JP2007093302A - 試験装置およびテストヘッド - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被試験デバイスとの間で信号を授受するピンカードを内蔵するテストヘッドと、テストヘッドの上に載置され、ピンカードを被試験デバイスに電気的に接続するマザーボードとを備え、テストヘッドは、テストヘッドの上面において、当該上面と略平行な予め定められた移動方向にマザーボードをスライド可能に保持するテストヘッド側ガイド部と、マザーボードがスライドされることにより、マザーボード下部に設けられたマザーボード側コネクタが、ピンカードにおけるテストヘッドの上面側の辺上に設けられたピンカード側コネクタと対抗する位置に移動された状態において、マザーボードをテストヘッド側に移動させることによりマザーボード側コネクタを対応するピンカード側コネクタに接続する着脱部とを有する試験装置を提供する。
【選択図】図2
Description
なお、現時点で先行技術文献の存在を認識していないので、先行技術文献に関する記載を省略する。
100 メインフレーム
110 テストヘッド
120 マザーボード
125 運搬装置
130 DUT
200 ピンカード
210 コネクタ
220 昇降部
230 ガイドピン
305 デバイス搭載部
310 マザーボード本体
320 マザーボードフレーム
325 レール
330 取っ手
335 ピン穴
400 ガイド部
405 レール支え部
410 ローラ
420 着脱部
430 ガイド支え部
Claims (9)
- 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスとの間で信号を授受するピンカードを内蔵するテストヘッドと、
前記テストヘッドの上に載置され、前記ピンカードを前記被試験デバイスに電気的に接続するマザーボードと
を備え、
前記テストヘッドは、
前記テストヘッドの上面において、当該上面と略平行な予め定められた移動方向に前記マザーボードをスライド可能に保持するテストヘッド側ガイド部と、
前記マザーボードがスライドされることにより、前記マザーボード下部に設けられたマザーボード側コネクタが、前記ピンカードにおける前記テストヘッドの上面側の辺上に設けられたピンカード側コネクタと対抗する位置に移動された状態において、前記マザーボードを前記テストヘッド側に移動させることにより前記マザーボード側コネクタを対応する前記ピンカード側コネクタに接続する着脱部と
を有する試験装置。 - 前記マザーボードは、前記移動方向に延伸する板状のレールを有し、
前記テストヘッド側ガイド部は、前記レールが前記テストヘッドの上面において前記移動方向と垂直な方向にずれないように支えつつ前記レールを前記移動方向に移動させる請求項1に記載の試験装置。 - 前記レールは、前記テストヘッドの上面と平行な板状の形状を有し、
前記テストヘッド側ガイド部は、前記レールが前記テストヘッドの上面における前記移動方向と垂直な方向、および、前記テストヘッドの上面と垂直な方向にずれないように前記レールを支える請求項2に記載の試験装置。 - 前記テストヘッド側ガイド部は、前記レールの下側に設けられ、前記レールを前記移動方向に移動可能に保持するローラを有する請求項3に記載の試験装置。
- 前記着脱部は、前記テストヘッド側ガイド部を前記テストヘッドの上面と略垂直な方向に移動させることにより、前記マザーボードを前記テストヘッドの上面と略垂直な方向に移動させる請求項3に記載の試験装置。
- 前記マザーボードは、前記テストヘッドの上面に装着される位置を合わせるためのマザーボード側位置決め部を下面に有し、
前記テストヘッドは、前記テストヘッドの上面に設けられ、前記マザーボードが前記テストヘッド側に移動した場合に前記マザーボード側位置決め部と嵌合されることにより、前記マザーボード側コネクタおよび前記ピンカード側コネクタの位置を合わせるテストヘッド側位置決め部を更に有する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記マザーボードを運搬する運搬装置を更に備え、
前記運搬装置は、前記テストヘッドに横付けされた状態で前記テストヘッド側ガイド部が前記マザーボードをスライドさせる高さと同一の高さとなるように、前記マザーボードをスライド可能に保持する運搬側ガイド部を有し、
前記マザーボードは、前記運搬側ガイド部から前記移動方向にスライドされて前記テストヘッド側ガイド部の側に移動される
請求項1に記載の試験装置。 - 前記運搬装置は、前記運搬側ガイド部を上下に移動させる昇降部を更に有し、
前記昇降部は、前記マザーボードを前記運搬装置から前記テストヘッドへ移動する場合に、前記運搬側ガイド部の高さが前記テストヘッド側ガイド部と同じ高さとなるように前記運搬ガイド部を上または下に移動させる
請求項7に記載の試験装置。 - 被試験デバイスを試験する試験装置において、前記被試験デバイスとの間で信号を授受するピンカードを内蔵するテストヘッドであって、
当該テストヘッドの上に載置され、前記ピンカードを前記被試験デバイスに電気的に接続するマザーボードを、当該テストヘッドの上面において当該上面と略平行な予め定められた移動方向にスライド可能に保持するテストヘッド側ガイド部と、
前記マザーボードがスライドされることにより、前記マザーボード下部に設けられたマザーボード側コネクタが、前記ピンカードにおける当該テストヘッドの上面側の辺上に設けられたピンカード側コネクタと対抗する位置に移動された状態において、前記マザーボードを当該テストヘッド側に移動させることにより前記マザーボード側コネクタを対応する前記ピンカード側コネクタに接続する着脱部と
を備えるテストヘッド。
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