JPH0636016B2 - 端子の検査方法 - Google Patents
端子の検査方法Info
- Publication number
- JPH0636016B2 JPH0636016B2 JP2043466A JP4346690A JPH0636016B2 JP H0636016 B2 JPH0636016 B2 JP H0636016B2 JP 2043466 A JP2043466 A JP 2043466A JP 4346690 A JP4346690 A JP 4346690A JP H0636016 B2 JPH0636016 B2 JP H0636016B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- probe
- contact
- terminal pin
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 電子部品あるいはコネクター等の端子の導通、非導通あ
るいは有無を検査する方法に関するものである。
るいは有無を検査する方法に関するものである。
電子部品あるいはコネクター等の端子の導通を検査する
方法としては、例えば実開昭６０−９０６８２号公報が
ある。この公報による検査方法は、ばねで突出付勢され
た伸縮自在な端子接触ピンを治具本体に複数本平行に突
設した治具により端子の導通確認を行うものである。
方法としては、例えば実開昭６０−９０６８２号公報が
ある。この公報による検査方法は、ばねで突出付勢され
た伸縮自在な端子接触ピンを治具本体に複数本平行に突
設した治具により端子の導通確認を行うものである。
更に詳しくは第４図において、板状の検査治具本体４１
の複数の端子接触ピン４２が平行に突設されている。各
端子接触ピン４２は内パイプ４２ａにキャップ状の外パ
イプ４２ｂを伸縮自在に外嵌させたものであり、内部に
突出付勢用のばね（図示せず）が収容してある。内パイ
プ４２ａは検査治具本体４１に固定されており、端子ね
じ４６が裏側に突出している。端子ねじ４６にはテスタ
等の試験器に接続するリード線４７が接続してある。こ
のような構成により端子ブロック４８の各端子４９に端
子接触ピン４２を押し当てて、複数個の端子４９の導通
確認を行うものである。
の複数の端子接触ピン４２が平行に突設されている。各
端子接触ピン４２は内パイプ４２ａにキャップ状の外パ
イプ４２ｂを伸縮自在に外嵌させたものであり、内部に
突出付勢用のばね（図示せず）が収容してある。内パイ
プ４２ａは検査治具本体４１に固定されており、端子ね
じ４６が裏側に突出している。端子ねじ４６にはテスタ
等の試験器に接続するリード線４７が接続してある。こ
のような構成により端子ブロック４８の各端子４９に端
子接触ピン４２を押し当てて、複数個の端子４９の導通
確認を行うものである。
異なった従来例を第５図に示す。例えばＰＧＡ（ピング
リッドアレイ）５１等での検査において、基板５２に突
出して設けられた端子ピン５３に伸縮自在なプローブ５
４を各端子ピン５３に押し当て、各プローブ５４からテ
スタ等の導通チェッカー５８ヘリード線５５が接続され
ている。一方、ＰＧＡ５１の基板５２の端子ピン５３と
反対側に設け、端子ピン５３と導通した導電層（図示せ
ず）に接触ピン５６を押し当てる。各接触ピン５６は全
て短絡されてやはりリード線５７により導通チェッカー
５８に接続されている。この装置によりプローブ５４と
接触ピン５６の間の導通を調べ端子ピン５３の有無ある
いは端子ピン５３と導電層との導通を検査してある。
リッドアレイ）５１等での検査において、基板５２に突
出して設けられた端子ピン５３に伸縮自在なプローブ５
４を各端子ピン５３に押し当て、各プローブ５４からテ
スタ等の導通チェッカー５８ヘリード線５５が接続され
ている。一方、ＰＧＡ５１の基板５２の端子ピン５３と
反対側に設け、端子ピン５３と導通した導電層（図示せ
ず）に接触ピン５６を押し当てる。各接触ピン５６は全
て短絡されてやはりリード線５７により導通チェッカー
５８に接続されている。この装置によりプローブ５４と
接触ピン５６の間の導通を調べ端子ピン５３の有無ある
いは端子ピン５３と導電層との導通を検査してある。
上記第一の実施例において、端子の有無の検査を行うた
めには端子間が短絡されるか、端子個々の他端から同じ
ようにリード線がテスタ等の試験器に繋がれているか又
は端子に回路が構成れていなければならない。
めには端子間が短絡されるか、端子個々の他端から同じ
ようにリード線がテスタ等の試験器に繋がれているか又
は端子に回路が構成れていなければならない。
これを解決する第二の従来例においては、プローブおよ
び接触ピンがそれぞれ端子ピンの数だけ必要になり、検
査用の治具が複雑、高価なものとなる。
び接触ピンがそれぞれ端子ピンの数だけ必要になり、検
査用の治具が複雑、高価なものとなる。
