JP2008128795A - 半導体集積回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】外部からのデータ入力信号を入力して出力するデータ入力回路(111)と、前記データ入力回路への入力に応じて変化する出力信号の期待値を記憶する比較値レジスタ(116)と、前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数に応じた値と期待値とを比較する比較回路(113)とを有することを特徴とする半導体集積回路が提供される。
【選択図】図1
Description
図1は、本発明の第1の実施形態による半導体集積回路101の構成例を示す図である。半導体集積回路101には、試験装置102が接続される。試験装置102は、半導体集積回路101に対して、図6に示すノー・リターン・ゼロ信号、リターン・ゼロ信号及び短パルス信号の3種類のデータ入力信号IN1〜INnを出力することができる。また、試験装置102は、半導体集積回路101に対して、図8に示すデータ入力信号IN1〜INn及びクロック信号CLKを出力することができる。ここで、本実施形態は、データ入力信号IN1〜INnとして、短パルス幅のリターン・ゼロ信号又は短パルス信号を使用することにより、データ入力回路111の高周波数試験を行う。その際、クロック信号CLKは、データ入力信号IN1〜INnに対して、同じ又はそれ以上の周波数を有する信号である。
図3は、本発明の第2の実施形態による半導体集積回路の構成例を示す図であり、図1の半導体集積回路101に対して、カウンタ112の代わりに擬似乱数発生回路302を設け、n個の第1のセレクタ301及びn個の第2のセレクタ303を追加したものである。以下、本実施形態が第1の実施形態と異なる点を説明する。
図5は、本発明の第3の実施形態による半導体集積回路の構成例を示す図であり、図3の半導体集積回路に対して、照合回路113及び照合結果レジスタ115の代わりに比較回路501及び比較結果レジスタ502を設け、n個の期待値レジスタ116を削除したものである。以下、本実施形態が第2の実施形態と異なる点を説明する。
外部からのデータ入力信号を入力して出力するデータ入力回路と、
前記データ入力回路への入力に応じて変化する出力信号の期待値を記憶する比較値レジスタと、
前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数に応じた値と前記期待値とを比較する比較回路と
を有することを特徴とする半導体集積回路。
(付記2)
さらに、前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数に応じた値を保持する保持回路を有し、
前記比較回路は、前記保持回路が保持する値と前記期待値とを比較することを特徴とする付記1記載の半導体集積回路。
(付記3)
さらに、前記比較回路の比較結果を記憶する比較結果レジスタと、
前記比較回路は、前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数に応じた値と前記比較値レジスタが記憶する前記期待値とを比較することを特徴とする付記1記載の半導体集積回路。
(付記5)
さらに、前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数をカウントするカウンタを有し、
前記比較回路は、前記カウンタがカウントする回数と前記期待値とを比較することを特徴とする付記1記載の半導体集積回路。
(付記6)
さらに、前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数に応じた擬似乱数を発生する擬似乱数発生回路を有し、
前記比較回路は、前記擬似乱数と前記値とを比較することを特徴とする付記1記載の半導体集積回路。
(付記7)
さらに、前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数に応じた値を保持する保持回路と、
前記比較回路の比較結果を記憶する比較結果レジスタとを有し、
前記比較回路は、前記保持回路が保持する値と前記比較値レジスタが記憶する前記期待値とを比較することを特徴とする付記1記載の半導体集積回路。
(付記8)
前記保持回路は、前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数をカウントするカウンタであり、
前記比較回路は、前記カウンタがカウントする回数と前記期待値とを比較することを特徴とする付記7記載の半導体集積回路。
(付記9)
前記カウンタは、前記データ入力回路の出力信号の立ち上がり回数、立ち下がり回数、又は立ち上がり及び立ち下がり回数をカウントすることを特徴とする付記8記載の半導体集積回路。
(付記10)
さらに、モードを設定するためのモード設定レジスタを有し、
前記カウンタは、前記モードに応じて、前記データ入力回路の出力信号の立ち上がり回数、立ち下がり回数、又は立ち上がり及び立ち下がり回数をカウントすることを特徴とする付記9記載の半導体集積回路。
(付記11)
前記保持回路は、前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数に応じた擬似乱数を発生する擬似乱数発生回路であり、
前記比較回路は、前記擬似乱数と前記期待値とを比較することを特徴とする付記7記載の半導体集積回路。
(付記12)
前記擬似乱数発生回路は、前記データ入力回路の出力信号の立ち上がり回数、立ち下がり回数、又は立ち上がり及び立ち下がり回数に応じた擬似乱数を発生することを特徴とする付記11記載の半導体集積回路。
(付記13)
さらに、モードを設定するためのモード設定レジスタを有し、
前記擬似乱数発生回路は、前記モードに応じて、前記データ入力回路の出力信号の立ち上がり回数、立ち下がり回数、又は立ち上がり及び立ち下がり回数に応じた擬似乱数を発生することを特徴とする付記12記載の半導体集積回路。
(付記14)
さらに、前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数に応じた値を保持する保持回路を有し、
