JP2006293222A - 焦点検出装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 分割素子の受光面のサイズと受光スポットのサイズを最適化できる焦点検出装置を提供する。
【解決手段】 2分割受光素子14の直前にピンホール13を設置し、ピンホール13を通過した反射光を2分割受光素子14に結像させることで、焦点位置が2分割受光素子14の受光面より大きくずれたときのスポットSの一部を遮光して2分割受光素子14で受光される光量を制限する。
【選択図】 図1
【解決手段】 2分割受光素子14の直前にピンホール13を設置し、ピンホール13を通過した反射光を2分割受光素子14に結像させることで、焦点位置が2分割受光素子14の受光面より大きくずれたときのスポットSの一部を遮光して2分割受光素子14で受光される光量を制限する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、光学系を用いて被検体の観察、測定、検査を行なう光学装置に適用される焦点検出装置に関するものである。
最近、光学装置、特に、顕微鏡は、工業分野における製品の観察、測定、検査などの工程に広く用いられる傾向にあるが、このような顕微鏡は、被検体に対して効率よく焦点検出できることが、工程のスループット向上のために極めて重要になっている。
図10は、従来の焦点検出装置の一例を示すもので、レーザーダイオード(LD)101から出射したレーザービームは、コリメータレンズ102を介して平行光束となり、さらに、光路中に配置された遮蔽板103によって、その半分の光束が遮光され、残り半分の光束が偏光ビームスプリッタ104に照射される。偏光ビームスプリッタ104によって反射されたレーザービームは、1/4波長板105及び対物レンズ106を介して被検体107の表面108に集光される。被検体107の表面108から反射した反射光は、再び、対物レンズ106及び1/4波長板105を介して偏光ビームスプリッタ104に照射される。偏光ビームスプリッタ104を透過した反射光は、本来反射光の無い側の半分の光束が制限エッジ109によって遮光され、残り半分の光束が集光レンズ110を介して2分割受光素子111に結像される(結像位置点R)。
この場合、2分割受光素子111は、2つの受光面J、Kを備えており、これら受光面J、Kでそれぞれ受光した光量に対応した電流信号を出力する機能を有している。これら受光面J、Kから出力された電流信号は、不図示の電流電圧変換回路に送られ、ここで電圧信号に変換され、受光量に対応した電圧信号として出力される。
図11(a)は、被検体107位置を横軸とした場合の2分割受光素子111の2つの受光面J、Kから出力される電圧信号J、Kの変化特性を示している。このような変化特性を有する電圧信号J、Kは、それぞれ対応する焦点検出部(不図示)に入力され、所定の演算が施されて焦点検出信号として出力される。図11(b)は、電圧信号J、Kに対して演算が施された結果得られた信号特性が示されており、かかる信号特性から焦点検出信号が求められるようになる。同図において、点線Lは、(J−K)/(J+K)の演算結果から得られた信号特性を示し、実線Mは、(J−K)の演算結果から得られた信号特性を示している。これら2つの信号特性は、図示のようにS字状をしており、これらS字特性をもつ信号特性L、Mのゼロクロス信号に基づいて焦点検出信号が求められ、この焦点検出信号から合焦位置が算出される。
そして、この結果に基づいて、不図示の制御部により図10の準焦機構112を制御して、ステージ113を上下方向に移動させ、被検体107を合焦位置へ移動するようにしている。
さらに、このような焦点検出装置において、焦点検出の速度を上げるため、以下述べる方法も実用化されている。図11(c)は、電圧信号J、Kを加算した結果得られた信号特性を実線Nで示しており、この信号特性Nにおける電圧レベルP以上の範囲を検出し、この範囲、つまり横軸に示す被検体107の位置における区間Qの範囲を焦点近傍範囲として認識する。そして,この焦点近傍範囲(区間Q)内では、準焦機構112を高精度に合焦しうる速度で低速駆動し、これ以外の範囲、つまり焦点近傍範囲(区間Q)の外では、準焦機構112を高速駆動することで、より高速な焦点検出を行うようにしている。
