JP2007503069A - 選択的バンクリフレッシュ - Google Patents
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Abstract
Description
〔技術分野〕
本発明は、メモリシステムの分野に関するものであり、特にリフレッシュ動作を行うメモリシステムに関するものである。
様々なタイプのパーソナルコンピュータ、例えば、デスクトップコンピュータやバッテリ駆動型のノートブックコンピュータは、中央処理ユニット(CPU)および当該中央処理ユニットにアクセスする主記憶装置を備えていることは当業者にとって周知である。中央処理ユニットは、主記憶装置にロードされたプログラムを実行し、続いて、プログラムを実行することによって得られた結果を主記憶装置のバンク内の作業領域に書き込み、このようにしてコンピュータ処理が行われる。
本発明の第1の観点は、メモリコントロールシステムに関するものである。このメモリコントロールシステムは、メモリコントローラと、命令バスを介して上記メモリコントローラに接続されたメモリ装置とを備えており、命令信号は、上記メモリコントローラから上記メモリ装置へと送られる。上記メモリ装置は、複数のメモリバンクと、バンクリフレッシュ指示レジスタと、上記バンクリフレッシュ指示レジスタに接続され、上記命令信号を受け取り、上記バンクリフレッシュ指示レジスタの内容を制御する命令デコーダと、上記複数のメモリバンクおよび上記バンクリフレッシュ指示レジスタに接続されたリフレッシュ回路とを備えている。上記リフレッシュ回路は、上記複数のメモリバンクのうち、不適切な内容を含む特定のひとつをリフレッシュすることによる不要な電力消費を回避する。
図1は、ノーマル・リフレッシュ回路およびセルフ・リフレッシュ回路を含む従来のメモリ装置の形態を示す概略図である。
図2は、本発明のメモリシステムの第1の実施形態を示す概略図である。
図3は、図2に示されたメモリシステムにおいて行われる、本発明のリフレッシュ工程のフローチャートである。
本発明は、実施の形態と、図2および図3によって示された動作の様式とを概観することにより十分に理解されるであろう。図2に示すように、メモリシステム200は、メモリコントローラ202とメモリ装置204とを備えている。メモリコントローラ202は、中央処理ユニット(不図示)によって発行されるメモリアクセス要求に応じて、メモリ装置204に対してメモリアクセス(読み取りアクセスと書き込みアクセスとを含む)を行う。
Claims (25)
- メモリコントローラと、
命令バスを介して上記メモリコントローラに接続されたメモリ装置とを備え、
命令信号は、上記メモリコントローラから上記メモリ装置へと送られ、
上記メモリ装置は、
複数のメモリバンクと、
バンクリフレッシュ指示レジスタと、
上記バンクリフレッシュ指示レジスタに接続され、上記命令信号を受け取り、上記バンクリフレッシュ指示レジスタの内容を制御する命令デコーダと、
上記複数のメモリバンクおよび上記バンクリフレッシュ指示レジスタに接続されたリフレッシュ回路とを備え、
上記リフレッシュ回路は、上記複数のメモリバンクのうち、不適切な内容を含む特定のひとつをリフレッシュすることによる不要な電力消費を回避することを特徴とするメモリコントロールシステム。 - 上記リフレッシュ回路は、上記複数のメモリバンクがそこに書き込まれたデータを含む場合のみ、当該複数のメモリバンクをリフレッシュする請求項1に記載のメモリコントロールシステム。
- 上記メモリコントローラは、オート・リフレッシュ信号を上記命令バスを介して上記メモリ装置へ送るノーマル・リフレッシュ回路を備えていることを特徴とする請求項1に記載のメモリコントロールシステム。
- 上記リフレッシュ回路は、
リフレッシュサイクルにおいてリフレッシュされる行アドレスを増加させるリフレッシュアドレスカウンタと、
リフレッシュされることをリフレッシュ要求によって要求された行アドレスへのアクセスを制御するコントローラとを備えることを特徴とする請求項1に記載のメモリコントロールシステム。 - 上記バンクリフレッシュ指示レジスタは、上記メモリ装置が有する上記複数のメモリバンクのうちのひとつとそれぞれ対応する1ビットを有しており、
上記ビットは、対応する、上記複数のメモリバンクのうちのひとつが、リフレッシュ動作の間にリフレッシュされる必要があるかどうかを示す値を有していることを特徴とする請求項1に記載のメモリコントロールシステム。 - 上記ビットは、上記対応するメモリバンクが、そこに書き込まれたデータを有しているかどうかを示す値を有していることを特徴とする請求項5に記載のメモリコントロールシステム。
- 上記デコーダは、上記命令および当該命令のバンクアドレスの解読を行い、当該解読に基づいて上記ビットの上記値を設定することを特徴とする請求項6に記載のメモリコントロールシステム。
- 上記リフレッシュ回路は、上記バンクリフレッシュ指示レジスタを参照し、上記ビットが高いレベルに設定されているときに、上記複数のメモリバンクのうちのひとつに対してアクティブ/プリチャージ・シーケンスを開始することを特徴とする請求項1に記載のメモリコントロールシステム。
- 上記リフレッシュ回路は、セルフ・リフレッシュモードの場合にのみ、上記バンクリフレッシュ指示レジスタを参照することを特徴とする請求項8に記載のメモリコントロールシステム。
- 上記リフレッシュ回路は、セルフ・リフレッシュモードおよびオート・リフレッシュモードの両方において、上記バンクリフレッシュ指示レジスタを参照することを特徴とする請求項8に記載のメモリコントロールシステム。
- 上記リフレッシュ動作は、オート・リフレッシュ動作であることを特徴とする請求項5に記載のメモリコントロールシステム。
- 上記リフレッシュ動作は、セルフ・リフレッシュ動作であることを特徴とする請求項5に記載のメモリコントロールシステム。
- 上記メモリコントローラは、ノーマル・リフレッシュ回路を備えていることを特徴とする請求項1に記載のメモリコントロールシステム。
- 上記バンクリフレッシュ指示レジスタは、プログラム可能であることを特徴とする請求項1に記載のメモリコントロールシステム。
- メモリコントローラからの命令信号を受け取る複数のメモリバンクをリフレッシュする方法であって、
メモリ装置が受け取った命令信号を参照する参照工程と、
上記複数のメモリバンクのうち、不適切な内容を含む特定のひとつをリフレッシュすることによる不要な電力消費を回避するように、上記参照された命令信号に基づいて上記複数のメモリバンクをリフレッシュするリフレッシュ工程とを含むことを特徴とする方法。 - 上記参照工程は、
上記メモリ装置が書き込み命令を受け取ったかどうかを確認する工程と、
上記複数のメモリバンクのうちのひとつが、そこに格納されたデータを有していることを示す工程とを含むことを特徴とする請求項15に記載の方法。 - 上記リフレッシュ工程は、セルフ・リフレッシュ動作であることを特徴とする請求項15に記載の方法。
