JP2007529106A - 基板処理装置、基板処理方法、及び基板保持装置 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明はまた、半導体ウエハなどの基板を回転させながら保持する基板保持装置に係り、特に、洗浄装置やエッチング装置などに好適に使用される基板保持装置に関する。
また、本発明は、基板の面内における処理の均一性を向上することができる基板処理装置および方法を提供することを第3の目的とする。
なお、本発明においては、ディスク状シリコン基板が主な処理対象となる基板であり、その直径が200mm以上(例えば、200mm,300mm,または450mm)であり、その厚みは0.6〜0.8mmである。
これにより、基板保持部に付着した洗浄液等の流体を吸引することで、流体の置換性が向上し、流体の残留を抑制することができ、また流体の飛散を防止することができる。また、基板を洗浄・乾燥等の処理を行うにあたって、洗浄液等の流体は、基板の周縁部から一部が基板を回転保持する基板保持部に移動するので、基板保持部に付着した流体をその吸引部から吸引することで、スムーズな流体の回収を行うことができる。
本発明の好ましい態様は、前記基板保持部は、基板と接触し、前記基板保持部と基板との摩擦を利用して基板を保持して回転させることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記基板保持部に洗浄流体を供給する保持部洗浄部をさらに備えることを特徴とする。これにより、基板保持部の流体置換をさらに高め、基板保持部の薬液残留防止、また次に処理する基板の汚染防止が可能である。
本発明の好ましい態様は、気体供給口を有する少なくとも1つの気体供給ノズルをさらに備え、前記気体供給口から基板に乾燥用気体を供給することを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記周縁部吸引部は導電性材料により形成された導電部を有し、該導電部は接地されていることを特徴とする。
本発明の他の態様は、基板にめっき処理を施すめっきユニットと、上記基板処理装置とを備えたことを特徴とするめっき装置である。
本発明の好ましい態様は、前記基板保持部を基板の端部に接触させて前記基板を保持し回転させることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、複数の前記流体供給口と複数の前記流体吸引口とを、交互に配置したことを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、複数の前記流体供給口と基板面との距離が一定であることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記基板保持部は、基板と接触し、前記基板保持部と基板との摩擦を利用して基板を保持して回転させることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記基板保持部に洗浄流体を供給する保持部洗浄部をさらに有することを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記基板処理部は、前記流体供給口と前記流体吸引口とが配置される第2の作用部を有することを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、複数の前記流体供給口から供給される流体の流量は、基板の中心部から周縁部に向かって増加するように調整されることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、不活性気体または低湿度の気体を基板に供給する気体供給口を有する少なくとも1つの気体供給ノズルをさらに備えることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記流体吸引口から吸引した流体を回収し、再使用する回収タンクをさらに備えたことを特徴とする。
本発明の他の態様は、基板の端部に当接して該基板を保持し回転させる複数のローラと、前記複数のローラを移動させる駆動機構とを備え、前記複数のローラは基板の半径方向に沿って移動することを特徴とする基板保持装置である。
本発明によれば、基板に作用するローラの力の向きを基板の中心に向けることができる。したがって、基板の回転中心位置の安定性を向上させることができ、基板の回転精度を向上させることができる。また、回転中に基板がローラから外れてしまうことを防止することができる。
本発明によれば、クランプ部と基板との接触位置を安定させることができるので、基板をふらつかせたり傾かせたりすることなく基板を水平に保持しつつ回転させることができる。
