JP2007165588A - パワーモジュール構造及びこれを用いたソリッドステートリレー - Google Patents

パワーモジュール構造及びこれを用いたソリッドステートリレー Download PDF

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Abstract

【課題】端子の反りの発生を抑制し得て、放熱性の問題を解決できる他、製品完成後の外部応力(ヒートショック)にも柔軟に対応でき、製品寿命の延びが期待できるパワーモジュール構造を提供する。
【解決手段】第1の端子4に応力緩和部としての複数のスリット4aを形成して、第1の端子4と絶縁板2との熱膨張係数の差に起因して発生する応力を緩和すると共に、第1の端子4を絶縁板2に半田付けする半田接合領域である応力束縛部を部分的に形成するようにした。
【選択図】図4

Description

本発明は、高い信頼性、放熱性を要する電子部品のパワーモジュール構造及びこれを用いたソリッドステートリレーに関するものである。
近年、回路の集積化に伴い発熱する電子部品の放熱にはヒートシンクを用いることが一般的である。そのために、電子部品あるいは基板とヒートシンクとの密着は、放熱性に対し高い重要性を持つようになってきている。しかしながら、有害物質削減の動きから、高融点の半田が使われるようになってきたために、前述の密着性を阻害する“反り”が問題になっている。
また、熱膨張係数の異なる板材を、複数枚半田接合すると反りが発生することは知られている。半田の種類が異なれば(融点が異なれば)、反りの発生も異なる。その傾向は融点が高くなるにつれ大きくなる。高い融点の半田にはPbが主成分のものが一般的に使われている。Pbは“柔らかい”特性を有しているために、反り応力に対する対策として以前から知られている。
上記した発熱する電子部品を使用する電子部品としてのパワーモジュール構造は、図25に示すように、ヒートシング(図示せず)に接触するヒートプレート1に絶縁板2を半田により接合し、この絶縁板2に第1の端子4を半田により接合し、第1の端子4に半導体チップ3を半田により接合して、この第1の端子4を、その対応する半導体チップ3の接点に接続し、この半導体チップ3に、第2、第3の端子5、6を半田により接合して、第2、第3の端子5、6のそれぞれを、その対応する半導体チップ3の接点に接続するようにした構成であり、第1の端子4は、短冊状の端子本体4Aの先側に端子部4Bを有している。そして、ヒートプレート1のシートシング表面への保持は、ヒートプレート1に設けた取付け部7をシートシングにネジ止めすることにより行っている。
上記したパワーモジュール構造において、ヒートプレート1のプレート本体1Aには、図26に点線で示す長方形状の半田付け領域10−1において絶縁板2が半田付けされるし、また、絶縁板2には、図27に点線で示す長方形状の半田付け領域10−2において第1の端子4が半田付けされるし、また、第1の端子4の端子本体4Aの中央部には、図28に点線で示す長方形状の半田付け領域10−3において、半導体チップ3が半田付けされるし、また、半導体チップ3には、図29に点線で示す三角形状の半田付け領域10−4において第2の端子5が半田付けされるし、半導体チップ3には長方形状の半田付け領域10−5において第3の端子6が半田付けされる。
上記した半田付けは、ヒートプレート1と、絶縁板2と、半導体チップ3と、第1、第2、第3の端子4、5、6とを積層状態で加熱処理により各半田付け領域10−1〜10−5の半田を溶融後硬化させて行うか、ヒートプレート1と絶縁板2、絶縁板2と第1の端子4、第1の端子4と半導体チップ3、半導体チップ3と第2、第3の端子5、6とを別々に半田接合する場合もある。そして、上記のように半田接合して構成されたモジュール構成体11を樹脂12でモールドすることで、図24に示すパワーモジュール構造が構成してある。
また、上記したパワーモジュール構造において、絶縁板2と第1の端子4の反り発生のメカニズムを図30乃至図33を参照して説明する。
図30は、絶縁板2にAl材を用い、第1の端子4にCu材を用いて、絶縁板2に第1の端子4を半田10で接合する状態を模式的に表わしたものであり、図中L1は絶縁板2の基準長さであり、L2は第1の端子4の基準長さである。そして、温度を室温(25°)からTpに昇温した場合、絶縁板2は、その材質上あまり熱膨張しないが、第1の端子4は外方向F1に熱膨張する。このために、第1の端子4は、図30に示すように、その基準長さL2を越えて伸びることになる。
温度がTpから降温すると、第1の端子4は、図31に示す矢印方向F2に収縮し、温度がTm(<Tp)から降温し始めると、第1の端子4は、図32に示す矢印方向F3に収縮し、温度が室温(25°)になると、第1の端子4伸びた状態で、半田10が硬化するために、第1の端子4及び絶縁板2に、図33において下に凸になるような反りが発生する。
すなわち、半田10は高融点の半田が使用してあり、硬化する温度が300℃近辺(従来より高い数値:従来は180℃程度)であるために、半田は300℃近辺で硬化して第1の端子4が絶縁板2に接合される。この場合、第1の端子4が熱膨張して伸びた状態であり、絶縁板2は元の寸法から余り熱膨張せずに伸びていないので、温度が下降すると、第1の端子4と絶縁板2には、互いに元の寸法に戻ろうとする力が働いて、第1の端子4だけ収縮する状態になるので、下に凸になるような反りが発生する。
また、従来のパワーモジュール構造に関連して、パワーモジュール用等の発熱の大きい用途に回路基板を実装する場合、ヒートシンク銅板への接合時等に回路基板製造時に発生する残留応力を増大させ、クラックを生じ易い問題を解決するものとして、反りを持つセラミックス焼結板であって、一方向の反り量が、該方向の長さの1/4000から1/100で有り、該方向の直角方向の反り量が該方向の反り量の1/2以下(0を含む)であるセラミックス基板を使用し、また、このセラミックス基板の凸面側に回路形成用金属板を、凹面側に放熱部形成用金属板を配置して加熱接合する回路基板の製造方法を提唱したものがある(特許文献1参照)。
特開平10−167804号公報
上記した従来のパワーモジュール構造にあっては、上記したように熱膨張係数の差に起因して反りが発生するが、この反り変形がヒートプレート1とヒートシンクとの間に間隙を生じさせ、良好な放熱効果を奏することができない等の問題があった。
また、上記したように、第1の端子4が反っているパワーモジュール構造では、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田10にストレスがかかってきて、疲労が起こるという問題があった。
