WO2004070975A1 - ノード装置 - Google Patents

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WO2004070975A1
WO2004070975A1 PCT/JP2003/001116 JP0301116W WO2004070975A1 WO 2004070975 A1 WO2004070975 A1 WO 2004070975A1 JP 0301116 W JP0301116 W JP 0301116W WO 2004070975 A1 WO2004070975 A1 WO 2004070975A1
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node device
operation signal
signal
line
test
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PCT/JP2003/001116
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English (en)
French (fr)
Inventor
Tsuyoshi Ohigawa
Hiroyuki Ohgaki
Original Assignee
Fujitsu Limited
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B10/00Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04JMULTIPLEX COMMUNICATION
    • H04J14/00Optical multiplex systems
    • H04J14/02Wavelength-division multiplex systems
    • H04J14/03WDM arrangements
    • H04J14/0307Multiplexers; Demultiplexers

Definitions

  • the present invention relates to a node device, and more particularly, to a node device that performs tests such as communication confirmation of optical lines, quality confirmation, and searching for a fault location.
  • FIG. 5 shows the configuration of a conventional node device ⁇ .
  • the node device ⁇ includes an optical / electrical converter 20_1 that converts an operation signal 710_1 of an optical signal from the line 200-1 into an electric signal, and an electric / electrical converter 20_1.
  • Signal operation signal A signal processing unit 710-1 that performs necessary processing and outputs the signal
  • an electrical / optical converter 30-1 that converts an electrical signal output from the device functional unit 10z into an optical signal
  • an optical signal A switch 91 is provided for selecting either the operation signal 710-1 converted into a signal or the test signal 810 from the external test signal generator 300 and outputting it to the line 200_3.
  • the node device ⁇ processes the optical signal from the line 200_4 in the switch 92, which gives either the optical / electrical converter 20-12 or the external test signal inspection device 400, and the device function unit 10z.
  • the device function unit 10z includes an overhead monitor 11z, which controls the selection of the switch 90 based on the control signal 930 included in the overhead of the operation signal 710-1.
  • FIG. 6 shows a conventional loopback circuit test method in a network composed of a conventional node device and a circuit.
  • the network is composed of node devices ⁇ —l to 100z_3 (may be collectively referred to by the symbol ⁇ ), and operation signals 700-1 processed by each node device ⁇ ⁇ sequentially through these node devices 100z_l to 100z_3. It is composed of lines 200-1, 200-3, 200-5, and 200-7 that transmit data in one direction, and lines 200_8, 200_6, 200-4, and 200_2 that transmit the operation signal 700_2 in the opposite direction.
  • Steps T41 and T42 The operation signals 700-1 and 700_2 transmitted on the lines 200_3 and 200_4 to be tested are bypassed to another line (not shown), and the lines 200_3 and 200_4 are set in a free state.
  • the master node device ⁇ -1 disconnects the lines 200-3 and 200_4 from the operation lines 200_1 and 200-2, respectively, and the remote node device ⁇ -2 disconnects the lines 200_3 and 200-4 respectively. Disconnect from working lines 200_5 and 200-6.
  • Step T43 The master node device 100z_l sends a signal connection destination switching instruction to the remote node device ⁇ -2 performing loopback so as to loop back the line, and loops the signal system in the node device ⁇ -2. Set back state.
  • Such setting of the remote node device can be performed by DCC (Data Communication Channel) communication using D1 to D12 bytes in the S0NET / SDH network, for example.
  • DCC Data Communication Channel
  • FIG. 7 (1) shows a format of a general SONET STS-3 frame 600.
  • the SONET STS-3 frame 600 is composed of an overhead 610 and a payload 620.
  • the overhead 610 includes a section overhead (S0H: Section Over Head) 630 and a line overhead (L0H: Line Over Head) 640.
  • the line overhead 640 includes a pointer 650.
  • the payload 620 includes a virtual container, which includes a passover head 660.
  • the configuration of the SDH frame is the same as that of the SONET frame 600, but the pointer 650 is not included in the L0H640 but is independent. In addition, over to S0H and L0H The name of the pad is different.
  • FIG. 2B shows the details of the overhead 610.
  • the overhead 610 includes D1 to! ) 12 bits, and B1 and B2 bits used for code error monitoring.
  • FIG 3 is a head to Pasuoba (P0H: Path Over Head) 660 shows the details of, this path overhead 6 60, that contains the B3 bytes used for error monitoring of the path.
  • P0H Path Over Head
  • Step T44 In the master node device ⁇ -1, the test signal generator 300 is connected to the lines 200-13, and the test signal inspection device 400 is connected to the lines 200-14.
  • test signal generator 300 ⁇ line 200-3 ⁇ remote node device 100z_2 (loopback) ⁇ line 200-4 ⁇ test signal inspection device 400.
  • Step T45 The test signal generator 300 sends out the test signal 810, and the test signal tester 400 detects the test signal 810 looped back by the remote node device ⁇ -2, analyzes the data, and executes the circuit 200_3 , 200_4, perform line tests such as communication check, quality check, and fault location search.
  • a random pattern from the generator 300 is transmitted and compared with a signal received by the inspection device 400, and a predetermined pattern (PRBS signal, AL0 'or' 1, pattern, etc.) is generated from the generator 300.
  • a predetermined pattern is sent out by the detection device 400 to check the number of bits per error.
