JP2007121114A - デューティ検知回路、これらを備えたdll回路及び半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 クロックの一方のレベル検知を半サイクル遅延させ、デューティ検知を2サイクルに1回とする。遅延期間に共通接点の電位を初期設定値とすることで、精確なデューティが検知できる。2分周方式のDLL回路には偶数、奇数のサイクル別にデューティ検知回路を備え、偶数、奇数のサイクルに対しそれぞれのデューティを検知する。これらの構成とすることでクロックに精確にタイミング調整できるDLL回路及び半導体装置が得られる。
【選択図】 図1
Description
2、3、62、63 入力MOSトランジスタ
4、5、6、66、67,68 プリチャージMOSトランジスタ
7、8 AND回路
9 遅延素子
10、73 コンパレータ
31、43 DLL専用入力初段
32、44 分周回路(÷2)
33、45 遅延回路部(ディレイライン)
34、38 DQレプリカ回路
35 Rise_Even位相検知回路
36 Rise_Evenコントローラ
37 Rise_Evenカウンタ
39 Rise_Odd位相検知回路
40 Rise_Oddコントローラ
41 Rise_Oddカウンタ
42 マルチプレクサ(MUX)
46、47 デューティ検知回路
48、49 デューティ補正(DCC)コントローラ
50 Fall_Evenコントローラ
51 Fall_Evenカウンタ
52 Fall_Oddコントローラ
53 Fall_Oddカウンタ
69、72 入力制御回路
Claims (9)
- デューティ検知回路において、1サイクルにおける1つの論理レベル期間は該1つの論理レベルが入力された時点から測定され、他の論理レベル期間は該他の論理レベルが入力された時点から特定の遅延時間だけ遅延されて測定することを特徴とするデューティ検知回路。
- 前期遅延時間に共通接点の電位を初期設定値に再設定することを特徴とする請求項1に記載のデューティ検知回路。
- 前期遅延時間は、サイクルタイムの半分であることを特徴とする請求項1に記載のデューティ検知回路。
- デューティ測定回数は連続した2サイクルに1回であることを特徴とする請求項3に記載のデューティ検知回路。
- 共通接点と接地電位間に接続された電流源回路と、前記共通接点と第1の出力に接続された第1入力トランジスタと、前記共通接点と第2の出力に接続された第2入力トランジスタと、遅延回路とを備え、前記第1の入力トランジスタのゲートには前記1つの論理レベルのときに活性化される信号が入力され、前記第2の入力トランジスタのゲートには前記他の論理レベルのときに活性化される信号が前記遅延回路により遅延されて入力されることを特徴とする請求項1に記載のデューティ検知回路。
- 請求項1に記載のデューティ回路を、偶数番目のサイクルのデューティを検知する第1のデューティ検知回路と、奇数番目のサイクルのデューティを検知する第2のデューティ検知回路として備えたことを特徴とするDLL回路。
- 前記第1のデューティ検知回路からの出力にしたがって前記偶数番目のサイクルのデューティを補正する第1のデューティ補正回路と、前記第2のデューティ検知回路からの出力にしたがって前記奇数番目のサイクルのデューティを補正する第2のデューティ補正回路とを、さらに備えたことを特徴とするDLL回路。
- 前記第1及び第2のデューティ補正回路は、それぞれ前記偶数番目及び奇数番目のサイクルの立下りエッジのタイミングを調整することを特徴とする請求項7に記載のDLL回路。
- 請求項6乃至8のいずれかに記載のDLL回路を備えたことを特徴とする半導体装置。
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