JP2006086836A

JP2006086836A - フレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法及びそのシステム

Info

Publication number: JP2006086836A
Application number: JP2004269818A
Authority: JP
Inventors: Yoshinao Ono; 義尚大野
Original assignee: NEC Communication Systems Ltd
Current assignee: NEC Communication Systems Ltd
Priority date: 2004-09-16
Filing date: 2004-09-16
Publication date: 2006-03-30

Abstract

【課題】運用の休止を最小限に抑えることを可能とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法を提供する。
【解決手段】前記低次群回線の一端を終端する第１の低次群回線終端部及びその他端を終端する第２の低次群回線終端部との間に存在する１以上の中継電送装置及び前記第２の低次群終端部にループポイントを順次設定するステップと、前記第１の低次群回線終端部から試験パターンを送信し、前記ループポイントを介して折り返してきた前記試験パターンを前記第１の低次群回線終端部において検査するステップと、前記ループポイントをどこに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが正常であり、前記ループポイントをどこに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが異常であるかということを基に、どの区間に異常があるかということを検出するステップと、を備える。
【選択図】図２

Description

本発明は、フレーム伝送方式において低次群回線の故障箇所を検出するためのフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法及びそのシステムに関し、特に、ＳＤＨ(Synchronous Digital Hierarchy)伝送方式において低次群回線の故障箇所を検出するためのＳＤＨ伝送方式における低次群回線品質測定方法及びそのシステムに関する。

ＳＤＨ伝送方式は、１９８８年に国際的に標準化された伝送方式であり、デジタルハイアラーキーを統一して、高速なデータ伝送を可能とするものである。ＳＤＨ伝送方式においては、例えば、２７０列×９行のフレームのペイロードにＶＣ−３(Virtual Container-3)が挿入される。

回線交換システムにおいてＳＤＨ回線を終端する場合は、図１に示すように高次群回線で接続される中継伝送装置１０、１６等を多数経由して低次群回線のエンドポイントとなる装置２１〜２４に接続される。

ＳＤＨ伝送方式においては、低次群回線は、複数の中継装置で多重及び多重分離が繰り返されるため、これらを行う部分に故障が発生すると、高次群でエラーが発生していなくても、低次群でエラーが発生するという事態が生じる。

図１に示す回線交換システムの低次群回線と対向して収容される低次群回線終端部の間の伝送路にビットエラー等による回線品質の劣化が生じたと仮定する。この場合、低次群回線を終端もしくは中継する装置、またはその伝送区間が障害の被擬対象となる。

従来のＳＤＨ回線の試験方式としては、低次群回線を終端／中継するそれぞれの装置にて個別に低次群回線の正常性を確認し、障害のポイントを絞り込んでいく方式がとられていた。

前述した方式で障害ポイントを絞り込んだ結果、障害の被擬が終端／中継する装置ではなく伝送区間に障害となる要因があると推測される場合は、その対象区間に測定装置を接続して障害の有無を確認する必要がある。

また、ＳＤＨ回線の場合は高次群回線／低次群回線ともにフレーム同期しており、おのおの回線の正常性は各終端／中継装置で監視することが可能である。しかし、ビットエラーのようなフレーム同期は正常に確立しているが、フレーム内部のペイロードデータの破損するような障害の場合は、ある程度障害状態が継続して発生する場合のみを障害とする。これは障害の誤検出を防ぐためである。
特開昭６１−０３３０３５号公報特開平１０−２４２９３０号公報

回線交換システムにおいてＳＤＨ回線を終端する場合は、高次群回線で接続される中継伝送装置を多数経由し、低次群回線のエンドポイントとなる装置に接続される。

低次群回線でビットエラーのような回線品質の劣化が発生した場合に、装置もしく伝送区間のいずれかの箇所で障害が発生していることになる。

前記障害箇所を特定するには、低次群回線の終端点を中継する全ての装置で独立した試験を実施し、正常性を証明する必要がある。

そのためには、対象となる低次群回線を一時的に閉塞し、運用から切り離して試験する必要があり、中継伝送装置が多数設置される場合は、障害箇所の絞り込みに膨大な時間がかかる。この間収容する加入者へのサービスも停止する為、回線交換システムでは影響も多大なものとなる。