  • the conventional line test using the loop pack function has the following problems (1) to (4).
  • test line Since the test line is occupied by test signals, it is not possible to check the line quality during operation.
  • test signal generator 300 and the test signal tester 400 are very expensive, and enormous cost is required for the line test including the preparation of these devices.
  • LTE Line Terminal Equipment
  • S0NET S0NET / SDH
  • a loop-back test in a network containing LTE could not perform a loop-back test because the LTE interposed between the loop-back and the returned signal would be terminated.
  • the signal inserted into the surplus bits in the overhead part of the transmission signal is replaced with the surplus bits in the overhead part of the signal, and the central (master) side
  • the central side inserts the test signal into the surplus bits of the overhead part of the transmission signal and transmits it to the remote side.At this time, the signal transmitted from the remote 1 side is overwritten.
  • the transmission quality of the transmission path is confirmed by comparing the signal content of the surplus bits in the head part with the inserted test signal.
  • Patent Gazette Patent No. 3147150 (Page 1, Figures 1 to 3)
  • this loop pack test method and apparatus do not test with a test signal different from the operation signal, but cannot detect a difference from the actual operation signal in the above problem (3).
  • this test method and apparatus do not loop back all the data, but transfer the surplus bits to the transmitting side on the remote side. Tested only in the bit domain. In addition, this test method and device allow a loopback test only during operation and not during non-operation.
  • the present invention provides a node device for performing tests such as communication confirmation, quality confirmation, and fault location search of an optical line, in which a line test using an operation signal is performed without using an external test device.
  • the task is to enable a line test between node devices connected via a relay node device, and to perform a line test during non-operation.
  • a master node device includes an optical wavelength demultiplexer that receives and demultiplexes a first operation signal transmitted to a remote node device and looped back by the remote node device.
  • a line quality inspection unit that inspects the quality of the line based on the first operation signal that has been demultiplexed, wherein the first operation signal is received from the remote node device or the relay node device. It is characterized in that it is assigned to an optical wavelength different from that of the operation signal.
  • FIG. 1 shows the principle (1) of a line test using a node device according to the present invention.
  • the master node device 100-11 processes the first operation signal 700_1 of the optical wavelength ⁇ 1 received from the line 200_1, and then transmits the processed signal to the remote node device 100_2 via the line 200_3. I have. Further, after processing the operation signal 700-11, the remote node device 100_2 transmits the operation signal 700-11 to the remote node device 100-13.
  • the master node device 100_1 receives the second operation signal 700_2 of the wavelength 1 from the remote node device 100_3 via the line 200_6, the remote node device 100-2, and the line 200-4.
  • the remote node devices 100-1 and 2-2 transmit the optical wavelength received from the master node device 100-1; the first operating signal 700_1 of L 1 is different from the optical wavelength 1 of the second operating signal 700-2. And loops back to the remote node device 100_1 side.
  • the looped-back first operation signal (hereinafter, sometimes referred to as a loop pack signal) 700_1 and the second operation signal 700-12 can be transmitted by wavelength multiplexing.
  • the optical wavelength demultiplexer receives and demultiplexes the first operation signal 700_1 of the optical wavelength; 12 looped back from the node device 100-2.
  • the line quality inspection unit 410 inspects the line quality based on the first operation signal 700_1 of the demultiplexed optical wavelength 12.
  • the optical wavelength of the operation signal 700-1 and the optical wavelength of the operation signal 700-2 are originally different from each other, that is, when the optical wavelengths of the operation signals 700-1 and It is sufficient to loop back without wavelength conversion. If the optical wavelength of the first operation signal 700_1 is the same as the optical wavelength of the second operation signal 700_2, for example, the operation signal 700-1 may be converted to a different optical wavelength from the operation signal 700_2.
  • a remote node device includes: a loopback unit that loops back a first operation signal received from a master node device by itself; An optical wavelength multiplexer for multiplexing a signal and a second operation signal assigned to an optical wavelength different from the first operation signal and transmitting the multiplexed signal to the master node device. I do.
  • the loopback unit (not shown) transmits the first operation signal 700_1 received from the master node device 100-1 via the line 200_3 to the master node device 100_1. Loop pack.
  • the optical wavelength multiplexer (not shown) multiplexes the first operation signal 700_1 and the second operation signal 700-2 to which different optical wavelengths are assigned and transmits the multiplexed signal to the master node device 100_1. Send out.
  • the loop pack unit may include a wavelength allocating unit that converts the first operation signal into an optical wavelength different from that of the second operation signal. That is, the wavelength allocating unit can set the first operation signal 700-1 to a wavelength different from the optical wavelength of the second operation signal 700-12. This makes it possible to transmit the first operation signal 700-1 and the second operation signal 700-2 by wavelength multiplexing.
  • different optical wavelengths can be assigned to the first operation signal and the second operation signal in advance.
  • a relay node device includes: an optical wavelength demultiplexer that demultiplexes a first operation signal loop-packed by a remote node device; Assigned to a different optical wavelength than the first operating signal An optical wavelength multiplexer for multiplexing the obtained second operation signal and outputting the multiplexed signal to the master node device is provided.
  • FIG. 2 shows the principle (2) of a line test using the node device according to the present invention.
