JP2006287881A - 表面弾性波ディバイスの製造方法 - Google Patents

表面弾性波ディバイスの製造方法 Download PDF

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拓夫 工藤
Takeshi Ikeda
剛 池田
Takashi Sato
崇 佐藤
Kyosuke Ozaki
恭輔 尾崎
Yutaka Matsuo
裕 松尾
Toshihiro Meguro
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Abstract

【課題】 安価で、性能の良好なものが得られる表面弾性波ディバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法は、櫛歯電極2と反射器5a、5bの領域全体が絶縁膜6で覆われた状態で、電極部3a、3b上に導体層4が形成されるため、導体層4の形成時には、櫛歯電極2と反射器5a、5bが絶縁膜6で保護されて、櫛歯電極2と反射器5a、5bへの異物の付着が無く、性能の良好なものが得られる。
【選択図】 図16

Description

本発明は携帯電話機等に使用されるアンテナ共用器等に適用して好適な表面弾性波ディバイスの製造方法に関する。
従来の表面弾性波ディバイス、及びその製造方法に関する図面を説明すると、図43は従来の表面弾性波ディバイスの櫛歯電極や反射器を示す平面図、図44は従来の表面弾性波ディバイスの要部断面図、図45は従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1工程を示す要部断面図、図46は従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2工程を示す要部断面図、図47は従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第3工程を示す要部断面図、図48は従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第3工程を示す平面図である。
また、図49は従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第4工程を示す要部断面図、図50は従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第5工程を示す要部断面図、図51は従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第6工程を示す要部断面図、図52は従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第6工程を示す平面図、図53は従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第7工程を示す要部断面図、図54は従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第7工程を示す平面図、図55は従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第8工程を示す要部断面図、図56は従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第9工程を示す要部断面図、図57は従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第9工程を示す要部断面図である。
次に、従来の表面弾性波ディバイスの構成を図43,図44に基づいて説明すると、圧電基板51の一面側には、2つで対をなす1組の櫛歯電極52a,52bと、この櫛歯電極52a,52bに接続された電極部53a,53bと、この電極部53a,53b上に、電極部53a、53bと異種の金属からなる中間層54を介して形成された導体層55と、この導体層55上の一部に形成されたバンプ56と、櫛歯電極52a,2bの両側に隣接して設けられた梯子状の反射器57a,57bと、櫛歯電極52a,52bと反射器57a,57bの領域の全体を覆うように設けられた絶縁膜58を有して、従来の表面弾性波ディバイスが形成されている。(例えば、特許文献1参照)
次に、このような構成を有する従来の表面弾性波ディバイスの製造方法を図45〜図57に基づいて説明すると、先ず、圧電基板51の一面側全面には、ネガ型のレジスト膜60が形成され、マスクを用いて露光した後、露光されなかったレジスト膜60を溶液によって除去して、図45に示すように、露光されたレジスト膜60を残す。
即ち、レジスト膜60は、櫛歯電極52a,52bと反射器57a、57bの隙間部(導体が形成されない箇所)に配置された状態となっている。
次に、図46に示すように、圧電基板51の一面側全体には、導電性材料を蒸着して、導体を形成された後、図47,図48に示すように、レジスト膜60を除去すると、櫛歯電極52a、52bと、電極部53a、53bと、反射器57a、57bと、これ等を電気的に接続する保護導体61が形成される。
次に、図47,図48の一面側全面には、ネガ型のレジスト膜60が形成され、電極部53a、53bをマスクした状態で露光した後、露光されなかった電極部53a、53b上のレジスト膜60を溶液によって除去して、図49に示すように、電極部53a、53b上以外の露光されたレジスト膜60を残す。
次に、図50に示すように、圧電基板51の一面側全面には、導電性材料を蒸着して、中間層54と導体層55となる導体が形成された後、図51,図52に示すように、レジスト膜60を除去すると、電極部53a、53b上には、中間層54を介して導体層55が形成される。