また、上記したように、半田付け領域である固定箇所が、図27に点線で示すように全域にしてあるために、位置決めのしわ寄せが来ることから、変形は外側端で起こり、第1の端子4に、固定箇所の全長分の応力がかかることになって、反りの原因になるという問題点があった。
本発明は上記の問題点を解決するものであって、その目的とするところは、端子の反りの発生を抑制し得て、放熱性の問題を解決できる他、製品完成後の外部応力(ヒートショック)にも柔軟に対応でき、製品寿命の延びが期待できるパワーモジュール構造及びこれを用いたソリッドステートリレーを提供することである。
上記の目的を達成するために、本発明に係るパワーモジュール構造は、ヒートシングに接触するヒートプレート、絶縁部材、端子及び半導体チップを、順次半田により接合して、前記端子を、その対応する前記半導体チップの接点に接続するようにしたパワーモジュール構造であって、端子に、当該端子と絶縁部材との熱膨張係数の差に起因して発生する応力を緩和する応力緩和部を設けると共に、端子を絶縁部材に半田付けする半田接合領域である応力束縛部を部分的に形成するようにしたことを特徴とする。
かかる構成により、端子には応力緩和部が設けてあり、しかも応力束縛部が部分的に形成してあるために、反りの原因となる応力が緩和され、しかも応力の束縛が部分的になって反りの発生を抑制することができ、端子の反りに起因するヒートプレートのヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、端子の反りが抑制されるために、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田にストレスがかかってきて、疲労が起こるという不具合を無くすことができる。
このように反りを軽減し放熱性の問題を解決できる他、製品完成後の外部応力(ヒートショック)にも柔軟に対応でき、製品寿命の伸びが期待できるようになる。ここで、端子とは第1の端子が該当するし、絶縁部材とは絶縁板が該当する。
また、本発明に係るパワーモジュール構造は、上記した本発明に係るパワーモジュール構造において、応力束縛部分が端子の片側であることを特徴とする。
かかる構成により、応力束縛部分が端子の片側にのみ、部分的に形成してあるために、反りの発生を抑制することができて、端子の反りに起因するヒートプレートのヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、本発明に係るパワーモジュール構造は、上記した本発明に係るパワーモジュール構造において、応力束縛部分が端子の両側であることを特徴とする。
かかる構成により、応力束縛部分が端子の両側に部分的に形成してあるために、反りの発生を抑制することができて、端子の反りに起因するヒートプレートのヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、本発明に係るパワーモジュール構造は、上記した本発明に係るパワーモジュール構造において、応力緩和部が端子に形成した複数のスリットであることを特徴とする。
かかる構成により、端子には、複数のスリットで応力緩和部が形成してあり、しかも応力束縛部が部分的に形成してあるために、反りの原因となる応力が緩和され、しかも応力の束縛が部分的になって反りの発生を抑制することができて、端子の反りに起因するヒートプレートのヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、端子の反りが抑制されるために、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田にストレスがかかってきて、疲労が起こるという不具合を無くすことができる。
また、本発明に係るパワーモジュール構造は、上記した本発明に係るパワーモジュール構造において、端子を、その長手方向に分割して、この分割部を応力緩和部にすると共に、端子の分割部位を絶縁部材に半田付けすることで応力束縛部を分散させるようにしたことを特徴とする。
かかる構成により、端子には分割部で応力緩和部が形成してあって、反りの原因となる応力が緩和されるし、それぞれの分割部位が絶縁部材に半田付けされることで応力束縛部を分散させるので、応力の束縛が部分的になって反りの発生を抑制することができて、端子の反りに起因するヒートプレートのヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、端子の反りが抑制されるために、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田にストレスがかかってきて、疲労が起こるという不具合を無くすことができる。
なお、分割部としては、直線形状もしくは鍵型形状であることが好ましく、分割が二以上の複数であることが好ましい。
また、本発明に係るパワーモジュール構造は、上記した本発明に係るパワーモジュール構造において、応力緩和部は、端子の表面に形成した凹状溝であることを特徴とする。
かかる構成により、端子の表面に凹状溝を形成することで応力緩和部が設けてあり、しかも応力束縛部が部分的に形成してあるために、反りの原因となる応力が緩和され、しかも応力の束縛が部分的になって反りの発生を抑制することができ、端子の反りに起因するヒートプレートのヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、端子の反りが抑制されるために、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田にストレスがかかってきて、疲労が起こるという不具合を無くすことができる。なお、凹状溝が複数であることが好ましい。
また、本発明に係るパワーモジュール構造は、上記した本発明に係るパワーモジュール構造において、応力緩和部は、端子の裏面に形成した凹状溝であることを特徴とする。
かかる構成により、端子の裏面に凹状溝を形成することで応力緩和部が設けてあり、しかも応力束縛部が部分的に形成してあるために、反りの原因となる応力が緩和され、しかも応力の束縛が部分的になって反りの発生を抑制することができ、端子の反りに起因するヒートプレートのヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、端子の反りが抑制されるために、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田にストレスがかかってきて、疲労が起こるという不具合を無くすことができる。なお、凹状溝が複数であることが好ましい。