  • This circuit test checks between the master node device 100-11 and the remote node device 100_3 connected via the relay node device 100_2. In this case, the relay node device 100-2 must pass through the first operation signal 700_1 looped back by the remote node device 100-3.
  • an optical wavelength demultiplexer (not shown) separates the first operation signal 700-1 and the second operation signal 700_2 received from the line 200_6, and multiplexes the optical wavelength.
  • the multiplexer combines the first operation signal 700_2 output from the optical wavelength demultiplexer and the second operation signal 700_2 processed by the relay node device 100_2 and outputs the combined signal.
  • the first operation signal is transmitted to the master node device via the relay node device 100-2, and transmitted between the master node device connected via the relay node device and the remote node device. Line testing becomes possible.
  • a wavelength allocating unit for converting the first operation signal into an optical wavelength different from the second operation signal is provided between the optical wavelength demultiplexer and the optical wavelength multiplexer. We can prepare further.
  • the wavelength allocating unit can set the first operation signal 700_1 to an optical wavelength different from the optical wavelength of the second operation signal 700-12.
  • the first operation signal 700_1 and the second operation signal 700-12 can be relayed by wavelength division multiplexing.
  • the master node device can further include a test signal generation unit that transmits a test signal to the remote node device instead of the first operation signal.
  • FIG. 3 shows the principle (3) of a line test using the node device according to the present invention.
  • This circuit test is a circuit test between the node device 100-1 and the node device 100-12 when the circuit 200_3 is not operated.
  • the operation signal is not flowing through the line 200_3. Therefore, the test signal generator 310 sends the test signal 800 to the lines 200-13.
  • the node device 100_2 loops back the test signal 800 and returns to the master node device 100-1.
  • the optical wavelength of the test signal 800 is changed by the master node device 100_1 or the remote node device 100-2 to the operation signal 700-12. It may be set to " ⁇ 2" which is different from the optical wavelength ⁇ . If no signal other than the test signal 800 is transmitted on the line 200-4, the optical wavelength of the test signal 800 can be set arbitrarily.
  • FIG. 1 is a block diagram showing the principle (1) of a line test using a node device according to the present invention.
  • FIG. 2 is a block diagram showing the principle (2) of a line test using the node device according to the present invention.
  • FIG. 3 is a block diagram showing the principle (3) of a line test using the node device according to the present invention.
  • FIG. 4 is a block diagram showing an embodiment of the node device according to the present invention.
  • FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a conventional node device.
  • FIG. 6 is a block diagram showing a loopback circuit test using a conventional node device.
  • FIG. 7 is a format diagram of a general SONET frame.
  • Wavelength selector 70 Wavelength allocator 80
  • Test signal generator 310 Test signal generator
  • FIG. 4 shows an embodiment of the node device 100 according to the present invention.
  • the node device 100 has all functions of a master node device, a relay node device, and a remote node device.
  • This node device 100 S is basically different from the conventional node device ⁇ ⁇ shown in FIG. 5 in that a signal switching unit 40 is inserted between the device function unit 10 and the electric / optical converter 30-1. ⁇ The test signal generation unit 310 is connected to the signal switching unit 40, and the electric / optical converter 301-1 is not connected to the switch 91 and is directly connected to the line 200-3.
  • the difference between the node device 100 and the node device ⁇ is that, instead of the switch 92 and the optical / electrical converter 20-2, the wavelength division multiplexed (WDM) loop pack received from the line 200-4 is used.
  • the optical wavelength demultiplexer 50 connected to the line 200_4 and the optical signal demultiplexed by this optical wavelength demultiplexer 50 are The optical / electrical converters 20-2 and 20_3 that convert the signals into electric signals and the operation signal 700_2 are supplied to the device function unit 10, and the loopback signal 700_1 is passed through.
  • a wavelength allocating unit 70 that allocates an optical wavelength to at least one of the signal 700-1 (hereinafter sometimes referred to as a loop pack signal 700-1) and the through signal 720; Electrical / optical converters 30_2, 30_3 that convert to optical signals, and optical wavelength multiplexers that multiplex (wavelength multiplex) the output signals of these electrical / optical converters 30-1 and 30_3 and output them to line 200_2 80.
  • the overhead monitor 11 controls the wavelength selector 60 and the wavelength allocator 70 with control signals 910 and 920, respectively, which is different from the conventional overhead monitor llz.
  • Step T11 In the remote node device 100-2, after the device function unit 10 processes the operation signal 700_1 from the line 200-3, the following processing is performed while maintaining the service state transmitted to the line 200-5. (See Figure 4).
  • the device function unit 10 transmits a "DCC communication establishment request" to the remote node device 100-2 using any of the D1 to D12 bytes shown in FIG.
  • the overhead monitor 11 responds to the master node device 100_1 with a "reception acknowledgment notification" for the "DCC communication establishment request" with a DCC signal.
  • a DCC communication system is established between the master node device 100_1 and the remote node device 100-2.
  • the master node device 100-1 sends a control command by a DCC signal to the remote node device 100_2 so that the operation signal 700-1 from the line 200-3 is looped back.
  • the overhead monitor 11 which has received the control command, transmits the operation wavelength 700-2 from the device function unit 10 to the optical wavelength;
  • a control signal 920 for allocating the optical wavelength; L2 to 700_1 is given to the wavelength allocating unit 70 (see FIG. 4).
