1で設定されたプラズマ生成装置である。
本発明の第23の形態は、前記第19の形態において、前記屈曲角の総和が150〜90°で設定されたプラズマ生成装置である。
本発明の第24の形態は、前記第1〜第23のいずれかの形態において、前記プラズマ発生部におけるアーク電流値が140〜30Aの範囲で調整されたプラズマ生成装置である。
本発明の第1の形態によれば、前記プラズマ発生部が前記陰極の周辺を包囲する外囲部材を有し、前記外囲部材の内側には、前記陰極から副生されるドロップレットを捕集する捕集部材が配置され、少なくとも前記外囲部材及び記捕集部材が電気的に中性の浮遊状態に保持されるから、前記外囲部材や前記捕集部材に前記プラズマが衝突して、プラズマの輸送効率が低下することを抑制することができる。更に、前記陰極周辺に飛散する前記ドロップレットを高効率に前記捕集部材に衝突させて付着させ、除去することができる。換言すれば、前記捕集部材によるドロップレット回収の際に放電現象は発生せず、エネルギー損失は生じない。これにより、所謂プラズマガンに近接して前記捕集部材を設置できるため、高効率でドロップレット除去を行え、高純度かつ高エネルギーのプラズマを前記プラズマ進行路に送出することができる。
前記捕集部材(「回収部材」とも称す)は、電気的に中性の浮遊状態に保持されている為、陽極と同一の材料から形成することができる。また、前記捕集部材が陰極と同一の材料から形成される場合、プラズマ生成時に前記捕集部材の温度が上昇して、その表面からイオンが熱放出されても、プラズマ中のイオンと同一物質であることから、プラズマの純度を保持することができる。例えば、陰極が炭素材料からなる場合、前記捕集部材が同じ炭素素材で形成されるならば、もし何らかの異常放電が前記捕集部材部分に起きた場合でも同じ炭素がイオン化され、プラズマ被処理物にプラズマと一緒に搬送・成膜されても不純物とならない。しかし、生成物以外の捕集部材を使用した場合は不純物となる。尚、前記捕集部材は、陰極や陽極材料と異なる物質から形成されても良く、導電性物質(W、Mo、Ta、Fe、Al、Cu材料又はステンレス等)や非導電性物質(セラミックス等)を問わず最適な材料を選択することができる。
また、前記プラズマ進行路にバイアス電圧が印加される場合においても、前記外囲部材が絶縁体を介して前記プラズマ進行路の始端と連結されることにより、前記外囲部材を電気的に中性な浮遊状態に保持することができる。但し、前記プラズマ進行路は、電気的に中性の浮遊状態に設定されることがより好ましく、前記プラズマ進行路におけるプラズマの減衰を抑制することができ、プラズマの搬送効率を増加させることができる。
本発明の第2の形態によれば、複数個の前記捕集部材が、前記陰極の周囲に、前記プラズマの進行方向に沿って、前記外囲部材の内側に多層状に配置されるので、ドロップレットの捕集可能面積が大きくなり、ドロップレット除去効率の向上を図ることができる。ドロップレットは、プラズマ進行方向側のみに直進するだけでなく、前記外囲部材内壁に衝突して後方に跳ね返って前記陰極周辺に飛散する場合もあるので、前記陰極の後方や側方にも配置するのが好ましい。即ち、後方も含めて陰極周辺全域に多層状に前記捕集部材を配置すれば、陰極の後方や側方にまで四散するドロップレットを捕集でき、跳ね返って前方に逆戻りしたドロップレットがプラズマ流に混入することを防止することができる。
本発明の第3の形態によれば、前記捕集部材は、前記プラズマを流通させる中空部を穿設した環状部材からなり、同一形状の前記環状部材を複数個、多層状に配置したので、例えば、中空リング状の捕集部材を複数個用いて、それぞれを所定間隔を置いて多層状に前記外囲部材内壁に設けることにより、ドロップレットの捕集可能面積を拡大化してドロップレット除去効率を向上させ、しかもドロップレットを高効率で除去した高純度プラズマを、各捕集部材の中空部を通じて円滑に前記プラズマ進行路側に送出することができる。
本発明の第4の形態によれば、複数個の前記捕集部材は、前記中空部の大きさが異なる環状部材を含み、前記プラズマの進行方向に沿って、各中空部の大きさが漸次、拡大するように、複数個の前記環状部材を多層状に配置したので、例えば、個々の捕集部材がリング状形態を備え、それぞれの中空部の大きさが漸次、拡大した複数個の捕集部材を用いて、各部材を中空部の大きさの順に、前記陰極前方のプラズマの進行空間に向けて、所定間隔を置いて多層状に前記外囲部材内壁に設けることにより、前記第3の形態と同様に、ドロップレット捕集可能な面積を拡大して、ドロップレット除去効率を向上させることができる。また、各リングの中空部が前記陰極から前方に向けて略逆円錐台形状に配列したプラズマ進行空間が形成されるので、ドロップレットを高効率で除去しながら、前記陰極から前方に向けて略コーン状に放射される発生プラズマが前記捕集部材に衝突する割合を低減でき、高純度プラズマを前記プラズマ進行空間を通じて円滑に進行させることが可能となり、発生プラズマの効率的利用を行うことができる。なお、本発明における捕集部材の形態は、前記リング形状に限らず、非環状形状物、例えば、舌片状形態や突起形態のものでもよく、非環状形状物の場合には前記外囲部材内壁に放射状に突設配置して用いる。
本発明の第5の形態によれば、前記プラズマ進行路を形成するダクト部が電気的に中性の浮遊状態に設定されるから、前記ダクト部の内面にプラズマが衝突してエネルギー損失が生じることにより、プラズマの輸送効率が低下することを抑制することができる。尚、プラズマ進行路とは、プラズマが誘導されるプラズマ発生部からプラズマ処理部(プラズマ加工部を含む)までの経路を意味している。一般的に、プラズマ進行路には、電磁相互作用によりプラズマを誘導する磁気発生器が1つ以上付設されたダクト部から構成され、ドロップレットの除去するフィルタ管として機能が付与されている。
本発明の第6の形態によれば、前記陽極が前記外囲部材と電気的に絶縁されて配設される環状電極であり、前記環状電極の内径がプラズマの進行方向に沿って縮小するから、発生したプラズマが高効率にプラズマ進行路へ誘導されると共に、アパーチャーとしての機能も有しており、ドロップレットがプラズマ進行路に進入することを抑制することができる。
本発明の第7の形態によれば、前記プラズマ進行路に配置したドロップレット除去部が拡径管と、前記拡径管のプラズマ導入側始端に連接された導入側縮径管と、前記拡径管のプラズマ排出側終端に連接された排出側縮径管と、前記拡径管の前記始端及び前記終端に形成された段差部とから構成されるので、前記導入側縮径管より前記拡径管内に導入されたプラズマ流が前記拡径管による前記プラズマ進行路の拡径作用により拡散される。そのプラズマ流の拡散により、プラズマに混入しているドロップレットも前記拡径管内に拡散するため、前記段差部付近及び前記拡径管の内側壁に衝突して付着、回収される。また、前記拡径管内のプラズマ流が排出されるときには、前記拡径管から前記排出側縮径管への縮径作用により、前記拡径管内壁面側に飛散したドロップレットが段差部に衝突して付着・回収され、プラズマ流に合流することが無くドロップレットの再混入を防ぐことができる。従って、前記段差部付近及び前記拡径管の内側壁にドロップレットを付着させて、十分に回収でき、前記プラズマ進行路においてドロップレットを効率的に除去することができる。また、拡径管と導入側縮径管及び/又は排出側縮径管の中心軸を合致させずに偏心させておけば、プラズマ流からドロップレットが分離しやすくなり、ドロップレットの捕集効果が一層高まる。しかも、前記プラズマ進行路に前記拡径管を形成するだけで、簡易かつ安価にドロップレット除去部を構成でき、更にドロップレット除去効率の向上により得られる高純度プラズマを用いて成膜等の表面処理精度を向上させ、被処理物表面の表面改質や形成膜の均一性を格段に向上させることができる。
尚、前記拡径管には、この拡径管の断面周方向に回転磁場を発生させる回転磁場印加手段を配置することができ、前記回転磁場により前記ドロップレット混合プラズマを回転させながら進行させ、遠心力により帯電ドロップレットや微小なドロップレットを分離することができる。
前記導入側縮径管及び/又は前記排出側縮径管の管軸を前記拡径管の管軸に沿って屈曲させずに線状に配置しても、前記拡径管を用いた前記プラズマ進行路の拡径作用及び縮径作用により、前記拡径管内に拡散されたドロップレットを効率的に回収、除去することが可能である。しかし、本発明の第8の形態によれば、前記導入側縮径管及び/又は前記排出側縮径管の管軸を前記拡径管の管軸に対して所定屈曲角で傾斜配置させ、前記導入側縮径管及び/又は前記排出側縮径管を前記拡径管に連接したので、プラズマ進行路の屈曲により、ドロップレットは直進してプラズマ流から分離し、前記拡径管の内壁面及び/又は前記排出側縮径管の内壁面に衝突させて付着、回収できる。前記拡径管の内壁で吸着されずに反射したものは段差部に衝突して付着回収でき、ドロップレットの効率的な除去が可能になる。前記プラズマ進行路の屈曲部は、導入側のみ、排出側のみ、又は導入側と排出側の両者に設けることができる。従って、プラズマ流に混入したドロップレットを高効率に分離することができ、高純度化されたプラズマ流を前記排出側縮径管より排出させて、ドロップレット除去効率の向上を図ることができる。また、導入側縮径管と拡径管の管軸を偏心させたり、排出側縮径管と拡径管の管軸を偏心させることにより、管軸合致させた場合よりドロップレット回収効率が高まることは前述した通りである。
