JP2006145522A - コネクター検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】電気的信号を伝達するための伝導体ピンと異物の遮断のための防水ピンがコネクターに装着された状態を一度に自動的に把握することができるようにするコネクター検査装置を提供する。
【解決手段】コネクターに設けられた伝導体ピンと電気的に適切に接続されるかを感知するための伝導体検査ピン、コネクターに設けられた防水ピンがコネクターに適切に装着されたかを検査するためのムービングピン、および検査ターミナルを備えた検査ジグを含み、伝導体ピンと伝導体検査ピンとの間の導通状態、およびムービングピンと検査ターミナルとの間の導通状態を一度にディスプレイして、コネクターに設けられた伝導体ピンおよび防水ピンがコネクターに適切に装着されたかを簡単で正確に把握する。
【選択図】図２
【解決手段】コネクターに設けられた伝導体ピンと電気的に適切に接続されるかを感知するための伝導体検査ピン、コネクターに設けられた防水ピンがコネクターに適切に装着されたかを検査するためのムービングピン、および検査ターミナルを備えた検査ジグを含み、伝導体ピンと伝導体検査ピンとの間の導通状態、およびムービングピンと検査ターミナルとの間の導通状態を一度にディスプレイして、コネクターに設けられた伝導体ピンおよび防水ピンがコネクターに適切に装着されたかを簡単で正確に把握する。
【選択図】図２
Description
本発明は電気的信号を伝達するためのコネクターを検査する装置に係り、より詳しくは車エンジンのＥＣＵ（Ｅｎｇｉｎｅ Ｃｏｎｔｒｏｌ Ｕｎｉｔ）またはＰＣＵ（Ｐｏｗｅｒ−ｔｒａｉｎ Ｃｏｎｔｒｏｌ Ｕｎｉｔ）などの電子装置の信号を伝達するのに使用されるコネクターの状態を検査する装置に関するものである。
図１は本発明によって検査しようとするコネクター１の構造を示す。コネクターボディーには多数の貫通孔が形成され、多数の伝導体ピン３が前記貫通孔の一部に挿入され、伝導体ピン３はそれぞれ電線に連結されている。
コネクターの下側には、伝導体ピンに対応する位置に、多数の伝導体ピンが設けられた相手コネクター（図示せず）が接続され、図面に具体的に示していないが、伝導体ピンは、相手コネクターの伝導体ピンが挿入される孔を有する。
以下では、相手コネクターと接続されるために、相手コネクターに臨む面を“コネクターの接続面”と称す。
コネクターの下側には、伝導体ピンに対応する位置に、多数の伝導体ピンが設けられた相手コネクター（図示せず）が接続され、図面に具体的に示していないが、伝導体ピンは、相手コネクターの伝導体ピンが挿入される孔を有する。
以下では、相手コネクターと接続されるために、相手コネクターに臨む面を“コネクターの接続面”と称す。
前記貫通孔に挿入される伝導体ピンの位置および数量は、当該コネクターが使用される用途によって異なるものであり、よって伝導体ピンが挿入されていない貫通孔が残ることになる。
このように、伝導体ピンが挿入されない貫通孔は、水分または異物の流入が心配であるので、適切に塞がなければならない。このため、開いたままで残る貫通孔を塞ぐには、主に非金属材の防水ピン５が使用される。
特開２００１−９３５９９号公報
このように、伝導体ピンが挿入されない貫通孔は、水分または異物の流入が心配であるので、適切に塞がなければならない。このため、開いたままで残る貫通孔を塞ぐには、主に非金属材の防水ピン５が使用される。
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたもので、電気的信号を伝達するための伝導体ピンと異物の遮断のための防水ピンがコネクターに装着された状態を一度に自動的に把握することができるようにしたコネクター検査装置を提供することにその目的がある。
上記課題を解決するために、本発明は、コネクターの接続面に対向する対向面を形成するピン支持部を有する検査ジグと；前記ピン支持部の対向面から垂直に突出してコネクターの伝導体ピンに接続するように設けられた伝導体検査ピンと；前記ピン支持部の対向面から垂直に突出してコネクターの防水ピンに接触するように設けられ、コネクターが接続方向に沿って前記ピン支持部内に直線移動するように設けられたムービングピンと；前記ムービングピンが前記接続方向に移動すれば前記ムービングピンと接触するように設けられた検査ターミナルと；前記ムービングピンと検査ターミナルとの間の通電状態と、検査対象コネクターの伝導体ピンと前記伝導体検査ピンとの間の通電状態を検出する入出力ボードと；前記ムービングピンと検査ターミナルとの間の通電状態と、検査対象コネクターの伝導体ピンと前記伝導体検査ピンとの間の通電状態を視覚的にディスプレイするディスプレイ手段と；前記入出力ボードを制御し、前記入出力ボードからの情報を用いて前記ディスプレイ手段を駆動する制御回路と；を含んでなることを特徴とする。