ところで、図11(c)に示す実線N上の各点t,u,w,x,yでの2分割受光素子111の受光面J、K上の受光スポットの様子は、図12(a)〜(e)に示すようになる。同図(a)は、焦点位置が受光面J、Kより内側に大きくずれた点tでの受光スポットの様子で、スポットSのサイズは、大きく受光面Kをはみだしている。同図(b)は、焦点位置が受光面J、Kより内側に僅かにずれた点uでの受光スポットの様子で、スポットSのサイズは,受光面Kに収まる程度になっている。同図(c)は、焦点位置が受光面J、K上の点wでの受光スポットの様子で、スポットSのサイズは、最小となり受光面J、Kの両方にかかるようになる。さらに、同図(d)は、焦点位置が受光面J、Kより外側に僅かにずれた点xでの受光スポットの様子で、スポットSのサイズが受光面Jに収まる程度になっている。そして、同図(e)は、焦点位置が受光面J、Kより外側に大きくずれた点yでの受光スポットの様子で、スポットSのサイズは,大きく受光面Jをはみだしている。
従って、これらの関係から、焦点近傍範囲(区間Q)が決定されるようになり、このため受光面J、Kのサイズと受光スポットSのサイズの関係が適切であることが重要である。仮に、これらの関係が適切でなく、例えば、2分割受光素子111の受光面J、Kが受光スポットSに対して必要以上に広いような場合は、焦点近傍範囲(区間Q)が不要に広くなって、それだけ低速駆動する範囲が広くなり、合焦位置への移動に時間がかかってしまうという問題が生じる。また、対物レンズの特牲の違いによっても上記問題が発生する。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、分割素子の受光面のサイズと受光スポットのサイズを最適化できる焦点検出装置を提供することを目的とする。
請求項1記載の発明は、対物レンズの光軸に垂直な面上で2分された領域の一方に沿って光源から出射された光が被検体に照射されるとともに、他方の領域に沿って前記被検体から反射された光が複数の受光面を有する受光手段により受光され、該受光手段の複数の受光面で受光された光量に基づいて焦点検出を行なう焦点検出装置において、前記受光手段の複数の受光面で受光される前記被検体からの反射光の受光量を制限する受光量制限手段を備えたことを特徴としている。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、受光量制限手段は、前記複数の受光面での前記被検体からの反射光の受光範囲を制限する遮光手段からなることを特徴としている。
請求項3記載の発明は、請求項2記載の発明において、前記遮光手段は、遮光範囲を変更可能にしたことを特徴としている。
請求項4記載の発明は、請求項2又は3記載の発明において、前記遮光手段は、前記反射光の光路上の中間結像位置又は前記受光手段の受光面近傍に配置されることを特徴としている。
請求項5記載の発明は、請求項2乃至4のいずれかに記載の発明において、前記遮光手段は、ピンホールからなることを特徴としている。
請求項6記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記受光手段は、少なくとも4つ以上の受光面を有し、前記受光量制限手段は、前記4つ以上の受光面を選択可能としたことを特徴としている。
請求項7記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記被検体から反射された光の光路を複数に分割する光路分割手段をさらに有し、前記受光手段は、受光範囲の異なる受光面を有する複数の受光手段からなり、これら受光手段が前記光路分割手段で分割された光路上に各別に配置され、前記受光量制限手段は、前記複数の受光手段を選択可能としたことを特徴としている。
本発明によれば、分割素子の受光面のサイズと受光スポットのサイズを最適化できる焦点検出装置を提供できる。
以下、本発明の実施の形態を図面に従い説明する。
(第1の実施の形態)
図1は、本発明の第1の実施の形態にかかる焦点検出装置の概略構成を示している。
図1は、本発明の第1の実施の形態にかかる焦点検出装置の概略構成を示している。