第1及び第2の組みは、それぞれ前記データ入力回路及び前記保持回路を有し、
前記比較回路は、前記第1の組みの前記保持回路が保持する値と前記第2の組みの前記保持回路が保持する値とを比較することを特徴とする付記1記載の半導体集積回路。
(付記15)
さらに、前記比較回路の比較結果を記憶する比較結果レジスタを有することを特徴とする付記14記載の半導体集積回路。
(付記16)
前記比較回路は第1の比較回路であり、
さらに、前記データ入力回路及び前記保持回路を有する第3の組みと、
前記第2の組みの前記保持回路が保持する値と前記第3の組みの前記保持回路が保持する値とを比較する第2の比較回路と、
前記第1の比較回路の比較結果を記憶する第1の比較結果レジスタと、
前記第2の比較回路の比較結果を記憶する第2の比較結果レジスタとを有し、
前記第1及び第2の比較結果レジスタは、直列接続され、前記比較結果をシリアル出力することを特徴とする付記14記載の半導体集積回路。
(付記17)
前記データ入力回路、前記保持回路、前記比較回路、前記比較値レジスタ及び前記比較結果レジスタは複数組み設けられ、
前記複数の前記比較値レジスタは、直列接続され、前記複数の比較値レジスタへは外部回路より前記期待値をシリアル入力し、
前記複数の前記比較結果レジスタは、直列接続され、前記複数の比較結果レジスタ内の比較結果は外部回路へシリアル出力することを特徴とする付記7記載の半導体集積回路。
(付記18)
さらに、外部からのクロック信号を入力して出力するクロック入力回路と、
前記データ入力回路の出力信号又は前記クロック入力回路の出力信号を選択して出力する第1のセレクタと、
前記データ入力回路の出力信号又は前記保持回路の出力信号を選択して出力する第2のセレクタと、
前記第2のセレクタの出力信号を入力するロジック回路とを有し、
前記保持回路は、前記第1のセレクタの出力信号の切り替わり回数に応じた値を保持することを特徴とする付記1記載の半導体集積回路。
(付記19)
前記データ入力回路、前記保持回路、前記比較回路、前記比較値レジスタ及び前記比較結果レジスタは複数組み設けられ、
前記複数組のデータ入力回路、保持回路、比較回路、比較値レジスタ及び比較結果レジスタは、シリアルデータ入力回路の複数の入力部にそれぞれ設けられることを特徴とする付記7記載の半導体集積回路。
102 試験装置
103 内部ロジック回路
111 データ入力回路
112 カウンタ
113 照合回路
114 モード設定レジスタ
115 照合結果レジスタ
116 期待値レジスタ
121 クロック入力回路
131 フリップフロップ
301,303 セレクタ
302 擬似乱数発生回路
501 比較回路
502 比較結果レジスタ
Claims (9)
- 外部からのデータ入力信号を入力して出力するデータ入力回路と、
前記データ入力回路への入力に応じて変化する出力信号の期待値を記憶する比較値レジスタと、
前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数に応じた値と前記期待値とを比較する比較回路と
を有することを特徴とする半導体集積回路。 - さらに、前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数に応じた値を保持する保持回路と、
前記比較回路の比較結果を記憶する比較結果レジスタとを有し、
前記比較回路は、前記保持回路が保持する値と前記比較値レジスタが記憶する前記期待値とを比較することを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路。 - 前記保持回路は、前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数をカウントするカウンタであり、
前記比較回路は、前記カウンタがカウントする回数と前記期待値とを比較することを特徴とする請求項2記載の半導体集積回路。 - 前記カウンタは、前記データ入力回路の出力信号の立ち上がり回数、立ち下がり回数、又は立ち上がり及び立ち下がり回数をカウントすることを特徴とする請求項3記載の半導体集積回路。
- 前記保持回路は、前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数に応じた擬似乱数を発生する擬似乱数発生回路であり、
前記比較回路は、前記擬似乱数と前記期待値とを比較することを特徴とする請求項2記載の半導体集積回路。 - 前記擬似乱数発生回路は、前記データ入力回路の出力信号の立ち上がり回数、立ち下がり回数、又は立ち上がり及び立ち下がり回数に応じた擬似乱数を発生することを特徴とする請求項5記載の半導体集積回路。
- さらに、前記データ入力回路の出力信号の切り替わり回数に応じた値を保持する保持回路を有し、
第1及び第2の組みは、それぞれ前記データ入力回路及び前記保持回路を有し、
前記比較回路は、前記第1の組みの前記保持回路が保持する値と前記第2の組みの前記保持回路が保持する値とを比較することを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路。 - 前記データ入力回路、前記保持回路、前記比較回路、前記比較値レジスタ及び前記比較結果レジスタは複数組み設けられ、
前記複数の前記比較値レジスタは、直列接続され、前記複数の比較値レジスタへは外部回路より前記期待値をシリアル入力し、
前記複数の前記比較結果レジスタは、直列接続され、前記複数の比較結果レジスタ内の比較結果は外部回路へシリアル出力することを特徴とする請求項2記載の半導体集積回路。 - 前記データ入力回路、前記保持回路、前記比較回路、前記比較値レジスタ及び前記比較結果レジスタは複数組み設けられ、
前記複数組のデータ入力回路、保持回路、比較回路、比較値レジスタ及び比較結果レジスタは、シリアルデータ入力回路の複数の入力部にそれぞれ設けられることを特徴とする請求項2記載の半導体集積回路。
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