前記導入側縮径管及び前記排出側縮径管の管軸方向を互いに平行又はほぼ平行にする平行配置の場合には、前記拡径管内を流通するプラズマ流の中心付近に混入したドロップレットを分離できずに前記排出側縮径管を通過させ、被プラズマ処理部側まで流通させてしまうおそれがある。しかし、本発明の第9の形態によれば、前記導入側縮径管及び前記排出側縮径管の管軸が前記拡径管に対して互いに交差するように配置したので、前記導入側縮径管に対して交差する向きの前記排出側縮径管内壁に、前記拡径管より排出されたプラズマ流が衝突し、蛇行しながら前記排出側縮径管内を流通していく。従って、前記段差部付近及び前記拡径管の内側壁に衝突させてドロップレットを付着、回収した後、プラズマ流の中心付近に混入したドロップレットが前記拡径管より排出されても、ドロップレットが直進して前記排出側縮径管内壁に衝突し、付着し、回収されるので、より高効率にドロップレットを除去することができる。
本発明の第10の形態によれば、前記プラズマ進行路は、前記プラズマ発生部に連接された直進管を有し、前記導入側縮径管を前記直進管に対して垂直又はほぼ垂直に連接し、前記直進管の終端にドロップレット捕集部を配設したので、前記プラズマ発生部において発生されたドロップレットの一部は前記直進管に沿って直進し、前記ドロップレット捕集部に捕集され回収される。従って、前記直進管に対して垂直又はほぼ垂直に連接された前記導入側縮径管には、プラズマ進行路の屈曲作用により、ドロップレットの一部が除去されたプラズマ流が流入するため、本発明に係るプラズマ進行路におけるドロップレット除去部によるドロップレット除去との相乗効果により、ドロップレットの高効率除去が可能となる。
プラズマ進行路にドロップレット除去部を設置する場合には、内壁に付着したドロップレットの剥離回収による清掃を必要とするが、清掃時にはプラズマ進行路の分解等を伴い、プラズマ生成装置の稼動効率が低下するおそれを生じる。そこで、本発明の第11の形態によれば、前記拡径管において前記内周管を前記外周管に対して挿脱自在にしたので、ドロップレットで汚染された前記内周管を随時、交換可能にすることができ、ドロップレット清掃作業性が向上し、プラズマ生成装置の稼動効率を低下させずに、プラズマ生成処理を円滑に行うことができる。前記内周管の内面には多数のドロップレット捕集板が形成され、内周管を抜き出してドロップレット捕集板の清掃・修理が容易になる。内周管を絶縁リング等の絶縁材を介して外周管に固定すれば、内周管と外周管は電気的に絶縁される。
本発明の第12の形態によれば、前記内周管の内壁に複数のドロップレット捕集板が植設されているので、前記拡径管内でのドロップレット付着表面積を多くして、飛散ドロップレットを大量かつ確実に付着、回収でき、プラズマ流の高純度化を実現することができる。更に、複数のドロップレット捕集板が設けられることにより、ドロップレットがドロップレット捕集板の間で繰返し反射されて、そのエネルギーが失われるから、より確実にドロップレットを捕集することができる。
プラズマ進行路において、前記第12の形態に係るドロップレット捕集板を多数個設置すれば、ドロップレット除去面積を増大することができるが、進行路形状や内径等の形態条件によって、設置数に限界を生じるといった課題を生じる。この課題に関して、本発明者は、鋭意検討した結果、前記ドロップレット捕集板の表面に粗面加工を施すことにより、この粗面にドロップレットが付着し易くなり、ドロップレットの捕集率の向上を図ることが出来る点に着目した。即ち、本発明の第13の形態によれば、前記ドロップレット捕集板の表面が粗面加工を施されているので、前記ドロップレット捕集板の捕集面積の増大と付着強度が増大して、捕集効率が向上しドロップレット除去効率の向上に寄与することができる。
前記ドロップレット捕集板を前記内周管の内壁に対し管軸に直交するように植設しても捕集効果はあるが、本発明の第14の形態によれば、前記ドロップレット捕集板を前記導入側縮径管に向けて斜行配置したので、ドロップレット捕集板間でドロップレットの再反射捕集確率が増加して逃散するドロップレットが少なくなり、また前記拡径管内に流入するドロップレットを受ける面積が多くなり、前記ドロップレット捕集板の捕集効率が向上しドロップレット除去効率の向上により一層寄与することができる。
本発明の第15の形態によれば、前記導入側縮径管及び前記排出側縮径管にドロップレット捕集用アパーチャーを配設したので、例えば、プラズマ進行路の管径を縮小し、あるいは偏心により開口形状を変形させるアパーチャーを用いて、プラズマ進行路の始端及び終端において直進するドロップレットを捕集してドロップレット除去効率の向上に寄与する。
本発明の第16の形態によれば、複数の前記拡径管を、縮径管を介して連接したので、複数段階に亘ってドロップレットを除去することができ、高純度のプラズマ流を生成することができる。この場合に、拡径管と拡径管の管軸を偏心させればドロップレット捕集効率が上がることは前述した通りである。
本発明の第17の形態によれば、前記導入側縮径管と前記拡径管と前記排出側縮径管は、前記プラズマ発生部及び前記被プラズマ処理部と電気的に絶縁される。前記導入側縮径管と前記拡径管と前記排出側縮径管に電圧が印加される場合においても、前記導入側縮径管及び前記排出側縮径管が絶縁体を介して前記プラズマ進行路と連結されることにより、前記プラズマ進行路のダクト部が電気的に中性な浮遊状態に保持される同時に、前記プラズマ発生部及び前記被プラズマ処理部と電気的に絶縁される。拡径管の内部に絶縁材を介して内周管を挿入する場合には、内周管は他のダクト部と電気的に浮動(浮遊)状態になるが、この場合でも内周管はダクト部を構成する。被プラズマ処理部とは、プラズマ処理物を表面処理する加工部のことである。ダクト部の始端側とプラズマ発生部の間に絶縁用プレートを介装し、ダクト部の終端側と被プラズマ処理部の間に絶縁用プレートを介装するだけで、電気絶縁が達成される。この電気絶縁により、ダクト部(プラズマ搬送部)を電気的に浮動させることが可能になる。通常、プラズマ発生部は高電位に設定され、被プラズマ処理部は接地されるから、前記電気絶縁により、ダクト部は高電位及びGNDと離れた浮動状態に保持できる。この電気的浮動性により、プラズマに対する電磁的作用が消去され、プラズマの搬送効率に対する影響が無くなり、ダクト部の全長が長くなってもダクト部におけるプラズマ量及びプラズマ密度の低下を抑制でき、プラズマ搬送効率の低下を防止できる。
本発明の第18の形態によれば、前記導入側縮径管と前記拡径管と前記排出側縮径管を少なくとも含むプラズマ搬送用のダクト部内にプローブを挿入してプラズマの物性量を測定することができる。プラズマ物性量とは、イオン密度、電子密度、プラズマ移動速度、プラズマ温度などのプラズマパラメータである。ダクト部内に前記プローブを挿入すると、プラズマ流に擾乱を起こす場合があり、極力擾乱を起こしにくいプローブの大きさに調整される。挿入されるプローブの個数は1本、2本など種々に選択できる。この擾乱を避けるために、前記プローブを挿入せずに、ダクト部自体をプローブとして利用することができる。前記プローブ又はプローブとして利用されるダクト部に印加される電位の極性は+又は−が選択され、その電位強度も種々に調整される。また、プラズマは導電性を有するから、このプラズマと接触するダクト部にはプラズマ電位が印加される。従って、外部電圧を全く印加せずに、ダクト部とGNDの間の電圧を計測することにより、前記ダクト部に印加されるプラズマ電位からプラズマパラメータを測定することができる。プローブから出力される波形や波高などの値が前記プラズマパラメータと直接対応する場合もあり、また所定の計算によりプラズマパラメータを導出することもできる。プローブ計測において適用される技術的手段は、プラズマの状態に応じて調節できることは云うまでもない。
本発明の完成に至る経緯において、本発明者は、ドロップレット低減条件の目標を達成するには、前記プラズマ進行路の有効全長、直径、屈曲数及び屈曲角の総和のいずれかひとつ又はその組み合わせ等の形態因子が有効要素となるという知見を得た。そこで、本発明の第19の形態によれば、前記プラズマ進行路の有効全長、直径、屈曲数及び屈曲角の総和のいずれかひとつ又はその組み合わせがドロップレット低減条件を満足するように設定されているので、前記プラズマ進行路に設置した前記ドロップレット除去部のドロップレット除去効果を一層向上させることができる。
本発明の第20の形態によれば、前記有効要素のひとつである前記有効全長が1600〜900mmで設定されることにより、前記プラズマ進行路に設置した前記ドロップレット除去部のドロップレット除去効果を一層向上させることができる。
本発明の第21の形態によれば、前記有効要素のひとつである、前記直径が200〜90mmで設定されることにより、前記プラズマ進行路に設置した前記ドロップレット除去部のドロップレット除去効果を一層向上させることができる。
本発明の第22の形態によれば、前記有効要素のひとつである、前記屈曲数が3〜1で設定されることにより、前記プラズマ進行路に設置した前記ドロップレット除去部のドロップレット除去効果を一層向上させることができる。
本発明の第23の形態によれば、前記有効要素のひとつである、前記屈曲角の総和が150〜90°で設定されることにより、前記プラズマ進行路に設置した前記ドロップレット除去部のドロップレット除去効果を一層向上させることができる。
本発明者は、前記有効要素の形態因子とは別に、前記プラズマ発生部におけるアーク電流値もドロップレット除去に有効な要素になり得るといった知見を得た。即ち、本発明の第24の形態によれば、前記プラズマ発生部におけるアーク電流値が140〜30Aの範囲で調整されることにより、前記プラズマ進行路に設置した前記ドロップレット除去部のドロップレット除去効果を一層向上させることができる。
