JP2008102706A5 - メモリ制御回路とメモリ制御方法、及び集積回路と当該メモリ制御回路におけるodt制御方法 - Google Patents
メモリ制御回路とメモリ制御方法、及び集積回路と当該メモリ制御回路におけるodt制御方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008102706A5 JP2008102706A5 JP2006284142A JP2006284142A JP2008102706A5 JP 2008102706 A5 JP2008102706 A5 JP 2008102706A5 JP 2006284142 A JP2006284142 A JP 2006284142A JP 2006284142 A JP2006284142 A JP 2006284142A JP 2008102706 A5 JP2008102706 A5 JP 2008102706A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- odt
- memory devices
- control
- control circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 claims 3
- 230000004044 response Effects 0.000 claims 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
Description
本発明は、半導体メモリ装置を制御するメモリ制御回路とメモリ制御方法、及び集積回路と当該メモリ制御回路におけるODT制御方法に関し、特にオンダイターミネーション(On-Die Termination)機構を含む半導体メモリデバイスへのアクセスを制御する技術に関するものである。
本願発明の特徴は、複数のメモリデバイスのODT制御を的確に実現できるメモリ制御回路とメモリ制御方法、及び集積回路と当該メモリ制御回路におけるODT制御方法を提供することにある。
Claims (12)
- On-Die Termination(ODT)機構を有する複数のメモリデバイスを接続可能なメモリ制御回路であって、
前記複数のメモリデバイスの内、アクセス対象のメモリデバイスに対応して前記機構を有効にするか無効にするかを示す情報を前記複数のメモリデバイスのそれぞれに対応して記憶する記憶手段と、
前記複数のメモリデバイスのアクセス対象のメモリに対応する前記記憶手段に記憶された前記情報に基づいて、前記複数のメモリデバイスのそれぞれの前記機構を制御するODT制御手段と、
を有することを特徴とするメモリ制御回路。 - 前記記憶手段は、前記複数のメモリデバイスのそれぞれへのリード、ライトに対してそれぞれ独立に前記情報を記憶することを特徴とする請求項1に記載のメモリ制御回路。
- 前記ODT制御手段は、前記メモリデバイスへのリードとライトの各アクセスで独立に前記機構を制御することを特徴とする請求項2に記載のメモリ制御回路。
- 前記記憶手段は、前記情報をプログラマブルに記憶することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のメモリ制御回路。
- On-Die Termination(ODT)機構を有する複数のメモリデバイスを接続可能なメモリ制御回路であって、
バスマスタからのアクセス要求に基づいて、前記メモリデバイスに対するアクセスアドレス及びリード又はライト信号を発生するコマンド発生手段と、
前記アクセスアドレス及びリード又はライト信号に応じて、前記複数のメモリデバイスのそれぞれの前記機構を制御するODT制御手段とを有し、
前記ODT制御手段は、アクセス対象のメモリデバイスと、アクセスがリードであるかライトであるかとに対応して前記複数のメモリデバイスのそれぞれの前記機構を有効にするか無効にするかを示す情報に基づいて、前記複数のメモリデバイスのそれぞれの前記機構を制御することを特徴とするメモリ制御回路。 - 前記情報を記憶する記憶手段を更に有することを特徴とする請求項5に記載のメモリ制御回路。
- 請求項1乃至6のいずれか1項に記載のメモリ制御回路を有することを特徴とする集積回路。
- On-Die Termination(ODT)機構を有する複数のメモリデバイスを接続可能なメモリ制御回路におけるODT制御方法であって、
バスマスタからのアクセス要求に基づいて、前記メモリデバイスに対するアクセスアドレス及びリード又はライト信号を発生し、
アクセス対象のメモリデバイスと、アクセスがリードであるかライトであるかとに基づいて、前記複数のメモリデバイスのそれぞれの前記機構を制御することを特徴とするODT制御方法。 - On-Die Termination(ODT)機構を有する複数のメモリデバイスを接続可能なメモリ制御回路であって、
許可信号を発行するコマンド制御手段と、
前記メモリデバイスの少なくとも1つとデータを送受するデータ制御手段と、
前記コマンド制御手段からの許可信号に応じて、前記複数のメモリデバイスの少なくとも1つに遅延回路を介してODT制御信号を発行するODT制御手段と、を有し、
前記コマンド制御手段は、少なくとも前記遅延回路の遅延分先立って前記許可信号を発行することを特徴とするメモリ制御回路。 - 前記コマンド制御手段は、さらにtAOND又はtAOFDの遅延分先立って、前記許可信号を発行することを特徴とする請求項9に記載のメモリ制御回路。
- バスと、
On-Die Termination(ODT)機構を有する複数のメモリデバイスと、
前記メモリデバイスの少なくとも1つと前記バスとの間におけるデータの送受を制御するデータ制御手段と、
前記メモリデバイスのODT機構を有効にするための許可信号を発行するコマンド制御手段と、
前記コマンド制御手段からの許可信号に応じて、前記複数のメモリデバイスの少なくとも1つに遅延回路を介してODT制御信号を発行するODT制御手段と、を有し、
前記コマンド制御手段は、少なくとも前記遅延回路の遅延分先立って前記許可信号を発行することを特徴とするメモリシステム。 - On-Die Termination(ODT)機構を有する複数のメモリデバイスを接続可能なメモリ制御回路におけるメモリ制御方法であって、
