JP2006215520A - 光干渉式カラーディスプレイの製造方法 - Google Patents

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Abstract

【目的】犠牲層の厚さを精確に制御して良好なエアーギャップを得ることができ、光学特性を向上させる光干渉式カラーディスプレイの製造方法を提供する。
【解決手段】基板を提供し、基板上に第1電極構造を形成し、第1電極構造上に第1領域・第2領域・第3領域を定義し、第1領域・第2領域・第3領域内の第1電極構造上に第1犠牲層を形成し、第2領域・第3領域内の第1犠牲層上に第2犠牲層を形成し、第3領域内の第2犠牲層上に第3犠牲層を形成するものであって、第1犠牲層・第2犠牲層・第3犠牲層が異なるエッチングレートを有するものであり、第1電極構造上にパターン支持層を形成し、第2電極層を第1領域内の第1犠牲層上・第2領域内の第2犠牲層上・第3領域内の第3犠牲層上・パターン支持層上の一部に形成し、第1犠牲層・第2犠牲層・第3犠牲層を除去して第1電極構造および第2電極層間に複数個のエアーギャップを形成する。
【選択図】図3E

Description

この発明は、光干渉式カラーディスプレイの製造方法に関し、特に、エアーギャップを精確に制御することのできる光干渉式カラーディスプレイの製造方法に関する。
パネルディスプレイ、例えば、液晶ディスプレイ(LCD)、有機発光ディスプレイ(OELD)、プラズマディスプレイパネル(PDPs)などは、軽量薄型であり、日常生活に広く利用されている。そのうち、液晶ディスプレイ(LCD)が市場の主流となっているが、液晶ディスプレイ(LCD)には、幾つかの問題点、例えば、視角が十分に広くない、応答時間が十分に早くない、偏光子(polarizer)を利用する必要があって光源利用率が良くないということなどがある。
図1において、現在、発展している光干渉式カラーディスプレイにつき、要部断面図を示すと、従来の光干渉式カラーディスプレイ100は、透明基板110と、第1電極構造120と、パターン支持層130と、第2電極層140とを含んでいる。第1電極構造120は、下から上へ順番に、複数個の第1電極122と、吸収層(absorption layer)124と、光学層126とを含んでいる。注意すべきことは、複数個のエアーギャップG1〜G3が第1電極構造120および第2電極層140間に形成(定義)されていることである。
透明基板110を介して第1電極構造120へ伝搬した後、光線は、エアーギャップG1〜G3を経て第2電極層140に伝搬し、第2電極層140で反射されて第1電極構造120を経て伝搬される。異なるエアーギャップG1〜G3での異なる光干渉(light interferences)によって、異なる色光、例えば、赤、緑、青の光線がディスプレイ用に発生させられる。エアーギャップG1〜G3の形成は、後述する犠牲層の厚さにより決定される、つまり、犠牲層の品質が光干渉式カラーディスプレイ100の光学特性を左右するものとなる。
図2A〜図2Dは、犠牲層を形成するプロセスを示す要部断面図であり、図2Aにおいて、透明基板110が提供され、第1電極構造120が透明基板110上に形成される。第1電極構造120は、下から上へ順番に、複数個の第1電極122と、吸収層(absorption layer)124と、光学層126とを含んでいる。また、第1領域10と、第2領域20と、第3領域30とが第1電極構造120上に定義される。
図2Bにおいて、第1犠牲層132、例えば、アモルファスシリコンが全面に堆積されてから、フォトリソグラフィーおよびエッチングによって、第1領域10、第2領域20、第3領域30以外の第1犠牲層132を除去してパターン化された第1犠牲層132が形成される。
図2Cにおいて、第2犠牲層134が全面的に堆積されるが、第1犠牲層132と第2犠牲層134とは、同じ材質であり、フォトリソグラフィーおよびエッチングによって、第2領域20、第3領域30以外の第2犠牲層134を除去してパターン化された第2犠牲層134が形成される。注意すべきことは、エッチングにより第1領域10の第2犠牲層134を除去する時、第1犠牲層132と第2犠牲層134とは、同じ材質であるから、同じエッチングレートであるということである。従って、第1犠牲層132がエッチングに使用するエッチング液によって容易に損傷され、第1犠牲層132の初期厚さが変わってしまい、後続する工程に影響を及ぼすものとなる。
図2Dにおいて、第3犠牲層136が全面的に堆積されるが、第1犠牲層132と第2犠牲層134と第3犠牲層136とは、同じ材質であり、フォトリソグラフィーおよびエッチングによって、第3領域30以外の第3犠牲層136を除去してパターン化された第3犠牲層136が形成され、犠牲層を形成するプロセスが完了する。注意すべきことは、第3犠牲層136が第1犠牲層132上にあり、エッチングにより第1領域10の第3犠牲層136を除去する時、第1犠牲層132が容易に損傷を受けることである。同様に、第2領域20の第3犠牲層136を除去する時、第3犠牲層136が第2犠牲層134上にあり、かつ第2犠牲層134と第3犠牲層136とは同じエッチングレートであるので、第3犠牲層136を除去する時、第2犠牲層134が容易に損傷を受ける。