  • a loopback unit that loops back the operation signal 700_1 includes the wavelength allocating unit 70 and the overhead monitor 11.
  • Step T12 In the remote node device 100-2, the operation signal 700_1 from the line 200_3 is given to the wavelength assignment unit 70 as a loopback signal 700_1.
  • the wavelength allocating unit 70 allocates the optical wavelengths ⁇ 2 and XI to the operation signal 700_1 and the operation signal 700_2, respectively, and outputs the signals to the electric / optical converters 30_2 and 30-3 (see FIG. 4).
  • the electrical / optical converters 30-2 and 30_3 convert electrical signals into optical signals of wavelengths ⁇ 2 and ⁇ , respectively.
  • the optical wavelength multiplexer 80 multiplexes (wavelength multiplexes) optical signals of wavelengths ⁇ 2 and ⁇ ⁇ and outputs the multiplexed signal from the line 200-4 (see Fig. 4).
  • the operation signal 700-1 from the line 200_3 is looped back to the line 200-4 as a loop pack signal 700_1 of the optical wavelength 2 (see Fig. 1).
  • Step T13 The line 200-4 performs wavelength division multiplex transmission of the operation signal 700-2 of wavelength ⁇ 1 and the loop pack signal (operation signal) 700_1 of wavelength 2 from the line 200_6.
  • Step T14 In the master node device 100_1, the optical wavelength demultiplexer 50 demultiplexes the operation signal 700-2 and the loop pack signal (operation signal) 700_1 to the optical / electrical converters 20_2 and 20_3, respectively. give.
  • the optical / electrical converters 20_2 and 20_3 respectively convert the signals 700_2 and 700-1 into electric signals and provide the electric signals to the wavelength selector 60.
  • the wavelength selector 60 gives the operation signal 700-12 of the wavelength L1 to the device function unit 10. As a result, the operation signal 700-12 is transmitted in a normal service state.
  • Step T15 The wavelength selection section 60 also provides the loopback signal (operation signal) 700-1 of the wavelength L2 to the line quality inspection section 410. As a result, the line quality inspection unit 410 can execute a line test based on the operation signal 700-1.
  • Step T21 In the remote node device 100_3, after the device function unit 10 processes the operation signal 700_1 from the line 200_5, the following processing is performed while maintaining the service state transmitted to the line 200_7.
  • the master node device 100-1 1 After establishing a DCC communication system with the relay node device 100_2, the master node device 100-1 1 supplies the wavelength; the operation signal 700_2 of L1 from the line 200_6 to the device function unit 10, and the wavelength; L2 A control command to pass through the loop pack signal (operation signal) 700-1 without terminating is sent to the remote node device 100-2.
  • the master node device 100-1 establishes a DCC communication system with the remote node device 100-3, and then instructs the remote node device 100_3 to loop-pack the operation signal 700_1 from the line 200_5. Send the control command to be given.
  • the wavelength allocation ⁇ 70 is assigned to the operation signal 700_2 from the operation function unit 10, the wavelength; L1, and the loopback signal (operation signal) 700-1 to the wavelength 2, and
  • the operation signal 700_2 of wavelength ⁇ and the loopback signal (operation signal) 700_1 of wavelength ⁇ 2 are wavelength-multiplexed and transmitted to one fiber.
  • Steps # 22 and # 23 The same as steps T12 and T13 shown in FIG.
  • Step # 24 In the relay node device 100_2, the operation signal 700-12 is processed by the device function unit 10, and then the operation signal 700-1 is given to the wavelength assignment unit 70 as a through signal 720. Further, the operation signal 700-12 and the operation signal (through signal) 700_1 are converted into optical signals of optical wavelengths 1 and ⁇ 2 by the electrical / optical converters 30_2 and 30-3, respectively, and then the optical wavelengths are combined. Waver 80 is given. The optical wavelength multiplexer 80 wavelength-multiplexes the operation signal 700_2, 700-11 to the line 200_4 and outputs it (see Fig. 4).
  • Steps # 25 to # 27 The same as steps # 13 to # 15 shown in FIG. As a result, even when the relay node device 100_2 exists, a line test can be performed. It will work.
  • the line quality inspection unit 410 monitors the loop pack signal (operation signal) 700-1 of the wavelength; 2 from the line 200_4, and checks the line error check bits such as B1 to B3. To check the line quality of "line 200-3-line 200-5-line 200-6-line 200_4".
  • Step T31 In the master node device 100_1, the signal switching section 40 performs signal switching from the operation signal 700-1 side to the test signal 800 side.
  • the test signal generator 310 sends out a test signal 800 (see FIG. 4).
  • Step T32 In the remote node device 100_2, the wavelength allocating unit 70 transmits the wavelength ⁇ or L2 to the loop-back test signal 800 to the allocated line (see FIG. 4).
  • the line 200_4 is in an operation state in which, for example, the operation signal 700_2 (not shown) of the wavelength L1 is transmitted, a different wavelength ⁇ 2 is assigned to the loop-back test signal 800 and transmitted to the line. .
  • Step # 33 The line 200_4 transmits the loopback signal (test signal) 800.
  • Step # 34 In the master node device 100-1, the line quality inspection unit 410 performs a line test based on the test signal 800.
  • the optical wavelength demultiplexer receives the first operation signal looped back by the remote node device and performs demultiplexing.