以下、本発明に係るプラズマ生成装置の実施形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。本発明において、被処理物を加工するプラズマ加工部(被プラズマ処理部)を付設した装置又はプラズマ加工部を付設しない装置の両方がプラズマ生成装置として包含される。プラズマ加工部を有するプラズマ生成装置は、プラズマ加工装置と称されてもよい。
図1は本発明に係るプラズマ生成装置の概略構成図である。図1に示すプラズマ生成装置は、真空雰囲気下において真空アーク放電によりプラズマを発生させるプラズマ発生部(プラズマガン)、プラズマ加工部401及びプラズマ進行路402から構成される。本件明細書において、プラズマ進行路402とは、プラズマが誘導されるプラズマ発生部(プラズマガン)からプラズマ加工部401までの経路を示しており、後述するように、プラズマ進行路402は、電磁相互作用によりプラズマを誘導する磁気発生器が1つ以上付設されたダクト部から構成され、ドロップレットの除去するフィルタ管として機能が付与されている。例えば、プラズマ進行路402は、プラズマが直進するように形成されても良いが、プラズマのみを誘導するような屈曲部が1箇所以上設けられることが好ましい。更に、プラズマ進行路402の屈曲部には、後述するように、直進するドロップレットを捕集することが可能なポケット状の捕集部が連接される。図1のプラズマ進行路402は、ドロップレットを除去するための構造等が具体的に記載されていないが、後述するように、プラズマ進行路402の構造や付設装置を目的に応じて適宜選択することができる。
プラズマ発生部は、陰極(カソード)407、トリガ電極408、陽極(アノード)405及びアーク電源409からなる。陰極407は、プラズマ構成物質の供給源であり、その形成材料は、導電性を有する固体なら特に限定されず、金属単体、合金、無機単体、無機化合物(金属酸化物・窒化物)等を単独又は2種以上混合して用いることができる。陽極405の形成材料は、プラズマ温度でも蒸発せず、非磁性の材料で導電性を有する固体なら特に限定されない。前記陽極405は、プラズマの進行方向に沿って縮径する環状の構造を有しており、アパーチャーとしての機能も有している。しかし、前記陽極405の形状は、プラズマ404の全体の進行を大幅に遮蔽するものでなければ、特に限定されない。
陰極407の周辺は、外囲部材420によって包囲されている。外囲部材420は、絶縁体403を介してプラズマ進行路402の始端402aと連結されている。プラズマ進行路402の後端開口は、前記プラズマガンから発生されたプラズマ404を導入するために、プラズマ加工部401のプラズマ導入口に連結されている。プラズマ加工部401の内部には、プラズマ照射位置にプラズマ被処理物(図示せず)が設置されており、目的に応じたプラズマ処理を施すことができる。外囲部材420の内側には、プラズマの発生時に陰極407から副生されるドロップレットを捕集する捕集部材411を複数個、多層状に構成したドロップレット除去装置406が設けられている。更に、外囲部材420の終端部、進行路始端部402a若しくはそれらの連結部又はその近傍には、ドロップレット捕集用のアパーチャー417を設けられ、ドロップレットがプラズマ進行路402に進入することを抑制することができる。尚、アパーチャー417は、前記絶縁体403と一体形成されていても良く、より簡単にアパーチャー417を設置することができる。前記外囲部材420及び前記プラズマ進行路402(進行路始端部402aを含む)は、アーク電源409との接続関係がなく、電気的に中性の浮遊状態に保持されている。また、前記プラズマ進行路402及び外囲部材420はSUS等の金属材料から形成され、陰極407が炭素物質から形成される場合、捕集部材411には、陰極407と同一物質からなるカーボングラファイト等の炭素材料が用いられる。
上記構成のプラズマ生成装置において、電気的に中性なドロップレットは、慣性力によって陰極407周辺に飛散し、外囲部材420に配置された各捕集部材411に衝突して、付着し回収される。このドロップレット回収の際、外囲部材420は、電気的に中性の浮遊状態に保持され、発生したプラズマ404中の電子は、外囲部材420側に引き寄せられることなく、陰極407から離間した陽極405側の進行路始端部402aに移動する。従って、ドロップレット除去装置406によるドロップレット回収の際に放電現象は発生せず、エネルギー損失は生じない。これにより、前記プラズマガンに近接して捕集部材411を設置できるため、高効率でドロップレット除去を行え、高純度かつ高エネルギーのプラズマをプラズマ進行路402に送出することができる。
各捕集部材411は、プラズマを流通させる中空部を穿設した中空リング状の環状平板からなり、カーボングラファイト、SUS等で構成されている。上記ドロップレット除去装置406は、複数個の同一形状の捕集部材411が所定間隔で配置され、多層状に集積した構造を備え、外囲部材420内周に着脱自在に取り付けられている。捕集部材411がドロップレット付着により汚れたときは、ドロップレット除去装置406を外囲部材420より抜き出して各捕集部材411を清掃することができる。
各捕集部材411は陰極407を包囲して、発生プラズマの進行方向に沿って、外囲部材420の内側に多層状に配置されているので、ドロップレットの捕集可能面積が大きくなり、ドロップレット除去効率の向上を図ることができる。ドロップレットは、プラズマ進行方向側のみに直進するだけでなく、外囲部材420内壁に衝突して後方に跳ね返って陰極407周辺に飛散する場合もあるので、陰極407の後方や側方にも捕集部材411を配置しており、陰極407の後方や側方にまで四散するドロップレットを捕集し、跳ね返って前方に逆戻りしたドロップレットがプラズマ流に混入することを防止している。なお、プラズマ進行路402内壁にもドロップレット除去用捕集部材を設置すれば、ドロップレット除去効果をより一層向上させることができる。
図2は本発明に係る別のプラズマ生成装置の概略構成図である。図2において、図1と同一部材については同じ符号付して説明を省略する。このプラズマ生成装置は、プラズマ発生部(プラズマガン)に対して略直角に屈曲形成されたプラズマ進行路412を備え、ドロップレット除去装置416が外囲部材420内周に着脱自在に取り付けられている。外囲部材420は、図1のプラズマ生成装置と同様に、絶縁体403を介してプラズマ進行路412の始端と連結されており、外囲部材420とプラズマ進行路412は、電気的に中性の浮遊状態に設定されている
上記ドロップレット除去装置416は、複数個の捕集部材A1〜A7、B1〜B9を所定間隔を置いて多層状に集積した構造を備え、外囲部材420内周に着脱自在に取り付けられている。各捕集部材は、プラズマを流通させる中空部を穿設した中空リング状の環状平板からなり、カーボングラファイト等の炭素材料又はTi、W、SUS等の金属材料から形成され、前述のように、陰極407と同一物質から形成されることが好ましい。各捕集部材はそれぞれの中空部の内径が異なる。陰極407前方に位置する捕集部材A1〜A7は、プラズマ414の進行方向に沿って、各中空部の大きさが漸次、拡大するように多層状に配置されている。また、陰極407の後方や側方にも捕集部材B1〜B9が陰極407を囲むように配置されており、陰極407の後方や側方にまで四散するドロップレットを捕集し、跳ね返って前方に逆戻りしたドロップレットがプラズマ流に混入することを防止している。尚、前記各捕集部材は電気的に中性な浮遊状態に保持されればよく、セラミック等の非導電性物質から形成される捕集部材を用いてもよい。
上記ドロップレット除去装置416においては、捕集部材A1〜A7を、各中空部の大きさの順に、陰極407前方のプラズマ進行空間に向けて、所定間隔を置いて多層状に外囲部材420内壁に設けているので、ドロップレット捕集可能な面積を拡大して、ドロップレット除去効率を向上させることができる。また、捕集部材A1〜A7の中空部が陰極407から前方に向けて略逆円錐台形状に配列されたプラズマ進行空間を形成する。従って、ドロップレットを高効率で除去しながら、陰極407から前方に向けて略コーン状に放射される発生プラズマ414が各捕集部材に無駄に衝突する割合を低減でき、高純度プラズマをプラズマ進行空間を通じて円滑に進行させることができ、プラズマの効率的利用を行うことができる。このドロップレット回収の際、図1のプラズマ生成装置と同様に、外囲部材420、捕集部材416とプラズマ進行路412は、電気的に中性の浮遊状態に保持されているので、放電現象は発生せず、エネルギー損失を生じない。
更に、プラズマ発生部において発生したドロップレット415は、電気的に中性であり、慣性力によって直進し、プラズマ発生部に対向して設けたドロップレット捕集部413に捕集されるので、プラズマ進行路412には、直進するドロップレット415をドロップレット捕集部413にて回収されたプラズマ414を導入することができる。また、ドロップレット捕集部413の内壁には、複数のドロップレット捕集板418が直進するドロップレット415に対し傾斜して配設されており、壁面で反射されてドロップレット415が再びプラズマ414中に混入することを防止することができる。従って、図2のプラズマ生成装置によれば、ドロップレット除去装置416により、陰極407周辺で飛散するドロップレットを除去するとともに、直進するドロップレット415をドロップレット捕集部413により捕集するので、これらのドロップレット除去の相乗効果により、より一層高純度のプラズマをプラズマ進行路412側に送出することができる。なお、高純度プラズマはプラズマ進行路412に設けた屈曲磁場発生器(図示せず)により磁気作用によりプラズマ加工部側に屈曲誘導される。