最後に、例えば、フォトレジスト層を全面塗布して、パターン支持層130を形成するためにパターン化する。次に、図1に示すように、第2電極層140が各犠牲層上で第1領域10と第2領域20と第3領域30とパターン支持層130の一部とで異なる厚さに形成されてから、6フッ化キセノン(XeF6)のようなエッチング液が全ての犠牲層の除去に使用されて異なるエアーギャップG1〜G3を形成する。
すなわち、堆積される犠牲層の厚さがエアーギャップG1〜G3の形成を決定するから、もしも損傷を受けた犠牲層のために得ようとする犠牲層の厚さが変化した場合、エアーギャップG1〜G3の寸法を精確に制御することができなくなり、光干渉式カラーディスプレイ100の光学特性に深刻な影響を及ぼし、上述したような不適切な製造工程においては、歩留まりが低下して製造コストを押し上げるものとなる。
そこで、この発明の目的は、犠牲層の厚さが精確に制御されて良好なエアーギャップを得ることのできる光干渉式カラーディスプレイの製造方法を提供することにある。この発明の別な目的は、良好なエアーギャップを形成して、光学特性を向上させる光干渉式カラーディスプレイの製造方法を提供することにある。
上記課題を解決し、所望の目的を達成するために、この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法は、基板を提供し、前記基板上に第1電極構造を形成することと、前記第1電極構造上に第1領域および第2領域ならびに第3領域を定義することと、前記第1領域および前記第2領域ならびに前記第3領域内の前記第1電極構造上に第1犠牲層を形成することと、前記第2領域および前記第3領域内の前記第1犠牲層上に第2犠牲層を形成することと、前記第3領域内の前記第2犠牲層上に第3犠牲層を形成するものであって、前記第1犠牲層および前記第2犠牲層ならびに前記第3犠牲層が異なるエッチングレート(etching rate)を有するものであることと、前記第1電極構造上にパターン支持層を形成することと、第2電極層を前記第1領域内の前記第1犠牲層上および前記第2領域内の前記第2犠牲層上ならびに前記第3領域内の前記第3犠牲層上および前記パターン支持層上の一部に形成することと、前記第1犠牲層および前記第2犠牲層ならびに前記第3犠牲層を除去して前記第1電極構造および前記第2電極層間に複数個のエアーギャップ(air gap)を形成することとを含むものである。
また、この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法は、基板を提供し、前記基板上に第1電極構造を形成することと、前記第1電極構造上に第1領域および第2領域ならびに第3領域を定義することと、前記第1領域の前記第1電極構造上に第1犠牲層を形成することと、前記第2領域の前記第1電極構造上に第2犠牲層を形成することと、前記第3領域の前記第1電極構造上に第3犠牲層を形成するものであって、前記第1犠牲層および前記第2犠牲層ならびに前記第3犠牲層のエッチングレートおよび厚さがいずれも異なるものであることと、前記第1電極構造上にパターン支持層を形成することと、第2電極層を前記第1領域内の前記第1犠牲層上および前記第2領域内の前記第2犠牲層上ならびに前記第3領域内の前記第3犠牲層上および前記パターン支持層上の一部に形成することと、前記第1犠牲層および前記第2犠牲層ならびに前記第3犠牲層を除去して前記第1電極構造および前記第2電極層間に複数個のエアーギャップを形成することとを含むものである。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法の実施例において、前記基板が、ガラス基板またはプラスチック基板を含むものである。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法の実施例において、前記第1電極構造を形成するステップが、前記基板上に複数個の第1電極を形成することと、前記した複数個の第1電極上に吸収層を形成することと、前記吸収層上に光学層を形成することとを含むものである。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法の実施例において、前記した複数個の第1電極が、透明電極であるとともに、前記した複数個の第1電極の材質がインジウムスズ酸化物(ITO)を含むものである。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法の実施例において、前記吸収層の材質が、クロム(Cr)またはクロム化モリブデン(MoCr)を含むものである。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法の実施例において、前記光学層の材質が、窒化シリコンまたは酸化シリコンを含むものである。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法の実施例において、前記パターン支持層の材質が、フォトレジスト層を含むものである。