  • the line quality inspection unit is configured to check the line quality based on the first operation signal, and the first operation signal is different from the second operation signal received from the remote node device or the relay node device. Since it is assigned to optical wavelengths, it is possible to perform line tests using data in operation without using external test equipment, reducing test costs and reducing test signals. It is possible to confirm more reliable line quality as compared with the case where it is used.
  • the first operation signal received by the loopback unit is looped back by itself, and the optical wavelength multiplexer combines the first operation signal with the first operation signal. Since the signal and the second operation signal assigned to a different optical wavelength are combined and transmitted to the master node device, similarly, the operation during operation can be performed without using an external test device. A line test using all data can be performed.
  • the optical wavelength demultiplexer demultiplexes the first operation signal looped back by the remote node device, and the optical wavelength demultiplexer outputs the demultiplexed first operation signal, Since the first operation signal and the second operation signal assigned to a different optical wavelength from the first operation signal are combined and output to the master node device or the relay node device, the signal is transmitted via the relay node device. A line test between the connected master node device and remote node device becomes possible.
  • the master node device further includes a test signal generation unit that transmits a test signal to the remote node device instead of the first operation signal, so that a line test can be performed even during non-operation. .

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Abstract

 回線の疎通確認、品質確認、及び故障箇所探索等の試験を行うノード装置に関し、外部の試験装置を用いることなく、運用中の全データを用いた回線試験を行うこと、また、非運用時における回線試験を行う。マスタノード装置において、光波長分波器が、リモートノード装置でループバックされた第1の運用信号を受信して分波し、この第1の運用信号に基づき、回線品質検査部が回線の品質を検査するように構成し、第1の運用信号がリモートノード装置又は中継ノード装置から受信する第2の運用信号とは異なる光波長に割り当てられているようにする。また、マスタノード装置において、第1の運用信号の代わりに試験信号をリモートノード装置に送信する試験信号生成部をさらに備える。

Description

明 細 書
ノ一ド装置 技術分野
本発明はノード装置に関し、 特に、 光回線の疎通確認、 品質確認、 及び故障箇 所探索等の試験を行うノード装置に関するものである。
近年、 通信技術の急速な進展に伴い、 高速マルチメディア情報を伝送する光回 線の信頼性が益々要求されて来ている。 この信頼性を維持するためには、 光回線 の疎通確認、 品質確認、 及び故障箇所探索等の試験は重要である。 背景技術
図 5は、従来 ノード装置 ΙΟΟζの構成を^し T り、このノード装置 ΙΟΟζは、 回線 200—1からの光信号の運用信号 710_1 を電気信号に変換する光/電気変換器 20_1と、 この電気信号の運用信号 710— 1に必要な処理を行って出力する装置機能 部 10zと、この装置機能部 10zから出力された電気信号を光信号に変換する電気/ 光変換器 30— 1と、光信号に変換された運用信号 710— 1又は外部の試験信号発生装 置 300からの試験信号 810のいずれかを選択して回線 200_3に出力するスィツチ 91を備えている。