図3は本発明に係る、更に別のプラズマ生成装置の概略構成図である。図3に示すプラズマ生成装置1は、プラズマ発生部2、プラズマ加工部12及びプラズマ進行路5から構成される。プラズマ進行路5には、プラズマの発生時に陰極4から副生するドロップレットを除去するドロップレット除去部が配置されている。このドロップレット除去部は、プラズマ進行路5を形成する拡径管3と、拡径管3のプラズマ導入側始端に連接された導入側縮径管34と、拡径管3のプラズマ排出側終端に連接された排出側縮径管39と、拡径管3の始端及び終端に形成された段差部40とから構成される。導入側縮径管34の前段には連結進行路7が連接されている。
プラズマ発生部2から前方に直進管41が配設されており、この直進管41から90°の屈曲角θの主折曲部7aを介して前記連結進行路7が設けられている。この連結進行路7の主折曲部7aから前方に、前記直進管41内にドロッレット進行路32が形成されている。拡径管3と導入側縮径管34とは導入折曲部7bを介して交差するように接続され、この実施例では前記導入折曲部7bの屈曲角θは30°である。また、排出側縮径管39と拡径管3との屈曲角θも30°に設定され、屈曲角の総和θ(=θ+θ+θ)は150°になる。拡径管3は、内周管36と外周管35からなる。外周管35はプラズマ流の進行に関与せず、内周管36の保護部材であり、内周管36は、絶縁リングなどの絶縁材46を介して外周管35内に取着され、内周管36と外周管35とは電気的に絶縁されている。内周管36は絶縁材46と一体に外周管35より分離されて取り出される構成にあり、外周管35に対して挿脱自在に取り付けられている。
プラズマ発生部2は、陰極4、トリガ電極6、陽極8、アーク電源10、陰極プロテクタ27、プラズマ安定化磁界発生器(電磁コイル若しくは磁石)16を備え、陽極8は、アーク電源10の+電位に接続されている。陰極プロテクタ27は、蒸発する陰極表面以外を電気絶縁し、陰極4と陽極8との間に発生するプラズマが後方に拡散することを防止するものである。プラズマ安定化磁界発生器16は、プラズマ発生部2の外周に配置され、プラズマを安定化させる。プラズマに対する印加磁場が互いに逆方向(カスプ形)となるようにアーク安定化磁界発生器16が配置された場合、プラズマはより安定化する。また、プラズマ発生部2と直進管41の連結部には、アパーチャー42が設けられている。更に、直進管41から前方部は電気的に浮動状態にあり、プラズマがプラズマ進行路内で電気的な影響を受けないように構成されている。また、排出側縮径管39とプラズマ加工部12の間にも加工部側絶縁プレート44が介装されている。その結果、直進管41から排出側縮径管39までのプラズマ搬送用のダクト部の全体が、電気的に浮動状態に設定され、プラズマのエネルギー損失が抑制される。
内周管36には電源48が接続され、内周管36を+電位に設定したり、−電位に設定することができ、前記プラズマパラメータをプローブすることが可能である。+−のいずれを選択するかはプラズマ搬送効率を低下させない方向に選択され、プラズマの状態で判断される。電位強度も可変であり、通常は内周管36を+15Vに設定することが搬送効率の観点から選ばれている。外周管35にはプローブ電源49が接続され、外周管35と導通している前述したダクト部の電位が調節される。プラズマ自体はプラズマ電位を有しているため、ダクト部の電位は前記プローブ電位とプラズマ電位が重畳された合成電位になる。ダクト部とGNDの間にオッシロスコープを接続すると、前記合成電位の波形が測定され、この波高値や周期などからプラズマパラメータが測定できる。プローブ電源を接続しない場合には、ダクト部の電位は前記プラズマ電位になり、ダクト部とGNDの間にオッシロスコープを接続することによりプラズマ電位を計測することが可能である。プラズマ自体が導電性を有するから、ダクト部の電位がプラズマ電位を反映することから、上記内容が理解できる。
プラズマ発生部2では、陰極4とトリガ電極6の間に電気スパークを生起し、陰極4と陽極8の間に真空アークを発生させてプラズマが生成される。このプラズマの構成粒子は、前記陰極4からの蒸発物質、蒸発物質と反応ガスを起源とする荷電粒子(イオン、電子)と共に、プラズマ前状態の分子、原子の中性粒子を含む。また、プラズマ構成粒子が放出されると同時に、サブミクロン以下から数百ミクロン(0.01〜1000μm)サイズのドロップレット18が放出される。このドロップレット18は、プラズマ流との混合状態を形成し、ドロップレット混合プラズマ9としてプラズマ進行路7内を移動する。
プラズマ進行路5に配置したドロップレット除去部において、導入側縮径管34より拡径管3内に導入されたプラズマ流が拡径管3によるプラズマ進行路の拡径作用により拡散される。そのプラズマ流9bは拡散するが、プラズマに混入しているドロップレットは直進するから拡径管3の管内壁面に衝突しながら拡径管3の内部に拡散する。この拡散によりプラズマ流の中心部分ではドロップレットが減少し、プラズマ流体の外周に多くドロップレットが分布する状態に遷移する。この分布変化により、段差部40付近及び内周管36の内壁面にドロップレット18が衝突して付着、回収される。また、内周管36内のプラズマ流が排出されるときには、内周管36から排出側縮径管39への縮径作用により、内周管36内側壁側に飛散したドロップレットがプラズマ流9bに合流して再び混入することを防ぐことができる。排出折曲部7cから飛び出たドロップレット18は直進して排出側縮径管39の内壁面に衝突して回収されるが、プラズマ流9bは磁場により排出折曲部7cに沿って湾曲し、ドロップレット18と分離される。その結果、プラズマ流9bから殆んどのドロップレット18が分離捕集されるため、プラズマ加工部12には純粋なプラズマ9aが供給されることになる。従って、段差部40付近及び内周管36の内側壁にドロップレットを付着させて、十分に回収でき、プラズマ進行路5においてドロップレットを効率的に除去することができる。しかも、プラズマ進行路5に拡径管3を形成するだけで、簡易かつ安価にドロップレット除去部を構成でき、更にドロップレット除去効率の向上により得られる高純度プラズマをプラズマ加工部12に導入して、成膜等の表面処理の加工精度を向上させ、被処理物表面の表面改質や形成膜の均一性を格段に向上させることができる。導入側縮径管34及び排出側縮径管39の内径は同じであり、これらに対するより拡径管3の内周管36の拡径度合いは、前者に対して約1.2〜3倍程度であればよい。
陰極4の周辺は、外囲部材500によって包囲されている。外囲部材500は、絶縁体(図示せず)を介して直進管41の始端と連結されており、直進管41と電気的に導通していない。外囲部材500の内側には、プラズマの発生時に陰極4から副生されるドロップレットを捕集する捕集部材501を複数個、多層状配置されている。捕集部材501は図1の捕集部材411と同様の構成にある。電気的に中性なドロップレットは、図1のプラズマ生成装置において説明したように、慣性力によって陰極4周辺に飛散し、外囲部材500に配置された各捕集部材501に衝突して、付着し回収される。このドロップレット回収の際、外囲部材500と直進管41は、導通しておらず、電気的に中性の浮遊状態に保持されている。即ち、外囲部材500は、陽極8と共に直進管41とも絶縁されており、プラズマ中の電子は、外囲部材500側に引き寄せられることなく、陰極4から離間した環状の陽極8を通過して直進管41に移動する。従って、外囲部材500に導通する捕集部材501と陰極4の間には放電現象が発生せず、エネルギー損失が抑制される。これにより、陰極4に近接して捕集部材501を設置できるため、高効率でドロップレット除去を行え、高純度かつ高エネルギーのプラズマを生成することができる。
拡径管3において内周管36を外周管35に対して挿脱自在にしているので、ドロップレットで汚染された内周管36を随時、交換可能にすることができ、ドロップレット清掃作業性が向上し、プラズマ生成装置の稼動効率を低下させずに、プラズマ生成処理を円滑に行うことができる。
導入側縮径管34及び排出側縮径管39は、それぞれの管軸が拡径管3の管軸に対して所定屈曲角(θ+θ=60°)で傾斜配置され、拡径管3に対するそれぞれの接合面は楕円形状になっている。これにより、導入側縮径管34、排出側縮径管39及び拡径管3による、屈曲型プラズマ進行路が形成されるので、拡径管3内で拡散されたドロップレットをより効率的に段差部40付近及び拡径管3の内側壁に衝突させて付着、回収できる。従って、プラズマ流に混入したドロップレットを高効率に分離することができ、高純度化されたプラズマ流を前記排出側縮径管より排出させて、ドロップレット除去効率の向上を図ることができる。
本実施形態においては、導入側縮径管34及び排出側縮径管39の管軸を拡径管3の始端及び終端に対して同じ向きに連接した平行配置(θ=30°、θ=30°)の場合である。また、例えば排出側縮径管39の管軸を拡径管3の管軸に対して逆方向に30°で傾斜(θ=−30°)させれば、導入側縮径管34及び排出側縮径管39の管軸を拡径管3の始端及び終端に対して互いに交差するような交差配置(θ=30°、θ=−30°)になるので、導入側縮径管34に対して交差する向きの排出側縮径管39内壁に、拡径管3より排出されたプラズマ流が衝突し、蛇行しながら排出側縮径管内を流通させることができる。従って、前記平行配置の場合に比較して、段差部40付近及び内周管36の内側壁に衝突させてドロップレットを付着、回収した後、プラズマ流の中心付近に混入したドロップレットが内周管36より排出されても、ドロップレットが直進して排出側縮径管内壁39に衝突し、付着回収されるので、より高効率にドロップレットを除去することができる。