また、障害が間欠的に発生する場合は、低次群回線の終端点を中継する全ての装置で独立した試験を実施する場合、問題の再現性／発生頻度に依存し、独立した試験では障害箇所の発見が出来ない場合が考えられる。

そこで、本発明は、運用の休止を最小限に抑えることを可能とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法及びそのシステムを提供することを目的とする。

本発明の第１の観点によれば、フレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、前記低次群回線の一端を終端する第１の低次群回線終端部及びその他端を終端する第２の低次群回線終端部との間に存在する１以上の中継電送装置及び前記第２の低次群終端部にループポイントを順次設定するステップと、前記第１の低次群回線終端部から試験パターンを送信し、前記ループポイントを介して折り返してきた前記試験パターンを前記第１の低次群回線終端部において検査するステップと、前記ループポイントをどこに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが正常であり、前記ループポイントをどこに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが異常であるかということを基に、どの区間に異常があるかということを検出するステップと、を備えることを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法が提供される。

上記のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、前記試験パターンとしてランダムパターンを利用してもよい。

上記のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、前記試験パターンとして順次異なったランダムパターンを利用してもよい。

上記のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、前記順次異なったランダムパターンは、同一のランダムパターンの位相を変化させたものであってもよい。

上記のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、前記ランダムパターンは、Ｍ系列パターンであってもよい。

上記のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、あるループポイントに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが正常であり、そのループポイントよりも前記第１の低次群回線終端部から１つ遠いループポイントに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが異常であるならば、前者のループポイントと後者のループポイントの間の区間に異常があることを検出してもよい。

上記のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、前記試験パターンの送出時間及び前記試験パターンの受信時間をユーザが設定することを可能としてもよい。

本発明の第２の観点によれば、フレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、前記低次群回線の一端を終端する第１の低次群回線終端部及びその他端を終端する第２の低次群回線終端部との間に存在する１以上の中継電送装置及び前記第２の低次群終端部にループポイントを順次設定する手段と、前記第１の低次群回線終端部から試験パターンを送信し、前記ループポイントを介して折り返してきた前記試験パターンを前記第１の低次群回線終端部において検査する手段と、前記ループポイントをどこに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが正常であり、前記ループポイントをどこに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが異常であるかということを基に、どの区間に異常があるかということを検出する手段と、を備えることを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムが提供される。

上記のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、前記試験パターンとしてランダムパターンを利用してもよい。

上記のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、前記試験パターンとして順次異なったランダムパターンを利用してもよい。

上記のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、前記順次異なったランダムパターンは、同一のランダムパターンの位相を変化させたものであってもよい。

上記のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、前記ランダムパターンは、Ｍ系列パターンであってもよい。

上記のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、あるループポイントに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが正常であり、そのループポイントよりも前記第１の低次群回線終端部から１つ遠いループポイントに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが異常であるならば、前者のループポイントと後者のループポイントの間の区間に異常があることを検出するようにしてもよい。

上記のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、前記試験パターンの送出時間及び前記試験パターンの受信時間をユーザが設定することを可能としてもよい。

本発明によれば、各ループポイントを介して戻ってきた試験パターンの正常／異常を基に、異常な区間を検出するので、わざわざ各区間毎において、異常検出のための試験を行わなくて良いこととなる。

以下、図面を参照して本発明を実施するための最良の形態について詳細に説明する。

本発明は回線交換システムにおけるＳＤＨ終端装置の低次群回線品質測定機能による低次群回線の回線試験方式を提供するとともに、回線障害発生時の障害箇所の特定を迅速に行うことで保守性の向上を目的とする。

図２において伝送区間３４で発生した低次群回線の回線品質の劣化をＳＤＨ終端装置２で測定することができる。さらに、回線品質を測定するループポイントを変更することにより各伝送区間の回線品質測定を実施することが可能である。

