JP2006516780A5

JP2006516780A5 -

Info

Publication number: JP2006516780A5
Application number: JP2006502871A
Authority: JP
Filing date: 2004-01-16
Publication date: 2010-11-11

Claims

データ処理システム（１０）が有する複数のサブシステム（２４，２５，２６，２７）をデバッグ動作するデバッグ装置であって、前記データ処理システム（１０）は更に、デバッグユニット（１４）とプロセッサ（１２）とを有し、前記サブシステム（２４，２５，２６，２７）それぞれは、制御装置と、周辺装置と、入出力装置と、入出力インターフェースと、ディジタル信号プロセッサとのうちのいずれか１つであり、前記プロセッサ（１２）の複数の動作モードのうち、実際のアプリケーションにおいて使用される動作モードを、実際動作モードと称すると、
前記デバッグ装置は、
前記デバッグユニット（１４）を介して、複数の前記サブシステム（２４，２５，２６，２７）のうち、デバッグ対象としてデバッグ開始前に起動される選択サブシステムを選択し、
前記デバッグユニット（１４）を介して、前記プロセッサ（１２）の前記実際動作モードを変更することなく、前記選択サブシステムの起動レベルを制御し、前記起動レベルは、前記選択サブシステムに電源電圧を供給することと、クロック周波数を供給することとのうちの少なくとも一方を制御し、
前記選択サブシステムは、前記選択サブシステムの起動状態情報を、前記デバッグユニット（１４）に供給し、
前記デバッグユニット（１４）は、前記起動状態情報によって前記起動レベルを認識し、
前記デバッグユニット（１４）を介して、前記起動レベルに基づき前記選択サブシステムをデバッグ動作するように構成されることを特徴とする、デバッグ装置。
前記デバッグ装置は更に、
前記デバッグユニット（１４）を介して、前記起動レベルの制御を解除する、
請求項１記載のデバッグ装置。
前記デバッグ装置は更に、
前記デバッグユニット（１４）を介して、前記制御を解除された前記選択サブシステムを、前記デバッグ動作の開始前に有していた前記起動レベルに設定する、
請求項２記載のデバッグ装置。
複数の前記サブシステム（２４，２５，２６，２７）は、
第１サブシステム（２４）と；
第２サブシステム（２５）と
を備え、
前記デバッグユニット（１４）は、
前記第１サブシステム（２４）に対するデバッグ動作のための電力属性とクロック属性とのうちの少なくとも一方に対応する第１起動制御情報を記憶する第１制御レジスタフィールド（４２）と；
前記第２サブシステム（２５）に対するデバッグ動作のための電力属性とクロック属性とのうちの少なくとも一方に対応する第２起動制御情報を格納する第２制御レジスタフィールド（４３）と；
前記第１サブシステム（２４）に対するデバッグ動作のための第１起動状態情報を示す第１状態レジスタフィールド（４７）と；
前記第２サブシステム（２５）に対するデバッグ動作のための第２起動状態情報を示す第２状態レジスタフィールド（４８）と
を備える、
請求項１記載のデバッグ装置。
データ処理システム（１０）が有する複数のサブシステム（２４，２５，２６，２７）をデバッグ装置がデバッグ動作するデバッグ動作方法であって、前記サブシステム（２４，２５，２６，２７）それぞれは、制御装置と、周辺装置と、入出力装置と、入出力インターフェースと、ディジタル信号プロセッサとのうちのいずれか１つであり、前記データ処理システム（１０）は更に、デバッグユニット（１４）とプロセッサ（１２）とを有し、前記プロセッサ（１２）の複数の動作モードのうち、実際のアプリケーションにおいて使用される動作モードを、実際動作モードと称すると、
前記デバッグ動作方法は、前記デバッグ装置によって、
前記デバッグユニット（１４）を介して、複数の前記サブシステム（２４，２５，２６，２７）のうち、デバッグ対象としてデバッグ開始前に起動される選択サブシステムを選択する選択ステップ（６６）と；
前記デバッグユニット（１４）を介して、前記プロセッサ（１２）の前記実際動作モードを変更することなく、前記選択サブシステムの起動レベルを制御する制御ステップ（６８）であって、前記起動レベルは、前記選択サブシステムに電源電圧を供給することと、クロック周波数を供給することとのうちの少なくとも一方を制御することと；
前記選択サブシステムが、前記選択サブシステムの起動状態情報を、前記デバッグユニット（１４）に供給する供給ステップ（７０）であって、前記デバッグユニット（１４）は、前記起動状態情報を用いることによって前記起動レベルを認識することと；
前記デバッグユニット（１４）を介して、前記起動レベルに基づき前記選択サブシステムをデバッグ動作する動作ステップ（７２）と
を有することを特徴とする、デバッグ動作方法。
前記デバッグ動作方法は更に、
前記デバッグユニット（１４）を介して、前記起動レベルの制御を解除する解除ステップ（７４）と
を有する、
請求項５記載のデバッグ動作方法。
前記解除ステップ（７４）では、
前記デバッグユニット（１４）を介して、前記制御を解除された前記選択サブシステムを、前記デバッグ動作の開始前に有していた前記起動レベルに設定する、
請求項６記載のデバッグ動作方法。
複数の前記サブシステム（２４，２５，２６，２７）は、
第１サブシステムと；
第２サブシステムと
を備え、
前記デバッグユニット（１４）は、
前記第１サブシステムに対するデバッグ動作のための電力属性とクロック属性とのうちの少なくとも一方に対応する第１起動制御情報を記憶する第１制御レジスタフィールドと；
前記第２サブシステムに対するデバッグ動作のための電力属性とクロック属性とのうちの少なくとも一方に対応する第２起動制御情報を格納する第２制御レジスタフィールドと；
前記第１サブシステムに対するデバッグ動作のための第１起動状態情報を示す第１状態レジスタフィールドと；
前記第２サブシステムに対するデバッグ動作のための第２起動状態情報を示す第２状態レジスタフィールドと
を備える、
請求項５記載のデバッグ動作方法。