許可信号を発行するコマンド制御工程と、
前記メモリデバイスの少なくとも1つとデータを送受するデータ制御工程と、
前記コマンド制御工程における許可信号に応じて、前記複数のメモリデバイスの少なくとも1つに遅延回路を介してODT制御信号を発行するODT制御工程と、を有し、
前記コマンド制御工程では、少なくとも前記遅延回路の遅延分先立って前記許可信号を発行することを特徴とするメモリ制御方法。
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006284142A JP5019573B2 (ja) | 2006-10-18 | 2006-10-18 | メモリ制御回路とメモリシステム、及びそのメモリ制御方法、及び集積回路 |
EP07829804A EP2075703A4 (en) | 2006-10-18 | 2007-10-15 | MEMORY CONTROL CIRCUIT, METHOD, AND INTEGRATED CIRCUIT |
PCT/JP2007/070070 WO2008047756A1 (fr) | 2006-10-18 | 2007-10-15 | circuit de contrôle de mémoire, procédé, et circuit intégré |
CN2007800389041A CN101529394B (zh) | 2006-10-18 | 2007-10-15 | 存储器控制电路、存储器控制方法和集成电路 |
US12/441,139 US8076954B2 (en) | 2006-10-18 | 2007-10-15 | Memory control circuit, memory control method, and integrated circuit |
EP12002246.2A EP2479676B1 (en) | 2006-10-18 | 2007-10-15 | Memory control circuit, memory control method, and integrated circuit |
CN201310052387.0A CN103325420B (zh) | 2006-10-18 | 2007-10-15 | 存储器控制设备、存储器控制方法和存储器系统 |
US13/294,107 US8664972B2 (en) | 2006-10-18 | 2011-11-10 | Memory control circuit, memory control method, and integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006284142A JP5019573B2 (ja) | 2006-10-18 | 2006-10-18 | メモリ制御回路とメモリシステム、及びそのメモリ制御方法、及び集積回路 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008102706A JP2008102706A (ja) | 2008-05-01 |
JP2008102706A5 true JP2008102706A5 (ja) | 2011-12-22 |
JP5019573B2 JP5019573B2 (ja) | 2012-09-05 |
Family
ID=39313983
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006284142A Active JP5019573B2 (ja) | 2006-10-18 | 2006-10-18 | メモリ制御回路とメモリシステム、及びそのメモリ制御方法、及び集積回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8076954B2 (ja) |
EP (2) | EP2075703A4 (ja) |
JP (1) | JP5019573B2 (ja) |
CN (2) | CN103325420B (ja) |
WO (1) | WO2008047756A1 (ja) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7486104B2 (en) | 2006-06-02 | 2009-02-03 | Rambus Inc. | Integrated circuit with graduated on-die termination |
JP5430880B2 (ja) * | 2008-06-04 | 2014-03-05 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル | メモリモジュール及びその使用方法、並びにメモリシステム |
US8041865B2 (en) * | 2008-08-04 | 2011-10-18 | Qimonda Ag | Bus termination system and method |
US7741867B2 (en) * | 2008-10-30 | 2010-06-22 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Differential on-line termination |
JP5344577B2 (ja) * | 2009-02-19 | 2013-11-20 | エヌイーシーコンピュータテクノ株式会社 | メモリ制御装置及び制御方法 |
JP4853554B2 (ja) * | 2009-07-27 | 2012-01-11 | 株式会社ニコン | デジタルカメラ |
JP5390310B2 (ja) | 2009-09-08 | 2014-01-15 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路 |
JP5346259B2 (ja) | 2009-09-08 | 2013-11-20 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路 |
JP5363252B2 (ja) | 2009-09-09 | 2013-12-11 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路 |