以上の試験方式を用いて回線品質劣化が発生している伝送区間の絞り込みを迅速に導き出すことが可能である。

図１では本発明の実施形態として回線交換システムにおけるＳＤＨ終端装置の交換システム内の位置づけ及び中継伝送装置／低次群回線終端部との接続形態について説明する。

図１のＳＤＨ終端装置２は交換システム内の一装置として交換スイッチ１に接続される。

ＳＤＨ終端装置２では交換スイッチ１より転送される低次群回線信号を多重分離する事により、隣接する中継伝送装置１０と接続される。ＳＤＨ終端装置２と中継伝送装置１０はＳＤＨ伝送方式により高次群回線９にて接続されている。この場合、ＳＤＨ終端装置２は、低次群回線５〜８を高次群回線９に多重／分離して中継電送装置１０との間で送受信する。

また、ＳＤＨ終端装置２は交換システム内に設置されるＳＤＨ保守端末３と接続される。ＳＤＨ回線の障害情報の収集及びＳＤＨ回線試験を保守者がＳＤＨ保守端末３を通して実施できるようにする。

図１の中継装置１０はＳＤＨ終端装置２の高次群回線９をさらに隣接する中継伝送装置１６との間で高次群回線１５により送受信する。この場合、低次群回線５〜８は、それぞれ、低次群回線１１〜１４に対応する。

図１の中継伝送装置１６は中継伝送装置１０からの高次群回線１５に多重されている低次群回線１１〜１４を低次群回線１７〜２０を通して低次群回線終端部２１〜１４との間で送受信する。この場合、低次群回線１１〜１４は、それぞれ、低次群回線１７〜２０に対応する。

図１の低次群回線終端部２１〜２４は交換システムのＳＤＨ終端装置２の低次群回線の終端ポイントである。したがって、低次群回線終端部２１はＳＤＨ終端装置２−中継伝送装置１０−中継伝送装置１６を経由して交換システムと接続される。この場合、回線は、低次群回線５−低次群回線１１−低次群回線１７で接続される。

図１の伝送路集中管理部２５は、中継伝送装置１０と中継伝送装置１６と低次群回線終端部２１〜２４に接続され、それぞれの中継伝送装置又は低次群感染終端部で検出される障害情報の収集及びＳＤＨ回線の試験を保守者が集中管理できるようにするものである。

図２を参照して、本発明における低次群回線の回線品質測定方式を説明する。

図２のＳＤＨ終端装置２と低次群回線終端部２１間の伝送路を伝送区間３４とする。なお、図２では、低次群回線終端部２１を例として記載しているが、他の低次群回線終端部２２〜２４であってもよい。

回線品質測定は中継伝送装置１０でループポイント３２を生成することで伝送区間３５の回線品質の測定を行う。同様に、中継伝送装置１６でループポイント３３を生成することで伝送区間３５及び伝送区間３６の回線品質測定を行う。更に、低次群回線終端部２１でループポイントを生成することで伝送区間３５、伝送区間３６及び伝送区間３７の回線品質測定を行う。伝送路集中管理部２５により、中継伝送装置２９、３０又は低次群回線終端装置２１にループポイントを設定することが可能である。

次に、図３を参照すると、ＳＤＨ終端装置２に搭載されるＳＤＨコントローラ４０から送信される低次群回線４１〜４４の信号は、ＳＤＨ多重分離制御部４５を通して高次群回線インターフェースとして中継伝送装置へ接続される。回線品質測定を実施する場合は、ＳＤＨ保守端末インタフェース４７からＳＤＨコントローラ４０へ試験回線が指示されるため、ＳＤＨコントローラ４０は回線試験制御部４６へ試験の実施要求を行う。

回線試験制御部４６では、多重された高次群回線インタフェース中の試験対象である低次群回線へランダムパターンより成る送信試験パターンを送信データとして挿入する。

この場合、回線試験制御部４５は、試験対象となる低次群回線の運用を休止し、その回線に試験パターンを入力する。

試験中は試験制御部４６では、ループポイントを介して戻ってきた受信試験パターンを傍受し、これを送信試験パターンと比較して回線品質を測定する。

試験パターンとしてランダムパターンを利用する理由は、ビット反転によりエラーが発生しているのにそれが検出されないこととなる確率を下げるためである。つまり、例えば、入力値にかかわらず常に０を出力する部分に０を入力したならばエラー検出をすることができないが、ランダムパターンを利用することにより１を入力する場合が生じ、これによりエラーを検出することが可能となる。