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法の実施例において、前記第2犠牲層のエッチングレートが、前記第1犠牲層のエッチングレートの1.5倍であり、かつ前記第3犠牲層のエッチングレートが、前記第2犠牲層のエッチングレートの1.5倍である。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法の実施例において、前記第1犠牲層の材質が、クロム化モリブデン(MoCr)、クロム(Cr)、ポリシリコン、アモルファスシリコン、N型アモルファスシリコンからなる群より選択されるものである。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法の実施例において、前記第2犠牲層の材質が、クロム化モリブデン(MoCr)、クロム(Cr)、ポリシリコン、アモルファスシリコン、N型アモルファスシリコンからなる群より選択されるものである。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法の実施例において、前記第3犠牲層の材質が、クロム化モリブデン(MoCr)、クロム(Cr)、ポリシリコン、アモルファスシリコン、N型アモルファスシリコンからなる群より選択されるものである。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法の実施例において、前記第2電極が金属電極であり、前記第2電極の材質がモリブデン(Mo)、モリブデン合金、アルミニウム、アルミニウム合金、クロム(Cr)、ニッケル、チタンからなる群またはそれらの組み合わせより選択されるものである。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法は、基板を提供し、前記基板上に第1電極構造を形成することと、前記第1電極構造上に第1領域および第2領域を定義することと、前記第1領域および前記第2領域の前記第1電極構造上に第1犠牲層を形成することと、前記第2領域内の前記第1犠牲層上に第2犠牲層を形成するものであって、前記第1犠牲層および前記第2犠牲層が異なるエッチングレートを有するものであることと、前記第1電極上にパターン支持層を形成することと、第2電極層を前記第1領域内の前記第1犠牲層上および前記第2領域内の第2犠牲層上ならびに前記パターン支持層の一部上に形成することと、前記第1犠牲層上および前記第2犠牲層を除去して前記第1電極構造および前記第2電極層間に複数個のエアーギャップを形成することとを含むものである。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法は、基板を提供し、前記基板上に第1電極構造を形成することと、前記第1電極構造上に第1領域および第2領域を定義することと、前記第1領域の前記第1電極構造上に第1犠牲層を形成することと、前記第2領域の前記第1電極構造上に第2犠牲層を形成するものであって、前記第1犠牲層および前記第2犠牲層が異なるエッチングレートならびに厚さを有するものであることと、前記第1電極上にパターン支持層を形成することと、第2電極層を前記第1領域内の前記第1犠牲層上および前記第2領域内の第2犠牲層上ならびに前記パターン支持層の一部上に形成することと、前記第1犠牲層上および前記第2犠牲層を除去して前記第1電極構造および前記第2電極層間に複数個のエアーギャップを形成することとを含むものである。
この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法は、異なるエッチングレートの材質から犠牲層を形成しているので、エッチング時に犠牲層が損傷されることを回避できるとともに、優良なエアーギャップを得ることができ、光干渉式カラーディスプレイの光学特性を向上させることができる。
従って、この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法は、少なくとも下記する2点の特長を有する。
1.この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法は、犠牲層が損傷されることを回避できるので、エアーギャップを良好に制御することができ、製造歩留まりを向上させることができるから、光干渉式カラーディスプレイの光学特性を向上させることができる。
2.この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法は、異なるエッチングレートの材質を堆積することにより犠牲層を形成しているので、犠牲層が損傷を受けることを回避できるとともに、犠牲層の厚さを精確に制御することができる。
以下、この発明を実施するための最良の形態を図面に基づいて説明する。
<第1実施例>
図3A〜3Fは、この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法を示す要部断面図であり、図3Aにおいて、透明基板210が提供されるが、材質としては、例えば、ガラスまたはプラスチックとし、この透明基板210上に第1電極構造220が形成される。