図4はドロップレット捕集板38を有する内周管36の部分拡大断面図である。内周管36の内壁には、複数枚のドロップレット捕集板38が植設されている。ドロップレット捕集板38の傾斜角αは15〜90°の範囲で設定されるが、経験的に30〜60°が好適であり、この実施例ではα=45°に設定されている。この傾斜角では、プラズマ流9bから分離されたドロップレット18はドロップレット捕集板38を図示する様に多重反射しながら確実に付着回収できる。
図5はドロップレット捕集板38の構造の一部断面図であり、(5A)はその部分断面図、(5B)は1枚のドロップレット捕集板38の外観図である。複数枚のドロップレット捕集板38により内周管36内でのドロップレット付着表面積を多くして、飛散ドロップレットを大量かつ確実に付着、回収することができる。プラズマ進行路において、内周管36の管長による制限によってドロップレット捕集板38の設置枚数が制約されるので、ドロップレット除去面積を増大するために、ドロップレット捕集板38の表面に粗面加工が施され、無数の凹凸を有した粗面38aが形成されている。ドロップレット捕集板38の表面が粗面38aになっているから、ドロップレット捕集板38の捕集面積が増大して、捕集効率が向上させることができる。また、凹部に衝突したドロップレット18は凹部で確実に固着され、ドロップレット捕集効率が格段に増加する。粗面加工38aには、筋目加工や梨地加工を使用することができる。筋目加工方法としては、例えば、研磨紙による研磨処理を用いる。梨地加工方法には、例えば、アルミナ、ショット、グリッド、ガラスビーズ等によるブラスト処理を用い、特に、圧縮空気等により数ミクロン粒子を加速してノズル噴射させるマイクロブラスト加工が、ドロップレット捕集板38の狭い表面に微細凹凸加工を施すことができる。
前述したようにドロップレット捕集板は重要であるから、ここで再記しておく。ドロップレット捕集板38の捕集面は図5に示すように、内周管36の内壁に対し約45°傾斜している。従って、内周管36にドロップレット捕集板38を取り付けた状態においては、捕集面が導入側縮径管34に向けて斜行配置されるので、内周管36内に流入するドロップレットを受ける面積が多くなる。従って、ドロップレット捕集板38の捕集効率の向上により、ドロップレット除去効率を一層高めることができる。また、約45°傾斜させることにより、捕集したドロップレットが捕集面に衝突・反射し、再度捕集板より飛び出すことを防ぐことが出来る。導入側縮径管34及び排出側縮径管39にも同様の縮径管用ドロップレット捕集板37が多数植設されている。この縮径管用ドロップレット捕集板37は縮径管内面に対し90°で直立配置されているが、前記ドロップレット捕集板18と同様に適切な傾斜角で傾斜配置してもよいことは云うまでもない。また、連結進行管7及びドロップレット進行路32の管壁内面にも多数のドロップレット捕集板33が配設されているが、図示は省略している。これらのドロップレット捕集板33の傾斜配置についても上述と同様である。
図3において、連結進行路7が連結された直進管32には、第1磁場発生器26、屈曲磁場発生器28が配設され、また連結進行路7と導入側縮径管34の外周には第2磁場発生器30が配設されている。拡径管3の外周には直進磁場発生器24が配置され、排出側縮径管39の外周にも第3磁場発生器31が配置されている。第1磁場発生器26、第2磁場発生器30、第3磁場発生器31及び直進磁場発生器24はプラズマを前進させるために設けられている。折曲部7aに斜行配置された屈曲磁場発生器28により屈曲磁場が印加され、プラズマ発生部2から放出されたドロップレット混合プラズマ9は、折曲部7aで屈曲される。このとき、電気的に中性なドロップレット18は、屈曲磁場の影響を受けず、慣性力によってドロップレット進行路32を進行し、ドロップレット進行路32の終端に設けたドロップレット捕集部20に捕集される。従って、ドロップレット進行路32に対して、連結進行路7を介して垂直又はほぼ垂直に連接された導入側縮径管34には、プラズマ進行路の屈曲作用により、あらかじめドロップレットの一部が除去されたプラズマ流を流入させることができるため、上記プラズマ進行路5に設けたドロップレット除去部によるドロップレット除去との相乗効果により、ドロップレットの高効率除去が可能となる。また、導入側縮径管34と排出側縮径管39を拡径管3に対し傾斜配置することで、ドロップレット捕集効率を更に増加させることができる。
導入側縮径管34は連結進行路7に対して僅かに縮径されており、この縮径作用によってもドロップレットの除去が行われるが、連結進行路7との連結部付近にドロップレット捕集用アパーチャー50を配設している。排出側縮径管39のプラズマ加工部12側開口付近には、ドロップレット捕集用アパーチャー51を配設している。アパーチャー50、51には、例えば、プラズマ進行路の管径を縮小し、あるいは偏心、もしくは縮小・偏心により開口形状を変形させる円板型アパーチャーを用いることができる。これらのアパーチャー50、51を設置することにより、プラズマ進行路の始端及び終端において直進するドロップレットを捕集してドロップレット除去効率の向上に寄与する。
上記構成に係るプラズマ生成装置1において、外囲部材500に配置された捕集部材501、ドロップレット捕集部20及びプラズマ進行路5のドロップレット除去部やアパーチャー50、51によりドロップレットが除去された高純度のプラズマ9aは、排出側縮径管39に配設された第3磁場発生器31の磁場により誘導されて進行し、プラズマ加工部12に導入され、被処理物14の表面処理が行われる。従って、高純度プラズマにより被処理物表面に均一な表面改質を施したり、欠陥や不純物の少ない高品質の薄膜を形成することができる。
本発明者の得た知見によれば、ドロップレット低減条件の目標を達成するには、プラズマ進行路の有効全長、直径、屈曲数及び屈曲角の総和のいずれかひとつ又はその組み合わせ等の形態因子が有効要素となる。図6及び図7の(7A)はこれらの形態因子についての有効性を検証した結果を示す。この検証においては、プラズマ進行路を全長に亘り同一径の管路で形成した。
図6はプラズマ進行路の有効全長L(mm)、直径D(mm)、屈曲数Nとドロップレット除去率との相関関係を示すグラフである。図7の(7A)は、プラズマ進行路の屈曲角の総和(=θ+θ+θ)とドロップレット除去率との相関関係を示すグラフである。図6における縦軸のNは、単位面積(2.5inch×2.5inch)当たりの被処理物へのドロップレット付着数を示す。成膜速度が10A/sec(A=0.1nm)で、例えば10nm膜の形成を行う場合に、N<100を、プラズマ加工部12における表面処理能力の目標値として、つまりドロップレット低減条件の目標値と設定した。
図6から分かるように、有効全長が1600〜900mmで設定されることにより、また管直径が200〜90mmで設定されることにより、更に屈曲数が3〜1で設定されることにより、上記ドロップレット低減条件を満足させることができる。
図7の(7A)における縦軸のN/Nは、直進プラズマ進行路のみの場合の被処理物へのドロップレット付着数Nとの比較を示す。N/Nが1以下であればあるほど、プラズマ加工部12における表面処理能力を高めることができるので、それをドロップレット低減条件の目標値と設定した。屈曲角はプラズマ流の進行に対しての管路が屈曲される角度である。(7A)から分かるように、屈曲角の総和が150〜90°で設定されることにより、上記ドロップレット低減条件を満足させることができる。
上記の検証結果から、プラズマ進行路の有効全長、直径、屈曲数及び屈曲角の総和のいずれかひとつ又はその組み合わせがドロップレット低減条件を満足するように設定されることにより、プラズマ進行路に設置したドロップレット除去部のドロップレット除去効果を一層向上させることができる。上記実施形態においては、プラズマ進行路の有効全長、直径、屈曲数及び屈曲角の総和をそれぞれ、1500mm、200mm、3(主折曲部7a、導入折曲部7b、排出折曲部7cによる3箇所)、150°(90°+30°+30°)としており、上記の形態因子の有効要素を包含させている。
更に、上記有効要素の形態因子とは別に、プラズマ発生部2におけるアーク電流値も単位面積(2.5inch×2.5inch)当たりの被処理物へのドロップレット付着数に影響を及ぼす。図7の(7B)には、被処理物のドロップレット付着数とプラズマ発生部2におけるアーク電流値との関係を示す。前述のように、N<100であることが前記表面処理能力の目標値となる。(7B)に示すように、アーク電流値が150Aに到達すると、ドロップレット付着数Nが100を越えている。この試験結果と本発明者の知見に基づき、プラズマ発生部2におけるアーク電流値が140〜30Aの範囲に調整されることにより、前記表面処理能力の目標値が満足されると共に、プラズマ処理を可能にする所定量以上のプラズマが発生されることが明らかとなっている。
複数の拡径管を、縮径管を介して連接することにより、ドロップレット除去効率の向上を図ることができる。
図8は、複数の拡径管配置の一例であり、直線状に2個の拡径管200、201を中継縮径管202を介して連接したプラズマ進行路を示す。導入側縮径管203は拡径管201に対して傾斜配置され、拡径管201は中継縮径管202を介して拡径管200に連接され、更に拡径管200には排出側縮径管204が連接されている。これらの連接された拡径管200、201により、複数段階に亘ってドロップレットを除去することができ、高純度のプラズマ流を生成することができる。しかも、図示するように、連接される管路の管軸が合致しないように偏心させて、拡径管200、201に形成される段差部におけるドロップレットの除去効果を高めている。なお、中継縮径管202を湾曲形成して、外部にプラズマ誘導磁場発生部を設け、プラズマ進行路をより屈曲度合いを高めながら複数の拡径管を連接してもよい。