本発明によれば、コネクターに設けられた伝導体ピンおよび防水ピンがコネクターに適切に装着されたかを簡単に、正確に把握することができる。
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。
コネクターの伝導体ピンと防水ピンは、実際には多数取り付けられるが、簡単にするために、図２および図３は伝導体ピン３と防水ピン５が一つずつ設けられたコネクター１を示す。
図２および図３に示すように、本発明の実施例は、コネクター１の接続面に対向する対向面７を形成するピン支持部９を備えた検査ジグ１１と、ピン支持部９の対向面７から垂直に突出してコネクター１の伝導体ピン３に接続するように取り付けられた伝導体検査ピン１３と、ピン支持部９の対向面７から垂直に突出してコネクター１の防水ピン５に接触するように設けられ、コネクター１が接続方向に沿ってピン支持部９を通して直線移動できるように設けられたムービングピン１５と、ムービングピン１５が接続方向に移動すればムービングピン１５と接触するように設けられた検査ターミナル１７と、ムービングピン１５と検査ターミナル１７との間の通電状態と、検査対象コネクター１の伝導体ピン３と伝導体検査ピン１３との間の通電状態とを検出する入出力ボード１９と、ムービングピン１５と検査ターミナル１７との間の通電状態と、検査対象コネクター１の伝導体ピン３と伝導体検査ピン１３との間の通電状態とを視覚的にディスプレイするディスプレイ手段２１と、入出力ボード１９を制御して、入出力ボード１９からの情報を用いてディスプレイ手段２１を駆動する制御回路２３とを含んでなる。
図２および図３に示すように、本発明の実施例は、コネクター１の接続面に対向する対向面７を形成するピン支持部９を備えた検査ジグ１１と、ピン支持部９の対向面７から垂直に突出してコネクター１の伝導体ピン３に接続するように取り付けられた伝導体検査ピン１３と、ピン支持部９の対向面７から垂直に突出してコネクター１の防水ピン５に接触するように設けられ、コネクター１が接続方向に沿ってピン支持部９を通して直線移動できるように設けられたムービングピン１５と、ムービングピン１５が接続方向に移動すればムービングピン１５と接触するように設けられた検査ターミナル１７と、ムービングピン１５と検査ターミナル１７との間の通電状態と、検査対象コネクター１の伝導体ピン３と伝導体検査ピン１３との間の通電状態とを検出する入出力ボード１９と、ムービングピン１５と検査ターミナル１７との間の通電状態と、検査対象コネクター１の伝導体ピン３と伝導体検査ピン１３との間の通電状態とを視覚的にディスプレイするディスプレイ手段２１と、入出力ボード１９を制御して、入出力ボード１９からの情報を用いてディスプレイ手段２１を駆動する制御回路２３とを含んでなる。
伝導体検査ピン１３はピン支持部９に固定され、検査対象コネクター１の伝導体ピン３に接続されて電気的な信号を伝達するようになっている。
ムービングピン１５は検査対象となるコネクター１側に付勢されるように弾支されており、コネクター１が検査ジグ１１に接近して、防水ピン５がムービングピン１５を押せば、接続方向にピン支持部９内に直線移動することができる構造になっている。これは、既に知られた公知の技術であるので、その具体的な構造は省略する。
ムービングピン１５は検査対象となるコネクター１側に付勢されるように弾支されており、コネクター１が検査ジグ１１に接近して、防水ピン５がムービングピン１５を押せば、接続方向にピン支持部９内に直線移動することができる構造になっている。これは、既に知られた公知の技術であるので、その具体的な構造は省略する。
検査ジグ１１には、ピン支持部９の対向面７に平行な検出面２５を有する検出部２７が設けられ、検査ターミナル１７は検出部２７に取り付けられる。
入出力ボード１９は、ムービングピン１５および伝導体ピン３に連結された出力端子２９を介して電気的信号を印加し、検査ターミナル１７および伝導体検査ピン１３に連結された入力端子３１を介して電気的信号を受ける。
ディスプレイ手段２１はモニターから構成され、制御回路２３としてはパーソナルコンピューターが使用できる。また、ディスプレイ手段２１、制御回路２３および入出力ボード１９は、ムービングピン１５と検査ターミナル１７との間、および伝導体ピン３と伝導体検査ピン１３との間のスイチング作用によって点灯するように配列された多数の発光ダイオードまたは電球などで取り替えることができる。
入出力ボード１９は、ムービングピン１５および伝導体ピン３に連結された出力端子２９を介して電気的信号を印加し、検査ターミナル１７および伝導体検査ピン１３に連結された入力端子３１を介して電気的信号を受ける。
