JPH03245068A - 端子の検査方法 - Google Patents
端子の検査方法Info
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- JPH03245068A JPH03245068A JP2043466A JP4346690A JPH03245068A JP H03245068 A JPH03245068 A JP H03245068A JP 2043466 A JP2043466 A JP 2043466A JP 4346690 A JP4346690 A JP 4346690A JP H03245068 A JPH03245068 A JP H03245068A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 8
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野］
電子部品あるいはコネクター等の端子の導通、非導通あ
るいは有無を検査する方法に関するものである。
るいは有無を検査する方法に関するものである。
電子部品あるいはコネクター等の端子の導通を検査する
方法としては、例えば実開昭６０−９０６８２号公報が
ある。この公報による検査方法は、ばねで突出付勢され
た伸縮自在な端子接触ピンを治具本体に複数本平行に突
設した治具により端子の導通確認を行うものである。
方法としては、例えば実開昭６０−９０６８２号公報が
ある。この公報による検査方法は、ばねで突出付勢され
た伸縮自在な端子接触ピンを治具本体に複数本平行に突
設した治具により端子の導通確認を行うものである。
更に詳しくは第４図において、板状の検査治具本体４１
に複数の端子接触ピン４２が平行に突設されている。各
端子接触ピン４２は内パイプ４２ａにキャップ状の外パ
イプ４２ｂを伸縮自在に外嵌させたものであり、内部に
突出付勢用のばね（図示せず）が収容しである。内パイ
プ４２ａは検査治具本体４■に固定されており、端子ね
じ４６が裏側に突出している。端子ねし４６にはテスタ
等の試験器に接続するリード線４７が接続しである。こ
のような構成により端子ブロック４８の各端子４９に端
子接触ピン４２を押し当てて、複数個の端子４９の導゛
通確認を行うものである。
に複数の端子接触ピン４２が平行に突設されている。各
端子接触ピン４２は内パイプ４２ａにキャップ状の外パ
イプ４２ｂを伸縮自在に外嵌させたものであり、内部に
突出付勢用のばね（図示せず）が収容しである。内パイ
プ４２ａは検査治具本体４■に固定されており、端子ね
じ４６が裏側に突出している。端子ねし４６にはテスタ
等の試験器に接続するリード線４７が接続しである。こ
のような構成により端子ブロック４８の各端子４９に端
子接触ピン４２を押し当てて、複数個の端子４９の導゛
通確認を行うものである。
異なった従来例を第５図に示す。例えばＰＧＡ（ピング
リッドアレイ）５１等での検査において、基板５２に突
出して設けられた端子ピン５３に伸縮自在なプローブ５
４を各端子ピン５３に押し当て、各プローブ５４からテ
スタ等の導通チエッカ−５８へリード線５５が接続され
ている。一方ＰＧＡ５１の基板５２の端子ピン５３と反
対側に設け、端子ピン５３と導通した導電層（図示せｆ
）に接触ピン５６を押し当てる。各接触ピン５６は全て
短絡されてやはりリート線５７により導通チエッカ−５
８に接続されている。この装置によりプローブ５４と接
触ピ〉′５６の間の導通を調べ端子ピン５３の有無ある
いは端子ピン５３と導電層との導通を検査している。
リッドアレイ）５１等での検査において、基板５２に突
出して設けられた端子ピン５３に伸縮自在なプローブ５
４を各端子ピン５３に押し当て、各プローブ５４からテ
スタ等の導通チエッカ−５８へリード線５５が接続され
ている。一方ＰＧＡ５１の基板５２の端子ピン５３と反
対側に設け、端子ピン５３と導通した導電層（図示せｆ
）に接触ピン５６を押し当てる。各接触ピン５６は全て
短絡されてやはりリート線５７により導通チエッカ−５
８に接続されている。この装置によりプローブ５４と接
触ピ〉′５６の間の導通を調べ端子ピン５３の有無ある
いは端子ピン５３と導電層との導通を検査している。
［発明が解決しようとする課題］
上記第一の従来例において、端子の有無の検査を行うた
めには端子間が短絡されるか、端子個々の他端から同し
ようにリート線がテスタ等の試験器に繋がれているか又
は端子に回路が構成されていなければならない。
めには端子間が短絡されるか、端子個々の他端から同し
ようにリート線がテスタ等の試験器に繋がれているか又
は端子に回路が構成されていなければならない。
これを解決する第二の従来例においては、プロブおよび
接触ピンがそれぞれ端子ピンの数だけ必要になり、検査
用の治具が複雑、高価なものとなる。
接触ピンがそれぞれ端子ピンの数だけ必要になり、検査
用の治具が複雑、高価なものとなる。
また、検査されるＰＧＡ等の端子ピンのピン数が多くな