また、本発明に係るパワーモジュール構造は、上記した本発明に係るパワーモジュール構造において、ヒートプレートにヒートプレート側応力緩和部を形成するようにしたことを特徴とする。
かかる構成により、端子には応力緩和部が設けてあり、しかも応力束縛部が部分的に形成してあることに加えて、ヒートプレートにもヒートプレート側応力緩和部があるために、反りの原因となる応力が緩和され、しかも応力の束縛が部分的になって反りの発生を抑制することができる。このために、ヒートプレートのヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、端子の反りが抑制されるために、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田にストレスがかかってきて、疲労が起こるという不具合を無くすことができる。
しかも、このように反りを軽減し放熱性の問題を解決できる他、製品完成後の外部応力(ヒートショック)にも柔軟に対応でき、製品寿命の延びが期待できるようになる。
また、本発明に係るソリッドステートリレーは、上記した本発明の何れか一に係るパワーモジュール構造を用いて構成することを特徴とする。
かかる構成により、パワーモジュール構造が、反りを軽減し放熱性の問題を解決できるために、ソリッドステートリレーの外部応力(ヒートショック)にも柔軟に対応でき、ソリッドステートリレーとしての製品寿命の延びが期待できるようになる。
本発明に係るパワーモジュール構造によれば、端子には応力緩和部が設けてあり、しかも応力束縛部が部分的に形成してあるために、反りの原因となる応力が緩和され、しかも応力の束縛が部分的になって反りの発生を抑制することができ、端子の反りに起因するヒートプレートのヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、端子の反りが抑制されるために、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田にストレスがかかってきて、疲労が起こるという不具合を無くすことができる。
このように反りを軽減し放熱性の問題を解決できる他、製品完成後の外部応力(ヒートショック)にも柔軟に対応でき、製品寿命の延びが期待できるようになる。
また、本発明に係るパワーモジュール構造によれば、パワーモジュール構造が、反りを軽減し放熱性の問題を解決できるために、ソリッドステートリレーの外部応力(ヒートショック)にも柔軟に対応でき、ソリッドステートリレーとしての製品寿命の延びが期待できるようになる。
以下、図面によって本発明の実施の形態について詳細に説明する。
(実施の形態1)
図1に、本発明に係るパワーモジュール構造を使用したソリッドステートリレーの外観を示す。このソリッドステートリレー20は、図2に示すように、ヒートシング21と、このヒートシンク21の端面21Aに取り付けられるベース22と、このベース22内に収容されてヒートシンク21に面接触する本発明に係るパワーモジュール構造Aと、このパワーモジュール構造Aに接続される回路基板23と、ベース22に係脱可能に係止されて、回路基板23を覆うケース24とを備えており、このケース24には揺動自在にカバー(図示せず)が取り付けてある。
ヒートシング21の端面21Aには、その長手方向の両側にネジ穴21Bが設けてある。また、ベース22は、ヒートシング21の端面21Aに倣う箱形状であって、その底部22Aにはパワーモジュール構造装着部28が開口しており、また、ベース22の底部22Aの長手方向の両側には端子受け部29が設けてある。
また、回路基板23には、その長手方向に両端縁部に基板側端子部23−1、23−2が設けてあり、また、回路基板23の実装面には一対の端子部23−3、23−4が設けてあり、また、回路基板23にはゲート端子接続部23−5が設けてある。
また、ケース24は、その長手方向の両端部に端子表出部24A、24Bを有しており、また、その短手方向の一側縁部に一対の端子表出孔24C、24Dを有しているし、また、ケース24の長手方向の両端部には、裏側に突出するボス部24Eが突設してあり、これらのボス部24Eに先部にはネジ穴24Fが設けてある。
そして、ベース22はヒートシング21の端面21Aに装着してあり、このベース22のパワーモジュール構造装着部28にパワーモジュール構造Aが装着されるし、このパワーモジュール構造Aの取付け部7の取付け溝7aがヒートシング21のネジ穴21Bに重なるようになる。また、パワーモジュール構造Aのヒートプレート21の裏面がヒートシング21の端面21Aに接触する。そして、パワーモジュール構造Aの端子部4B、5Bがベース22の端子受け部29に沿うようになる。
そして、パワーモジュール構造Aには回路基板23が重ねてあり、この場合、回路基板23の基板側端子部23−1、23−2が、パワーモジュール構造Aの端子部4B、5Bに重なる。そして、パワーモジュール構造Aのゲート端子部5Bが回路基板23のゲート端子接続部23−5に接続される。
また、ベース22には、回路基板23を覆うようにしてケース24が取付けてあり、このケース24の一方の端子表出部24Aに端子部23−1と端子ネジ(図示せず)が表出するし、他方の端子表出部24Bに端子部23−2と端子ネジ(図示せず)が表出する。また、回路基板23の端子部23−3、23−4がケース24の端子表出孔24C、24Dに挿入される。そして、ケース24のボス部24Eがヒートプレート1の取付け部7を押えるようになって、ボス部24Eのネジ穴24Fに挿入した取付けネジ(図示せず)をヒートシング21のネジ穴21Bに螺合することで、ヒートプレート1の取付け部7がヒートシンク21に取付けられる。
パワーモジュール構造Aは、図3及び図4に示すように、単相のヒートプレート1と、絶縁部材である絶縁板2と、半導体チップ3と、端子である第1の端子4と、第2、第3の端子5、6とを備えている。
そして、ヒートプレート1はCu材から形成してあり、図6に示すように、そのプレート本体1Aの長手方向に両端部にはヒートシンク21に取り付けるための取付け部7が延出してあり、各取付け部7には、ヒートシンクにネジ止めするための取付け溝7aが形成してある。
また、絶縁板2は、図4に示すように、セラミック製の板本体2Aの両面にモリブデン、マンガン等の金属が蒸着されて金属層(図示せず)が形成してあって、半田付けが可能にしてある。