ディスプレイ手段２１はモニターから構成され、制御回路２３としてはパーソナルコンピューターが使用できる。また、ディスプレイ手段２１、制御回路２３および入出力ボード１９は、ムービングピン１５と検査ターミナル１７との間、および伝導体ピン３と伝導体検査ピン１３との間のスイチング作用によって点灯するように配列された多数の発光ダイオードまたは電球などで取り替えることができる。
以下に、このように構成される本実施形態の作用を説明する。
図２の状態は検査対象コネクター１が検査ジグ１１に結合されていない状態であり、入出力ボード１９の出力端子２９からいくら電気的信号を印加しても、入力端子３１では何の信号も受けることができない。
コネクター１を接続方向に移動させれば、結局図３のように、コネクター１が検査ジグ１１に結合された状態となる。コネクター１が接続方向に移動すると、ムービングピン１５は防水ピン５に接触することになり、防水ピン５によって押し出されて検査ターミナル１７に接触する状態となる。よって、ムービングピン１５と検査ターミナル１７との間は通電状態となり、入出力ボード１９は、ムービングピン１５に出力された信号が検査ターミナル１７を介して入力端子３１に入力されることを感知できる。
図２の状態は検査対象コネクター１が検査ジグ１１に結合されていない状態であり、入出力ボード１９の出力端子２９からいくら電気的信号を印加しても、入力端子３１では何の信号も受けることができない。
コネクター１を接続方向に移動させれば、結局図３のように、コネクター１が検査ジグ１１に結合された状態となる。コネクター１が接続方向に移動すると、ムービングピン１５は防水ピン５に接触することになり、防水ピン５によって押し出されて検査ターミナル１７に接触する状態となる。よって、ムービングピン１５と検査ターミナル１７との間は通電状態となり、入出力ボード１９は、ムービングピン１５に出力された信号が検査ターミナル１７を介して入力端子３１に入力されることを感知できる。
一方、前記のようにコネクター１が検査ジグ１１に結合されれば、コネクター１の伝導体ピン３が伝導体検査ピン１３に接続され、伝導体ピン３と伝導体検査ピン１３との間も通電状態となり、入出力ボード１９は、伝導体ピン３に出力された信号が伝導体検査ピン１３を介してリターンされることを検出できる。
制御回路２３は入出力ボード１９を制御して、前記のようにムービングピン１５と伝導体ピン３に信号を出力し、その信号が検査ターミナル１７と伝導体検査ピン１３を介してリターンされるかを検出し、ディスプレイ手段２１によって、コネクター１の防水ピン５と伝導体ピン３がコネクター１に装着された状態を視覚的に知らせる。よって、コネクター１の状態を検査する者はコネクター１の状態を非常に便利で正確に把握することができる。
制御回路２３は入出力ボード１９を制御して、前記のようにムービングピン１５と伝導体ピン３に信号を出力し、その信号が検査ターミナル１７と伝導体検査ピン１３を介してリターンされるかを検出し、ディスプレイ手段２１によって、コネクター１の防水ピン５と伝導体ピン３がコネクター１に装着された状態を視覚的に知らせる。よって、コネクター１の状態を検査する者はコネクター１の状態を非常に便利で正確に把握することができる。
本発明は、電気的信号を伝達するための伝導体ピンと異物遮断のための防水ピンがコネクターに取り付けられた状態を一度に自動的に把握することができるようにしたコネクター検査装置に適用可能である。
以上で、本発明に関する好ましい実施例を説明したが、本発明は前記実施例に限定されず、本発明の属する技術範囲を逸脱しない範囲での全ての変更が含まれる。
１ コネクター
３ 伝導体ピン
５ 防水ピン
７ 対向面
９ ピン支持部
１１ 検査ジグ
１３ 伝導体検査ピン
１５ ムービングピン
１７ 検査ターミナル
１９ 入出力ボード
２１ ディスプレイ手段
２３ 制御回路
２５ 検出面
２７ 検出部
２９ 出力端子
３１ 入力端子
３ 伝導体ピン
５ 防水ピン
７ 対向面
９ ピン支持部
１１ 検査ジグ
１３ 伝導体検査ピン
１５ ムービングピン
１７ 検査ターミナル
１９ 入出力ボード
２１ ディスプレイ手段
２３ 制御回路
２５ 検出面
２７ 検出部
２９ 出力端子
３１ 入力端子
Claims (3)
- コネクターの接続面に対向する対向面を形成するピン支持部を有する検査ジグと；
前記ピン支持部の対向面から垂直に突出してコネクターの伝導体ピンに接続するように設けられた伝導体検査ピンと；
前記ピン支持部の対向面から垂直に突出してコネクターの防水ピンに接触するように設けられ、コネクターが接続方向に沿って前記ピン支持部内に直線移動するように設けられたムービングピンと；