図1において、1は光源としてのレーザーダイオード(LD)で、このレーザーダイオード(LD)1は、赤外波長のレーザービームを出射する。レーザーダイオード(LD)1から出射されるレーザービームの光路上には、コリメータレンズ2、遮蔽板3、偏光ビームスプリッタ4が配置されている。コリメータレンズ2は、レーザーダイオード(LD)1から出射されるレーザービームを平行光束に規制する。遮蔽板3は、後述する対物レンズ9の光軸に垂直な面上で2分される領域の一方を確保するもので、コリメータレンズ2により規制された平行光束のうちの半分の光束を遮光する。偏光ビームスプリッタ4は、遮蔽板3により遮光された残り半分の光束を反射し、後述する被検体10からの反射光を透過するようになっている。
偏光ビームスプリッタ4の反射光路には、第1の中間結像レンズ5、第2の中間結像レンズ6、1/4波長板7およびダイクロイックミラー8が配置されている。第1の中間結像レンズ5は、コリメータレンズ2からの平行光束を中間結像点Fに結像する。第2の中間結像レンズ6は、中間結像点Fで結像されたレーザービームを再び平行光束に変更する。1/4波長板7は、レーザービームを直線偏光から円偏光に変換するものである。ダイクロイックミラー8は、赤外波長を反射して可視光を透過する特性を有するもので、上方の観察光学系(不図示)に対して焦点検出目的の赤外光の影響を与えないために挿入されている。ダイクロイックミラー8の反射光路には、対物レンズ9を介して被検体10が配置されている。
一方、偏光ビームスプリッタ4の被検体10側から見た透過光路には、制限エッジ11、集光レンズ12、受光量制限手段をなす遮光手段としてのピンホール13および受光手段としての2分割受光素子14が配置されている。制限エッジ11は、対物レンズ9の光軸に垂直な面上で2分される領域の他方を確保するもので、本来反射光の無い側の半分の光束を遮光する。集光レンズ12は、制限エッジ11で制限を受けない残り半分の光束を集光するものである。ピンホール13は、2分割受光素子14の直前に設置される円形の穴からなるもので、ピンホール13を通過した反射光のみを2分割受光素子14に結像(結像位置点R)させるようにしている。2分割受光素子14は、上述したと同様に2つの受光面J、Kを有するもので、ピンホール13を通過した反射光を受光し、光量に対応した電流信号を出力する機能を有している。
2分割受光素子14には、制御部15が接続されている。制御部15は、不図示の電流電圧変換回路を有するもので、2分割受光素子14からの電流信号を電圧信号に変換し、この電圧信号に基づいて焦点検出信号を求め、さらに、この焦点検出信号により準焦機構16を制御して、被検体10を載置したステージ17を上下方向に移動させ、被検体10を合焦位置へ移動させるようになっている。
次に、このように構成した実施の形態の作用を説明する。
レーザーダイオード(LD)1より赤外波長のレーザービームが出射されると、この赤外波長のレーザービームは、コリメータレンズ2を介して平行光束に規制され、光路中に配置された遮蔽板3によって、その半分の光束が遮光される。遮蔽板3を通過した残り半分の光束は、偏光ビームスプリッタ4に照射される。そして、偏光ビームスプリッタ4で反射さたレーザービームは、第1の中間結像レンズ5を透過して中間結像点Fで結像され、第2の中間結像レンズ6を透過して平行光束になった後、1/4波長板7を介してダイクロイックミラー8に照射される。
ダイクロイックミラー8は、赤外波長を反射して可視光を透過する特性を有しており、ダイクロイックミラー8を反射されたレーザービームは、対物レンズ9を透過して被検体10の表面10aに集光される。
被検体10の表面10aから反射した光は、再び、対物レンズ9を透過し、ダイクロイックミラー8で反射され、1/4波長板7、第2の中間結像レンズ6、中間結像点F及び第1の中間結像レンズ5、偏光ビームスプリッタ4を透過する。偏光ビームスプリッタ4を透過した反射光は、本来反射光の無い側の半分の光束が制限エッジ11によって遮光され、残り半分の光束が集光レンズ12を透過し、ピンホール13を通過した反射光のみが2分割受光素子14に結像される(結像位置R)。
図2は、ピンホール13上での反射光のスポットの様子を示し、図3は、ピンホール13を通過した反射光が2分割受光素子14の受光面に集光される様子を示している。