また、半導体チップ3としては、例えば、出力素子としてのトライアック(図示せず)が使用されており、四角形状の板状体であって、図5に示すように、第1、第2の接点部3a、3bとゲート接点部3cを備えている。
第1の端子4は、図7に示すように、端子本体4Aを備えており、この端子本体4Aは短冊形状であって、その短手方向の両側縁部にはスリット4aがそれぞれ一対形成してあって、これらのスリット4aが応力緩和部を構成しており、端子本体4Aの先端側にはクランク形状に屈曲された端子部4Bが形成してある。
第2の端子5はゲート端子であり、図4に示すように、細長い形状であって、その基端部が接合部5aにしてあり、先端部が屈曲されて端子部5Bにしてある。
第3の端子6は、図4に示すように、幅広な帯状の端子本体6Aを備えており、この端子本体6Aの先端部にはクランク形状に屈曲された端子部6Bが形成してある。
そして、ヒートプレート1のプレート本体1Aには、半田により絶縁板2が接合してあり、また、この絶縁板2の板本体2Aには、図4に示すように部分的な半田付け領域として第1の端子4の端子本体4Aの片側である基端部4b側のみが半田付けしてある。
また、図4に示すように、第1の端子4の端子本体4Aの中央部には半導体チップ3が半田付けしてあり、半導体チップ3には、第2の端子5が、その基端部の接合部5aで、また、第3の端子6が、その基端部でそれぞれ半田付けしてある。上記のように半田接合して構成されたモジュール構成体11を樹脂12でモールドすることで、図3に示すパワーモジュール構造Aが構成してある。
上記したように、絶縁板2の板本体2Aと第1の端子4との半田接合では、第1の端子4の端子本体4Aの先端部4bのみが半田付けされていて、この半田は従来の半田付け領域より狭い半田付け領域に部分的に形成されることで、第1の端子4には応力の束縛が部分的になる。そして、この半田接合部が応力束縛部を構成する。
そして、パワーモジュール構造Aは、図3に示すように、その長手方向の両側に、第1、第3の端子4、6の端子部4B、6Bを有すると共に、表側に第2の端子5の端子部(ゲート端子部)5Bが突出しており、更に、パワーモジュール構造Aには、長手方向の両側に、ヒートシンク2に取り付けるためのヒートプレート1の取付け部7が延出している。
上記したパワーモジュール構造Aにおいて、絶縁板2の板本体2Aには、半田付け領域として第1の端子4の端子本体4Aの先端部4bのみが半田付けされていて、応力の束縛が部分的になっており、また、第1の端子4には複数のスリット6aからなる応力緩和部が形成してあって反りの原因となる応力が緩和されることで、第1の端子4の反りの発生が抑制され、第1の端子4の反りに起因するヒートプレート1のヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、第1の端子4の反りが抑制されるために、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田にストレスがかかってきて、疲労が起こるという不具合を無くすことができる。
このように反りを軽減し放熱性の問題を解決できる他、製品完成後の外部応力(ヒートショック)にも柔軟に対応でき、製品寿命の伸びが期待できるようになる。
上記した本発明の実施の形態1では、絶縁板2の板本体2Aに対する第1の端子4の半田接合部を先端部4bのみ行なうようにしたが、図4に示すように、絶縁板2の板本体2Aに対して第1の端子4の端子本体4Aを、その両側である両端部4b、4c側で半田付けするようにしてもよい。この場合、両端部4b、4c側での半田接合部が応力束縛部を構成する。
この場合、絶縁板2の板本体2Aには、半田付け領域として第1の端子4の端子本体4Aの両端部4b、4cが半田付けされていて、応力の束縛が部分的になっており、また、第1の端子4には複数のスリット6aからなる応力緩和部が形成してあって反りの原因となる応力が緩和されることで、第1の端子4の反りの発生が抑制され、第1の端子4の反りに起因するヒートプレートのヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、第1の端子4の反りが抑制されるために、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田にストレスがかかってきて、疲労が起こるという不具合を無くすことができる。
このように反りを軽減し放熱性の問題を解決できる他、製品完成後の外部応力(ヒートショック)にも柔軟に対応でき、製品寿命の伸びが期待できるようになる。
(実施の形態2)
本発明の実施の形態2を、図8及び図9を参照して説明する。
本発明の実施の形態2では、図9に示すように、第1の端子4の端子本体4Aは、基端側部位4g、中部部位4h及び先側部位4iに三分割した構成であり、基端側部位4g、中部部位4h及び先側部位4iのそれぞれは、部分的に絶縁板2に半田接合してあり、基端側部位4gと中部部位4hとの直線分割部4j及び中部部位4hと先側部位4iとの直線分割部4kで応力緩和部が形成してある。他の構成は、本発明の実施の形態1と同じである。
したがって、第1の端子4には複数の直線分割部4j、4kからなる応力緩和部が形成してあって、反りの原因となる応力が緩和されるし、しかも、それぞれの基端側部位4g、中部部位4h及び先側部位4iを絶縁板2の板本体2Aに半田付けして応力束縛部を分散させてあるために、応力の束縛が部分的になって反りの発生を抑制することができ、第1の端子4の反りに起因するヒートプレート1のヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、第1の端子4の反りが抑制されるために、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田にストレスがかかってきて、疲労が起こるという不具合を無くすことができる。
このように反りを軽減し放熱性の問題を解決できる他、製品完成後の外部応力(ヒートショック)にも柔軟に対応でき、製品寿命の伸びが期待できるようになる。
また、第1の端子4の端子本体4Aを、基端側部位4g、中部部位4h及び先側部位4iに三分割するにあたって、分割部4j、4kを、図10に示すように、鍵型にしても良い。
また、第1の端子4における応力緩和部は、図11に示すように、端子本体4Aの表面P1に、その短手方向に沿う凹状溝8を、長手方向に複数形成することで構成してもよい。そして、このような第1の端子4は、その裏面P2で半田を用いて、従来の半田付け領域より狭い半田付け領域で、部分的に絶縁板2に半田接合させる。