第1電極構造220を形成する方法としては、例えば、物理気相堆積法(PVD)または他の好適な方法により、インジウムスズ酸化物(Indium Tin Oxide = ITO)を透明基板210上に堆積する。インジウムスズ酸化物(ITO)層は、フォトリソグラフィーおよびエッチングにより複数個の第1透明電極222を形成するようパターン化される。吸収層224が第1透明電極222上および第1透明電極222を形成しない一部の透明基板210上に堆積される。この実施例において、吸収層224の材質は、例えば、クロム(Cr)またはクロム化モリブデン(MoCr)とすることができる。
最後に、光学層226を吸収層224上に堆積するが、光学層226の材質は、例えば、窒化シリコンまたは酸化シリコンとすることができる。もちろん、光学層226を単層に限定することはなく、複数の高屈折率の誘電層と複数の低屈折率の誘電層とを交互に堆積することもできる。このようなステップにより第1電極構造220を形成し、第1電極構造220には、第1電極222と吸収層224と光学層226とが含まれる。また、第1電極構造220上には、第1領域10と第2領域20と第3領域30とが定義される。
図3Bにおいて、第1犠牲層232が全面に堆積されるが、その材質としては、例えば、クロム化モリブデン(MoCr)、クロム(Cr)、ポリシリコン、アモルファスシリコン、N型アモルファスシリコンよりなる群から選択することができ、フォトリソグラフィーおよびエッチングにより第1領域10および第2領域20ならびに第3領域30以外の第1犠牲層232を除去して、パターン化された第1犠牲層232を形成する。
図3Cにおいて、第2犠牲層234が全面に堆積されるが、第2犠牲層234は、少なくとも第1犠牲層232の1.5倍のエッチングレート(etching rate)を有し、その材質としては、例えば、クロム化モリブデン(MoCr)、クロム(Cr)、ポリシリコン、アモルファスシリコン、N型アモルファスシリコンよりなる群から選択することができる。ある実施例において、第2犠牲層234のエッチングレートが第1犠牲層232のエッチングレートより大きければ良く、エッチングレートが第1犠牲層232のエッチングレートより大きいものを第2犠牲層234として使用することができる。例えば、第1および第2犠牲層がアモルファスシリコンのような同じ材質で形成されるが、異なる温度で処理されることによって第1犠牲層232および第2犠牲層234が異なるエッチングレートを有するものとなる。いずれにしても、材質が同一または異なるエッチング液に対して異なるエッチングレートを有していれば、材質として使用できる。
フォトリソグラフィーおよびエッチングにより第2領域20および第3領域30以外の第2犠牲層234を除去して、パターン化された第2犠牲層234を形成する。注意すべきことは、第1領域10内の第2犠牲層234が除去される時、第2犠牲層234が第1犠牲層232上にあるものの、第2犠牲層234のエッチングレートが大きいので、エッチングプロセス、例えば、ウェットエッチングまたは他の好適な方法で第2犠牲層234を除去することができる。第2犠牲層234が大きいエッチングレートを有するため、第2犠牲層234を除去するエッチング時の第1犠牲層232に対する損傷を減少させることができる。従って、第1犠牲層232の厚さを維持することができる。
図3Dにおいて、第3犠牲層236が全面に堆積されるが、フォトリソグラフィーおよびエッチングにより第3領域30以外の第3犠牲層236を除去して、パターン化された第3犠牲層236を形成する。このようにして、第1領域10および第2領域20ならびに第3領域30内の犠牲層の作製が完了する。
注意すべきことは、第3犠牲層236をパターン化するために、ウェットエッチングまたは他の好適な方法で第1領域10内の第3犠牲層236および第2領域20内の第3犠牲層236を除去するが、第1領域10内の第3犠牲層236のエッチングレートが第1犠牲層232のエッチングレートより大きいので、第1犠牲層232が第2犠牲層234の下にあるものの、第1犠牲層232は、第3犠牲層236を除去する時、損傷を受けることはない。
同様に、第2領域20の第3犠牲層236のエッチングレートが第2犠牲層234のエッチングレートより1.5倍大きいので、第2犠牲層234が第3犠牲層236の下にあるものの、異なるエッチングレートによって第2犠牲層234に対する損傷を減少させることができる。また、犠牲層232,234,236の厚さを精確に制御でき、犠牲層232,234,236を除去するプロセスをリリースプロセスと呼ぶことができる。
図3Eにおいて、フォトレジスト層が全面に塗布されるが、フォトレジスト層は、パターン支持層230として形成される。次に、第2電極層240が全面に堆積されるが、第2電極層240の材質は、光反射性金属とすることができ、例えば、モリブデン(Mo)、モリブデン合金、アルミニウム、アルミニウム合金、クロム(Cr)、ニッケル、チタン、またはその組み合わせである。フォトリソグラフィーおよびエッチングによりパターン化された第2電極層240を形成するが、第2電極層240は、第1領域10内の第1犠牲層232上、第2領域20内の第2犠牲層234上、第3領域30内の第3犠牲層236上に形成される。