前記ムービングピンが前記接続方向に移動すれば前記ムービングピンと接触するように設けられた検査ターミナルと；
前記ムービングピンと検査ターミナルとの間の通電状態と、検査対象コネクターの伝導体ピンと前記伝導体検査ピンとの間の通電状態を検出する入出力ボードと；
前記ムービングピンと検査ターミナルとの間の通電状態と、検査対象コネクターの伝導体ピンと前記伝導体検査ピンとの間の通電状態を視覚的にディスプレイするディスプレイ手段と；
前記入出力ボードを制御し、前記入出力ボードからの情報を用いて前記ディスプレイ手段を駆動する制御回路と；
を含んでなることを特徴とするコネクター検査装置。 - 前記検査ジグには、前記ピン支持部の対向面に平行な検出面を有する検出部が設けられ、
前記検査ターミナルは前記検出部に設けられることを特徴とする、請求項１に記載のコネクター検査装置。 - 前記ディスプレイ手段はモニターであることを特徴とする請求項１に記載のコネクター検査装置。
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010232018A (ja) * | 2009-03-27 | 2010-10-14 | Yazaki Corp | コネクタ検査治具 |
| JP2011129408A (ja) * | 2009-12-18 | 2011-06-30 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | 防水型コネクタ検査装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100731296B1 (ko) * | 2006-03-31 | 2007-06-27 | 경신공업 주식회사 | 정션박스의 도통검사기 |
| KR200474847Y1 (ko) * | 2012-11-26 | 2014-10-23 | 주식회사 유라코퍼레이션 | 커넥터 검사장치 |
| KR102388161B1 (ko) * | 2021-07-26 | 2022-05-17 | 주식회사 디케이티 | 기판 검사장치 및 검사방법 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5812874U (ja) * | 1981-07-17 | 1983-01-27 | 住友電装株式会社 | コネクタ試験器 |
| JPS62114369U (ja) * | 1986-01-10 | 1987-07-21 | ||
| JPH0256786B2 (ja) * | 1988-06-24 | 1990-12-03 | Yazaki Corp | |
| JPH07122331A (ja) * | 1993-10-27 | 1995-05-12 | Yazaki Corp | 防水コネクタ用ダミー栓および防水コネクタ |
| JPH0982444A (ja) * | 1995-09-06 | 1997-03-28 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | コネクタ検査器 |
| JPH10332767A (ja) * | 1997-05-28 | 1998-12-18 | Morihiro Shimano | 回路基板の欠品検査用プローブ及びそれを使用した回路基板の欠品検査装置 |
| JPH1126904A (ja) * | 1997-07-04 | 1999-01-29 | Mitsubishi Electric Corp | 電子回路基板及びその基板種類判別方法並びにその基板検査方法 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NO834393L (no) * | 1982-12-13 | 1984-06-14 | Reed Products Inc | Koblingsanordning for elektrisk undervannskabel |
| JPS6483163A (en) | 1987-09-25 | 1989-03-28 | Hitachi Electr Eng | Checking system of wired circuit board |
| JPH0636016B2 (ja) | 1990-02-23 | 1994-05-11 | 松下電工株式会社 | 端子の検査方法 |
| JPH07159474A (ja) * | 1993-12-08 | 1995-06-23 | Nissan Diesel Motor Co Ltd | 車両の電装配線診断装置 |