したがって、第1の端子4には複数の凹状溝8からなる応力緩和部が形成してあって、反りの原因となる応力が緩和され、しかも、絶縁板2の板本体2Aと第1の端子4との半田接合では、半田は従来の半田付け領域より狭い半田付け領域に、部分的に形成されることで、第1の端子4には応力の束縛が部分的になっているために、反りの発生が抑制され、第1の端子4の反りに起因するヒートプレート1のヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、第1の端子4の反りが抑制されるために、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田にストレスがかかってきて、疲労が起こるという不具合を無くすことができる。
また、第1の端子4における応力緩和部は、図12に示すように、端子本体4Aの裏面P2に、その短手方向に沿う凹状溝9を、長手方向に複数形成することで構成してもよい。そして、このような第1の端子4は、その裏面P2で半田を用いて、従来の半田付け領域より狭い半田付け領域で、部分的に絶縁板2に半田接合させる。
したがって、第1の端子4には複数の凹状溝9からなる応力緩和部が形成してあって、反りの原因となる応力が緩和され、しかも、絶縁板2の板本体2Aと第1の端子4との半田接合では、半田は従来の半田付け領域より狭い半田付け領域に、部分的に形成されることで、第1の端子4には応力の束縛が部分的になっているために、反りの発生が抑制され、第1の端子4の反りに起因するヒートプレート1のヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、第1の端子4の反りが抑制されるために、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田にストレスがかかってきて、疲労が起こるという不具合を無くすことができる。
上記した本発明の実施の形態1、2では、ヒートプレート1にはヒートプレート側応力緩和部を形成しないものを用いたが、図13に示すように、ヒートプレート1のプレート本体1Aを二分割して、分割部1Fで応力緩和部を構成し、しかも、分割部位1a、1bのそれぞれを絶縁板2に半田接合することで応力束縛部を分散させるようにしてもよい。
したがって、ヒートプレート1には分割部1Fからなるヒートプレート側応力緩和部が形成してあるために、反りの原因となる応力が緩和され、しかも、ヒートプレート1と絶縁板2の板本体2Aとの半田接合では、半田は従来の半田付け領域より狭い半田付け領域に、部分的に形成されることで、ヒートプレート1には応力の束縛が部分的になっているために、反りの発生が抑制され、ヒートプレート1のヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
(実施の形態3)
本発明に係るパワーモジュール構造の実施の形態3を図14乃至図16に示す。このパワーモジュール構造A−1は三相構成であって、図15に示すように、ヒートプレート1−1と、絶縁板2−1と、半導体チップ3−1と、第1、第2、第3の端子4−1、5−1、6−1とを備えており、絶縁板2−1、半導体チップ3−1及び第1、第2、第3の端子4−1、5−1、6−1は、上記した本発明の実施の形態1における絶縁板2、半導体チップ3及び第1、第2、第3の端子4、5、6と同構成であるために、同じ符号を付して説明を省略する。
ヒートプレート1−1はCu材から形成してあり、図16に示すように、そのプレート本体1A−1の四隅部には取付け部7が延出してあり、各取付け部7には、ヒートシンクにネジ止めするための取付け穴7bが形成してある。
そして、ヒートプレート1−1のプレート本体1Aには、半田により三枚の絶縁板2−1が接合してあり、また、この絶縁板2−1の板本体2Aには、図15に示すように部分的な半田付け領域として第1の端子4−1の端子本体4Aの両端部4b、4c側が半田付けしてある。
また、図15に示すように、第1の端子4−1の端子本体4Aの中央部には半導体チップ3−1が半田付けしてあり、半導体チップ3−1には、第2の端子5−1が、その基端部の接合部5aで、また、第3の端子6−1が、その基端部でそれぞれ半田付けしてある。上記のように半田接合して構成されたモジュール構成体11−1を樹脂12−1でモールドすることで、パワーモジュール構造A−1が構成してある。
上記したように、絶縁板2−1の板本体2Aと第1の端子4−1との半田接合では、第1の端子4−1の端子本体4Aの両端部4b、4cが半田付けされていて、この半田は従来の半田付け領域より狭い半田付け領域に部分的に形成されることで、第1の端子4−1には応力の束縛が部分的になる。そして、この半田接合部が応力束縛部を構成する。
このパワーモジュール構造A−1は、図14に示すように、その長手方向の両側に、第1、第3の端子4、6の端子部4B、6Bを有すると共に、表側に第2の端子5の端子部(ゲート端子部)5Bが突出しており、更に、パワーモジュール構造A−1には、長手方向の両側に、ヒートシンク(図示せず)に取り付けるためのヒートプレート1−1の取付け部7が延出している。
上記したパワーモジュール構造A−1において、上記したように、第1の端子4−1には複数のスリット4aからなる応力緩和部が形成してあって、反りの原因となる応力が緩和され、しかも、絶縁板2−1の板本体2Aと第1の端子4−1との半田接合では、半田は従来の半田付け領域より狭い半田付け領域に、部分的に形成されることで、第1の端子4−1には応力の束縛が部分的になっているために、反りの発生が抑制され、ヒートプレート1−1のヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、第1の端子4−1の反りが抑制されるために、反りが少なくなる側に熱が伝達されることになって、接合部である半田にストレスがかかってきて、疲労が起こるという不具合がなくなる。
上記した本発明の実施の形態3では、第1の端子4−1には複数のスリット4aからなる応力緩和部が形成したものを使用したが、図9に示すように、第1の端子4−1の端子本体4Aを、基端側部位4g、中部部位4h及び先側部位4iに三分割したもの。また、端子本体4Aを、基端側部位4g、中部部位4h及び先側部位4iに三分割するにあたって、分割部4j、4kを、図10に示すように、鍵型にしたもの。また、図11に示すように、第1の端子4−1として、応力緩和部として端子本体4Aの表面に、その短手方向に沿う凹状溝8を、長手方向に複数形成しているもの。また、応力緩和部として、図12に示すように、端子本体4Aの裏面に、その短手方向に沿う凹状溝9を、長手方向に複数形成することで構成しているものを用いても良い。