ってくると、導電層のランド面積が小さくなり接触ピン
を精度よくラントに押し当てることが難しい。またラン
ド部が金めつき等をされており、きすを付けてはならな
い場合このままでは使えｌい。そのために例えば導電性
ゴム等を当てて検査しようとすると、表面の凹凸による
非接触による検査の信頼性不足あるいはゴムの耐久性等
の欠如等の問題がある。
ってくると、導電層のランド面積が小さくなり接触ピン
を精度よくラントに押し当てることが難しい。またラン
ド部が金めつき等をされており、きすを付けてはならな
い場合このままでは使えｌい。そのために例えば導電性
ゴム等を当てて検査しようとすると、表面の凹凸による
非接触による検査の信頼性不足あるいはゴムの耐久性等
の欠如等の問題がある。
本発明二よこれらの課題を解決し信頼性の高い端子検査
方法を提供することを目的とするものである。
方法を提供することを目的とするものである。
（課題を解決するための手段］
このような目的を遠戚するために本発明は次のような手
段を有するものである。
段を有するものである。
即ち、端子の端子ピンと接触可能で伸縮自在なプローブ
を有する検査治具と、前記端子ピンを嵌挿する孔を有す
る絶縁基板の一面に電気良導体を形成してなる保持治具
とを用い、前記電気良導体を前記検査治具に対面させ、
前記端子ピンと前記プローブとの接触又は前記電気良導
体と前記プローブとの接触により前記端子ピンの有無を
検出することを特徴とする端子の検査方法とするもので
ある。
を有する検査治具と、前記端子ピンを嵌挿する孔を有す
る絶縁基板の一面に電気良導体を形成してなる保持治具
とを用い、前記電気良導体を前記検査治具に対面させ、
前記端子ピンと前記プローブとの接触又は前記電気良導
体と前記プローブとの接触により前記端子ピンの有無を
検出することを特徴とする端子の検査方法とするもので
ある。
［作用］
端子ピンを嵌挿する孔を有する絶縁基板の一面に電気良
導体を形成してなる保持治具を設け、端子の端子ピンと
接触可能で伸縮自在なプローブにより端子ピンの検査を
するようにしたことにより、端子ピン上のプローブは端
子ピンに、もし端子ピンがなかったら電気良導体に押し
当てられる。
導体を形成してなる保持治具を設け、端子の端子ピンと
接触可能で伸縮自在なプローブにより端子ピンの検査を
するようにしたことにより、端子ピン上のプローブは端
子ピンに、もし端子ピンがなかったら電気良導体に押し
当てられる。
一方、電気良導体上のプローブは電気良導体に押し当て
られる。従って、それぞれの端子ピン上のプローブと電
気良導体上のプローブの間の導通を調べると、端子ピン
が正常であればプローブ間は非導通に、端子ピンが欠如
していればプローブ間は導通する。
られる。従って、それぞれの端子ピン上のプローブと電
気良導体上のプローブの間の導通を調べると、端子ピン
が正常であればプローブ間は非導通に、端子ピンが欠如
していればプローブ間は導通する。
一方、端子ピン上のプローブ間の導通を個々に調べると
、それぞれの端子ピン間の分離が完全であればプローブ
間は非導通に、端子ピン間が繋がっていればプローブ間
は導通ずる。このようにプローブ間を個々に切り換えて
導通を検査することにより、ＰＧＡ等の端子ピンを有す
る電子部品の回路パターンの分離、導通を検査をするこ
とができる。
、それぞれの端子ピン間の分離が完全であればプローブ
間は非導通に、端子ピン間が繋がっていればプローブ間
は導通ずる。このようにプローブ間を個々に切り換えて
導通を検査することにより、ＰＧＡ等の端子ピンを有す
る電子部品の回路パターンの分離、導通を検査をするこ
とができる。
［実施例］
以下本発明の実施例を図面に基づき詳細に説明する。
第１図は本発明の端子の検査方法の装置概要を、検査ワ
ーク１０がＰＧＡの場合につき示したものである。つま
り、絶縁基板１１に複数の端子ピン１２が突出して設け
られたＰＧＡの端子ピン１２を、貫通孔１５を有し一面
に導電層１４を設けた絶縁ｔ７ｉ１３からなる保持治具
１６の貫通孔１５に嵌挿する。一方、絶縁体１７に設け
た複数のプローブ１８からなる検査治具１９はそれぞれ
のプローブ１８がリード線２１を介し導通チエッカ−２
０に接続されている。
ーク１０がＰＧＡの場合につき示したものである。つま
り、絶縁基板１１に複数の端子ピン１２が突出して設け
られたＰＧＡの端子ピン１２を、貫通孔１５を有し一面
に導電層１４を設けた絶縁ｔ７ｉ１３からなる保持治具
１６の貫通孔１５に嵌挿する。一方、絶縁体１７に設け
た複数のプローブ１８からなる検査治具１９はそれぞれ
のプローブ１８がリード線２１を介し導通チエッカ−２
０に接続されている。
この検査治具１９のプローブ１８の詳細を示したのが第
２図である。プローブ１８はプローブ本体２２と、プロ
ーブ本体２２に対しばね２４により付勢され、伸縮自在
な端子接触ピン２３とを備えている。端子接触ピン２３
は保持治具１６の貫通孔１５の回りの導電層１４に接触
できるだけの先端面積を有し、毒気的接触を確実なもの