図9は2個の拡径管の更に多様な接続形態を示す概念図である。(9A)では、拡径管200、201の管軸を一致させた場合が示される。この場合には、プラズマ流Pは直線状に進行し、ドロップレットDは拡径管の段差部と内周面で捕集される。(9B)では、拡径管200、201の管軸をずらせた場合が示される。この場合には、プラズマ流Pはやや蛇行し、この蛇行によりドロップレットDがプラズマ流Pから分離するため、ドロップレットDの段差部捕集が増強される。(9C)は、導入側縮径管203と排出側縮径管204を平行配置(θ=0、θ=0)させた場合である。傾斜角θ、θは図1に示されるものと同定義である。この場合には、プラズマ流Pは直進し、ドロップレットDは拡径管の段差部で捕集される。(9D)では、導入側縮径管203と排出側縮径管204を斜行配置(θ=−30°、θ=−30°)させた場合に相当する。結果的に導入側縮径管203と排出側縮径管204は平行することになる。この場合には、プラズマ流PはS字状に蛇行し、このS字蛇行によりドロップレットDはプラズマ流Pから強制分離され、ドロップレットDの拡径管段差部による捕集効果が増強される。(9E)では、導入側縮径管203と排出側縮径管204を斜行配置(θ=30°、θ=−30°)させた場合が示される。この場合には、導入側縮径管203と排出側縮径管204の管軸は交差する。プラズマ流Pは湾曲状に蛇行し、この湾曲蛇行によりドロップレットDはプラズマ流Pから分離し、ドロップレットDの拡径管段差部による捕集効果が増強される。(9A)と(9B)の選択、更に(9C)〜(9E)の選択があり、両者の組合せにより多様性が広がる。また、拡径管が3個以上になると更に多様性が増加するが、選択の基準は、ドロップレットの捕集効率を最大化し、同時にプラズマ搬送効率の低下を最大抑制することである。本発明を利用すれば、多種多様に選択の幅を広げることが可能になる。
図10は本発明に係るプラズマ生成装置の更に他の実施例の概略構成図である。図3と同一部分には同一符号を使用し、その作用効果は同一であるからその記載を省略する。以下に、異なる符合部分について、作用効果を説述する。
図10に示すように、拡径管3内に、偏心した位置に通過孔25aを有するアパーチャー25を前後2つ配設している。大枠で説明すると、プラズマ流9bが拡径管3を蛇行しながら偏心通過孔25aを通過する際に、プラズマ流9b(Pとも書かれる)からドロップレット18(Dとも書かれる)が分離除去される。即ち、プラズマPに随伴する小さなドロップレットDは、プラズマPがアパーチャー25の偏心通過孔25aを湾曲して通過するときに、外側に飛び出してアパーチャー25の壁面に衝突して除去される。尚、プラズマ進行路を構成する直進管41、連結進行路7、導入側縮径管34、拡径管3及び排出側縮径管39の全てが電気的に中性な浮遊状態に保持されている。
斜行磁場発生器は、拡径管3の外周面に配設される直進磁場発生器24と、この外周に配置される径方向磁場発生器23、23aから構成される。直進磁場と径方向磁場の合成により斜行磁場が形成され、この斜行磁場に誘導されて、プラズマPはアパーチャー25の偏心通過孔25aを湾曲して前進することになる。
図10において、始端側のアパーチャー25には、左側に偏心通過孔25aが形成され、終端側のアパーチャー25には、右側に偏心通過孔25aが形成されている。また、始端側の径方向磁場発生器23は図の右側にN極が配置され、左側にS極が配置されており、終端側の径方向磁場発生器23は図の左側にN極が配置され、右側にS極が配置されている。従って、拡径管3の始端側には右側から左側に向いた径方向磁場が形成され、終端側には左側から右側に向いた径方向磁場が形成される。これらの径方向磁場と直進磁場発生器24による直進磁場の合成により、拡径管3の始端側には左寄りの斜行磁場が発生し、終端側には右寄りの斜行磁場が発生する。プラズマPは拡径管3の始端側で左寄りの斜行磁場に誘導されて左向きに湾曲して始端側のアパーチャー25の偏心通過孔25aを通過する。終端側では右寄りの斜行磁場に誘導されてプラズマは右向きに湾曲して終端側のアパーチャー25の偏心通過孔25aを通過する。
プラズマPに随伴する小さなドロップレットDはプラズマPの湾曲によって外向きに飛び出して始端側のアパーチャー25及び終端側のアパーチャー25の壁面に衝突して除去される。従って、プラズマ加工部12の被処理物14の表面は、ドロップレットDを含まない純度の高いプラズマPで処理することができる。尚、排出側縮径管39にはプラズマ9aをプラズマ加工部12に向けて前進させるための第3磁場発生器31が配置されている。
図11は拡径管内に配設されるアパーチャーの偏心通過孔をプラズマが通過する状態を示す説明図である。図示のように、拡径管3内に配設されたアパーチャー25の偏心通過孔25aをプラズマPが湾曲して通過する際に、このプラズマPに随伴する小さなドロップレットDはプラズマPの湾曲時に外向きに飛び出す。始端側に飛び出した小さなドロップレットDはアパーチャー25の壁面に衝突して除去される。終端側に飛び出した小さなドロップレットDは図示しない終端側のアパーチャー25の壁面に衝突して除去される。
本発明は、上記実施形態や変形例に限定されるものではなく、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲における種々変形例、設計変更などをその技術的範囲内に包含するものであることは云うまでもない。
本発明に係るプラズマ生成装置は、陰極周辺のプラズマガンに近接してドロップレット除去部を設けて、高純度で均一なプラズマ流を被プラズマ処理部に導入することができる。また、本発明に係るプラズマ生成装置により生成される高純度プラズマを用いれば、プラズマ中で固体材料の表面に欠陥や不純物が格段に少ない高純度の薄膜を形成したり、プラズマを照射することにより、固体の表面特性を欠陥や不純物を付与することなく、均一に改質することができ、例えば固体表面における耐磨耗性・耐食性強化膜、保護膜、光学薄膜、透明導電性膜などを高品質かつ高精度に形成することができる。
本発明に係るプラズマ生成装置の実施例の概略構成図である。 本発明に係る別のプラズマ生成装置の実施例の概略構成図である。 本発明に係る、更に別のプラズマ生成装置の実施例の概略構成図である。 ドロップレット捕集板38を有する内周管36の部分拡大断面図である。 ドロップレット捕集板38及びその構造体の概略説明図である。 プラズマ進行路の有効全長L(mm)、直径D(mm)、屈曲数Nと単位面積当たりの被処理物へのドロップレット付着数との関係を示すグラフである。 プラズマ進行路の屈曲角の総和θ(°)及びアーク電流値I(A)とドロップレット除去率との相関関係を示すグラフである。 複数の拡径管の概略配置構成図である。 2個の拡径管の更に多様な接続形態を示す概念図である。 本発明に係るプラズマ生成装置の別実施例の概略構成図である。 拡径管内に配設されるアパーチャーの偏心通過孔をプラズマが通過する状態を示す図である。 本発明の課題に関係するプラズマ生成装置の概略構成図である。 従来のプラズマ加工装置の構成概略図である。
符号の説明
1 プラズマ生成装置
2 プラズマ発生部
3 拡径管
3a 壁面
4 陰極
5 プラズマ進行路
6 トリガ電極
7 連結進行路
7a 主折曲部
7b 導入折曲部
7c 排出折曲部
8 陽極
9 ドロップレット混合プラズマ
9a プラズマ流
9b プラズマ流
10 アーク電源
12 プラズマ加工部
14 被処理物
16 プラズマ安定化磁界発生器
18 ドロップレット
20 ドロップレット捕集部
23 径方向磁場発生器
23a 径方向磁場発生器
24 直進磁場発生器
25 アパーチャー
25a 偏心通過孔
26 第1磁場発生器
27 陰極プロテクタ
28 屈曲磁場発生器
30 第2磁場発生器
31 第3磁場発生器
32 ドロップレット進行路
33 ドロップレット捕集板
34 導入側縮径管
35 外周管
36 内周管
37 縮径管用ドロップレット捕集板
38 ドロップレット捕集板
38a 粗面
39 排出側縮径管
40 段差部
41 直進管
42 アパーチャー
44 加工部側絶縁プレート
46 絶縁材
48 バイアス電源
49 プローブ電源
50 アパーチャー
51 アパーチャー
102 プラズマ発生部
104 陰極
106 トリガ電極
108 陽極
109 プラズマ
110 電源
112 プラズマ加工部
114 被処理物
116a プラズマ安定化磁場発生器
116b プラズマ安定化磁場発生器
118 陰極材料微粒子(ドロップレット)
120 ドロップレット捕集部
200 拡径管
201 拡径管
202 中継縮径管
203 導入側縮径管
204 排出側縮径管
300 プラズマ被処理物
301 プラズマ加工部
302 プラズマ流通路
303 リブ
304 陰極
306 トリガ電極
307 アーク電源
308 プラズマ
309 ハウジング
401 プラズマ加工部
402 プラズマ進行路
402a 進行路始端部
403 絶縁体
404 プラズマ
405 陽極
406 ドロップレット除去装置
407 陰極
408 トリガ電極
409 アーク電源
411 捕集部材
412 プラズマ進行路
413 ドロップレット捕集部
414 プラズマ
415 ドロップレット
416 ドロップレット除去装置
417 アパーチャー
418 ドロップレット捕集板
420 外囲部材
500 外囲部材
501 捕集部材
A1〜A7 捕集部材
B1〜B9 捕集部材