図2(a)は、焦点位置が2分割受光素子14の受光面より内側に大きくずれたときのスポットSの様子で、スポットSのサイズは、ピンホール13より大きくなっている。この場合、図3(a)に示すようにピンホール13は、スポットSの一部を遮光して、2分割受光素子14に入射する光束を制限するようになり、ピンホール13を通過した光束は、受光面Kで受光される。
図2(b)は、焦点位置が2分割受光素子14の受光面より内側に僅かにずれたときのスポットの様子で、スポットSのサイズは、ピンホール13に収まる程度になっている。この場合、図3(b)に示すようにピンホール13は、スポットSの全てを通過するようになり、ピンホール13を通過した光束は、受光面Kで受光される。
図2(c)は、焦点位置が2分割受光素子14の受光面上にある場合のスポットの様子で、スポットSのサイズは、最小となりピンホール13の中心部を通過するようになる。この場合、図3(c)に示すようにピンホール13は、スポットSの全てを通過するようになり、ピンホール13を通過した光束は、受光面K、Jで受光される。
図2(d)は、焦点位置が2分割受光素子14の受光面より外側に僅かにずれたときのスポットの様子で、スポットSのサイズは、ピンホール13に収まる程度になっている。この場合、図3(b)に示すようにピンホール13は、スポットSの全てを通過するようになり、ピンホール13を通過した光束は、受光面Jで受光される。
そして、図2(e)は、焦点位置が2分割受光素子14の受光面より外側に大きくずれたときのスポットの様子で、スポットSのサイズは、ピンホール13より大きくなっている。この場合、図3(e)に示すようにピンホール13は、スポットSの一部を遮光して、2分割受光素子14に入射する光束を制限するようになり、ピンホール13を通過した光束は、受光面Jで受光される。
2分割受光素子14は、受光面J,Kで受光した光量に対応した電流信号を出力する。これら受光面J、Kから出力された電流信号は、制御部15に送られ、不図示の電流電圧変換回路で電圧信号に変換され、受光量に対応した電圧信号として出力される。この場合、も、上述したように図11(a)に示す電圧信号J、Kの変化特性が求められ、これら電圧信号J、Kに対して演算が施された結果から同図(b)に示す信号特性が求められる。そして、かかる信号特性から焦点検出信号が求められる。同図において、点線Lは、(J−K)/(J+K)の演算結果から得られた信号特性を示し、実線Mは、(J−K)の演算結果から得られた信号特性を示している。これら2つの信号特性は、図示のようにS字状をしており、これらS字特性をもつ信号特性L、Mのゼロクロス信号に基づいて焦点検出信号が求められ、この焦点検出信号から合焦位置が算出される。
そして、この結果に基づいて、制御部15は、準焦機構16を制御し、ステージ17を上下方向に移動させ、被検体10を合焦位置へ移動させる。
図4は、電圧信号J、Kを加算した結果得られた信号特性を実線N2で示している。この場合、実線N2上の各点t’,u’,w’,x’,y’は、上述した図2(a)〜(e)、図3(a)〜(e)の説明に相当するものである。このうち点t’に相当する、焦点位置が2分割受光素子14の受光面より内側に大きくずれている場合(図2(a)参照)は、図3(a)に示すようにピンホール13によりスポットSの一部を遮光し、2分割受光素子14に入射する光束を制限することで、2分割受光素子14の受光量に応じた電圧信号を点u’から急激に小さくするようにしている。同様に、点y’に相当する焦点位置が2分割受光素子14の受光面より外側に大きくずれている場合(図2(e)参照)も、図3(e)に示すようにピンホール13によりスポットSの一部を遮光し、2分割受光素子14に入射する光束を制限することで、2分割受光素子14の受光量に応じた電圧信号を点x’から急激に小さくするようにしている。
これにより、この信号特性N2における電圧レベルP以上の範囲を検出し、この範囲、つまり横軸に示す被検体10の位置における区間Q2の範囲を焦点近傍範囲として設定すると、この時の焦点近傍範囲(区間Q2)は、上述した図11(c)で述べたピンホール13を挿入していない場合の信号特性を実線N1としたときの焦点近傍範囲(区間Q1)と比べて、大幅に狭く設定することが可能となる。つまり、ピンホール13を挿入したことにより、Q2<Q2の関係が得られる。これにより、焦点近傍範囲(区間Q2)内で、準焦機構16を高精度に合焦しうる速度で低速駆動し、これ以外の範囲、つまり焦点近傍範囲(区間Q2)の外では、準焦機構16を高速駆動すれば、低速駆動する区間を短くすることができ、さらに高速かつ高精度な焦点検出を行うことが可能となる。この場合、ピンホール13の径を大きくすれば、それに応じてQ2の範囲(幅)が広がり、また、ピンホール13の径を小さくすれば、それに応じてQ2の範囲(幅)が狭くなることから、ピンホール13の径に応じてQ2の範囲(幅)を任意に変えることもできる。