図3Fにおいて、全ての犠牲層が好適なエッチング液、例えば、6フッ化キセノン(XeF6)を用いて除去され、異なるエアーギャップC1,C2,C3を形成する。詳細には、第2電極層240を異なる厚さの犠牲層上に形成した後、リリースプロセスを行って異なるエアーギャップC1,C2,C3を形成する。また、エアーギャップC1,C2,C3は、一般に1μmより小さいか等しいものであって、この実施例では、各犠牲層が異なったエッチングレートを有しており、より小さいエッチングレートを有する犠牲層を先に堆積することによって、先に堆積された犠牲層への損傷を減少させることができる。
従来技術と比較して、この発明は、各犠牲層の厚さを精確に制御することができて、エアーギャップC1,C2,C3の品質および製造歩留まりを向上させることができるので、光干渉式カラーディスプレイ200の光学特性も向上する。
<第2実施例>
図4Aから図4Fは、この発明の第2実施例にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法を示す要部断面図である。図4Aにおいて、そのステップは、図3Aに類似しており、先ず、第1電極構造320が形成されるとともに、第1領域10と第2領域20と第3領域30とが定義される。
図4Bにおいて、第1犠牲層332が全面に堆積される。第1犠牲層332の材質は、例えば、クロム化モリブデン(MoCr)、クロム(Cr)、ポリシリコン、アモルファスシリコン、N型アモルファスシリコンからなる群より選択されるものとすることができる。次に、フォトリソグラフィーおよびエッチングにより第1領域10以外の第1犠牲層332を除去してパターン化された第1犠牲層332を形成する。
図4Cにおいて、第2犠牲層334が全面に堆積される。第2犠牲層334の材質は、例えば、第1犠牲層332のエッチングレートより少なくとも1.5倍のエッチングレートを有するものとし、第2犠牲層334の材質は、例えば、クロム化モリブデン(MoCr)、クロム(Cr)、ポリシリコン、アモルファスシリコン、N型アモルファスシリコンからなる群より選択されるものとすることができる。ある実施例において、第2犠牲層334のエッチングレートが第1犠牲層332のエッチングレートより大きければ、第2犠牲層334の材質として使用することができる。例えば、第1および第2犠牲層をアモルファスシリコンのような同一材料とし、それらを異なる温度下で処理して第1犠牲層332と第2犠牲層334とが異なるエッチングレートを有するようにする。エッチング液が同一または同一でないかに関わりなく、各犠牲層が異なるエッチングレートを有していれば、材料として使用することができる。
フォトリソグラフィーおよびエッチングにより第2領域20以外の第2犠牲層334を除去してパターン化された第2犠牲層334を形成する。注意すべきことは、第1領域10の第2犠牲層334が除去される時、第1犠牲層332の上に第2犠牲層334があることである。エッチングは、第2犠牲層334を除去するために、例えば、ウェットエッチングまたは他の好適なプロセスとすることができる。第2犠牲層334がより大きなエッチングレートを有しているので、エッチングにより第2犠牲層334が除去される時、第1犠牲層332への損傷を減少させることができる。従って、第1犠牲層332の厚さを維持することができる。
図4Dにおいて、第3犠牲層336が全面に堆積され、フォトリソグラフィーおよびエッチングにより第3領域30以外の第3犠牲層336を除去してパターン化された第3犠牲層336を形成する。こうして、第1領域10および第2領域20ならびに第3領域30内の各犠牲層が完成する。
注意すべきことは、第3犠牲層336をパターン化するために、ウェットエッチングまたは他の適切なプロセスが第1領域10内の第3犠牲層336および第2領域20内の第3犠牲層336を除去するために使われるということである。第1領域10内の第3犠牲層336のエッチングレートは、第1犠牲層332のエッチングレートより大きい。第1犠牲層332は、その下にあるけれども、第1犠牲層332は、第3犠牲層336が除去される時、損傷を受けることがない。
同様に、第2領域20内の第3犠牲層336のエッチングレートは、例えば、第2犠牲層334のエッチングレートより1.5倍大きい。第2犠牲層334は、第3犠牲層336の下であるけれども、それらのエッチングレートが異なることによって、第2犠牲層334への損傷を減少させることができる。また、各犠牲層の厚さを精確に制御することができる。
図4Eにおいて、フォトレジスト層が全面に塗布される。フォトレジスト層は、パターン化されてパターン支持層330として形成される。次に、第2電極層340が全面に堆積される。第2電極層340の材質は、光反射性の金属、例えば、モリブデン(Mo)、モリブデン合金、アルミニウム、アルミニウム合金、クロム(Cr)、ニッケル、チタン、またはその組み合わせとすることができる。フォトリソグラフィーおよびエッチングにより、パターン化された第2電極層340を形成する。第2電極層340は、第1領域10内の第1犠牲層332、第2領域20内の第2犠牲層334、第3領域30内の第3犠牲層336およびパターン支持層330の一部上に形成される。