さらに、 ノード装置 ΙΟΟζは、 回線 200_4からの光信号を、 光/電気変換器 20一 2 又は外部の試験信号検査装置 400のいずれかを選択して与えるスィツチ 92と、装 置機能部 10zで処理された運用信号 710—2、 及び光/電気変換器 20_1からの運用 信号 710—1 のいずれかを選択して切り換えて出力するスィツチ 90 と、 スィツチ
90で選択された運用信号を光信号に変換して回線 200_2に出力する電気/光変換 器 30一 2を備えている。
装置機能部 10zは、 オーバへッドモニタ l lzを含み、 このオーバへッドモニタ llzは、 運用信号 710—1のオーバへッドに含まれる制御信号 930に基づきスィッ チ 90の選択を制御する。
図 6は、従来のノード装置 ΙΟΟζ及び回線で構成されたネットワークにおける従 来のループバック回線試験方式を示している。 ネットワークは、 ノード装置 ΙΟΟζ— l〜100z_3 (符号 ΙΟΟζで総称することがあ る。)と、これらのノード装置 100z_l〜100z_3を順次経由して、各ノード装置 ΙΟΟζ で処理された運用信号 700—1を一方向に伝送する回線 200—1, 200—3, 200—5, 200—7 と、 運用信号 700_2を逆方向に伝送する回線 200_8, 200_6, 200—4, 200_2で構成 されている。
ノ一ド装置 ΙΟΟζ— 1及び ΙΟΟζ— 2間の回線 200—3, 200—4のループパック回線試験 手順を以下に説明する。 なお、 この手順では、 試験信号発生装置 300及び試験信 号検査装置 400が接続されるノード装置をマスタノード装置 lOOzJLとし、試験信 号 810をループバックするノード装置をリモートノード装置 ΙΟΟζ— 2とする。 ステップ T41, T42:試験を実施する回線 200_3, 200_4で伝送されている運用信 号 700— 1 , 700_2を別回線に迂回させ (図示せず)、 回線 200_3, 200_4をフリーな 状態にする。 すなわち、 マスタノード装置 ΙΟΟζ— 1は、 回線 200— 3, 200_4を、 そ れぞれ運用回線 200_1, 200— 2から切り離し、 リモートノード装置 ΙΟΟζ— 2は、 回 線 200_3, 200—4を、 それぞれ運用回線 200_5, 200—6から切り離す。
ステップ T43:マスタノード装置 100z_lは、 ループバックを実行するリモート ノード装置 ΙΟΟζ— 2に対して、回線をループバックさせるよう信号接続先切替命令 を送信し、 ノード装置 ΙΟΟζ— 2内の信号系をループバック状態に設定する。
このような、 遠隔のノード装置 ΙΟΟζの設定は、 例えば、 S0NET/SDHネットヮー クにおいては、 D1〜D12バイ トを用いた DCC (Data Communication Channel)通信で 行うことができる。
図 7 (1)は、 一般的な SONET STS-3フレーム 600のフォーマットを示しており、 この SONET STS-3フレーム 600は、 オーバへッド 610及びペイロード 620で構成 されている。 オーバへッド 610は、 セクションオーバへッド (S0H: Section Over Head) 630、及ぴラインオーバへッド(L0H : Line Over Head) 640で構成されている。 ラインオーバヘッド 640には、 ポインタ 650が含まれている。
ペイロード 620には、 バーチャルコンテナを含み、 このバーチヤノレコンテナに はパスオーバへッド 660が含まれている。
なお、 SDH フレームの構成は、 SONET フレーム 600 と同じであるが、 ポインタ 650を L0H640に含めず独立させている。 また、 S0H及び L0Hに対応するオーバへ ッドの名称は異なる。
同図(2)は、オーバへッド 610の詳細を示しており、このオーバへッド 610には、 D1〜! )12パイ ト、 及ぴ符号誤り監視に用いる B1及ぴ B2パイ トが含まれている。 同図(3)は、 パスオーバへッド(P0H: Path Over Head) 660 の詳細を示しており、 このパスオーバヘッド 660には、パスの誤り監視に用いる B3バイ トが含まれてい る。
ステップ T44: マスタノード装置 ΙΟΟζ— 1において、 試験信号発生装置 300を回 線 200一 3に接続し、 試験信号検査装置 400を回線 200一 4に接続する。
これにより、試験系(試験信号発生装置 300→ 回線 200—3 → リモートノード 装置 100z_2 (ループバック) → 回線 200— 4→ 試験信号検査装置 400) が確立す る。
ステップ T45:試験信号発生装置 300は、 試験信号 810を送出し、 試験信号検査 装置 400は、リモートノード装置 ΙΟΟζ— 2でループバックされた試験信号 810を検 出し、 データの解析を行い、 回線 200_3, 200_4の疎通確認、 品質確認、 及ぴ故障 箇所探索等の回線試験を行う。
試験方法としては、 発生装置 300からのランダムパターンを送出して検査装置 400で受信した信号との比較や、発生装置 300から既定パターン(PRBS信号や AL 0 ' or ' 1, パターンン等) を送出し、 検查装置 400で既定パターンを検出させてェ ラ一ビット数を確認するような手法がある。
この従来のループパック機能を用いた回線試験には、次の問題( 1)〜(4)がある。
(1)試験回線が試験信号に占有されることから、 運用中の回線品質の確認はでき ない。
(2)試験信号発生装置 300及び試験信号検査装置 400が非常に高価であると共に、 これら装置の準備も含めた回線試験に莫大なコス トがかかる。
(3)試験は、 外部に接続された試験信号発生装置 300が生成する試験信号で実施 されるため、 実際の運用信号との差分が検出できない。
(4)ノード装置 (回線終端装置) が信号を終端してしまうため、 複数のノード装 置に渡る回線ではループバック試験が実施できない。
例えば、 S0NET/SDHにおける LTE (Line Terminal Equipment :ノ一ド装置) ネッ トワークにおいて、 LTE を夾んだネットワークにおけるループバック試験は、 ル ープバックして戻って来た信号を、 間に夾まれた LTEが終端してしまうため、 ル 一プバック試験ができなレ、。