試験パターンとして利用するランダムパターンとしては、例えば、Ｍ系列を利用する。

また、フレーム内のある場所ではある種のエラー（例えば、常に出力が０となるエラー）が発生しないが、他のある場所ではその種のエラーが発生する場合があるので、回線試験制御部４５は、複数の異なる試験パターンを続けて送受信することにより、フレーム内の当該低次群データに関する全ての部分に０も１も入力されるようにする。複数の異なる試験パターンは、例えば、同一のパターンをビットシフトしたものであってもよい。

測定結果はＳＤＨコントローラ４０で蓄積されＳＤＨ保守端末インタフェースへ通知することによって保守者へ測定結果を通知する。

本発明の実施形態の動作について図２で示す回線品質測定方式及び図４に示す低次群回線品質測定試験実施シーケンスと共に説明する。

動作を説明する前提として図２の伝送区間３４で回線品質の劣化が発生し、その原因が伝送区間３６の障害による影響であったと仮定する。

はじめに、試験を実施する折り返しポイントの設定を行う（ステップＳ１０１）。この場合、図２に示すループポイント３２の設定を伝送路集中管理３９より中継伝送装置３０に対して設定する。

ループを設定することにより試験対象となる低次群回線は伝送区間３５が設定される。

次に、図２に示すＳＤＨ保守端末３８よりＳＤＨ終端装置２６へ試験開始設定を行う。

このとき、ユーザからの入力に従って、測定継続時間の設定もされるものとする（ステップＳ１０２）。ユーザからの入力に従って、測定継続時間の設定をすることが可能であるので、ユーザが長時間かけてじっくり試験をしたい場合、ユーザが短時間で試験をしたい場合等に対応することができる。前者の場合とは、典型的には、エラー率が低い場合であり、後者の場合とは、典型的には、エラー率が高い場合である。

ＳＤＨ終端装置２ではランダムな試験パターンの送信及び折り返しで受信した試験パターンの比較／演算して回線品質測定結果を蓄積する（ステップＳ１０３、Ｓ１０４）。ＳＤＨ保守端末３より指定された測定時間を経過した場合、ＳＤＨ終端装置２では試験を終了し（ステップＳ１０５）、蓄積した回線品質測定結果をＳＤＨ保守端末３へ通知する（ステップＳ１０６）。

前記仮定にあるように障害の要因は伝送区間３６にある為、上記測定結果では回線品質の劣化が検出されない。この結果より、伝送区間３５は障害の被擬から排除される。

さらに障害ポイントの絞り込みを行う為に、試験を実施する折り返しポイントの変更する（ステップＳ１０７、Ｓ１０１）。この場合、図２に示すループポイント３３の設定を伝送路集中管理部２５より中継伝送装置１６に対して設定する。ループを設定することにより試験対象となる低次群回線は伝送区間３５及び３６に設定される。

再度ＳＤＨ終端装置２は、回線品質測定を設定し、伝送区間３５及び３６の回線品質測定を実施する。

前記仮定にあるように障害の要因は伝送区間３６にある為、上記測定結果では回線品質の劣化が検出される。この結果より、伝送区間３６は障害が生じていると判断される。

本結果より伝送区間３６の障害が伝送区間３４で発生している回線品質劣化の原因となっていることが導き出せる。

最初にループポイントをＳＤＨ終端装置２から最も近い中継伝送装置に設定し、試験を行い、順次ループポイントをＳＤＨ終端装置から離していって試験を行うことにより、ある場所にループポイントを設定した場合には受信試験パターンが正常であるが、それよりもＳＤＨ終端装置から１つ離れた場所にループポイントを設定した場合には受信試験パターンが異常であることを検出すれば、前者のループポイントを設定した場所と後者のループポイントを設定した場所との間の区間に障害が生じていることを検出することができる。

また、最初にループポイントをＳＤＨ終端装置２から最も近い位置である低次群回線終端部に設定し、試験を行い、順次ループポイントをＳＤＨ終端装置から近付けて試験を行うことにより、ある場所にループポイントを設定した場合には受信試験パターンが異常であるが、それよりもＳＤＨ終端装置から１つ近い場所にループポイントを設定した場合には受信試験パターンが正常であることを検出すれば、前者のループポイントを設定した場所と後者のループポイントを設定した場所との間の区間に障害が生じていることを検出することができる。