次に、図53,図54に示すように、導体層55の一部には、バンプ56を形成した後、図55に示すように、圧電基板51の一面側全面には、スパッタによって絶縁膜58を形成し、しかる後、図56に示すように、櫛歯電極52a、52bと反射器57a、57bの領域を除く箇所の絶縁膜58を除去する。
次に、図57に示すように、保護導体61をエッチングによって除去して、電極部53a、53bを有した櫛歯電極52a、52bと、反射器57a、57bを独立した状態に形成した後、図44に示すように、絶縁膜58を薄くして、所望の周波数値になるように調整すると、従来の表面弾性波ディバイスの製造が完了する。(例えば、特許文献1参照)
特開2002−374137号公報
従来の表面弾性波ディバイスの製造方法において、圧電基板51の一面側には、櫛歯電極52a、52bと、反射器57a、57bと、これ等を電気的に接続する保護導体61が形成された後、電極部53a、53b上には、中間層54を介して導体層55,及び導体層55上にバンプ56を形成し、この工程の後、絶縁膜58によって、櫛歯電極52a、52bと反射器57a、57bの領域を覆うようにしたため、絶縁膜58を形成するまでの工程で、櫛歯電極52a、52bと反射器57a、57bの領域に異物等が付着して、性能を悪くするという問題がある。
また、中間層54と導体層55の形成時には、中間層54と導体層55の形成領域がレジスト膜60によって形成されるため、製造工程が多くなって、コスト高になるという問題がある。
そこで、本発明は安価で、性能の良好なものが得られる表面弾性波ディバイスの製造方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するための第1の解決手段として、圧電基板と、この圧電基板の一面側に設けられた2つで対をなす少なくとも1組の櫛歯電極と、この櫛歯電極に接続された電極部と、この電極部上に設けられた導体層と、前記櫛歯電極の両側に隣接して設けられた反射器と、前記櫛歯電極と前記反射器の領域全体を覆うように形成された絶縁膜を有した表面弾性波ディバイスを備え、前記圧電基板の一面側には、前記櫛歯電極と、前記反射器と、前記櫛歯電極と前記反射器とを電気的に接続する保護導体が前記櫛歯電極と前記反射器以外の領域全体に形成された後、前記櫛歯電極と前記反射器の少なくとも領域全体を覆うように絶縁膜が形成され、しかる後、前記櫛歯電極と前記反射器の領域全体を前記絶縁膜によって覆った状態で、前記電極部上に前記導体層を形成する工程と、前記保護導体を除去する工程を行うようにした製造方法とした。
また、第2の解決手段として、前記絶縁膜が前記圧電基板の前記一面側全体に形成された後、前記電極部に対応する位置の前記絶縁膜が除去され、しかる後、前記電極部上に前記導体層を形成する工程を行った後、前記櫛歯電極と前記反射器の領域外の前記絶縁膜を除去すると共に、前記保護導体を除去するようにした製造方法とした。
また、第3の解決手段として、前記表面弾性波ディバイスは、複数組の前記櫛歯電極と、複数組の前記櫛歯電極のそれぞれに対応して設けられた前記反射器と、前記櫛歯電極に接続された前記電極部間を繋ぐ接続パターンを有し、前記圧電基板の前記一面側には、前記櫛歯電極と、前記反射器と、前記櫛歯電極と前記反射器とを電気的に接続する前記保護導体が前記櫛歯電極と前記反射器以外の領域全体に形成された後、各組毎の前記櫛歯電極と前記反射器の少なくとも領域全体を覆うように前記絶縁膜が形成され、しかる後、前記櫛歯電極と前記反射器の領域全体を前記絶縁膜によって覆った状態で、前記電極部上と前記接続パターン上に前記導体層を形成する工程と、前記保護導体を除去する工程を行うようにした製造方法とした。
また、第4の解決手段として、前記絶縁膜が前記圧電基板の前記一面側全体に形成された後、前記電極部と前記接続パターンに対応する位置の前記絶縁膜が除去され、しかる後、前記電極部上と前記配線パターン上に前記導体層を形成する工程を行った後、前記櫛歯電極と前記反射器の領域外の前記絶縁膜を除去すると共に、前記保護導体を除去するようにした製造方法とした。
本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法は、櫛歯電極と反射器の領域全体が絶縁膜で覆われた状態で、電極部上に導体層が形成されるため、導体層の形成時には、櫛歯電極と反射器が絶縁膜で保護されて、櫛歯電極と反射器への異物の付着が無く、性能の良好なものが得られる。
また、絶縁膜が圧電基板の一面側全体に形成された後、電極部に対応する位置の絶縁膜が除去され、しかる後、電極部上に導体層を形成する工程を行うため、導体層の形成領域が絶縁膜によって形成され、従って、導体層を形成のためのレジスト膜が不要となり、製造工程が少なくなって、安価なものが得られる。
また、各組毎の櫛歯電極と反射器の領域全体が絶縁膜で覆われた状態で、電極部上に導体層が形成されるため、導体層の形成時には、櫛歯電極と反射器が絶縁膜で保護されて、櫛歯電極と反射器への異物の付着が無く、性能の良好なものが得られる。
また、絶縁膜が圧電基板の一面側全体に形成された後、電極部と接続パターンに対応する位置の絶縁膜が除去され、しかる後、電極部上と接続パターン上に導体層を形成する工程を行うため、導体層の形成領域が絶縁膜によって形成され、従って、導体層を形成のためのレジスト膜が不要となり、製造工程が少なくなって、安価なものが得られる。
本発明の表面弾性波ディバイス、及びその製造方法に関する図面を説明すると、図1は本発明の表面弾性波ディバイスの第1実施例に係る平面図、図2は図1の2−2線における断面図、図3は図1の3−3線における断面図、図4は本発明の表面弾性波ディバイスの第1実施例に係り、櫛歯電極と反射器を示す平面図、図5は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第1工程を示す平面図、図6は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第1工程を示す断面図、図7は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第2工程を示す平面図、図8は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第2工程を示す断面図である。