なお、 隣り合って対向した LTE間においては、 S0H/L0H終端前にループバック することにより、S0H/L0H/P0H/ペイロード全てのループバック試験が可能である。 上記の問題(1)、 (2)、及ぴ(4)を解決した、従来から知られているループバック 試験方法及び装置として、 オーバへッド部分の余剰ビットをループバックする試 験方法及び装置がある (例えば、 特許文献 1参照)。
このループバック試験方法及び装置において、 リモート側では、 伝送信号のォ 一バへッド部分の余剰ビットに挿入された信号については、 信号のオーバヘッド 部分の余剰ビットに載せ換えてセントラル (マスタ) 側に送信するものとし、 セ ントラル側では、 伝送信号のオーバへッド部分の余剰ビットに試験信号を挿入し てリモート側へ送信し、 このときのリモー 1、側から送られて来る信号のオーバへ ッド部分の余剰ビットの信号内容を、 前記挿入した試験信号と比較することによ り伝送路の伝送品質を確認する。
(特許文献 1 )
特許公報 特許第 3147150号 (第 1頁、 図 1〜図 3 )
しかしながら、 このループパック試験方法及び装置は、 運用信号と異なる試験 信号で試験するものではないが、上記の問題(3)の実際の運用信号との差分が検出 できない。
すなわち、 この試験方法及ぴ装置は、 全データをループバックするものではな く、 リモート側において、 余剰ビットを送信側に移し替えており、 疑似的なルー プバックであり、 フレーム全体の中の余剰ビット領域でしか試験していない。 また、 この試験方法及び装置は、 運用中のみループバック試験が可能であり、 非運用時にはできない。
従って本発明は、 光回線の疎通確認、 品質確認、 及ぴ故障箇所探索等の試験を 行うノード装置において、 外部の試験装置を用いることなく、 運用信号を用いた 回線試験を行うこと、 また、 中継ノード装置を介して接続されたノード装置間の 回線試験を可能にすること、 また、 非運用時における回線試験を行うことを課題 とする。 発明の開示
上記の課題を解決するため、 本発明に係るマスタノード装置は、 リモートノー ド装置へ送信され該リモートノード装置でループバックされた第 1の運用信号を 受信して分波する光波長分波器と、 該分波された該第 1の運用信号に基づき回線 の品質を検査する回線品質検査部を備え、 該第 1の運用信号が、 該リモートノー ド装置又は中継ノード装置から受信する第 2の運用信号とは異なる光波長に割り 当てられていることを特徴としている。
図 1は、本発明に係るノード装置を用いた回線試験の原理(1)を示している。通 常の運用状態において、 マスタノード装置 100一 1は、 回線 200_1から受信した光 波長 λ 1の第 1の運用信号 700_1を処理した後、 回線 200_3を経由してリモート ノード装置 100_2に送信している。 さらに、 リモートノード装置 100_2は、 運用 信号 700一 1を処理した後、 リモートノード装置 100一 3に送信している。
逆に、 マスタノード装置 100_1は、 波長え 1 の第 2の運用信号 700_2を、 リモ ートノード装置 100_3から、 回線 200_6、 リモートノード装置 100—2、 及び回線 200—4を経由して受信する。
リモートノード装置 100一 2は、マスタノード装置 100—1から受信した光波長; L 1 の第 1の運用信号 700_1を第 2の運用信号 700— 2の光波長え 1 とは異なる光波長 え 2に割り当てると共に、 リモートノード装置 100_1側にループバックする。 これにより、 ループバックされた第 1の運用信号 (以後、 ループパック信号と 称することがある。) 700_1と第 2の運用信号 700一 2は、 波長多重で伝送すること が可能になる。
マスタノード装置 100_1において、 光波長分波器 (図示せず) は、 ノード装置 100—2から、ループバックされた光波長; 1 2の第 1の運用信号 700_1を受信して分 波する。 回線品質検查部 410は、 分波された光波長 1 2 の第 1の運用信号 700_1 に基づき回線の品質を検査する。
これにより、 図 5で示した高価な試験信号発生装置 300及ぴ試験信号検査装置 400 を用いることなく、 運用中のデータを用いた回線の疎通確認、 品質確認、 故 障箇所等を試験することが可能になる。
なお、リモートノード装置 100一 2は、運用信号 700—1の光波長と運用信号 700—2 の光波長が元々異なる場合、 すなわち、 互いに別の光波長に予め割り当てられて いる場合、 光信号を波長変換せず、 そのままループバックすればよい。 また、 第 1の運用信号 700_1の光波長と第 2の運用信号 700_2の光波長が同じであれば、 例えば、 運用信号 700— 1を運用信号 700_2とは異なる光波長に変換すればよい。 また、 上記の課題を解決するため、 本発明に係るリモートノード装置は、 マス タノ一ド装置から受信した第 1の運用信号を自装置でループバックするループバ ック部と、 該第 1の運用信号と、 この第 1の運用信号とは異なる光波長に割り当 てられた第 2の運用信号とを合波して該マスタノード装置に送信する光波長合波 器を備えたことを特徴とする。
すなわち、 図 1に示したリモートノード装置 100_2において、 ループバック部 (図示せず) は、 マスタノード装置 100—1から回線 200_3を経由して受信した第 1の運用信号 700_1をマスタノード装置 100_1にループパックする。
光波長合波器 (図示せず) は、 互いに異なる光波長が割り当てられた第 1の運 用信号 700_1及ぴ第 2の運用信号 700— 2を合波してマスタノード装置 100_1に向 けて送出する。
これにより、 試験信号発生装置 300及び試験信号検査装置 400を用いることな く、運用中の回線の疎通確認、品質確認、故障箇所を試験することが可能になる。 また、 上記の本発明において、 該ループパック部は、 該第 1の運用信号を、 該 第 2の運用信号とは異なる光波長に変換する波長割当部を含むことができる。 すなわち、 波長割当部は、 第 1の運用信号 700— 1を、 第 2の運用信号 700一 2の 光波長とは異なる波長にすることができる。 これにより、 第 1の運用信号 700—1 及び第 2の運用信号 700— 2を波長多重で送信することが可能になる。