KR101688599B1 (ko) | 2010-06-01 | 2016-12-23 | 삼성전자 주식회사 | 모드전환방법, 상기 모드전환방법이 적용되는 디스플레이구동ic 및 영상신호처리시스템 |
US9153296B2 (en) | 2010-06-28 | 2015-10-06 | Intel Corporation | Methods and apparatuses for dynamic memory termination |
US8274308B2 (en) * | 2010-06-28 | 2012-09-25 | Intel Corporation | Method and apparatus for dynamic memory termination |
US9239806B2 (en) * | 2011-03-11 | 2016-01-19 | Micron Technology, Inc. | Systems, devices, memory controllers, and methods for controlling memory |
CN103927286B (zh) * | 2013-01-16 | 2018-05-15 | 森富科技股份有限公司 | 降低反射讯号的内存结构 |
KR102275812B1 (ko) | 2015-09-04 | 2021-07-14 | 삼성전자주식회사 | 센터 패드 타입의 스택드 칩 구조에서 신호 완결성 이슈를 개선할 수 있는 온다이 터미네이션 스키마를 갖는 반도체 메모리 장치 |
US10141935B2 (en) | 2015-09-25 | 2018-11-27 | Intel Corporation | Programmable on-die termination timing in a multi-rank system |
US20170255412A1 (en) * | 2016-03-04 | 2017-09-07 | Intel Corporation | Techniques for Command Based On Die Termination |
KR20170112289A (ko) * | 2016-03-31 | 2017-10-12 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리 장치, 이를 포함하는 메모리 시스템 및 비휘발성 메모리 장치의 구동 방법 |
US10340022B2 (en) * | 2017-05-16 | 2019-07-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Nonvolatile memory including on-die-termination circuit and storage device including the nonvolatile memory |
KR102471160B1 (ko) * | 2017-05-16 | 2022-11-25 | 삼성전자주식회사 | 온-다이-터미네이션 회로를 포함하는 비휘발성 메모리 및 상기 비휘발성 메모리를 포함하는 스토리지 장치 |
US10528515B2 (en) * | 2017-06-27 | 2020-01-07 | Intel Corporation | Memory channel driver with echo cancellation |
KR102553266B1 (ko) * | 2017-11-03 | 2023-07-07 | 삼성전자 주식회사 | 온-다이-터미네이션 회로를 포함하는 메모리 장치 |
US10720197B2 (en) * | 2017-11-21 | 2020-07-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory device for supporting command bus training mode and method of operating the same |
CN109101387A (zh) * | 2018-08-15 | 2018-12-28 | 晶晨半导体(深圳)有限公司 | Ddr模块的调试方法及系统 |
KR20210010691A (ko) | 2019-07-17 | 2021-01-28 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치 및 메모리 패키지 |
CN116820344B (zh) * | 2023-07-03 | 2024-04-26 | 摩尔线程智能科技(北京)有限责任公司 | 存储器访问电路及存储器访问方法、集成电路和电子设备 |
Family Cites Families (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6347367B1 (en) * | 1999-01-29 | 2002-02-12 | International Business Machines Corp. | Data bus structure for use with multiple memory storage and driver receiver technologies and a method of operating such structures |
JP4794059B2 (ja) | 2001-03-09 | 2011-10-12 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体装置 |
JP3799251B2 (ja) | 2001-08-24 | 2006-07-19 | エルピーダメモリ株式会社 | メモリデバイス及びメモリシステム |
JP2003197753A (ja) | 2001-12-26 | 2003-07-11 | Elpida Memory Inc | メモリ装置及びメモリバス伝送システム |
KR100471162B1 (ko) * | 2002-02-27 | 2005-03-08 | 삼성전자주식회사 | 고속 메모리 시스템 |