なお、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、回線交換システムにおいてフレーム同期方式によるデジタル回線を終端する装置にも適用することができる。

本発明は、フレーム伝送方式において、低次群回線の故障区間を検出するために利用することができる。

本発明の実施形態によるフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法及びそのシステムを適用する通信システムの構成を示すブロック図である。本発明の実施形態によるフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムの構成を示すブロック図である。本発明の実施形態によるＳＤＨ終端装置の構成を示すブロック図である。本発明の実施形態によるフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法をしめすフローチャートである。

符号の説明

１交換スイッチ
２ＳＤＨ終端装置
３ＳＤＨ保守装置
５〜８、１１〜１４、１７〜２０、４１〜４４低次群回線
９、１５高次群回線
１０、１６中継伝送装置
２１〜２４低次群回線終端部
２５伝送路集中管理部
４０ＳＤＨコントローラ
４５ＳＤＨ多重分離制御部
４６回線試験制御部
４７ＳＤＨ保守端末インタフェース

Claims

フレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、
前記低次群回線の一端を終端する第１の低次群回線終端部及びその他端を終端する第２の低次群回線終端部との間に存在する１以上の中継電送装置及び前記第２の低次群終端部にループポイントを順次設定するステップと、
前記第１の低次群回線終端部から試験パターンを送信し、前記ループポイントを介して折り返してきた前記試験パターンを前記第１の低次群回線終端部において検査するステップと、
前記ループポイントをどこに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが正常であり、前記ループポイントをどこに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが異常であるかということを基に、どの区間に異常があるかということを検出するステップと、
を備えることを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法。
請求項１に記載のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、
前記試験パターンとしてランダムパターンを利用することを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法。
請求項２に記載のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、
前記試験パターンとして順次異なったランダムパターンを利用することを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法。
請求項３に記載のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、
前記順次異なったランダムパターンは、同一のランダムパターンの位相を変化させたものであることを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法。
請求項２に記載のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、
前記ランダムパターンは、Ｍ系列パターンであることを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法。
請求項１に記載のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、
あるループポイントに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが正常であり、そのループポイントよりも前記第１の低次群回線終端部から１つ遠いループポイントに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが異常であるならば、前者のループポイントと後者のループポイントの間の区間に異常があることを検出することを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法。
請求項１に記載のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法において、
前記試験パターンの送出時間及び前記試験パターンの受信時間をユーザが設定することを可能としたことを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定方法。
フレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、
前記低次群回線の一端を終端する第１の低次群回線終端部及びその他端を終端する第２の低次群回線終端部との間に存在する１以上の中継電送装置及び前記第２の低次群終端部にループポイントを順次設定する手段と、
前記第１の低次群回線終端部から試験パターンを送信し、前記ループポイントを介して折り返してきた前記試験パターンを前記第１の低次群回線終端部において検査する手段と、
前記ループポイントをどこに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが正常であり、前記ループポイントをどこに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが異常であるかということを基に、どの区間に異常があるかということを検出する手段と、
を備えることを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システム。
請求項８に記載のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、
前記試験パターンとしてランダムパターンを利用することを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システム。
請求項９に記載のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、
前記試験パターンとして順次異なったランダムパターンを利用することを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システム。
請求項１０に記載のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、
前記順次異なったランダムパターンは、同一のランダムパターンの位相を変化させたものであることを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システム。
請求項９に記載のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、
前記ランダムパターンは、Ｍ系列パターンであることを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システム。
請求項８に記載のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、
あるループポイントに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが正常であり、そのループポイントよりも前記第１の低次群回線終端部から１つ遠いループポイントに設定した場合に、折り返してきた前記試験パターンが異常であるならば、前者のループポイントと後者のループポイントの間の区間に異常があることを検出することを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システム。
請求項８に記載のフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システムにおいて、
前記試験パターンの送出時間及び前記試験パターンの受信時間をユーザが設定することを可能としたことを特徴とするフレーム伝送方式における低次群回線品質測定システム。