また、図9は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第3工程を示す平面図、図10は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第3工程を示す断面図、図11は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第4工程を示す平面図、図12は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第4工程を示す断面図、図13は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第5工程を示す平面図、図14は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第5工程を示す断面図である。
また、図15は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第6工程を示す平面図、図16は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第6工程を示す断面図、図17は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第7工程を示す平面図、図18は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第7工程を示す断面図、図19は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第8工程を示す平面図、図20は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第8工程を示す断面図、図21は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第9工程を示す平面図、図22は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第9工程を示す断面図である。
また、図23は本発明の表面弾性波ディバイスの第2実施例に係る平面図、図24は本発明の表面弾性波ディバイスの第2実施例に係る要部拡大平面図、図25は図24の25−25線における断面図、図26は本発明の表面弾性波ディバイスの第2実施例に係り、櫛歯電極と反射器を示す拡大平面図、図27は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第1工程を示す断面図、図28は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第2工程を示す平面図、図29は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第2工程を示す断面図である。
また、図30は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第3工程を示す平面図、図31は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第3工程を示す断面図、図32は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第4工程を示す平面図、図33は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第4工程を示す断面図、図34は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第5工程を示す平面図、図35は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第5工程を示す断面図である。
また、図36は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第6工程を示す平面図、図37は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第6工程を示す断面図、図38は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第7工程を示す平面図、図39は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第7工程を示す断面図、図40は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第8工程を示す平面図、図41は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第8工程を示す断面図、図42は本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第9工程を示す断面図である。
次に、本発明の表面弾性波ディバイスの第1実施例に係る構成を図1〜図4に基づいて説明すると、圧電基板1の一面側には、2つで対をなす1組の櫛歯電極2と、この櫛歯電極2の対向する歯部2a,2bに接続された電極部3a,3bと、この電極部3a,3b上に設けられた導体層4と、櫛歯電極2の両側に隣接して設けられた反射器5a,5bを有する。
