JP5499528B2 - 半導体集積回路及び電子機器 - Google Patents
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図1に示すように、半導体集積回路10は、スキャンフリップフロップとしての第1〜第4FF回路11〜14、第1及び第2論理回路21,22、選択回路23を有している。
第2FF回路12は、そのデータ入力端子Dに第1論理回路21からの第1処理データDp1が入力される。また、第2FF回路12は、そのスキャンイン端子SIに第1FF回路11から第1保持データDm1が入力される。
そして、第2FF回路12は、入力選択信号Smに応じて、クロック信号CLKがLレベルからHレベルに立ち上がる毎に、第1保持データDm1又は第1処理データDp1を第2保持データDm2として保持し、その第2保持データDm2を出力端子Qから第3FF回路13のスキャンイン端子SIに出力するとともに、経路Bを介して選択回路23に出力する。
第4FF回路14は、そのスキャンイン端子SIに第3FF回路13から第3保持データDm3が入力され、そのデータ入力端子Dに第2論理回路22から第2処理データDp2が入力される。第4FF回路14は、その選択入力端子Sにテスタ装置から入力選択信号Smが入力され、そのクロック端子にテスタ装置からクロック信号CLKが入力される。
最初に、図2(a)に示すように半導体集積回路10が「1011」のテストパターンを入力する場合、まず、時刻t1において、テスタ装置からの入力選択信号SmがLレベルからHレベルに立ち上がると、第1〜第4FF回路11〜14は、シフトレジスタを形成してスキャンチェーンを構成する。
(1)スキャンチェーンを構成する第2FF回路12と第4FF回路14との間に、第3FF回路13を設けた。選択回路23は、スキャンチェーンを構成する第3FF回路13からの第3保持データDm3に応じて経路Aを通過する第1処理データDp1又は経路Bを通過する第2保持データDm2を選択するようにした。
・本実施形態では、スキャンチェーンを第1〜第4FF回路11〜14にて構成していたが、スキャンチェーンの段数は特に制限されない。
11 前段スキャンフリップフロップ(第1フリップフロップ)
12 中間スキャンフリップフロップ(第2フリップフロップ)
13 制御スキャンフリップフロップ(第3フリップフロップ)
14 後段スキャンフリップフロップ(第4フリップフロップ)
10 半導体集積回路
21 第1論理回路
22 第2論理回路
23 選択回路
D データ入力端子
Dm1 第1保持データ
Dm2 第2保持データ
Dm3 第3保持データ
Dp1 第1出力データ(第1処理データ)
Dp2 第2出力データ(第2処理データ)
SI スキャンイン端子
R リセット端子
Q 出力端子
Claims (4)
- 第1論理回路と、
前記第1論理回路から出力される第1出力データを論理処理して第2出力データを出力する第2論理回路と、
第1保持データを前記第1論理回路に出力する前段スキャンフリップフロップ、及び、前記第2出力データが入力される後段スキャンフリップフロップを含む複数のスキャンフリップフロップが多段に接続されたスキャンチェーンと、
前記第1論理回路と前記第2論理回路との間に設けられ、前記第1出力データと前記前段スキャンフリップフロップが保持する前記第1保持データとに基づいて、第2保持データを保持するとともに出力する中間スキャンフリップフロップと、
前記中間スキャンフリップフロップから出力される前記第2保持データが入力され、第3保持データを保持するとともに出力する制御スキャンフリップフロップと、
前記第1出力データと、前記中間スキャンフリップフロップから出力される第2保持データとのいずれかを前記制御スキャンフリップフロップから出力される前記第3保持データに応じて選択し、該選択したデータを前記第2論理回路に出力する選択回路と、
を備えることを特徴とする半導体集積回路。 - 前記制御スキャンフリップフロップは、
スキャンイン端子、データ入力端子、リセット端子と、出力端子を有し、
前記中間スキャンフリップフロップが保持する前記第2保持データが前記スキャンイン端子に入力され、
前記出力端子及びデータ入力端子が接続され、前記出力端子から前記第3保持データを前記選択回路に出力することを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。 - 前記スキャンチェーンに含まれる前記複数のスキャンフリップフロップと前記中間スキャンフリップフロップと前記制御スキャンフリップフロップは、第1のクロック信号に同期して動作することを特徴とする請求項2に記載の半導体集積回路。
- 請求項1〜3のいずれか1つに記載の半導体集積回路を備えたことを特徴とする電子機器。
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