また、検査されるＰＧＡ等の端子ピンのピン数が多くな
ってくると、導電層のランド面積が小さくなり接触ピン
を精度よくランドに押し当てることが難しい。またラン
ド部が金めっき等をされており、きずを付けてはならな
い場合このままでは使えない。そのために例えば導電性
ゴム等を当てて検査しようとすると、表面の凹凸による
非接触による検査の信頼性不足あるいはゴムの耐久性等
の欠如等の問題がある。
ってくると、導電層のランド面積が小さくなり接触ピン
を精度よくランドに押し当てることが難しい。またラン
ド部が金めっき等をされており、きずを付けてはならな
い場合このままでは使えない。そのために例えば導電性
ゴム等を当てて検査しようとすると、表面の凹凸による
非接触による検査の信頼性不足あるいはゴムの耐久性等
の欠如等の問題がある。
本発明はこれらの課題を解決し信頼性の高い端子検査方
法を提供することを目的とするのである。
法を提供することを目的とするのである。
このような目的を達成するために本発明は次のような手
段を有するものである。
段を有するものである。
即ち、端子の端子ピンと接触可能で伸縮自在なプローブ
を有する検査治具と、前記端子ピンを嵌挿する孔を有す
る絶縁基板の一面に電気良導体を形成してなる保持治具
とを用い、前記電気良導体を前記検査治具に対面させ、
前記端子ピンと前記プローブとの接触又は前記電気良導
体と前記プローブとの接触により前記端子ピンの有無を
検出することを特徴とする端子の検査方法とするもので
ある。
を有する検査治具と、前記端子ピンを嵌挿する孔を有す
る絶縁基板の一面に電気良導体を形成してなる保持治具
とを用い、前記電気良導体を前記検査治具に対面させ、
前記端子ピンと前記プローブとの接触又は前記電気良導
体と前記プローブとの接触により前記端子ピンの有無を
検出することを特徴とする端子の検査方法とするもので
ある。
端子ピンを嵌挿する孔を有する絶縁基板の一面に電気良
導体を形成してなる保持治具を設け、端子の端子ピンと
接触可能で伸縮自在なプローブにより端子ピンの検査を
するようにしたことにより、端子ピン上のプローブは端
子ピンに、もし端子ピンがなかったら電気良導体に押し
当てられる。一方、電気良導体上のプローブは電気良導
体に押し当てられる。従って、それぞれの端子ピン上の
プローブと電気良導体上のプローブの間の導通を調べる
と、端子ピンが正常であればプローブ間は非導通に、端
子ピンが欠如していればプローブ間は導通する。
導体を形成してなる保持治具を設け、端子の端子ピンと
接触可能で伸縮自在なプローブにより端子ピンの検査を
するようにしたことにより、端子ピン上のプローブは端
子ピンに、もし端子ピンがなかったら電気良導体に押し
当てられる。一方、電気良導体上のプローブは電気良導
体に押し当てられる。従って、それぞれの端子ピン上の
プローブと電気良導体上のプローブの間の導通を調べる
と、端子ピンが正常であればプローブ間は非導通に、端
子ピンが欠如していればプローブ間は導通する。
一方、端子ピン上のプローブ間の導通を個々に調べる
と、それぞれの端子ピン間の分離が完全であればプロー
ブ間は非導通に、端子ピン間が繋がっていればプローブ
間は導通する。このようにプローブ間を個々に切り換え
て導通を検査することにより、ＰＧＡ等の端子ピンを有
する電子部品の回路パターンの分離、導通を検査するこ
とができる。
と、それぞれの端子ピン間の分離が完全であればプロー
ブ間は非導通に、端子ピン間が繋がっていればプローブ
間は導通する。このようにプローブ間を個々に切り換え
て導通を検査することにより、ＰＧＡ等の端子ピンを有
する電子部品の回路パターンの分離、導通を検査するこ
とができる。
以下本発明の実施例を図面に基づき詳細に説明する。
第１図は本発明の端子の検査方法の装置概要を、検査ワ
ーク１０がＰＧＡの場合につき示したものである。つま
り、絶縁基板１１の複数の端子ピン１２が突出して設け
られたＰＧＡの端子ピン１２を、貫通孔１５を有し一面
に導電層１４を設けた絶縁板１３からなる保持治具１６
の貫通孔１５に嵌挿する。一方、絶縁体１７に設けた複
数のプローブ１８からなる検査治具１９はそれぞれのプ
ローブ１８がリード線２１を介し導通チェッカー２０に
接続されている。
ーク１０がＰＧＡの場合につき示したものである。つま
り、絶縁基板１１の複数の端子ピン１２が突出して設け
られたＰＧＡの端子ピン１２を、貫通孔１５を有し一面
に導電層１４を設けた絶縁板１３からなる保持治具１６
の貫通孔１５に嵌挿する。一方、絶縁体１７に設けた複
数のプローブ１８からなる検査治具１９はそれぞれのプ
ローブ１８がリード線２１を介し導通チェッカー２０に
接続されている。
この検査治具１９のプローブ１８の詳細を示したのが第
２図である。プローブ１８はプローブ本体２２と、プロ
ーブ本体２２に対しばね２４により付勢され、伸縮自在