そして、櫛歯電極2と、電極部3a,3bと、反射器5a,5bは、銅や銅合金等の同一の金属材で形成されると共に、導体層4は、アルミニュームで形成されて、導体層4が電極部3a、3b上に形成されることによって、厚みを大きくして、電気抵抗を小さくしている。
また、圧電基板1の一面側には、酸化シリコンからなる絶縁膜6が設けられ、この絶縁膜6は、櫛歯電極52と反射器5a,5bに跨り、櫛歯電極2と反射器5a,5bの領域の全体を覆うように設けられ、導体層4の箇所が外部接続用となって、本発明の表面弾性波ディバイスが形成されている。
次に、このような構成を有する本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法を図5〜図22に基づいて説明すると、先ず、圧電基板1の一面側全面には、図5,図6に示すように、銅等からなる導体11が形成された後、図7,図8に示すように、ミリングによって、櫛歯電極2と反射器5a、5bを形成し、この時、櫛歯電極2と反射器5a、5bは、残された導体11で形成される保護導体12によって、電気的に接続された状態となっている。
なお、櫛歯電極2と反射器5a、5b、及び保護導体12の形成は、リフトオフなど他の電極形成技術や加工技術によって行っても良い。
次に、図9,図10に示すように、酸化シリコンからなる絶縁膜6がスピンコートによって、櫛歯電極2と反射器5a、5b、及び保護導体12を覆った状態で圧電基板1の一面側全体に形成された後、絶縁膜6上にネガ型のレジスト膜13が形成され、マスクを用いて露光した後、露光されなかったレジスト膜13を溶液によって除去して、図11,図12に示すように、露光されたレジスト膜13を残す。尚、レジスト膜13はポジ型のレジスト膜を用いても良い。
この時、残されたレジスト膜13は、電極部3a、3bに対応する以外の箇所が残された状態になると共に、絶縁膜6の形成時は、櫛歯電極2と反射器5a、5bが保護導体12によって電気的に接続された状態になっているため、焦電破壊が発生しない。
次に、図13,図14に示すように、レジスト膜13から露出した絶縁膜6が化学エッチングによって除去されて、電極部3a、3bとなる箇所を露出させた後、図15,図16に示すように、圧電基板1の一面側全体には、アルミニュームからなる導体層4をスパッタによって形成し、しかる後、図17,図18に示すように、レジスト膜13を溶剤によって溶かすと、レジスト膜13と、レジスト膜13上に付着した導体層4が除去されて、電極部3a、3b上のみに、導体層4が形成された状態となる。
この時、電極部3a、3b上の導体層4は、絶縁膜6によって形成領域が形成されると共に、導体層4の形成時は、櫛歯電極2と反射器5a、5bが保護導体12によって電気的に接続された状態になっているため、焦電破壊が発生しない。
次に、圧電基板1の一面側全体にネガ型のレジスト膜13が形成され、マスクを用いて露光した後、露光されなかったレジスト膜13を溶液によって除去して、図19,図20に示すように、露光されたレジスト膜13を残す。尚、レジスト膜13はポジ型のレジスト膜を用いても良い。
この時、残されたレジスト膜13は、電極部3a、3b上の導体層4上と、櫛歯電極2と反射器5a、5bの領域に位置する絶縁膜6上の箇所が残された状態になる。
次に、図21,図22に示すように、保護導体12上の絶縁膜6を化学エッチングによって除去すると共に、保護導体12をエッチングによって除去した後、レジスト膜13を除去すると、図1〜図3に示すような表面弾性波ディバイスが形成されて、その製造が完了する。
また、図23〜図26は本発明の表面弾性波ディバイスの第2実施例を示し、この第2実施例の構成を説明すると、圧電基板1の一面側には、2つで対をなした複数組の櫛歯電極2と、櫛歯電極2の各組毎に配置された反射器5a、5bと、各組毎の櫛歯電極2と反射器5a、5bの領域全体を覆うように設けられた絶縁膜6と、櫛歯電極2の歯部2a、2bに繋がった電極部3a、3bに接続され、櫛歯電極2間を繋ぐ接続パターン7と、電極部3a、3b上と接続パターン7上に設けられた導体層4を有し、電極部3a、3bや接続パターン7の接続ポイントPの箇所が外部接続用となって、本発明の表面弾性波ディバイスが形成されている。
次に、このような構成を有する本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法を図27〜図42に基づいて説明すると、先ず、圧電基板1の一面側全面には、図27に示すように、銅等からなる導体11が形成された後、図28,図29に示すように、ミリングによって、複数組の櫛歯電極2と複数組の櫛歯電極2に対応した反射器5a、5bを形成し、この時、櫛歯電極2と反射器5a、5bは、残された導体11で形成される保護導体12によって、電気的に接続された状態となっている。
なお、櫛歯電極2と反射器5a、5b、及び保護導体12の形成は、リフトオフなど他の電極形成技術や加工技術によって行っても良い。
次に、図30,図31に示すように、酸化シリコンからなる絶縁膜6がスピンコートによって、櫛歯電極2と反射器5a、5b、及び保護導体12を覆った状態で圧電基板1の一面側全体に形成された後、絶縁膜6上にネガ型のレジスト膜13が形成され、マスクを用いて露光した後、露光されなかったレジスト膜13を溶液によって除去して、図32、図33に示すように、露光されたレジスト膜13を残す。尚、レジスト膜13はポジ型のレジスト膜を用いても良い。
この時、残されたレジスト膜13は、電極部3a、3bと接続パターン7に対応する以外の箇所が残された状態になると共に、絶縁膜6の形成時は、櫛歯電極2と反射器5a、5bが保護導体12によって電気的に接続された状態になっているため、焦電破壊が発生しない。