上記した本発明の実施の形態3では、ヒートプレート1−1には、ヒートプレート側応力緩和部を形成しないものを用いたが、図17に示すように、ヒートプレート1−1のプレート本体1Aを二分割して、分割部位1a−1、1b−1のそれぞれを、従来の半田付け領域より狭い半田付け領域で、部分的に絶縁板2−1に半田接合して応力束縛部を分散させるようにし、また、分割部1Fで応力緩和部を構成するようにしてもよい。
したがって、ヒートプレート1−1には分割部1Fからなるヒートプレート側応力緩和部が形成してあるために、反りの原因となる応力が緩和され、しかも、ヒートプレート1−1と絶縁板2−1の板本体2Aとの半田接合では、半田は従来の半田付け領域より狭い半田付け領域に、部分的に形成されることで、ヒートプレート1−1には応力の束縛が部分的になっているために、反りの発生が抑制され、ヒートプレート1−1のヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
また、ヒートプレート1−1としては、図18に示すように、そのプレート本体1Aを二分割して、分割部位1a−1、1b−1を、分割部1Fの両側に半田13で接合してヒートプレート側応力緩和部とした構成のもの、図19に示すように、そのプレート本体1Aに片側を残してスリット14を形成してヒートプレート側応力緩和部とした構成のもの、図20に示すように、そのプレート本体1Aに両側を残してスリット15を形成してヒートプレート側応力緩和部とした構成のもの、また、図21に示すように、そのプレート本体1Aの表面に、その長手方向に沿う一条の凹状溝16を形成してヒートプレート側応力緩和部とした構成のもの、また、図22に示すように、そのプレート本体1Aの表面P1に、その短手方向に沿う二条の凹状溝17を、その長手方向に形成してヒートプレート側応力緩和部とした構成のもの、また、図23に示すように、そのプレート本体1Aの表面P1に、その短手方向に沿う二条の凹状溝18と、その長手方向に沿う三条の凹状溝19をそれぞれ形成して、これら凹状溝18、19を格子状に配列してヒートプレート側応力緩和部とした構成のものを用いても良い。
そして、このようなヒートプレート1−1は、従来の半田付け領域より狭い半田付け領域で、部分的に絶縁板2−1に半田接合させる。
したがって、ヒートプレート1−1にはヒートプレート側応力緩和部が形成してあって、反りの原因となる応力が緩和され、しかも、絶縁板2−1の板本体2Aとヒートプレート1−1との半田接合では、半田は従来の半田付け領域より狭い半田付け領域に、部分的に形成されることで、ヒートプレート1−1には応力の束縛が部分的になっているために、反りの発生が抑制され、ヒートプレート1−1のヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができる。
本発明によれば、端子には応力緩和部が設けてあり、この応力束縛部が部分的に形成してあるために、反りの原因となる応力が緩和され、しかも応力の束縛が部分的になって反りの発生を抑制することができ、端子の反りに起因するヒートプレートのヒートシンクへの密着性も改善されて放熱性の問題を解決することができるという効果を有しており、高い信頼性、放熱性を要する電子部品のパワーモジュール及びこれを用いたソリッドステートリレー等に有用である。
本発明に係るパワーモジュール構造を使用したソリッドステートリレーの外観を示す斜視図である。 同ソリッドステートリレーの分解状態の斜視図である。 本発明に係るパワーモジュール構造の実施の形態1の斜視図である。 同パワーモジュール構造において樹脂モールドを除いた状態の斜視図である。 図4のX−X線断面位置での斜視図である。 ヒートプレートの斜視図である。 第1の端子の斜視図である。 本発明に係るパワーモジュール構造の実施の形態2において樹脂モールドを除いた状態の斜視図である。 同パワーモジュール構造に使用する第1の端子の斜視図である。 第1の端子の別の形態例の斜視図である。 第1の端子の他の別の形態例の斜視図である。 第1の端子の他の別の形態例の斜視図である。 ヒートプレートの他の別の形態例の斜視図である。 本発明に係るパワーモジュール構造の実施の形態3の斜視図である。 同パワーモジュール構造であって、樹脂モールドを除いた状態の平面図である。 同パワーモジュール構造におけるヒートプレートの斜視図である。 ヒートプレートの他の形態例の斜視図である。 ヒートプレートの他の別の形態例の斜視図である。 ヒートプレートの他の別の形態例の斜視図である。 ヒートプレートの他の別の形態例の斜視図である。 ヒートプレートの他の別の形態例の斜視図である。 ヒートプレートの他の別の形態例の斜視図である。 ヒートプレートの他の別の形態例の斜視図である。 従来のパワーモジュール構造の斜視図である。 同パワーモジュール構造において、樹脂モールドを除いた状態の斜視図である。 同パワーモジュール構造において、ヒートプレートに絶縁板を半田接合する状態の斜視図である。 同パワーモジュール構造において、絶縁板に第1の端子を半田接合する状態の斜視図である。 同パワーモジュール構造において、第1の端子に半導体チップを半田接合する状態の斜視図である。 同パワーモジュール構造において、半導体チップに第2、第3の端子を半田接合する状態の斜視図である。 パワーモジュール構造における絶縁板と第1の端子との反りの発生のメカニズムの模式図である。 絶縁板に対して第1の端子が熱膨張した状態の模式図である。 絶縁板に対して第1の端子が収縮した状態の模式図である。 絶縁板及び第1の端子に反りが発生した状態の模式図である。
符号の説明
A パワーモジュール構造
A−1 パワーモジュール構造
1 ヒートプレート
1A プレート本体
1F 分割部(応力緩和部)
1a 分割部位
1b 分割部位
1a−1 分割部位
1b−1 分割部位
1−1 ヒートプレート
2 絶縁板(絶縁部材)
2A 板本体
2−1 絶縁板
3 半導体チップ
3−1 半導体チップ
4 第1の端子(端子)
4A 端子本体
4a スリット(応力緩和部)
4b 基端部(片側)
4c 端部
4g 基端側部位
4h 中部部位
4i 先側部位
4j 直線分割部(応力緩和部)
4k 直線分割部(応力緩和部)
4B 端子部
4−1 第1の端子
5 第2の端子
5B 端子部
5−1 第2の端子
6 第3の端子
6A 端子本体
6B 端子部
6−1 第3の端子
7 取付け部
8 凹状溝(応力緩和部)
9 凹状溝(応力緩和部)
10 半田
11 モジュール構成体
11−1 モジュール構成体
12 樹脂
