JP2007201404A - プラズマ処理方法及びプラズマ装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】トレイ上に載置した基板を支持台上に載置して、基板の表面をプラズマにより処理するプラズマ処理方法において、トレイと基板を熱剥離接着部材で接着する。熱剥離接着部材としては、発泡剥離性シートを好適に用いることができる。熱剥離接着部材は通常は粘着性を有するため、プラズマ処理前後はトレイと基板が確実に固定され、良好なハンドリング性が得られる一方、処理後はトレイを所定の剥離温度以上に加熱するだけで、基板はトレイから容易に剥離する。
【選択図】 図1
Description
プラズマ処理における被処理材への入熱量が少ない場合は、被処理材の温度はそう上がらないが、投入エネルギが大きくなるにつれ、被処理材の温度が上昇する。このプラズマ処理中の被処理材の温度が熱剥離接着部材の剥離温度を超えると好ましくないため、プラズマ処理時には支持台を冷却することが望ましい。
該被処理材の上面の周囲に対応する位置に配置されるシール材と、
該シール材を介して被処理材の上側に配置される蓋と、
該シール材を押圧しつつ該蓋を該トレイに固定する固定手段と、
被処理材、シール材及び蓋により形成される与圧室内に気体を注入するための与圧手段と、
を備えることを特徴とする
本プラズマCVD装置10を用いた被処理材(以下、基板と呼ぶ)14の処理方法は、次の通りである。
プラズマエッチング処理を行った後、トレイ43をプラズマ処理装置から取り出し、図示しないホットプレートに載置した。ホットプレートに通電し、トレイ43を徐々に150℃まで加熱したところ、発泡剥離性シートが発泡して粘着力を失い、基板42をトレイ43から容易に剥離することができた。
プラズマエッチング処理を行った後は上記同様、トレイ43をプラズマ処理装置から取り出し、図示しないホットプレートに載置してトレイ43を徐々に150℃まで加熱した。これにより、発泡剥離性シートが発泡して粘着力を失い、基板42をトレイ43から容易に剥離することができた。
11…真空容器
12…上部電極
13…下部電極
14、42…被処理材(基板)
15、15A、43…トレイ
16、41…発泡剥離性シート
17…加熱台
21…溝
22…トレイの端部
30…接着装置
30A…載置台
30B…蓋
30C…クランプ
31…空間
31A…載置台の中央部
33…排出口
34…排気室Oリング
35…与圧室
36…気体注入口
37…シール材
44…サーモラベル
45…サーモラベル保護シート
Claims (19)
- 被処理材をトレイ上に載置し、更に該トレイを支持台上に載置して、該被処理材の表面をプラズマにより処理するプラズマ処理方法において、
トレイと被処理材を熱剥離接着部材で接着することを特徴とするプラズマ処理方法。 - プラズマ処理時に該支持台を冷却することを特徴とする請求項1に記載のプラズマ処理方法。
- 熱剥離接着部材が発泡剥離剤である請求項1又は2に記載のプラズマ処理方法。
- 熱剥離接着部材が発泡剥離性シートである請求項1又は2に記載のプラズマ処理方法。
- トレイの表面に溝を設け、被処理材とトレイの間にある気体を該溝から逃がしながらトレイと被処理材を接着することを特徴とする請求項1〜4に記載のプラズマ処理方法。
- トレイの表面のうち溝が占める面積の割合が5%〜40%であることを特徴とする請求項5に記載のプラズマ処理方法。
- 溝の深さが10μm〜200μmであることを特徴とする請求項5又は6に記載のプラズマ処理方法。
- 被処理材の周囲に配置したシール材を介して蓋を載置し、蓋を機械的に被処理材に押圧しつつ、被処理材、シール材及び蓋により形成される与圧室内に気体を注入することにより被処理材の全面を押圧して被処理材をトレイに接着させることを特徴とする請求項5〜7のいずれかに記載のプラズマ処理方法。
- 前記気体の圧力が0.2MPa〜5MPaであることを特徴とする請求項8に記載のプラズマ処理方法。
- 前記押圧の際に、被処理材の下面を排気することを特徴とする請求項8又は9に記載のプラズマ処理方法。
- 被処理材をトレイ上に載置し、更に該トレイを支持台上に載置して、該被処理材の表面をプラズマにより処理するプラズマ処理装置において、
トレイと被処理材を接着する熱剥離接着部材を備えることを特徴とするプラズマ処理装置。 - 該支持台を冷却する冷却装置が設けられている請求項11に記載のプラズマ処理装置。
- 熱剥離接着部材が発泡剥離剤である請求項11又は12に記載のプラズマ処理装置。
- 熱剥離接着部材が発泡剥離性シートである請求項11又は12に記載のプラズマ処理装置。
- トレイが表面に溝を有することを特徴とする請求項11〜14のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- トレイの表面のうち溝が占める面積の割合が5%〜40%であることを特徴とする請求項15に記載のプラズマ処理装置。