本発明によれば、基板の回転精度を向上させることができるので、処理液を基板上に均一に供給することができ、処理の均一性及び安定性を向上させることができる。また、ローラから基板に作用する力を低下させることができるので、ローラの摩耗を抑制することができる。さらに、処理液の飛散量を低減させることができるので、周囲雰囲気や基板の汚染を防止することができる。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る基板処理装置の概略的な構成例を示す平面図である。この基板処理装置では、チャンバ10内に処理対象の半導体ウエハ等の基板Wが基板保持部11(11a,11b,11c,11d)により回転保持されている。基板保持部11(11a,11b,11c,11d)にはそれぞれ保持部吸引ノズル(保持部吸引部)24(24a,24b,24c,24d)、保持部洗浄ノズル(保持部洗浄部)26(26a,26b,26c,26d)が近接して設置されている。保持部吸引ノズル24a,24b,24c,24d、保持部洗浄ノズル26a,26b,26c,26dは、それぞれ支持部28a,28b,28c,28dによって支持されている。各保持部吸引ノズル24は調整部24’によって、また、各保持部洗浄ノズル26は調整部26’によって基板保持部11とのクリアランス調整が可能である。基板Wの上面側及び下面側には少なくとも1つの流体供給口と少なくとも1つの流体吸引口を有する洗浄ノズル(基板処理部)12,15が備えられ、この洗浄ノズル12,15は図中二点鎖線(洗浄ノズル15を示す二点鎖線は非図示)で示すように基板Wの半径方向に移動可能となっている。
特に、この基板処理装置においては、500min−1以下の低速回転時で遠心力が不十分であっても、基板周縁部付近にとどまる流体を排除でき、洗浄時の流体の膜厚の均一化による処理の均一化や、乾燥の迅速化を図ることができる。
V1>V2>V3
の関係になっている。
図12は本発明の第3の実施形態に係る基板処理装置を模式的に示す斜視図である。なお、特に説明しない本実施形態の構成は、上述した第1の実施形態と同様であるので、その重複する説明を省略する。
図13は本発明の第4の実施形態に係る基板処理装置を模式的に示す斜視図である。なお、特に説明しない本実施形態の構成は、上述した第3の実施形態と同様であるので、その重複する説明を省略する。
図15A及び図15Bに示すように、気体供給ノズル13の外周面を囲むようにミスト吸引ノズル50が設けられている。気体供給ノズル13から基板W上の液膜に向けて気体を供給すると、ミストが発生する。このミストが基板Wに付着すると、基板Wの表面にウォーターマークを発生させてしまう。本実施形態によれば、ミストが基板Wの表面に付着する前にミスト吸引ノズル50によりミストを吸引することができる。なお、ミスト吸引ノズルを基板Wの下面側にも設けてもよい。
図16に示すように、研磨装置は、基板を研磨する一対の研磨ユニット90a,90bと、研磨された基板を洗浄する一対の洗浄モジュール91a,91bと、洗浄モジュール91a,91bにより洗浄された基板をさらに洗浄して乾燥させる一対の乾燥モジュール(本実施形態に係る基板処理装置)92a,92bとを備えている。洗浄モジュール91a,91bは第2の実施形態(図9及び図10参照)と同様の構造であるが、乾燥手段(気体供給ノズル13,14)は備えていない。この各洗浄モジュール91a,91bはそれぞれ筒状のPVA(ポリビニルアルコール)スポンジ29a,29b(図9及び図10参照)を2つ有しており、これらのPVAスポンジ(洗浄具)29a,29bは基板の上面及び下面にそれぞれ接触しつつその軸心回りに回転するようになっている。各洗浄モジュール91a,91bでは、基板は複数のローラ20により保持されつつ回転させられ、この状態で、基板に洗浄液を供給しながらPVAスポンジ29a,29bを回転させることにより、基板の上下面がスクラブ洗浄される。なお、基板の表面が、Low−k膜やシリコン膜のような疎水膜の場合は、ベベル部吸引ノズル16や排気口33(図9及び図8B参照)は使用しない。
図27は本発明の第7の実施形態に係る基板保持装置を模式的に示す平面図である。図28は、図27のXXVIII−XXVIII線断面図である。なお、本実施形態では、基板として半導体ウエハが使用されている。
図29に示すように、ローラ301aの上端付近には、ローラ301aの外周面に沿って延びる溝状のクランプ部305が形成されている。このクランプ部305は、その中央に位置する平坦部305aと、この平坦部305aの上下に隣接する2つの湾曲部305bとを有しており、全体として略円弧状の断面を有している。このような構成において、ローラ301aが半導体ウエハWに向かって移動すると、クランプ部305が半導体ウエハWの周縁部を収容するように平坦部305aが半導体ウエハWの端部に当接する。ここで、半導体ウエハWの周縁部とは、半導体ウエハWの端部から内周側に0.1mm〜数mm程度向かった部位を意味する。また、図示はしないが、ローラ301b,301c,301dにもローラ301aと同様にクランプ部305が形成されており、これらのクランプ部305を介して半導体ウエハWがローラ301a,301b,301c,301dにより保持される。なお、ローラ301は、同一の形状及び同一のサイズを有している。また、ローラ301の材料としては、耐薬品性のあるフッ素系樹脂、例えばPVDF、PEEK等、またはポリウレタン等が好適に使用される。
