JP2017059185A - スキャンテスト回路及びスキャンテスト装置 - Google Patents
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Abstract
Description
20 フリップフロップ
30 LDラッチ回路
40 フリップフロップ
61 オアゲート
62 アンドゲート
90、100、100A、100B スキャンテスト回路
Claims (6)
- 通常入力とスキャン入力のいずれかを選択するためのマルチプレクサと、
前記マルチプレクサの出力を受けるセット/リセット可能なフリップフロップと、
前記フリップフロップの出力をラッチイネーブルにより保持するLDラッチ回路と、
を具備することを特徴とするスキャンテスト回路。 - 前記フリップフロップがリセット端子付きのフリップフロップであることを特徴とする請求項1に記載のスキャンテスト回路。
- 前記フリップフロップがセット端子付きのフリップフロップであることを特徴とする請求項1に記載のスキャンテスト回路。
- リセット信号と前記マルチプレクサの切換制御信号との論理和演算を行い、前記リセット端子へ出力を送出するオアゲートと、
前記リセット信号と前記マルチプレクサの出力信号との論理積演算を行い、前記フリップフロップの入力端子へ出力を送出するアンドゲートと
を具備することを特徴とする請求項2に記載のスキャンテスト回路。 - 前記LDラッチ回路のQ端子の出力をスキャンテスト回路の出力とすることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載のスキャンテスト回路。
- 請求項1乃至5のいずれかに記載のスキャンテスト回路を複数備え、
前段のスキャンテスト回路における前記LDラッチ回路のQ端子の出力を後段のスキャンテスト回路における前記マルチプレクサのスキャン入力へ送るように構成したことを特徴とするスキャンテスト装置。
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Cited By (2)
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---|---|---|---|---|
CN109212408A (zh) * | 2017-06-29 | 2019-01-15 | 龙芯中科技术有限公司 | 一种扫描单元、冗余触发器的输出控制方法及装置 |
CN109901049A (zh) * | 2019-01-29 | 2019-06-18 | 厦门码灵半导体技术有限公司 | 检测集成电路用时序路径中异步路径的方法、装置 |
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JP2013019694A (ja) * | 2011-07-07 | 2013-01-31 | Renesas Electronics Corp | スキャンテスト回路およびスキャンテスト回路生成方法 |
-
2015
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