- 溝の深さが10μm〜200μmであることを特徴とする請求項15又は16に記載のプラズマ処理装置。
- 板状の被処理材を、表面に溝を有するトレイに均等に接着させるための被処理材接着装置であって、
該被処理材の上面の周囲に対応する位置に配置されるシール材と、
該シール材を介して被処理材の上側に配置される蓋と、
該シール材を押圧しつつ該蓋を該トレイに固定する固定手段と、
被処理材、シール材及び蓋により形成される与圧室内に気体を注入するための与圧手段と、
を備えることを特徴とする被処理材接着装置。 - 与圧室の周囲の空間を減圧する減圧手段を備えることを特徴とする請求項18に記載の被処理材接着装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006196558A JP4905934B2 (ja) | 2005-12-27 | 2006-07-19 | プラズマ処理方法及びプラズマ装置 |
| TW095142559A TWI387996B (zh) | 2005-12-27 | 2006-11-17 | A plasma processing method and a plasma processing apparatus |
| CN2006101732572A CN1992162B (zh) | 2005-12-27 | 2006-12-15 | 等离子体处理方法以及等离子体装置 |
| KR1020060133529A KR101310397B1 (ko) | 2005-12-27 | 2006-12-26 | 플라즈마 처리 방법 및 플라즈마 장치 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005376568 | 2005-12-27 | ||
| JP2005376568 | 2005-12-27 | ||
| JP2006196558A JP4905934B2 (ja) | 2005-12-27 | 2006-07-19 | プラズマ処理方法及びプラズマ装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007201404A true JP2007201404A (ja) | 2007-08-09 |
| JP2007201404A5 JP2007201404A5 (ja) | 2009-05-14 |
| JP4905934B2 JP4905934B2 (ja) | 2012-03-28 |
Family
ID=38455632
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006196558A Active JP4905934B2 (ja) | 2005-12-27 | 2006-07-19 | プラズマ処理方法及びプラズマ装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4905934B2 (ja) |
| KR (1) | KR101310397B1 (ja) |
| CN (1) | CN1992162B (ja) |
| TW (1) | TWI387996B (ja) |
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2006
- 2006-07-19 JP JP2006196558A patent/JP4905934B2/ja active Active
- 2006-11-17 TW TW095142559A patent/TWI387996B/zh active
- 2006-12-15 CN CN2006101732572A patent/CN1992162B/zh active Active
- 2006-12-26 KR KR1020060133529A patent/KR101310397B1/ko active Active
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| CN1992162A (zh) | 2007-07-04 |
| TWI387996B (zh) | 2013-03-01 |
| KR20070069037A (ko) | 2007-07-02 |
| TW200746236A (en) | 2007-12-16 |
| JP4905934B2 (ja) | 2012-03-28 |
| CN1992162B (zh) | 2010-08-11 |
| KR101310397B1 (ko) | 2013-09-17 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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