搬送ロボットなどにより半導体ウエハWが基板保持装置に搬入されると、4つのローラ301が半導体ウエハWの中心Cに向かって移動する。ローラ301a,301bはストッパ304a,304bに当接してその移動が停止され、ローラ301a,301bの位置が固定される。一方、ローラ301c,301dは、半導体ウエハWの端部に当接した後、半導体ウエハWの中心Cに向かって所定の押圧力、例えば20N以下の押圧力(第2の押圧力)でそれぞれ半導体ウエハWを押圧する。これにより、4つのローラ301のクランプ部305(平坦部305a)が半導体ウエハWの端部に当接し、半導体ウエハWがローラ301によって確実に保持される。そして、半導体ウエハWを保持した状態のままモータを駆動させることにより、ローラ301が互いに同期して同一方向に回転し、これにより半導体ウエハWが回転する。
図36は本発明の第9の実施形態に係る基板保持装置のローラの要部を示す拡大断面図である。なお、特に説明しない本実施形態の構成および動作については、第7の実施形態と同様であるので、その重複する説明を省略する。
Claims (61)
- 基板に流体を供給して処理を行う基板処理装置であって、
基板を保持して回転させる基板保持部と、
前記基板保持部から流体を吸引する保持部吸引部とを備えることを特徴とする基板処理装置。 - 基板の周縁部から流体を吸引する周縁部吸引部をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の基板処理装置。
- 前記基板保持部は、基板と接触し、前記基板保持部と基板との摩擦を利用して基板を保持して回転させることを特徴とする請求項1または2に記載の基板処理装置。
- 前記基板保持部は基板の端部と接触するクランプ部を備え、該クランプ部に付着した流体を吸引するように前記保持部吸引部を前記クランプ部に近接して配置したことを特徴とする請求項1に記載の基板処理装置。
- 前記保持部吸引部は、真空源に連通することを特徴とする請求項1に記載の基板処理装置。
- 前記基板保持部に洗浄流体を供給する保持部洗浄部をさらに備えることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記保持部吸引部は、前記保持部洗浄部に対し、前記基板保持部の回転方向の前方に配置することを特徴とする請求項6に記載の基板処理装置。
- 気体供給口を有する少なくとも1つの気体供給ノズルをさらに備え、前記気体供給口から基板に乾燥用気体を供給することを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記乾燥用気体を基板に対して垂直に噴出することを特徴とする請求項8に記載の基板処理装置。
- 前記基板保持部に保持された基板の表面に乾燥用気体を供給する複数の気体供給ノズルを有する気体供給部をさらに備え、
前記複数の気体供給ノズルからの気体供給開始時間および気体供給停止時間が独立に設定されることを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の基板処理装置。 - 前記基板保持部に保持された基板の表面に乾燥用気体を供給する複数の気体供給ノズルを有する気体供給部をさらに備え、
前記複数の気体供給ノズルからの乾燥用気体の流量が独立に設定されることを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の基板処理装置。 - 前記気体供給ノズルは、前記乾燥用気体を基板に供給しながら基板の中心部と周縁部の間を移動することを特徴とする請求項8または9に記載の基板処理装置。
- 前記気体供給ノズルの基板に対する相対位置に応じて前記気体供給ノズルの移動速度を変化させることを特徴とする請求項12に記載の基板処理装置。
- 前記気体供給ノズルは、前記気体供給口が基板の端部に到達する前に乾燥用気体の供給を停止することを特徴とする請求項12または13に記載の基板処理装置。
- 前記気体供給ノズルから供給する乾燥用気体の流量を、気体供給圧力を変化させることによって制御することを特徴とする請求項8または9に記載の基板処理装置。
- 前記流体は液体であり、基板に前記液体を供給している間、前記保持部吸引部は前記液体の吸引を行わず、基板に前記液体を供給して基板の全面に液膜を形成させることを特徴とする請求項1に記載の基板処理装置。
- 前記保持部吸引部は導電性材料により形成された導電部を有し、該導電部は接地されていることを特徴とする請求項1に記載の基板処理装置。
- 前記周縁部吸引部は導電性材料により形成された導電部を有し、該導電部は接地されていることを特徴とする請求項2に記載の基板処理装置。
- 基板を保持して回転させる基板保持部と、
前記基板保持部に保持された基板の上方及び下方に配置され、該基板に気体を供給する第1の気体供給ノズルおよび第2の気体供給ノズルと、