図4Fにおいて、図3Fに示した異なるエアーギャップC1,C2,C3を形成するステップと同様なものが図示されている。詳細には、異なる厚さを備えた各犠牲層上に第2電極層340を形成してから、リリースプロセスを行うと異なるエアーギャップD1,D2,D3を定義することができる。この実施例では、より小さいエッチングレートを有する犠牲層を最初に堆積することによって、先に堆積された犠牲層への損傷を減少させることができる。
上述した実施例は、エアーギャップC1〜C3およびD1〜D3を形成する方法であるが、この発明は、それらに限定されるものではない。この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法において、2つの異なるエアーギャップだけを形成することができ、その製造方法は、上述したものに類似したものであり、その差異は、第1および第2犠牲層だけを形成することにある。また、この発明にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造方法において、3つ以上の異なるエアーギャップを形成することができ、その製造方法は、上述したものに類似したものであり、その差異は、第1、第2、第3の犠牲層に加えて、追加の犠牲層を形成できることにある。
以上のごとく、この発明を好適な実施例により開示したが、もとより、この発明を限定するためのものではなく、当業者であれば容易に理解できるように、この発明の技術思想の範囲内において、適当な変更ならびに修正が当然なされうるものであるから、その特許権保護の範囲は、特許請求の範囲および、それと均等な領域を基準として定めなければならない。
従来の光干渉式カラーディスプレイの構造を示す要部断面図である。 従来の犠牲層の形成過程を示す要部断面図である。 従来の犠牲層の形成過程を示す要部断面図である。 従来の犠牲層の形成過程を示す要部断面図である。 従来の犠牲層の形成過程を示す要部断面図である。 この発明の第1実施例にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造過程を示す要部断面図である。 この発明の第1実施例にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造過程を示す要部断面図である。 この発明の第1実施例にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造過程を示す要部断面図である。 この発明の第1実施例にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造過程を示す要部断面図である。 この発明の第1実施例にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造過程を示す要部断面図である。 この発明の第1実施例にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造過程を示す要部断面図である。 この発明の第2実施例にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造過程を示す要部断面図である。 この発明の第2実施例にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造過程を示す要部断面図である。 この発明の第2実施例にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造過程を示す要部断面図である。 この発明の第2実施例にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造過程を示す要部断面図である。 この発明の第2実施例にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造過程を示す要部断面図である。 この発明の第2実施例にかかる光干渉式カラーディスプレイの製造過程を示す要部断面図である。
符号の説明
200,300 光干渉式カラーディスプレイ
210,310 透明基板
220,320 第1電極構造
222,322 第1(透明)電極
224,324 吸収層
226,326 光学層
230,330 パターン支持層
232,332 第1犠牲層
234,334 第2犠牲層
236,336 第3犠牲層
240,340 第2電極層

Claims (26)

  1. 基板を提供し、前記基板上に第1電極構造を形成することと、
    前記第1電極構造上に第1領域および第2領域ならびに第3領域を定義することと、
    前記第1領域および前記第2領域ならびに前記第3領域内の前記第1電極構造上に第1犠牲層を形成することと、
    前記第2領域および前記第3領域内の前記第1犠牲層上に第2犠牲層を形成することと、
    前記第3領域内の前記第2犠牲層上に第3犠牲層を形成するものであって、前記第1犠牲層および前記第2犠牲層ならびに前記第3犠牲層が異なるエッチングレートを有するものであることと、
    前記第1電極構造上にパターン支持層を形成することと、