したがって、このようにすれば、2分割受光素子14の直前にピンホール13を設置し、ピンホール13を通過した反射光を2分割受光素子14で受光させ、焦点位置が2分割受光素子14の受光面より大きくずれたときのスポットSの一部を遮光して2分割受光素子14で受光される光量を制限するようにしたので、焦点近傍範囲(区間Q2)を大幅に狭く設定することが可能となる。これにより、準焦機構16を高精度に合焦するための速度を低速駆動する区間を最小範囲に抑えることができるようになり、高速かつ高精度な焦点検出を行うことが可能となる。
なお、上述の実施の形態では、ピンホール13を円形の孔としたが、これに限らず、例えば、図5(a)に示すような正方形の孔13a、同図(b)に示す長方形の孔13b、同図(c)に示すような長円形の孔13cなどの他の形状とすることも可能である。特に、受光スポットがマルチスポット形状(図示S’)である場合は、同図(b)に示す長方形の孔13bや同図(c)に示すような長円形の孔13cが好ましい。
また、ピンホール13は、1つに限らず、大きさの異なる複数のピンホールを用意し、被検体の特性や対物レンズの特性に合わせて、電動もしくは手動で光路中に切り替えるようにしたり、あるいは電動もしくは手動によりピンホールの大きさを連続的に変更するようにすることで、最速かつ高精度の焦点検出装置が実現可能であることはいうまでもない。
さらに、ピンホール13の配置場所は、2分割受光素子14の直前に限らず、第1の中間結像レンズ5と第2の中間結像レンズ6の間の中間結像点Fに配置することも可能である。
(第2の実施の形態)
次に、本発明の第2の実施の形態を説明する。
次に、本発明の第2の実施の形態を説明する。
第1の実施の形態では、2分割受光素子を用いた例を述べたが、この第2の実施の形態では、4分割受光素子を用いている。
なお、この第2の実施の形態にかかる焦点検出装置の概略構成は、図1と同様なので、同図を援用するものとする。
図6は、4分割受光素子21を示し、図7は、検出回路を示している。この4分割受光素子21は、長方形の受光面J1、J2、K1、K2を並べて配置したもので、このうち受光面J1、J2には、スイッチSJ1、SJ2を各別に介して電流電圧変換加算器22が接続され、また、受光面K1、K2には、スイッチSK1、SK2を各別に介して電流電圧変換加算器23が接続されている。電流電圧変換加算器22は、スイッチSJ1、SJ2を介して与えられる受光面J1、J2からの電流信号を加算して加算電流信号J1を出力し、電流電圧変換加算器23は、スイッチSK1、SK2を介して与えられる受光面K1、K2からの電流信号を加算して加算電流信号K1を出力するようになっている。また、スイッチSJ1、SJ2およびスイッチSK1、SK2は、被検体の特性や対物レンズの特性に応じた受光スポットSの大きさによって切換えられるようになっており、例えば、受光スポットSが大きい場合は、スイッチSJ1、SJ2およびスイッチSK1、SK2を全て閉成して受光面J1、J2からの電流信号を電流電圧変換加算器22に、受光面K1、K2からの電流信号を電流電圧変換加算器23に出力し、逆に、受光スポットSが小さい場合は、スイッチSJ2、SK2を閉成し、スイッチSJ1、SK1を開放して、受光面J2、K2からの電流信号のみを電流電圧変換加算器22、23に出力するようになっている。また、このときの電流電圧変換加算器22、23からの加算電流信号J1、K1は、上述した制御部15に送られ、電流電圧変換回路で電圧信号に変換された後、図4に示す信号特性が求められる。この場合、スイッチSJ1、SJ2およびスイッチSK1、SK2を全て閉成した場合、制御部15で求められる信号特性は、図4に示す破線N1で表わされ、一方、スイッチSJ2、SK2を閉成し、スイッチSJ1、SK1を開放した場合、制御部15で求められる信号特性は、図4に示す実線N2で表わすことができる。