次に、図34,図35に示すように、レジスト膜13から露出した絶縁膜6が化学エッチングによって除去されて、電極部3a、3bと接続パターン7となる箇所を露出させた後、図36,図37に示すように、圧電基板1の一面側全体には、アルミニュームからなる導体層4をスパッタによって形成し、しかる後、図38,図39に示すように、レジスト膜13を溶剤によって溶かすと、レジスト膜13と、レジスト膜13上に付着した導体層4が除去されて、電極部3a、3b上と接続パターン7上に導体層4が形成された状態となる。
この時、電極部3a、3b上と接続パターン7上の導体層4は、絶縁膜6によって形成領域が形成されると共に、導体層4の形成時は、櫛歯電極2と反射器5a、5bが保護導体12によって電気的に接続された状態になっているため、焦電破壊が発生しない。
次に、圧電基板1の一面側全体にネガ型のレジスト膜13が形成され、マスクを用いて露光した後、露光されなかったレジスト膜13を溶液によって除去して、図40,図41に示すように、露光されたレジスト膜13を残す。尚、レジスト膜13はポジ型のレジスト膜を用いても良い。
この時、残されたレジスト膜13は、電極部3a、3b上、及び接続パターン7上の導体層4上と、櫛歯電極2と反射器5a、5bの領域に位置する絶縁膜6上の箇所が残された状態になる。
次に、図42に示すように、保護導体12上の絶縁膜6を化学エッチングによって除去すると共に、保護導体12をエッチングによって除去した後、レジスト膜13を除去すると、図23〜図25に示すような表面弾性波ディバイスが形成されて、その製造が完了する。
本発明の表面弾性波ディバイスの第1実施例に係る平面図。 図1の2−2線における断面図。 図1の3−3線における断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの第1実施例に係り、櫛歯電極と反射器を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第1工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第1工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第2工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第2工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第3工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第3工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第4工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第4工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第5工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第5工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第6工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第6工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第7工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第7工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第8工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第8工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第9工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1実施例に係る第9工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの第2実施例に係る平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの第2実施例に係る要部拡大平面図。 図24の25−25線における断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの第2実施例に係り、櫛歯電極と反射器を示す拡大平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第1工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第2工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第2工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第3工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第3工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第4工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第4工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第5工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第5工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第6工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第6工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第7工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第7工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第8工程を示す平面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第8工程を示す断面図。 