Claims (24)

  1. 真空雰囲気下にある陰極と陽極の間に真空アーク放電によりプラズマを発生させるプラズマ発生部と、前記プラズマ発生部により発生されたプラズマが被プラズマ処理部側に進行するプラズマ進行路とを備えたプラズマ生成装置において、前記プラズマ発生部は、前記陰極の周辺を包囲する外囲部材を有し、前記外囲部材の内側には、プラズマの発生時に前記陰極から副生される陰極材料粒子(以下「ドロップレット」という)を捕集する捕集部材が配置され、少なくとも前記捕集部材及び前記外囲部材が電気的に中性の浮遊状態に保持されることを特徴とするプラズマ生成装置。
  2. 複数個の前記捕集部材が、前記陰極の周囲に、前記プラズマの進行方向に沿って、前記外囲部材の内側に多層状に配置された請求項1に記載のプラズマ生成装置。
  3. 前記捕集部材は、前記プラズマを流通させる中空部を穿設した環状部材からなり、同一形状の前記環状部材を複数個、多層状に配置した請求項2に記載のプラズマ生成装置。
  4. 複数個の前記捕集部材は、前記中空部の大きさが異なる環状部材を含み、前記プラズマの進行方向に沿って、各中空部の大きさが漸次、拡大するように、複数個の前記環状部材を多層状に配置した請求項2に記載のプラズマ生成装置。
  5. 前記プラズマ進行路を形成するダクト部が電気的に中性の浮遊状態に設定される請求項1〜4のいずれかに記載のプラズマ生成装置。
  6. 前記陽極は、前記外囲部材と電気的に絶縁されて配設された環状電極であり、前記環状電極の内径がプラズマの進行方向に沿って縮小する請求項1〜5のいずれかに記載のプラズマ生成装置。
  7. 前記ドロップレットを除去するドロップレット除去部を前記プラズマ進行路に配置し、前記ドロップレット除去部は、拡径管と、前記拡径管のプラズマ導入側始端に連接された導入側縮径管と、前記拡径管のプラズマ排出側終端に連接された排出側縮径管と、前記拡径管の前記始端及び前記終端に形成された段差部とから構成される請求項1〜6のいずれかに記載のプラズマ生成装置。
  8. 前記導入側縮径管及び/又は前記排出側縮径管の管軸を前記拡径管の管軸に対して所定屈曲角で傾斜配置させ、前記導入側縮径管及び/又は前記排出側縮径管を前記拡径管に連接した請求項7に記載のプラズマ生成装置。
  9. 前記導入側縮径管及び前記排出側縮径管の管軸が前記拡径管に対して互いに交差するように配置した請求項7又は8に記載のプラズマ生成装置。
  10. 前記プラズマ進行路は、前記プラズマ発生部に連接された直進管を有し、前記導入側縮径管を前記直進管に対して垂直又はほぼ垂直に連接し、前記直進管の終端にドロップレット捕集部を配設した請求項7、8又は9に記載のプラズマ生成装置。
  11. 前記拡径管は、内周管と外周管からなり、前記内周管を前記外周管に対して挿脱自在にした請求項7〜10のいずれかに記載のプラズマ生成装置。
  12. 前記内周管の内壁に複数のドロップレット捕集板が植設された請求項11に記載のプラズマ生成装置。
  13. 前記ドロップレット捕集板の表面が粗面加工を施されている請求項12に記載のプラズマ生成装置。
  14. 前記ドロップレット捕集板を前記導入側縮径管に向けて斜行配置した請求項12に記載のプラズマ生成装置。
  15. 前記導入側縮径管及び前記排出側縮径管にドロップレット捕集用アパーチャーを配設した請求項7〜14のいずれかに記載のプラズマ生成装置。
  16. 複数の前記拡径管を、縮径管を介して連接した請求項7〜15のいずれかに記載のプラズマ生成装置。
  17. 前記導入側縮径管と前記拡径管と前記排出側縮径管は、前記プラズマ発生部及び前記被プラズマ処理部と電気的に絶縁されている請求項7〜16に記載のプラズマ生成装置。
  18. 前記導入側縮径管と前記拡径管と前記排出側縮径管を少なくとも含む前記ダクト部内にプローブを挿入するか、又は前記ダクト部をプローブとして利用してプラズマの物性量を測定する請求項7〜17に記載のプラズマ生成装置。
  19. 前記プラズマ進行路の有効全長、直径、屈曲数及び屈曲角の総和のいずれかひとつ又はその組み合わせがドロップレット低減条件を満足するように設定された請求項1〜18のいずれかに記載のプラズマ生成装置。
  20. 前記有効全長が1600〜900mmで設定された請求項19に記載のプラズマ生成装置。
  21. 前記直径が200〜90mmで設定された請求項19に記載のプラズマ生成装置。
  22. 前記屈曲数が3〜1で設定された請求項19に記載のプラズマ生成装置。
  23. 前記屈曲角の総和が150〜90°で設定された請求項19に記載のプラズマ生成装置。
  24. 前記プラズマ発生部におけるアーク電流値が140〜30Aの範囲で調整された請求項1〜23のいずれかに記載のプラズマ生成装置。
JP2007093356A 2007-03-30 2007-03-30 プラズマガン周辺を電気的中性にしたプラズマ生成装置 Active JP5189784B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007093356A JP5189784B2 (ja) 2007-03-30 2007-03-30 プラズマガン周辺を電気的中性にしたプラズマ生成装置
US12/449,951 US20100059369A1 (en) 2007-03-30 2008-03-27 Plasma generating apparatus rendered electrically neutral on the periphery of plasma gun
EP08738991A EP2138603A4 (en) 2007-03-30 2008-03-27 PLASMA GENERATING EQUIPMENT RENDERED ELECTRICALLY NEUTRAL TO THE PERIPHERY OF A PLASMA GUN
PCT/JP2008/055841 WO2008120656A1 (ja) 2007-03-30 2008-03-27 プラズマガン周辺を電気的中性にしたプラズマ生成装置
CN2008800086753A CN101636520B (zh) 2007-03-30 2008-03-27 使等离子管外围为电中性的等离子体生成装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007093356A JP5189784B2 (ja) 2007-03-30 2007-03-30 プラズマガン周辺を電気的中性にしたプラズマ生成装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008248347A true JP2008248347A (ja) 2008-10-16
JP5189784B2 JP5189784B2 (ja) 2013-04-24