| US5614820A (en) * | 1994-03-10 | 1997-03-25 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Connector examination device for determining a connection in a connector |
| JP3211932B2 (ja) | 1995-08-02 | 2001-09-25 | 矢崎総業株式会社 | コネクタの検査方法およびコネクタ検査具 |
| DE60011443T2 (de) * | 1999-07-28 | 2005-06-23 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd., Yokkaichi | Vorrichtung zum Anzeigen der Drahteinführung |
| JP2001194403A (ja) | 2000-01-13 | 2001-07-19 | Auto Network Gijutsu Kenkyusho:Kk | 測定用中継装置 |
| JP2001332370A (ja) | 2000-05-19 | 2001-11-30 | Yazaki Corp | コネクタ端子検査器 |
| KR100351106B1 (ko) * | 2000-12-20 | 2002-09-05 | 경신공업 주식회사 | 자동차용 와이어링 하네스의 조립 및 회로검사 지그 |
| JP2004037164A (ja) | 2002-07-01 | 2004-02-05 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | コネクタ検査装置 |
| KR20040013711A (ko) * | 2002-08-08 | 2004-02-14 | 현대자동차주식회사 | 자동차의 인라인 커넥터 검증 시스템 |
-
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-
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Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5812874U (ja) * | 1981-07-17 | 1983-01-27 | 住友電装株式会社 | コネクタ試験器 |
| JPS62114369U (ja) * | 1986-01-10 | 1987-07-21 | ||
| JPH0256786B2 (ja) * | 1988-06-24 | 1990-12-03 | Yazaki Corp | |
| JPH07122331A (ja) * | 1993-10-27 | 1995-05-12 | Yazaki Corp | 防水コネクタ用ダミー栓および防水コネクタ |
| JPH0982444A (ja) * | 1995-09-06 | 1997-03-28 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | コネクタ検査器 |
| JPH10332767A (ja) * | 1997-05-28 | 1998-12-18 | Morihiro Shimano | 回路基板の欠品検査用プローブ及びそれを使用した回路基板の欠品検査装置 |
| JPH1126904A (ja) * | 1997-07-04 | 1999-01-29 | Mitsubishi Electric Corp | 電子回路基板及びその基板種類判別方法並びにその基板検査方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010232018A (ja) * | 2009-03-27 | 2010-10-14 | Yazaki Corp | コネクタ検査治具 |
| JP2011129408A (ja) * | 2009-12-18 | 2011-06-30 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | 防水型コネクタ検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20060105604A1 (en) | 2006-05-18 |
| KR20060053661A (ko) | 2006-05-22 |
| US7230433B2 (en) | 2007-06-12 |
| KR100666854B1 (ko) | 2007-01-10 |
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