これにより、被検体の特性や対物レンズの特性に応じた受光スポットSの大きさに応じてスイッチSJ1、SJ2およびスイッチSK1、SK2の開閉を選択することにより、特に、受光スポットSが小さい場合に、信号特性を実線N1として焦点近傍範囲(区間Q2)を大幅に狭く設定することができるので、低速駆動する区間を短く設定することが可能となり、高速かつ高精度な焦点検出を行うことが実現可能となる。
なお、4分割受光素子21は、図6に示すように長方形の受光面J1、J2、K1、K2を並べた形状に限らず、図8に示すように半円状の2個の受光面J12、K12と円弧状の2個の受光面J11、K11を同心円状に配置するようにしたものであってもよい。勿論、その他の形状であっても4分割形状のものであればよい。さらに、上述では、4分割受光素子21について述べたが、これに限らず、6分割受光素子、8分割受光素子など、多数の受光面を有する多分割受光素子を適用することもできる。
(第3の実施の形態)
次に、本発明の第3の実施の形態を説明する。
次に、本発明の第3の実施の形態を説明する。
この場合、この第3の実施の形態にかかる焦点検出装置全体の概略構成は、図1と同様なので、ここでは要部の概略構成のみを示し、他の部分は、図1を援用するものとする。
図9は、第3の実施の形態にかかる焦点検出装置の要部の概略構成を示している。この場合、集光レンズ12の後方には、ハーフミラー25が配置されている。そして、このハーフミラー25の透過光路上には、比較的広い受光面J21、K21を有する2分割受光素子26が配置され、また、反射光路上には、比較的狭い受光面J22、K22を有する2分割受光素子27が配置されている。
2分割受光素子26は、受光面J21が切換えスイッチSJ11の一方の接点に接続され、受光面K21が切換えスイッチSK11の一方の接点に接続されている。また、2分割受光素子27は、受光面J22が切換えスイッチSJ11の他方の接点に接続され、受光面K22が切換えスイッチSK11の他方の接点に接続されている。そして、切換えスイッチSJ11の切換え接点は、電流電圧変換器28に、切換えスイッチSK11の切換え接点は、電流電圧変換器29に接続されている。これら電流電圧変換器28、29は、電流信号を電圧信号に変換するもので、それぞれ電圧信号J、Kを出力するようになっている。また、切換えスイッチSJ11、SK11は、被検体の特性や対物レンズの特性に応じた受光スポットSの大きさによって切換えられるようになっており、例えば、受光スポットSが大きい場合は、2分割受光素子26側(図示ではこの状態を示している。)に、逆に、受光スポットSが小さい場合は、2分割受光素子27側に切換えられる。
また、このときの2分割受光素子26からの電流信号は、電流電圧変換器28で電圧信号に変換され、制御部15に送られ、図4に示す信号特性が求められ、同様に、2分割受光素子27からの電流信号は、電流電圧変換器29で電圧信号に変換され、制御部15に送られ、図4に示す信号特性が求められる。この場合、切換えスイッチSJ11、SK11が2分割受光素子26側に切換えられた場合、制御部15で求められる信号特性は、図4に示す破線N1で表わされ、一方、切換えスイッチSJ11、SK11が2分割受光素子27側に切換えられた場合、制御部15で求められる信号特性は、図4に示す実線N2で表わされる。
これにより、被検体の特性や対物レンズの特性に応じた受光スポットSの大きさに応じて、切換えスイッチSJ11、SK11の切換え方向を選択することにより、特に、受光スポットSが小さい場合に、信号特性を実線N1として焦点近傍範囲(区間Q2)を大幅に狭く設定することができるので、低速駆動する区間を短く設定することが可能となり、高速かつ高精度な焦点検出を行うことが実現可能となる。
なお、上述した実施の形態では、ハーフミラー25により光路を2つに分割するようにしたが、これに限らず、3つ以上に分割して、それぞれの光路に受光面積の異なる2分割受光素子を配置する構成とすることも可能である。また、上述した実施の形態では、ハーフミラー25で分割された光路上には、比較的広い受光面J21、K21を有する2分割受光素子26と比較的狭い受光面J22、K22を有する2分割受光素子27が配置される例を述べたが、これら2分割受光素子26,27に代えて、第1の実施の形態で述べた大きさの異なるピンホールを有する焦点検出装置を配置するようにしてもよい。また、スイッチ切換えなしで双方の受光を演算し、焦点検出するようにしてもよい。