12−1 樹脂
14 スリット
15 スリット
16 凹状溝(ヒートプレート側応力緩和部)
17 凹状溝(ヒートプレート側応力緩和部)
18 凹状溝(ヒートプレート側応力緩和部)
19 凹状溝(ヒートプレート側応力緩和部)
20 ソリッドステートリレー
21 ヒートシンク

Claims (9)

  1. ヒートシングに接触するヒートプレート、絶縁部材、端子及び半導体チップを、順次半田により接合して、前記端子を、その対応する前記半導体チップの接点に接続するようにしたパワーモジュール構造であって、
    前記端子に、当該端子と前記絶縁部材との熱膨張係数の差に起因して発生する応力を緩和する応力緩和部を設けると共に、前記端子を前記絶縁部材に半田付けする半田接合領域である応力束縛部を部分的に形成するようにしたことを特徴とするパワーモジュール構造。
  2. 前記応力束縛部が前記端子の片側であることを特徴とする請求項1に記載のパワーモジュール構造。
  3. 前記応力束縛部が前記端子の両側にあることを特徴とする請求項1に記載のパワーモジュール構造。
  4. 前記応力緩和部が、前記端子に形成した複数のスリットであることを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れかの一に記載のパワーモジュール構造。
  5. 前記端子を、その長手方向に分割して、この分割部を前記応力緩和部にすると共に、前記端子の分割部位を前記絶縁部材に半田付けすることで前記応力束縛部を分散させるようにしたことを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れかの一に記載のパワーモジュール構造。
  6. 前記応力緩和部は、前記端子の表面に形成した凹状溝であることを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れかの一に記載のパワーモジュール構造。
  7. 前記応力緩和部は、前記端子の裏面に形成した凹状溝であることを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れかの一に記載のパワーモジュール構造。
  8. 前記ヒートプレートにヒートプレート側応力緩和部を形成するようにしたことを特徴とする請求項1乃至請求項7の何れかの一に記載のパワーモジュール構造。
  9. 請求項1乃至請求項8の何れかの一に記載のパワーモジュール構造を用いて構成したことを特徴とするソリッドステートリレー。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE112010003191T5 (de) 2009-08-06 2012-07-05 Omron Corporation Leistungsmodul
JP2013033876A (ja) * 2011-08-03 2013-02-14 Meidensha Corp 半導体モジュール及びスペーサ
JP2013083162A (ja) * 2011-10-06 2013-05-09 Toyota Motor Corp 通電加熱式触媒装置
JP2013135199A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Toyota Industries Corp 半導体装置
JP2013222886A (ja) * 2012-04-18 2013-10-28 Toshiba Corp 半導体モジュール

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7933126B2 (en) * 2009-03-11 2011-04-26 Schneider Electric USA, Inc. Solid state relay with internal heat sink
WO2012008713A2 (ko) * 2010-07-15 2012-01-19 주식회사 제우스 무접점 릴레이
CN102097416B (zh) * 2010-11-04 2012-11-14 嘉兴斯达微电子有限公司 一种封装结构的大功率模块
KR20150111422A (ko) * 2014-03-21 2015-10-06 엘에스산전 주식회사 자동차용 전장 부품 케이스
CN105451458B (zh) * 2014-08-19 2018-10-30 宁波舜宇光电信息有限公司 一种控制软硬结合板微量变形的方法及pcb基板半成品
US10373892B2 (en) * 2015-02-18 2019-08-06 Te Connectivity Corporation High current high power solid state relay
CN106034374B (zh) * 2015-03-12 2018-10-16 日立汽车系统(苏州)有限公司 防基板变形结构
US11570921B2 (en) * 2015-06-11 2023-01-31 Tesla, Inc. Semiconductor device with stacked terminals
JP1560787S (ja) * 2016-02-29 2016-10-17
US10978366B2 (en) 2017-05-11 2021-04-13 Mitsubishi Electric Corporation Power module having a hole in a lead frame for improved adhesion with a sealing resin, electric power conversion device, and method for producing power module
JP7244339B2 (ja) * 2019-04-19 2023-03-22 株式会社三社電機製作所 半導体モジュール用外部端子

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04343287A (ja) * 1991-05-20 1992-11-30 Denki Kagaku Kogyo Kk 回路基板
JPH05136290A (ja) * 1991-11-11 1993-06-01 Toshiba Corp セラミツクス回路基板
JPH065763A (ja) * 1992-06-22 1994-01-14 Toshiba Corp セラミックス回路基板
JP2003318330A (ja) * 2002-02-25 2003-11-07 Kyocera Corp セラミック回路基板