KR100422451B1 (ko) * | 2002-05-24 | 2004-03-11 | 삼성전자주식회사 | 온-다이 터미네이션 제어방법 및 그에 따른 제어회로 |
CN100565490C (zh) | 2002-11-20 | 2009-12-02 | 微米技术有限公司 | 通过模块上寄存器的主动终止控制 |
US7142461B2 (en) | 2002-11-20 | 2006-11-28 | Micron Technology, Inc. | Active termination control though on module register |
KR100541045B1 (ko) * | 2003-05-13 | 2006-01-10 | 삼성전자주식회사 | 듀얼 뱅크 시스템, 이 시스템에 사용을 위한 메모리, 및이 메모리의 온 다이 종단 방법 |
KR100604843B1 (ko) * | 2004-03-26 | 2006-07-31 | 삼성전자주식회사 | 온-다이 종단 회로를 구비한 메모리 모듈 및 그 제어 방법 |
US7516281B2 (en) * | 2004-05-25 | 2009-04-07 | Micron Technology, Inc. | On-die termination snooping for 2T applications in a memory system implementing non-self-terminating ODT schemes |
US20050289287A1 (en) * | 2004-06-11 | 2005-12-29 | Seung-Man Shin | Method and apparatus for interfacing between test system and embedded memory on test mode setting operation |
TWI249104B (en) * | 2004-06-23 | 2006-02-11 | Via Tech Inc | Control device, method, and system for accessing data from an external memory module |
US7289383B2 (en) * | 2004-08-23 | 2007-10-30 | Apple Inc. | Reducing the number of power and ground pins required to drive address signals to memory modules |
US7437497B2 (en) * | 2004-08-23 | 2008-10-14 | Apple Inc. | Method and apparatus for encoding memory control signals to reduce pin count |
US7138823B2 (en) * | 2005-01-20 | 2006-11-21 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method for independent control of on-die termination for output buffers of a memory device |
JP2006284142A (ja) | 2005-04-04 | 2006-10-19 | Kubota Corp | 乾燥装置 |
DE102005036528B4 (de) * | 2005-07-29 | 2012-01-26 | Qimonda Ag | Speicherbaustein und Verfahren zum Betreiben eines Speicherbausteins |
US7560956B2 (en) * | 2005-08-03 | 2009-07-14 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for selecting an operating mode based on a determination of the availability of internal clock signals |
US7259585B2 (en) * | 2005-09-28 | 2007-08-21 | International Business Machines Corporation | Selective on-die termination for improved power management and thermal distribution |
KR100805696B1 (ko) * | 2005-09-29 | 2008-02-21 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
US7372293B2 (en) * | 2005-12-07 | 2008-05-13 | Intel Corporation | Polarity driven dynamic on-die termination |
US7414426B2 (en) * | 2005-12-07 | 2008-08-19 | Intel Corporation | Time multiplexed dynamic on-die termination |
JP4857815B2 (ja) * | 2006-02-28 | 2012-01-18 | 富士ゼロックス株式会社 | メモリシステム |
JP4615461B2 (ja) * | 2006-03-10 | 2011-01-19 | 京セラミタ株式会社 | メモリコントローラ |
US7486104B2 (en) * | 2006-06-02 | 2009-02-03 | Rambus Inc. | Integrated circuit with graduated on-die termination |
KR100734320B1 (ko) * | 2006-06-16 | 2007-07-02 | 삼성전자주식회사 | 신호 라인을 공유하는 메모리 장치들의 온-다이 터미네이션제어 방법 |