本発明の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2実施例に係る第9工程を示す断面図。 従来の表面弾性波ディバイスの櫛歯電極や反射器を示す平面図。 従来の表面弾性波ディバイスの要部断面図。 従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第1工程を示す要部断面図。 従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第2工程を示す要部断面図。 従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第3工程を示す要部断面図。 従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第3工程を示す平面図。 従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第4工程を示す要部断面図。 従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第5工程を示す要部断面図。 従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第6工程を示す要部断面図。 従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第6工程を示す平面図。 従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第7工程を示す要部断面図。 従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第7工程を示す平面図。 従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第8工程を示す要部断面図。 従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第9工程を示す要部断面図。 従来の表面弾性波ディバイスの製造方法の第9工程を示す要部断面図。
符号の説明
1:圧電基板
2:櫛歯電極
2a、2b:歯部
3a,3b:電極部
4:導体層
5a、5b:反射器
6:絶縁膜
7:接続パターン
P:接続ポイント
11:導体
12:保護導体
13:レジスト膜

Claims (4)

  1. 圧電基板と、この圧電基板の一面側に設けられた2つで対をなす少なくとも1組の櫛歯電極と、この櫛歯電極に接続された電極部と、この電極部上に設けられた導体層と、前記櫛歯電極の両側に隣接して設けられた反射器と、前記櫛歯電極と前記反射器の領域全体を覆うように形成された絶縁膜を有した表面弾性波ディバイスを備え、前記圧電基板の一面側には、前記櫛歯電極と、前記反射器と、前記櫛歯電極と前記反射器とを電気的に接続する保護導体が前記櫛歯電極と前記反射器以外の領域全体に形成された後、前記櫛歯電極と前記反射器の少なくとも領域全体を覆うように絶縁膜が形成され、しかる後、前記櫛歯電極と前記反射器の領域全体を前記絶縁膜によって覆った状態で、前記電極部上に前記導体層を形成する工程と、前記保護導体を除去する工程を行うようにしたことを特徴とする表面弾性波ディバイスの製造方法。
  2. 前記絶縁膜が前記圧電基板の前記一面側全体に形成された後、前記電極部に対応する位置の前記絶縁膜が除去され、しかる後、前記電極部上に前記導体層を形成する工程を行った後、前記櫛歯電極と前記反射器の領域外の前記絶縁膜を除去すると共に、前記保護導体を除去するようにしたことを特徴とする請求項1記載の表面弾性波ディバイスの製造方法。
  3. 前記表面弾性波ディバイスは、複数組の前記櫛歯電極と、複数組の前記櫛歯電極のそれぞれに対応して設けられた前記反射器と、前記櫛歯電極に接続された前記電極部間を繋ぐ接続パターンを有し、前記圧電基板の前記一面側には、前記櫛歯電極と、前記反射器と、前記櫛歯電極と前記反射器とを電気的に接続する前記保護導体が前記櫛歯電極と前記反射器以外の領域全体に形成された後、各組毎の前記櫛歯電極と前記反射器の少なくとも領域全体を覆うように前記絶縁膜が形成され、しかる後、前記櫛歯電極と前記反射器の領域全体を前記絶縁膜によって覆った状態で、前記電極部上と前記接続パターン上に前記導体層を形成する工程と、前記保護導体を除去する工程を行うようにしたことを特徴とする請求項1記載の表面弾性波ディバイスの製造方法。
  4. 前記絶縁膜が前記圧電基板の前記一面側全体に形成された後、前記電極部と前記接続パターンに対応する位置の前記絶縁膜が除去され、しかる後、前記電極部上と前記配線パターン上に前記導体層を形成する工程を行った後、前記櫛歯電極と前記反射器の領域外の前記絶縁膜を除去すると共に、前記保護導体を除去するようにしたことを特徴とする請求項3記載の表面弾性波ディバイスの製造方法。
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