    第2電極層を前記第1領域内の前記第1犠牲層上および前記第2領域内の前記第2犠牲層上ならびに前記第3領域内の前記第3犠牲層上および前記パターン支持層上の一部に形成することと、
    前記第1犠牲層および前記第2犠牲層ならびに前記第3犠牲層を除去して前記第1電極構造および前記第2電極層間に複数個のエアーギャップを形成することと
    を含むものである光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  2. 前記基板が、ガラス基板またはプラスチック基板を含むものである請求項1記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  3. 前記第1電極構造を形成するステップが、
    前記基板上に複数個の第1電極を形成することと、
    前記した複数個の第1電極上に吸収層を形成することと、
    前記吸収層上に光学層を形成することと
    を含むものである請求項1記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  4. 前記した複数個の第1電極が、透明電極であるとともに、前記した複数個の第1電極の材質がインジウムスズ酸化物(ITO)を含むものである請求項3記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  5. 前記吸収層の材質が、クロム(Cr)またはクロム化モリブデン(MoCr)を含むものである請求項3記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  6. 前記光学層の材質が、窒化シリコンまたは酸化シリコンを含むものである請求項3記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  7. 前記パターン支持層の材質が、フォトレジスト層を含むものである請求項1記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  8. 前記第2犠牲層のエッチングレートが、前記第1犠牲層のエッチングレートの1.5倍であり、かつ前記第3犠牲層のエッチングレートが、前記第2犠牲層のエッチングレートの1.5倍である請求項1記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  9. 前記第1犠牲層の材質が、クロム化モリブデン(MoCr)、クロム(Cr)、ポリシリコン、アモルファスシリコン、N型アモルファスシリコンからなる群より選択されるものである請求項1記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  10. 前記第2犠牲層の材質が、クロム化モリブデン(MoCr)、クロム(Cr)、ポリシリコン、アモルファスシリコン、N型アモルファスシリコンからなる群より選択されるものである請求項1記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  11. 前記第3犠牲層の材質が、クロム化モリブデン(MoCr)、クロム(Cr)、ポリシリコン、アモルファスシリコン、N型アモルファスシリコンからなる群より選択されるものである請求項1記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  12. 前記第2電極が金属電極であり、前記第2電極の材質がモリブデン(Mo)、モリブデン合金、アルミニウム、アルミニウム合金、クロム(Cr)、ニッケル、チタンからなる群より選択されるもの、および組み合わせの1つである請求項1記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  13. 基板を提供し、前記基板上に第1電極構造を形成することと、
    前記第1電極構造上に第1領域および第2領域ならびに第3領域を定義することと、
    前記第1領域の前記第1電極構造上に第1犠牲層を形成することと、
    前記第2領域の前記第1電極構造上に第2犠牲層を形成することと、
    前記第3領域の前記第1電極構造上に第3犠牲層を形成するものであって、前記第1犠牲層および前記第2犠牲層ならびに前記第3犠牲層のエッチングレートおよび厚さがいずれも異なるものであることと、
    前記第1電極構造上にパターン支持層を形成することと、
    第2電極層を前記第1領域内の前記第1犠牲層上および前記第2領域内の前記第2犠牲層上ならびに前記第3領域内の前記第3犠牲層上および前記パターン支持層上の一部に形成することと、
    前記第1犠牲層および前記第2犠牲層ならびに前記第3犠牲層を除去して前記第1電極構造および前記第2電極層間に複数個のエアーギャップを形成することと
    を含むものである光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  14. 前記基板が、ガラス基板またはプラスチック基板を含むものである請求項13記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  15. 前記第1電極構造を形成するステップが、