とするための凸部の尖った凹凸を備えている。
２図である。プローブ１８はプローブ本体２２と、プロ
ーブ本体２２に対しばね２４により付勢され、伸縮自在
な端子接触ピン２３とを備えている。端子接触ピン２３
は保持治具１６の貫通孔１５の回りの導電層１４に接触
できるだけの先端面積を有し、毒気的接触を確実なもの
とするための凸部の尖った凹凸を備えている。
第３図に検査を行っている状Ｂを示している。
検査ワーク１０の′！！＠縁基板１１の端子ピン１２用
の貫通孔３１の一部に端子ピンが組み込まれていない貫
通孔３２があった場合を示したのがこの第３図である。
の貫通孔３１の一部に端子ピンが組み込まれていない貫
通孔３２があった場合を示したのがこの第３図である。
正常な端子ピン１２のあるプローブ２．３．４．５．６
は端子ピン１２に押し当てられ縮んだ状態に謀っている
。一方、端子ピン１２のない貫通孔３２に対応するプロ
ーブ１は伸びた状態で保持治具１６の貫通孔１５七に来
てその回りの導電板１４に押し当てられる。また、本来
端子ピン１２のない位置にあるプローブ７はやはり伸び
た状態で保持治具１６の導電層１４に押し当てられてい
る。この状態で検査を行う場合、先ずプローブ１とプロ
ーブ７の間の導通を調べる、そうするとプローブ１は本
来あるべき端子ピン１２がないために導電ｆ＆１４に接
触しており、また、プローブ７も導電板１４に接触して
いるために、プローブ１とプローブ７の間は導通ずる。
は端子ピン１２に押し当てられ縮んだ状態に謀っている
。一方、端子ピン１２のない貫通孔３２に対応するプロ
ーブ１は伸びた状態で保持治具１６の貫通孔１５七に来
てその回りの導電板１４に押し当てられる。また、本来
端子ピン１２のない位置にあるプローブ７はやはり伸び
た状態で保持治具１６の導電層１４に押し当てられてい
る。この状態で検査を行う場合、先ずプローブ１とプロ
ーブ７の間の導通を調べる、そうするとプローブ１は本
来あるべき端子ピン１２がないために導電ｆ＆１４に接
触しており、また、プローブ７も導電板１４に接触して
いるために、プローブ１とプローブ７の間は導通ずる。
つまり、プローブ間が導通することはプローブ１に対応
する端子ピンが無いことを表している。続いてプローブ
２とプローブ７の間の導通を調べる。プロブ２は端子ピ
ン１２に接触しており、端子ピン１２は保持治具１６の
導電板１４と分離されているために、プローブ２とプロ
ーブ７の間は非導通とｌる。つまり、プローブ間が非導
通になることはプローブ２に対応する端子ピンが有るこ
とを表している。更に、プローブ３とプローブ７の間、
プローブ４とプローブ７の間といった順番に導通を調べ
て行く。その結果、導通していれば端子ピンが無いため
に不良、非導通となれば端子ピンは有るから良となる。
する端子ピンが無いことを表している。続いてプローブ
２とプローブ７の間の導通を調べる。プロブ２は端子ピ
ン１２に接触しており、端子ピン１２は保持治具１６の
導電板１４と分離されているために、プローブ２とプロ
ーブ７の間は非導通とｌる。つまり、プローブ間が非導
通になることはプローブ２に対応する端子ピンが有るこ
とを表している。更に、プローブ３とプローブ７の間、
プローブ４とプローブ７の間といった順番に導通を調べ
て行く。その結果、導通していれば端子ピンが無いため
に不良、非導通となれば端子ピンは有るから良となる。
次に、端子間の分離を検査するのに例えば、端子ピン２
と端子ピン３０間の導通を同しように調べ、端子間が非
導通であれば正常、端子間が導通であれば不良といった
判定をする。同しように端子ピン２と端子ピン４、端子
ピン２と端子ピン５・・・といった具合に検査をするこ
とにより端子間の分離を検査するることができる。
と端子ピン３０間の導通を同しように調べ、端子間が非
導通であれば正常、端子間が導通であれば不良といった
判定をする。同しように端子ピン２と端子ピン４、端子
ピン２と端子ピン５・・・といった具合に検査をするこ
とにより端子間の分離を検査するることができる。
以上述べたような端子の検査方法としたことにより、本
発明は次のような効果を有するものである。
発明は次のような効果を有するものである。
即ち、端子の端子ピンと接触可能で伸縮自在なプローブ
を有する検査治具と、前記端子ピンを嵌挿する孔を有す
る絶縁基板の一面に電気良導体を形成してなる保持治具
とを用い、前記電気良導体を前記検査治具に対面させ、
前記端子ピンと前記プローブとの接触又は前記電気良導
体と前記プローブとの接触により前記端子ピンの有無を
検出することを特徴とする端子の検査方法としたことに
より、端子の有無の検査において端子自体に回路が構成
されていない端子に対しても検査が可能となり、また、
プローブおよび接触ピンが大幅に少なくなり、安価な治
具で簡単に行うことができるようになった。また、検査
されるＰＧＡ等の導電層の小さなランド部に接触ピンを
押し当てる必要がなく、検査の信頼性が高く、ワークを
きす付ける心配もない。
を有する検査治具と、前記端子ピンを嵌挿する孔を有す