- 上記リフレッシュ工程は、オート・リフレッシュ動作であることを特徴とする請求項15に記載の方法。
- バンクリフレッシュ指示レジスタの1ビットを、上記参照工程に基づいた値に設定し、上記複数のメモリバンクをリフレッシュするリフレッシュ工程は、上記ビットの値に基づいて行われることを特徴とする請求項15に記載の方法。
- 上記ビットは、上記複数のメモリバンクが起動するときに、低い値にリセットされることを特徴とする請求項19に記載の方法。
- 上記ビットの値が高い場合に、上記リフレッシュ工程が行われることを特徴とする請求項19に記載の方法。
- 上記ビットの値が低い場合に、上記リフレッシュ工程が行われないことを特徴とする請求項19に記載の方法。
- 上記参照工程は、
上記メモリ装置に対して発行されたすべての書き込み命令を解読する工程と、
データが書き込まれる先のバンクアドレスを解読する工程とを含むことを特徴とする請求項19に記載の方法。 - 上記ビットを高いレベルに設定する工程をさらに含むことを特徴とする請求項23に記載の方法。
- 拡張モードレジスタセットと通称される、特別な命令シーケンスによって、上記ビットを低いレベルにリセットする工程をさらに含むことを特徴とする請求項23に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/674,905 US6956782B2 (en) | 2003-09-30 | 2003-09-30 | Selective bank refresh |
PCT/EP2004/010580 WO2005041198A1 (en) | 2003-09-30 | 2004-09-21 | Selective bank refresh |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007503069A true JP2007503069A (ja) | 2007-02-15 |
Family
ID=34376980
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006523620A Pending JP2007503069A (ja) | 2003-09-30 | 2004-09-21 | 選択的バンクリフレッシュ |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6956782B2 (ja) |
EP (1) | EP1625590B1 (ja) |
JP (1) | JP2007503069A (ja) |
KR (1) | KR100685547B1 (ja) |
CN (1) | CN1856837A (ja) |
DE (1) | DE602004002300T2 (ja) |
WO (1) | WO2005041198A1 (ja) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100543914B1 (ko) * | 2003-04-30 | 2006-01-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 리프레쉬 동작시 피크 전류를 줄일 수 있는 반도체 메모리장치 |
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- 2003-09-30 US US10/674,905 patent/US6956782B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-09-21 EP EP04765456A patent/EP1625590B1/en active Active
- 2004-09-21 CN CNA2004800240368A patent/CN1856837A/zh active Pending
- 2004-09-21 WO PCT/EP2004/010580 patent/WO2005041198A1/en active IP Right Grant
- 2004-09-21 KR KR1020067003698A patent/KR100685547B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2004-09-21 JP JP2006523620A patent/JP2007503069A/ja active Pending
- 2004-09-21 DE DE602004002300T patent/DE602004002300T2/de active Active
-
2005
- 2005-10-12 US US11/249,773 patent/US7193919B2/en not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100685547B1 (ko) | 2007-02-22 |
DE602004002300D1 (de) | 2006-10-19 |
US20050068826A1 (en) | 2005-03-31 |
WO2005041198A1 (en) | 2005-05-06 |
CN1856837A (zh) | 2006-11-01 |
US20060087902A1 (en) | 2006-04-27 |
US6956782B2 (en) | 2005-10-18 |
KR20060064055A (ko) | 2006-06-12 |
EP1625590A1 (en) | 2006-02-15 |
US7193919B2 (en) | 2007-03-20 |
DE602004002300T2 (de) | 2007-09-20 |
EP1625590B1 (en) | 2006-09-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090209 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090224 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090522 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100209 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100525 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20100616 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20101022 |