その他、本発明は、上記実施の形態に限定されるものでなく、実施段階では、その要旨を変更しない範囲で種々変形することが可能である。
さらに、上記実施の形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出できる。例えば、実施の形態に示されている全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題を解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出できる。
1…レーザーダイオード、2…コリメータレンズ
3…遮蔽板、4…偏光ビームスプリッタ
5…第1の中間結像レンズ、6…第2の中間結像レンズ
7…1/4波長板、8…ダイクロイックミラー
9…対物レンズ、10…被検体
10a…表面、11…制限エッジ
12…集光レンズ、13…ピンホール
13a〜13c…孔
14…2分割受光素子、J、K…受光面
15…制御部、16…準焦機構
17…ステージ、21…4分割受光素子
22.23…電流電圧変換加算器
J1.J2、K1.K2…受光面
SJ1.SJ2、SK1.SK2…スイッチ
J11.K11、J12.K12…受光面
25…ハーフミラー、26、27…2分割受光素子
28.29…電流電圧変換器、
J21.K21、J22.K22…受光面
SJ11、SK11…スイッチ
3…遮蔽板、4…偏光ビームスプリッタ
5…第1の中間結像レンズ、6…第2の中間結像レンズ
7…1/4波長板、8…ダイクロイックミラー
9…対物レンズ、10…被検体
10a…表面、11…制限エッジ
12…集光レンズ、13…ピンホール
13a〜13c…孔
14…2分割受光素子、J、K…受光面
15…制御部、16…準焦機構
17…ステージ、21…4分割受光素子
22.23…電流電圧変換加算器
J1.J2、K1.K2…受光面
SJ1.SJ2、SK1.SK2…スイッチ
J11.K11、J12.K12…受光面
25…ハーフミラー、26、27…2分割受光素子
28.29…電流電圧変換器、
J21.K21、J22.K22…受光面
SJ11、SK11…スイッチ
Claims (7)
- 対物レンズの光軸に垂直な面上で2分された領域の一方に沿って光源から出射された光が被検体に照射されるとともに、他方の領域に沿って前記被検体から反射された光が複数の受光面を有する受光手段により受光され、該受光手段の複数の受光面で受光された光量に基づいて焦点検出を行なう焦点検出装置において、
前記受光手段の複数の受光面で受光される前記被検体からの反射光の受光量を制限する受光量制限手段を備えたことを特徴とする焦点検出装置。 - 受光量制限手段は、前記複数の受光面での前記被検体からの反射光の受光範囲を制限する遮光手段からなることを特徴とする請求項1記載の焦点検出装置。
- 前記遮光手段は、遮光範囲を変更可能にしたことを特徴とする請求項2記載の焦点検出装置。
- 前記遮光手段は、前記反射光の光路上の中間結像位置又は前記受光手段の受光面近傍に配置されることを特徴とする請求項2又は3記載の焦点検出装置。
- 前記遮光手段は、ピンホールからなることを特徴とする請求項2乃至4のいずれかに記載の焦点検出装置。
- 前記受光手段は、少なくとも4つ以上の受光面を有し、
前記受光量制限手段は、前記4つ以上の受光面を選択可能としたことを特徴とする請求項1記載の焦点検出装置。 - 前記被検体から反射された光の光路を複数に分割する光路分割手段をさらに有し、
前記受光手段は、受光範囲の異なる受光面を有する複数の受光手段からなり、これら受光手段が前記光路分割手段で分割された光路上に各別に配置され、
前記受光量制限手段は、前記複数の受光手段を選択可能としたことを特徴とする請求項1記載の焦点検出装置。
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- 2006-04-12 US US11/403,068 patent/US20060231730A1/en not_active Abandoned
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