JP4895183B2 (ja) | 2006-07-21 | 2012-03-14 | キヤノン株式会社 | メモリコントローラ |
US7755951B2 (en) | 2006-09-01 | 2010-07-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Data output apparatus, memory system, data output method, and data processing method |
KR100866601B1 (ko) * | 2006-12-04 | 2008-11-03 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치의 종단 저항을 제어할 수 있는 장치 및 방법 |
US7843213B1 (en) * | 2009-05-21 | 2010-11-30 | Nanya Technology Corp. | Signal termination scheme for high speed memory modules |
US8274308B2 (en) * | 2010-06-28 | 2012-09-25 | Intel Corporation | Method and apparatus for dynamic memory termination |
-
2006
- 2006-10-18 JP JP2006284142A patent/JP5019573B2/ja active Active
-
2007
- 2007-10-15 US US12/441,139 patent/US8076954B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-10-15 EP EP07829804A patent/EP2075703A4/en not_active Withdrawn
- 2007-10-15 EP EP12002246.2A patent/EP2479676B1/en active Active
- 2007-10-15 CN CN201310052387.0A patent/CN103325420B/zh active Active
- 2007-10-15 CN CN2007800389041A patent/CN101529394B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-10-15 WO PCT/JP2007/070070 patent/WO2008047756A1/ja active Application Filing
-
2011
- 2011-11-10 US US13/294,107 patent/US8664972B2/en active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2008102706A5 (ja) | メモリ制御回路とメモリ制御方法、及び集積回路と当該メモリ制御回路におけるodt制御方法 | |
KR101904313B1 (ko) | 멀티-랭크 시스템 내에서 온-다이 터미네이션을 선택적으로 제어하기 위한 디램 디바이스 및 그것의 터미네이션 방법 | |
CN101075217B (zh) | 存储器模块 | |
USRE49151E1 (en) | Memory system and electronic device | |
JP5019573B2 (ja) | メモリ制御回路とメモリシステム、及びそのメモリ制御方法、及び集積回路 | |
JP4034268B2 (ja) | 補助コマンドバスのための方法および装置 | |
CN107924693A (zh) | 多区块系统中的可编程的片上端接定时 | |
WO2010134201A1 (ja) | 半導体装置 | |
JP2009510562A5 (ja) | ||
CN102576565A (zh) | 利用存储模块上的分布式字节缓冲器的系统和方法 | |
US20090040861A1 (en) | Method of Operating a Memory Apparatus, Memory Device and Memory Apparatus | |
CN101669097A (zh) | 半导体装置 | |
JP5031765B2 (ja) | メモリチップを上下にもつメモリシステム | |
JP7173751B2 (ja) | メモリモジュール、メモリシステム及び動作方法 | |
KR20100085564A (ko) | 데이터 처리 시스템과 데이터 처리 방법 | |
US10936212B2 (en) | Memory controller, method for performing access control to memory module | |
KR20150145465A (ko) | 메모리 시스템 및 이의 동작 방법 | |
US7840744B2 (en) | Rank select operation between an XIO interface and a double data rate interface | |
JP2008515090A5 (ja) | ||
US8811111B2 (en) | Memory controller with reduced power consumption, memory device, and memory system | |
CN110659231B (zh) | 存储器系统以及用于访问存储器系统的方法 | |
US10908840B2 (en) | Semiconductor memory module including nonvolatile memory devices | |
US20200133669A1 (en) | Techniques for dynamic proximity based on-die termination | |
KR20160034978A (ko) | 메모리 컨트롤러 커넥터의 메모리 커넥터에의 매핑 | |
KR102516584B1 (ko) | 메모리 시스템 |