前記基板保持部に保持された基板の上方及び下方に配置され、該基板に液体を供給する第1の液体供給ノズルおよび第2の液体供給ノズルと、
前記第1の気体供給ノズル及び第1の前記液体供給ノズルを基板の中心部から周縁部に移動させる第1の移動機構と、
前記第2の気体供給ノズル及び第2の前記液体供給ノズルを基板の中心部から周縁部に移動させる第2の移動機構とを備え、
前記第1の液体供給ノズルは基板の径方向において前記第1の気体供給ノズルよりも外側に配置され、前記第2の液体供給ノズルは基板の径方向において前記第2の気体供給ノズルよりも外側に配置されることを特徴とする基板処理装置。 - 前記基板保持部に付着した液体を吸引する保持部吸引部と、
基板の周縁部から液体を吸引する周縁部吸引部とをさらに備えたことを特徴とする請求項19に記載の基板処理装置。 - 前記基板保持部は基板の端部に接触するローラを有し、前記ローラは基板との接触を保ちつつその軸心周りに回転することを特徴とする請求項19または20に記載の基板処理装置。
- 基板の上方に配置された前記第1の気体供給ノズルと、基板の下方に配置された前記第2の気体供給ノズルとは、基板の周縁部に同時に到達することを特徴とする請求項19乃至21のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記第1の気体供給ノズル及び前記第1の液体供給ノズルは基板の中心を通る円弧軌道または直線軌道に沿って移動し、前記第2の気体供給ノズル及び前記第2の液体供給ノズルは基板の中心を通る円弧軌道または直線軌道に沿って移動することを特徴とする請求項19乃至22のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記保持部吸引部は導電性材料により形成された導電部を有し、該導電部は接地されていることを特徴とする請求項20に記載の基板処理装置。
- 前記周縁部吸引部は導電性材料により形成された導電部を有し、該導電部は接地されていることを特徴とする請求項20に記載の基板処理装置。
- 基板を研磨する研磨ユニットと、
請求項19乃至25のいずれかに記載の基板処理装置とを備えたことを特徴とする研磨装置。 - 基板にめっき処理を施すめっきユニットと、
請求項19乃至25のいずれかに記載の基板処理装置とを備えたことを特徴とするめっき装置。 - 基板保持部により基板を回転させ、
回転する基板に流体を供給し、
該基板保持部に近接して配置した保持部吸引部により、基板から前記基板保持部に移動した流体を吸引することを特徴とする基板処理方法。 - 基板の周縁部に近接して配置した周縁部吸引部により、基板の周縁部から流体を吸引することを特徴とする請求項28に記載の基板処理方法。
- 前記基板保持部を基板の端部に接触させて前記基板を保持し回転させることを特徴とする請求項28または29に記載の基板処理方法。
- 基板保持部を基板の端部に接触させることで基板を保持し回転させ、
回転する基板に流体を供給し、
気体供給ノズルから乾燥用気体を基板に供給し、
乾燥用気体を基板に供給しながら前記気体供給ノズルを基板の中心部から周縁部に移動させて基板上の流体を基板の周縁部に移動させ、
基板の周縁部から前記基板保持部に移動した流体を、前記基板保持部に近接して配置した保持部吸引部により吸引することを特徴とする基板処理方法。 - 保持部洗浄部から洗浄流体を供給することにより、前記基板保持部に移動した流体を洗浄流体で処理し、
洗浄流体で処理された流体を前記保持部吸引部から吸引する工程をさらに備え、
前記保持部吸引部を、前記基板保持部の回転方向において、前記保持部洗浄部の前方に配置したことを特徴とする請求項31に記載の基板処理方法。 - 前記流体は液体であり、基板に前記液体を供給している間、前記保持部吸引部は前記液体の吸引を行わず、基板に液体を供給して基板の全面に液膜を形成させることを特徴とする請求項31に記載の基板処理方法。
- 基板保持部により基板を回転させ、
基板の上方及び下方に配置された第1および第2の液体供給ノズルの少なくとも一方から基板の中心部よりも径方向外側の部分に液体を供給し、
基板の上方及び下方に配置された第1および第2の気体供給ノズルから基板の中心部に気体を供給し、
前記第1の液体供給ノズル及び第1の前記気体供給ノズルを基板の中心部から周縁部に移動させて基板の上面を乾燥させ、
前記第2の液体供給ノズル及び第2の前記気体供給ノズルを基板の中心部から周縁部に移動させて基板の下面を乾燥させることを特徴とする基板処理方法。 - 前記第1および第2の液体供給ノズル及び前記第1および第2の気体供給ノズルを基板の中心部から周縁部に移動させる間、前記基板保持部に付着した液体を保持部吸引部により吸引するとともに、周縁部吸引部により基板の周縁部から液体を吸引することを特徴とする請求項34に記載の基板処理方法。
- 基板の上方に配置された前記第1の気体供給ノズルと、基板の下方に配置された前記第2の気体供給ノズルとは、基板の周縁部に同時に到達することを特徴とする請求項34または35に記載の基板処理方法。
