JP2007220890A - 塗布現像処理装置における基板周縁処理方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板周縁処理方法は、被処理基板上に被加工膜を形成する工程ST102と、前記被加工膜の所定の位置にエネルギー線を照射し、前記被加工膜に潜像を形成する工程ST104と、前記被加工膜に前記潜像が形成された前記被処理基板を加熱処理する工程ST105と、前記被加工膜に対して現像処理する工程ST106と、前記被処理基板周縁部での残渣の有無を検査し、前記被処理基板の合否を判定する工程ST107と、前記合否を判定する工程で不合格と判定された前記被処理基板に対し、前記被処理基板の端部の洗浄処理をすることにより、前記被処理基板周縁部の残渣を除去する工程ST108とを備える。
【選択図】図1
Description
図1は、本発明の第1の実施形態に係る基板処理方法を説明するためのプロセスフローチャートである。まず、半導体基板上に反射防止膜用塗布材料(例えば、日産化学産業のARC29A)を滴下し、回転して広げた後に加熱処理を行い、膜厚80nmの反射防止膜を形成する(ST101)。反射防止膜上に酸発生材を含むArF化学増幅型レジスト膜を膜厚170nmで形成する(ST102)。そして、ArF化学増幅型レジスト膜上に現像液可溶型保護膜(例えば、東京応化工業のTILC019)を膜厚140nmで形成する(ST103)。
第2の実施形態は、第1の実施形態で述べた基板周縁部の洗浄処理システム及び洗浄処理方法の形態を用い、レジスト塗布時に、反応性イオンエッチング装置(RIE)によって基板周縁部に形成される突起中に入り込んだレジスト膜を除去するものである。
21…レチクルステージ
22…レチクル
23…投影レンズ系
24…ウェハステージ
25…フェンス
26…水供給・排出器
27…サポート板
31…スピンチャック
32…ノズル
33…現像液(洗浄液)
34…保護膜
35…レジスト
35´…レジストパターン
36…反射防止膜
37…カメラ
38…基板周縁部判定機構
40…基板周縁部洗浄装置
43…基板周縁部洗浄ノズル
44…基板裏面洗浄ノズル
50…基板周縁部洗浄装置
51…洗浄液保持天板
53…洗浄液保持底板
54…排出口
55…昇降駆動部
56…周縁部洗浄ノズル
Claims (5)
- 被処理基板上に被加工膜を形成する工程と、
前記被加工膜の所定の位置にエネルギー線を照射し、前記被加工膜に潜像を形成する工程と、
前記被加工膜に前記潜像が形成された前記被処理基板を加熱処理する工程と、
加熱処理後の前記被加工膜に対して現像処理する工程と、
前記被処理基板周縁部での残渣の有無を検査し、前記被処理基板の合否を判定する工程と、
前記合否を判定する工程で不合格と判定された前記被処理基板に対し、前記被処理基板の端部の洗浄処理をすることにより、前記被処理基板周縁部の残渣を除去する工程と、
を備えることを特徴とする基板周縁処理方法。 - 前記被処理基板周縁部の残渣の有無を検査し、合否を判定する工程は、前記現像処理後に行われることを特徴とする請求項1記載の基板周縁処理方法。
- 前記被処理基板周縁部の残渣の有無を検査し、合否を判定する工程は、前記被加工膜形成する工程後に行われることを特徴とする請求項1記載の基板周縁処理方法。
- 前記被処理基板の端部の洗浄処理をする工程は、
前記被処理基板の裏面を吸着して、前記被処理基板を保持しつつ回転させる工程と、
前記被処理基板の表面及び裏面の周縁部に洗浄液を供給する工程と、
を含むことを特徴とする請求項1記載の基板周縁処理方法。 - 前記被処理基板の端部の洗浄処理をする工程は、
前記被処理基板の裏面をチャックに吸着し、前記被処理基板を前記チャックで保持しつつ回転させる工程と、
前記被処理基板の表面及び裏面の周縁部に洗浄液を供給する工程と、
前記被処理基板主面上に純水を供給する工程と、
を含むことを特徴とする請求項1記載の基板周縁処理方法。
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