    前記基板上に複数個の第1電極を形成することと、
    前記した複数個の第1電極上に吸収層を形成することと、
    前記吸収層上に光学層を形成することと
    を含むものである請求項13記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  16. 前記した複数個の第1電極が、透明電極であるとともに、前記した複数個の第1電極の材質がインジウムスズ酸化物(ITO)を含むものである請求項15記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  17. 前記吸収層の材質が、クロム(Cr)またはクロム化モリブデン(MoCr)を含むものである請求項15記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  18. 前記光学層の材質が、窒化シリコンまたは酸化シリコンを含むものである請求項15記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  19. 前記パターン支持層の材質が、フォトレジスト層を含むものである請求項13記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  20. 前記第2犠牲層のエッチングレートが、前記第1犠牲層のエッチングレートの1.5倍であり、かつ前記第3犠牲層のエッチングレートが、前記第2犠牲層のエッチングレートの1.5倍である請求項13記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  21. 前記第1犠牲層の材質が、クロム化モリブデン(MoCr)、クロム(Cr)、ポリシリコン、アモルファスシリコン、N型アモルファスシリコンからなる群より選択されるものである請求項13記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  22. 前記第2犠牲層の材質が、クロム化モリブデン(MoCr)、クロム(Cr)、ポリシリコン、アモルファスシリコン、N型アモルファスシリコンからなる群より選択されるものである請求項13記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  23. 前記第3犠牲層の材質が、クロム化モリブデン(MoCr)、クロム(Cr)、ポリシリコン、アモルファスシリコン、N型アモルファスシリコンからなる群より選択されるものである請求項13記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  24. 前記第2電極が金属電極であり、前記第2電極の材質がモリブデン(Mo)、モリブデン合金、アルミニウム、アルミニウム合金、クロム(Cr)、ニッケル、チタンからなる群より選択されるもの、および組み合わせの1つである請求項13記載の光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  25. 基板を提供し、前記基板上に第1電極構造を形成することと、
    前記第1電極構造上に第1領域および第2領域を定義することと、
    前記第1領域および前記第2領域の前記第1電極構造上に第1犠牲層を形成することと、
    前記第2領域内の前記第1犠牲層上に第2犠牲層を形成するものであって、前記第1犠牲層および前記第2犠牲層が異なるエッチングレートを有するものであることと、
    前記第1電極上にパターン支持層を形成することと、
    第2電極層を前記第1領域内の前記第1犠牲層上および前記第2領域内の第2犠牲層上ならびに前記パターン支持層の一部上に形成することと、
    前記第1犠牲層上および前記第2犠牲層を除去して前記第1電極構造および前記第2電極層間に複数個のエアーギャップを形成することと
    を含むものである光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
  26. 基板を提供し、前記基板上に第1電極構造を形成することと、
    前記第1電極構造上に第1領域および第2領域を定義することと、
    前記第1領域の前記第1電極構造上に第1犠牲層を形成することと、
    前記第2領域の前記第1電極構造上に第2犠牲層を形成するものであって、前記第1犠牲層および前記第2犠牲層が異なるエッチングレートならびに厚さを有するものであることと、
    前記第1電極上にパターン支持層を形成することと、
    第2電極層を前記第1領域内の前記第1犠牲層上および前記第2領域内の第2犠牲層上ならびに前記パターン支持層の一部上に形成することと、
    前記第1犠牲層上および前記第2犠牲層を除去して前記第1電極構造および前記第2電極層間に複数個のエアーギャップを形成することと
    を含むものである光干渉式カラーディスプレイの製造方法。
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