な端子接触ピン２３とを備えている。端子接触ピン２３
は保持治具１６の貫通孔１５の回りの導電層１４に接触
できるだけの先端面積を有し、電気的接触を確実なもの
とするための凸部の尖った凹凸を備えている。
２図である。プローブ１８はプローブ本体２２と、プロ
ーブ本体２２に対しばね２４により付勢され、伸縮自在
な端子接触ピン２３とを備えている。端子接触ピン２３
は保持治具１６の貫通孔１５の回りの導電層１４に接触
できるだけの先端面積を有し、電気的接触を確実なもの
とするための凸部の尖った凹凸を備えている。
第３図に検査を行っている状態を示している。検査ワー
ク１０の絶縁基板１１の端子ピン１２用の貫通孔３１の
一部に端子ピンが組み込まれていない貫通孔３２があっ
た場合を示したのがこの第３図である。正常な端子ピン
１２のあるプローブ２、３、４、５、６は端子ピン１２
に押し当てられ縮んだ状態になっている。一方、端子ピ
ン１２のない貫通孔３２に対応するプローブ１は伸びた
状態で保持治具１６の貫通孔１５上に来てその回りの導
電板１４に押し当てられる。また、本来端子ピン１２の
ない位置にあるプローブ７はやはり伸びた状態で保持治
具１６の導電層１４に押し当てられている。この状態で
検査を行う場合、先ずプローブ１とプローブ７の間の導
通を調べる、そうするとプローブ１は本来あるべき端子
１２がないために導電板１４に接触しており、また、プ
ローブ７も導電板１４に接触しているために、プローブ
１とプローブ７の間は導通する。つまり、プローブ間が
導通することはプローブ１に対応する端子ピンが無いこ
とを表している。続いてプローブ２とプローブ７の間の
導通を調べる。プローブ２は端子ピン１２に接触してお
り、端子ピン１２は保持治具１６の導電板１４と分離さ
れているために、プローブ２とプローブ７の間は非導通
となる。つまり、プローブ間が非導通になることはプロ
ーブ２に対応する端子ピンが有ることを表している。更
に、プローブ３とプローブ７の間、プローブ４とプロー
ブ７の間といった順番に導通を調べて行く。その結果、
導通していれば端子ピンが無いために不良、非導通とな
れば端子ピンは有るから良となる。
ク１０の絶縁基板１１の端子ピン１２用の貫通孔３１の
一部に端子ピンが組み込まれていない貫通孔３２があっ
た場合を示したのがこの第３図である。正常な端子ピン
１２のあるプローブ２、３、４、５、６は端子ピン１２
に押し当てられ縮んだ状態になっている。一方、端子ピ
ン１２のない貫通孔３２に対応するプローブ１は伸びた
状態で保持治具１６の貫通孔１５上に来てその回りの導
電板１４に押し当てられる。また、本来端子ピン１２の
ない位置にあるプローブ７はやはり伸びた状態で保持治
具１６の導電層１４に押し当てられている。この状態で
検査を行う場合、先ずプローブ１とプローブ７の間の導
通を調べる、そうするとプローブ１は本来あるべき端子
１２がないために導電板１４に接触しており、また、プ
ローブ７も導電板１４に接触しているために、プローブ
１とプローブ７の間は導通する。つまり、プローブ間が
導通することはプローブ１に対応する端子ピンが無いこ
とを表している。続いてプローブ２とプローブ７の間の
導通を調べる。プローブ２は端子ピン１２に接触してお
り、端子ピン１２は保持治具１６の導電板１４と分離さ
れているために、プローブ２とプローブ７の間は非導通
となる。つまり、プローブ間が非導通になることはプロ
ーブ２に対応する端子ピンが有ることを表している。更
に、プローブ３とプローブ７の間、プローブ４とプロー
ブ７の間といった順番に導通を調べて行く。その結果、
導通していれば端子ピンが無いために不良、非導通とな
れば端子ピンは有るから良となる。
次に、端子間の分離を検査するのに例えば、端子ピン２
と端子ピン３の間の導通を同じように調べ、端子間が非
導通であれば正常、端子間が導通であれば不良といった
判定をする。同じように端子ピン２と端子ピン４、端子
ピン２と端子ピン５…といった具合に検査をすることに
より端子間の分離を検査することができる。
と端子ピン３の間の導通を同じように調べ、端子間が非
導通であれば正常、端子間が導通であれば不良といった
判定をする。同じように端子ピン２と端子ピン４、端子
ピン２と端子ピン５…といった具合に検査をすることに
より端子間の分離を検査することができる。
以上述べたような端子の検査方法としたことにより、本
発明は次のような効果を有するものである。
発明は次のような効果を有するものである。
即ち、端子の端子ピンと接触可能で伸縮自在なプローブ
を有する検査治具と、前記端子ピンを嵌挿する孔を有す
る絶縁基板の一面に電気良導体を形成してなる保持治具
とを用い、前記電気良導体を前記検査治具に対面させ、
前記端子ピンと前記プローブとの接触又は前記電気良導
体と前記プローブとの接触により前記端子ピンの有無を
検出することを特徴とする端子の検査方法としたことに