Family

ID=39808238

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007093356A Active JP5189784B2 (ja) 2007-03-30 2007-03-30 プラズマガン周辺を電気的中性にしたプラズマ生成装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20100059369A1 (ja)
EP (1) EP2138603A4 (ja)
JP (1) JP5189784B2 (ja)
CN (1) CN101636520B (ja)
WO (1) WO2008120656A1 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010031311A (ja) * 2008-07-28 2010-02-12 Fujitsu Ltd 成膜方法及び成膜装置
JP2010202899A (ja) * 2009-02-27 2010-09-16 Toyohashi Univ Of Technology 静電トラップを具備するプラズマ発生装置及びプラズマ加工装置
WO2011002036A1 (ja) * 2009-07-01 2011-01-06 株式会社フェローテック 分割環状リブ型プラズマ処理装置
JP2012067352A (ja) * 2010-09-22 2012-04-05 Ferrotec Corp 終端反射壁フィルタを有するプラズマ生成装置及びプラズマ加工装置
JP2012101343A (ja) * 2010-11-12 2012-05-31 Kyocera Corp 表面被覆部材および表面被覆切削工具
KR20230031486A (ko) * 2021-08-27 2023-03-07 한국재료연구원 포집부를 포함하는 자장여과 아크 소스 장치
WO2023195058A1 (ja) * 2022-04-04 2023-10-12 国立大学法人豊橋技術科学大学 成膜装置
JP7461367B2 (ja) 2019-02-28 2024-04-03 エリコン・サーフェス・ソリューションズ・アクチェンゲゼルシャフト,プフェフィコーン パルス型カソードアーク堆積

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4690477B2 (ja) * 2009-07-01 2011-06-01 株式会社フェローテック 陽極壁多分割型プラズマ発生装置及びプラズマ処理装置
JP5423529B2 (ja) * 2010-03-29 2014-02-19 東京エレクトロン株式会社 成膜装置、成膜方法及び記憶媒体
US20140308661A1 (en) * 2011-09-25 2014-10-16 Theranos, Inc. Systems and methods for multi-analysis
JP6121576B1 (ja) * 2016-01-07 2017-04-26 キヤノンアネルバ株式会社 成膜装置
EP3355338A1 (en) * 2017-01-25 2018-08-01 Sergueï Mikhailov Apparatus and method for surface processing
US10854448B2 (en) * 2017-01-31 2020-12-01 Tohoku University Plasma generating device, plasma sputtering device, and plasma sputtering method
CN111041434B (zh) * 2020-03-17 2020-06-19 上海陛通半导体能源科技股份有限公司 用于沉积绝缘膜的物理气相沉积设备

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030226504A1 (en) * 1999-12-29 2003-12-11 Kolpakov Alexandr Yakovlevich Vacuum coating apparatus
JP2005054230A (ja) * 2003-08-04 2005-03-03 Nissin Electric Co Ltd 真空アーク蒸着装置
JP2006274294A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Toyohashi Univ Of Technology プラズマ生成装置におけるドロップレット除去装置及びドロップレット除去方法
JP2006274280A (ja) * 2005-03-25 2006-10-12 Ferrotec Corp プラズマ生成装置におけるドロップレット除去装置及びドロップレット除去方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4016087A1 (de) * 1990-05-18 1991-11-21 Hauzer Holding Verfahren und vorrichtung zur beschichtung von substraten mittels bogenverdampfung
US5656092A (en) * 1995-12-18 1997-08-12 Eaton Corporation Apparatus for capturing and removing contaminant particles from an interior region of an ion implanter
US6706157B2 (en) * 2001-09-12 2004-03-16 Transarc Ltd. Vacuum arc plasma gun deposition system
JP2005023407A (ja) * 2003-07-02 2005-01-27 Shin Meiwa Ind Co Ltd 成膜装置及び成膜方法
JP4319556B2 (ja) * 2004-01-28 2009-08-26 浩史 滝川 プラズマ生成装置
JP2006165093A (ja) * 2004-12-03 2006-06-22 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JP4373252B2 (ja) * 2004-03-16 2009-11-25 浩史 滝川 プラズマ生成装置
JP2005281773A (ja) * 2004-03-30 2005-10-13 Hiroshi Takigawa 防着カバー、物質生成装置、及び被処理物
JP4660452B2 (ja) * 2006-09-30 2011-03-30 株式会社フェローテック 拡径管型プラズマ生成装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030226504A1 (en) * 1999-12-29 2003-12-11 Kolpakov Alexandr Yakovlevich Vacuum coating apparatus
JP2005054230A (ja) * 2003-08-04 2005-03-03 Nissin Electric Co Ltd 真空アーク蒸着装置
JP2006274280A (ja) * 2005-03-25 2006-10-12 Ferrotec Corp プラズマ生成装置におけるドロップレット除去装置及びドロップレット除去方法
JP2006274294A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Toyohashi Univ Of Technology プラズマ生成装置におけるドロップレット除去装置及びドロップレット除去方法

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010031311A (ja) * 2008-07-28 2010-02-12 Fujitsu Ltd 成膜方法及び成膜装置
JP2010202899A (ja) * 2009-02-27 2010-09-16 Toyohashi Univ Of Technology 静電トラップを具備するプラズマ発生装置及びプラズマ加工装置
US8833299B2 (en) 2009-07-01 2014-09-16 Ferrotec Corporation Divided annular rib type plasma processing apparatus
WO2011002036A1 (ja) * 2009-07-01 2011-01-06 株式会社フェローテック 分割環状リブ型プラズマ処理装置
JP2011012306A (ja) * 2009-07-01 2011-01-20 Ferrotec Corp 分割環状リブ型プラズマ処理装置
CN102471872A (zh) * 2009-07-01 2012-05-23 日本磁性技术株式会社 分割环状肋型等离子处理装置
CN102471872B (zh) * 2009-07-01 2014-03-05 日本磁性技术株式会社 分割环状肋型等离子处理装置
JP2012067352A (ja) * 2010-09-22 2012-04-05 Ferrotec Corp 終端反射壁フィルタを有するプラズマ生成装置及びプラズマ加工装置
JP2012101343A (ja) * 2010-11-12 2012-05-31 Kyocera Corp 表面被覆部材および表面被覆切削工具
JP7461367B2 (ja) 2019-02-28 2024-04-03 エリコン・サーフェス・ソリューションズ・アクチェンゲゼルシャフト,プフェフィコーン パルス型カソードアーク堆積
KR20230031486A (ko) * 2021-08-27 2023-03-07 한국재료연구원 포집부를 포함하는 자장여과 아크 소스 장치
KR102592432B1 (ko) * 2021-08-27 2023-10-20 한국재료연구원 포집부를 포함하는 자장여과 아크 소스 장치
WO2023195058A1 (ja) * 2022-04-04 2023-10-12 国立大学法人豊橋技術科学大学 成膜装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN101636520B (zh) 2012-04-18
JP5189784B2 (ja) 2013-04-24
US20100059369A1 (en) 2010-03-11
EP2138603A4 (en) 2012-02-01
EP2138603A1 (en) 2009-12-30
CN101636520A (zh) 2010-01-27
WO2008120656A1 (ja) 2008-10-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5189784B2 (ja) プラズマガン周辺を電気的中性にしたプラズマ生成装置
JP4660452B2 (ja) 拡径管型プラズマ生成装置
JP4576467B2 (ja) 絶縁体介装型プラズマ処理装置
JP6143833B2 (ja) X線アセンブリ及び被覆
JP4690477B2 (ja) 陽極壁多分割型プラズマ発生装置及びプラズマ処理装置
JP4568768B2 (ja) プラズマ生成装置及びプラズマ処理装置
JP5586078B2 (ja) 静電トラップを具備するプラズマ発生装置及びプラズマ加工装置
JP2010225411A (ja) 電子源
RU2353017C1 (ru) Источник низкоэнергетичных ионных пучков для технологий наноэлектроники
JP6051983B2 (ja) アークプラズマ成膜装置
JP4013377B2 (ja) 質量分離型イオン源
JP2011137191A (ja) 真空アーク蒸着装置
JP2008231548A (ja) 真空蒸着装置
JP2001011608A (ja) 膜形成装置
Chiu et al. Observations of diffusion-limited aggregation-like patterns by atmospheric plasma jet
JP3057039U (ja) アークイオンメッキユニットの磁場発生装置
JP2008258025A (ja) イオン源
Paperny et al. Unbalance magnetron plasma source for ion mass-separator
JP2012067352A (ja) 終端反射壁フィルタを有するプラズマ生成装置及びプラズマ加工装置
JPS637680B2 (ja)
JP2010095771A (ja) クラスター生成装置
JP2011108508A (ja) イオン源

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100120

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121106

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121121

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130115

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130125

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160201

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5189784

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250