- 基板を保持して回転させる基板保持部と、
回転する基板に流体を供給する少なくとも1つの流体供給口と、
基板上の流体を吸引する少なくとも1つの流体吸引口とを備え、
前記流体供給口と前記流体吸引口は基板に近接して配置されることを特徴とする基板処理装置。 - 前記流体供給口と前記流体吸引口は基板の径方向に往復運動することを特徴とする請求項37に記載の基板処理装置。
- 複数の前記流体供給口と複数の前記流体吸引口とを、交互に配置したことを特徴とする請求項37または38に記載の基板処理装置。
- 複数の前記流体供給口と複数の前記流体吸引口の一方または両方を、直線状に配置したことを特徴とする請求項37または38に記載の基板処理装置。
- 複数の前記流体供給口と基板面との距離が一定であることを特徴とする請求項37または38に記載の基板処理装置。
- 複数の前記流体吸引口と基板面との距離が一定であることを特徴とする請求項37または38に記載の基板処理装置。
- 前記基板保持部は、基板と接触し、前記基板保持部と基板との摩擦を利用して基板を保持して回転させることを特徴とする請求項37乃至42のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記基板保持部に付着した流体を吸引する保持部吸引部をさらに有することを特徴とする請求項37乃至43のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記基板保持部に洗浄流体を供給する保持部洗浄部をさらに有することを特徴とする請求項37乃至44のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記流体供給口と前記流体吸引口を備える基板処理部をさらに有し、
前記基板処理部は、前記流体供給口と前記流体吸引口とが配置される第1の作用部を有することを特徴とする請求項37乃至45のいずれかに記載の基板処理装置。 - 前記基板処理部は、前記流体供給口と前記流体吸引口とが配置される第2の作用部を有することを特徴とする請求項46に記載の基板処理装置。
- 前記基板処理部は、前記第1の作用部または前記第2の作用部を切り替えることで前記第1の作用部または前記第2の作用部のいずれか一方を基板に対向させるように構成されていることを特徴とする請求項47に記載の基板処理装置。
- 複数の前記流体供給口から供給される流体の流量は、基板の中心部から周縁部に向かって増加するように調整されることを特徴とする請求項37に記載の基板処理装置。
- 前記流体供給口と前記流体吸引口との往復運動の周期を、前記基板の回転周期より大きくすることを特徴とする請求項38に記載の基板処理装置。
- 不活性気体または低湿度の気体を基板に供給する気体供給口を有する少なくとも1つの気体供給ノズルをさらに備えることを特徴とする請求項37乃至50のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記流体吸引口から吸引した流体を回収し、再使用する回収タンクをさらに備えたことを特徴とする請求項37乃至51のいずれかに記載の基板処理装置。
- 基板を回転させ、
少なくとも1つの流体供給口から回転する基板に流体を供給し、
少なくとも1つの流体吸引口から基板上の流体を吸引し、
前記流体供給口と前記流体吸引口とを近接して配置したことを特徴とする基板処理方法。 - 複数の前記流体供給口から供給される流体の流量を、基板の中心部から周縁部に向かって増加するように調整することを特徴とする請求項53に記載の基板処理方法。
- 前記流体供給口と前記流体吸引口とを基板の半径方向に沿って往復運動させ、その往復運動の周期を、基板の回転周期より大きくすることを特徴とする請求項53または54に記載の基板処理方法。
- 基板の端部に当接して該基板を保持し回転させる複数のローラと、
前記複数のローラを移動させる駆動機構とを備え、
前記複数のローラは基板の半径方向に沿って移動することを特徴とする基板保持装置。 - 前記複数のローラは基板の周方向において等間隔に配置されていることを特徴とする請求項56に記載の基板保持装置。
- 前記複数のローラのうちの少なくとも1つは、基板を回転させながら基板の端部を基板の中心に向かって押圧することを特徴とする請求項56または57に記載の基板保持装置。
- 前記複数のローラの外周面には基板の端部が当接する溝状のクランプ部が形成され、前記クランプ部の幅は基板の厚さの2倍以下であることを特徴とする請求項56乃至58のいずれか1項に記載の基板保持装置。
- 前記クランプ部は、該クランプ部の中央に位置する平坦部と、前記平坦部の上下にそれぞれ隣接する2つの湾曲部とを有しており、前記平坦部の幅は基板の厚さの半分以下であることを特徴とする請求項59に記載の基板保持装置。
- 前記複数のローラのうち隣接する2つのローラと基板との接点間の距離は基板の直径よりも小さいことを特徴とする請求項56に記載の基板保持装置。
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