より、端子の有無の検査において端子自体に回路が構成
されていない端子に対しても検査が可能となり、また、
プローブおよび接触ピンが大幅に少なくなり、安価な治
具で簡単に行うことができるようになった。また、検査
されるＰＧＡ等の導電層の小さなランド部に接触ピンを
押し当てる必要がなく、検査の信頼性が高く、ワークを
きず付ける心配もない。
を有する検査治具と、前記端子ピンを嵌挿する孔を有す
る絶縁基板の一面に電気良導体を形成してなる保持治具
とを用い、前記電気良導体を前記検査治具に対面させ、
前記端子ピンと前記プローブとの接触又は前記電気良導
体と前記プローブとの接触により前記端子ピンの有無を
検出することを特徴とする端子の検査方法としたことに
より、端子の有無の検査において端子自体に回路が構成
されていない端子に対しても検査が可能となり、また、
プローブおよび接触ピンが大幅に少なくなり、安価な治
具で簡単に行うことができるようになった。また、検査
されるＰＧＡ等の導電層の小さなランド部に接触ピンを
押し当てる必要がなく、検査の信頼性が高く、ワークを
きず付ける心配もない。
第１図は本発明の端子の検査方法の実施例の概要を、検
査ワークがＰＧＡの場合につき示した説明図、第２図は
本発明の端子の検査方法の実施例の検査治具のプローブ
の詳細を示した断面図、第３図はその検査方法により検
査を行っている状態を示した説明図、、第４図は従来例
のコネクター等の端子の導通を検査する方法を示した装
置斜視図、第５図は端子ピンの有無を検査する異なった
従来例の方法を示す説明図である。 １０……検査ワーク、１２……端子ピン、１４……導電
板、１６……保持治具、１８……プローブ、１９……検
査治具、２０……導通チェッカー
査ワークがＰＧＡの場合につき示した説明図、第２図は
本発明の端子の検査方法の実施例の検査治具のプローブ
の詳細を示した断面図、第３図はその検査方法により検
査を行っている状態を示した説明図、、第４図は従来例
のコネクター等の端子の導通を検査する方法を示した装
置斜視図、第５図は端子ピンの有無を検査する異なった
従来例の方法を示す説明図である。 １０……検査ワーク、１２……端子ピン、１４……導電
板、１６……保持治具、１８……プローブ、１９……検
査治具、２０……導通チェッカー
Claims (1)
- 【請求項１】端子の端子ピンと接触可能で伸縮自在なプ
ローブを有する検査治具と、前記端子ピンを嵌挿する孔
を有する絶縁基板の一面に電気良導体を形成してなる保
持治具とを用い、前記電気良導体を前記検査治具に対面
させ、前記端子ピンと前記プローブとの接触又は前記電
気良導体と前記プローブとの接触により前記端子ピンの
有無を検出することを特徴とする端子の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2043466A JPH0636016B2 (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | 端子の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2043466A JPH0636016B2 (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | 端子の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03245068A JPH03245068A (ja) | 1991-10-31 |
| JPH0636016B2 true JPH0636016B2 (ja) | 1994-05-11 |
Family
ID=12664495
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2043466A Expired - Lifetime JPH0636016B2 (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | 端子の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0636016B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100666854B1 (ko) | 2004-11-17 | 2007-01-10 | 현대자동차주식회사 | 커넥터 핀 검사장치 |
-
1990
- 1990-02-23 JP JP2043466A patent/JPH0636016B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03245068A (ja) | 1991-10-31 |
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