る絶縁基板の一面に電気良導体を形成してなる保持治具
とを用い、前記電気良導体を前記検査治具に対面させ、
前記端子ピンと前記プローブとの接触又は前記電気良導
体と前記プローブとの接触により前記端子ピンの有無を
検出することを特徴とする端子の検査方法としたことに
より、端子の有無の検査において端子自体に回路が構成
されていない端子に対しても検査が可能となり、また、
プローブおよび接触ピンが大幅に少なくなり、安価な治
具で簡単に行うことができるようになった。また、検査
されるＰＧＡ等の導電層の小さなランド部に接触ピンを
押し当てる必要がなく、検査の信頼性が高く、ワークを
きす付ける心配もない。
第１図は本発明の端子の検査方法の実施例の概要を、検
査ワークがＰＧＡの場合につき示した説明図、第２図は
本発明の端子の検査方法の実施例の検査治具のプローブ
の詳細を示した断面図、第３図はその検査方法により検
査を行っている状態を示した説明図１、第４図は従来例
のコネクター等の端子の導通を検査する方法を示した装
置斜視図、第５図は端子ピンの有無を検査する異なった
従来例の方法を示す説明図である。 １０・・・検査ワーク ■２・・・端子ピン １４
・・・導電板 Ｉ６・・・保持治具 Ｉ８・・・プ
ローブ１９・・・検査治具 ２０・・・導通チエ、７
カー：９ １ （喝 １１０ ／ 第２１１１ 竺３（１）
査ワークがＰＧＡの場合につき示した説明図、第２図は
本発明の端子の検査方法の実施例の検査治具のプローブ
の詳細を示した断面図、第３図はその検査方法により検
査を行っている状態を示した説明図１、第４図は従来例
のコネクター等の端子の導通を検査する方法を示した装
置斜視図、第５図は端子ピンの有無を検査する異なった
従来例の方法を示す説明図である。 １０・・・検査ワーク ■２・・・端子ピン １４
・・・導電板 Ｉ６・・・保持治具 Ｉ８・・・プ
ローブ１９・・・検査治具 ２０・・・導通チエ、７
カー：９ １ （喝 １１０ ／ 第２１１１ 竺３（１）
Claims (1)
- （１）端子の端子ピンと接触可能で伸縮自在なプローブ
を有する検査治具と、前記端子ピンを嵌挿する孔を有す
る絶縁基板の一面に電気良導体を形成してなる保持治具
とを用い、前記電気良導体を前記検査治具に対面させ、
前記端子ピンと前記プローブとの接触又は前記電気良導
体と前記プローブとの接触により前記端子ピンの有無を
検出することを特徴とする端子の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2043466A JPH0636016B2 (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | 端子の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2043466A JPH0636016B2 (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | 端子の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03245068A true JPH03245068A (ja) | 1991-10-31 |
| JPH0636016B2 JPH0636016B2 (ja) | 1994-05-11 |
Family
ID=12664495
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2043466A Expired - Lifetime JPH0636016B2 (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | 端子の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0636016B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7230433B2 (en) | 2004-11-17 | 2007-06-12 | Hyundai Motor Company | Connector test device |
-
1990
- 1990-02-23 JP JP2043466A patent/JPH0636016B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7230433B2 (en) | 2004-11-17 | 2007-06-12 | Hyundai Motor Company | Connector test device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0636016B2 (ja) | 1994-05-11 |
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