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3856132T2 (de) 1987-11-17 1998-10-08 Omron Tateisi Electronics Co Halbleiterrelais
DE3931634A1 (de) 1989-09-22 1991-04-04 Telefunken Electronic Gmbh Halbleiterbauelement
JPH0529506A (ja) * 1991-07-25 1993-02-05 Nec Corp 半導体装置
WO2004074210A1 (ja) 1992-07-03 2004-09-02 Masanori Hirano セラミックス-金属複合体およびその製造方法
US5444295A (en) * 1993-09-07 1995-08-22 Delco Electronics Corp. Linear dual switch module
JP3127754B2 (ja) * 1995-01-19 2001-01-29 富士電機株式会社 半導体装置
DE19540814A1 (de) 1995-11-02 1997-05-07 Vdo Schindling Platine
JP3168901B2 (ja) * 1996-02-22 2001-05-21 株式会社日立製作所 パワー半導体モジュール
JP3722573B2 (ja) 1996-12-11 2005-11-30 電気化学工業株式会社 セラミックス基板及びそれを用いた回路基板とその製造方法
US5895974A (en) * 1998-04-06 1999-04-20 Delco Electronics Corp. Durable substrate subassembly for transistor switch module
JPH11330283A (ja) * 1998-05-15 1999-11-30 Toshiba Corp 半導体モジュール及び大型半導体モジュール
US6050832A (en) 1998-08-07 2000-04-18 Fujitsu Limited Chip and board stress relief interposer
JP4009056B2 (ja) * 2000-05-25 2007-11-14 三菱電機株式会社 パワーモジュール
KR200218429Y1 (ko) * 2000-06-23 2001-04-02 이원구 방열효율이 향상된 방열판
US6958535B2 (en) * 2000-09-22 2005-10-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Thermal conductive substrate and semiconductor module using the same
JP4460791B2 (ja) * 2001-03-09 2010-05-12 日本インター株式会社 半導体装置用ヒートシンク
JP3910497B2 (ja) * 2002-07-03 2007-04-25 株式会社オートネットワーク技術研究所 電力回路部の防水方法及び電力回路部をもつパワーモジュール
JP4057407B2 (ja) * 2002-12-12 2008-03-05 三菱電機株式会社 半導体パワーモジュール
DE102004007180B4 (de) * 2003-02-14 2015-10-22 Autonetworks Technologies, Ltd. Verteilereinheit und elektrisches Verbindungsgehäuse hiermit
JP4155048B2 (ja) * 2003-02-14 2008-09-24 住友電装株式会社 パワーモジュール及びその製造方法
JP2005142520A (ja) * 2003-10-14 2005-06-02 Sumitomo Electric Ind Ltd パワーモジュール
KR20050065041A (ko) * 2003-12-24 2005-06-29 현대중공업 주식회사 히트싱크 구조
KR200358317Y1 (ko) * 2004-05-18 2004-08-06 하영수 열응력으로 인한 휨을 보상한 전력 반도체 모듈 방열판및 이를 구비한 전력 반도체 모듈

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04343287A (ja) * 1991-05-20 1992-11-30 Denki Kagaku Kogyo Kk 回路基板
JPH05136290A (ja) * 1991-11-11 1993-06-01 Toshiba Corp セラミツクス回路基板
JPH065763A (ja) * 1992-06-22 1994-01-14 Toshiba Corp セラミックス回路基板
JP2003318330A (ja) * 2002-02-25 2003-11-07 Kyocera Corp セラミック回路基板

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE112010003191T5 (de) 2009-08-06 2012-07-05 Omron Corporation Leistungsmodul
US8854820B2 (en) 2009-08-06 2014-10-07 Omron Corporation Power module
JP2013033876A (ja) * 2011-08-03 2013-02-14 Meidensha Corp 半導体モジュール及びスペーサ
JP2013083162A (ja) * 2011-10-06 2013-05-09 Toyota Motor Corp 通電加熱式触媒装置
JP2013135199A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Toyota Industries Corp 半導体装置
JP2013222886A (ja) * 2012-04-18 2013-10-28 Toshiba Corp 半導体モジュール

Also Published As

Publication number Publication date
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