さらに、 上記の本発明において、 該第 1の運用信号と第 2の運用信号に予め異 なる光波長を割り当てることができる。
また、 上記の課題を解決するため、 本発明に係る中継ノード装置は、 リモート ノード装置でループパックされた第 1の運用信号を分波する光波長分波器と、 該 分波された第 1の運用信号と、 この第 1の運用信号とは異なる光波長に割り当て られた第 2の運用信号とを合波してマスタノード装置に向けて出力する光波長合 波器を備えたことを特徴とする。
図 2は、本発明に係るノード装置を用いた回線試験の原理(2)を示している。 こ の回線試験は、 マスタノード装置 100一 1と、 中継ノード装置 100_2を経由して接 続されたリモートノード装置 100_3との間を検査する。 この場合、 中継ノード装 置 100—2 は、 リモートノード装置 100—3 でループバックされた第 1の運用信号 700_1をスルーで通過させなければならない。
そこで、 中継ノード装置 100_2において、 光波長分波器 (図示せず) は、 回線 200_6から受信した第 1の運用信号 700—1 と第 2の運用信号 700_2 とを分波し、 光波長合波器は、 光波長分波器から出力された第 1の運用信号 700_2と中継ノー ド装置 100_2で処理された第 2の運用信号 700_2を合波して出力する。
これにより、 第 1の運用信号は、 中継ノード装置 100— 2を経由して、 マスタノ 一ド装置に送信され、 中継ノード装置を介して接続されたマスタノード装置とリ モートノード装置との間の回線試験が可能になる。
また、 上記の本発明において、 該光波長分波器と該光波長合波器の間に、 該第 1の運用信号を該第 2の運用信号とは異なる光波長に変換する波長割当部をさら に備えることができる。
すなわち、 波長割当部は、 第 1の運用信号 700_1を第 2の運用信号 700一 2の光 波長とは異なる光波長にすることできる。
さらに、 上記の本発明において、 該第 1の運用信号と該第 2の運用信号に予め 異なる光波長を割り当てることが可能である。
これにより、 第 1の運用信号 700_1及び第 2の運用信号 700一 2を波長多重で中 継することが可能になる。
また、 上記の本発明において、 マスタノード装置は、 該第 1の運用信号の代わ りに試験信号を該リモートノード装置に送信する試験信号生成部をさらに備える ことが可能である。
図 3は、本発明に係るノード装置を用いた回線試験の原理(3)を示している。 こ の回線試験は、 回線 200_3が運用されていない場合におけるノード装置 100— 1と ノ一ド装置 100一 2との間の回線試験である。 回線 200_3には、 運用信号が流れていない、 そこで、 試験信号生成部 310は、 回線 200一 3に試験信号 800を送出する。 ノ一ド装置 100_2は、 試験信号 800をル ープバックしてマスタノード装置 100—1に戻す。
このとき、 回線 200_4に、 例えば光波長 λ ΐの運用信号 700一 2が伝送されてい る場合、 マスタノード装置 100_1又はリモートノード装置 100—2で試験信号 800 の光波長を運用信号 700一 2の光波長 λ ΐと異なる "ぇ2" に設定すればよい。 また、 回線 200—4に試験信号 800以外の信号が伝送されていない場合、 試験信 号 800の光波長は、 任意に設定することができる。
これにより、 運用外においても、 マスタノード装置 100_1とリモートノード装 置 100— 2との間の回線試験が可能になる。 図面の簡単な説明
図 1は、本発明に係るノード装置を用いた回線試験の原理(1)を示したプロック 図である。
図 2は、本発明に係るノード装置を用いた回線試験の原理(2)を示したプロック 図である。
図 3は、本発明に係るノード装置を用いた回線試験の原理(3)を示したブロック 図である。
図 4は、 本発明に係るノード装置の実施例を示したプロック図である。
図 5は、 従来のノード装置の構成を示したプロック図である。
図 6は、 従来のノード装置を用いたループバック回線試験を示したプロック図 である。
図 7は、 一般的な SONETフレームのフォーマット図である。
符号の説明
100, 100— 1〜100— 3, ΙΟΟζ, 100z— l〜100z_3 ノード装置
10, 10z 装置機能部 11, Hz オーバヘッドモニタ
20一 1〜20_3 光/電気変換器 30_1〜30— 3 電気/光変換器
40 信号切換部 50 光波長分波器
60 波長選択部 70 波長割当部 80 光波長合波器 90〜92 スィッチ
200— :!〜 200_8, 210〜240 回線
300 試験信号発生装置 310 試験信号生成部
400 試験 1目号検査装置 410 回線品質検査部
600 SONETフレーム 610 オーバへッ ド
620 ペイロード 630 セクションオーバヘッ ド、 S0H
640 ラインオーバへッド、 L0H 650 ポインタ
660 パスオーバへッド、 P0H
700— _1, 710—1 運用信号、 ループバック信号
700— .2, 710_2 運用信号 720 スノレー信号
800, 810 試験信号 910, 920, 930 制御信号
λ 1, λ 2 光波長
図中、 同一符号は同一又は相当部分を示す 発明を実施するための最良の形態
図 4は、 本発明に係るノード装置 100の実施例を示している。 このノード装置 100 は、 マスタノード装置、 中継ノード装置、 及びリモートノード装置の機能を 全て備えている。
このノード装置 100力 S、図 5に示した従来のノード装置 ΙΟΟζと基本的に異なる 点は、 装置機能部 10と電気/光変換器 30—1との間に信号切換部 40が挿入され、 · この信号切換部 40に試験信号生成部 310が接続されていること、 スィッチ 91が 無く電気/光変換器 30一 1が回線 200— 3に直接接続されていることである。
また、 ノード装置 100が、 ノード装置 ΙΟΟζと異なる点は、 スィツチ 92及び光/ 電気変換器 20—2の代わりに、回線 200—4から受信した波長多重(WDM: Wavelength Division Multiplexing) されたループパック信号(運用信号) 700— 1、 及び運用信 号 700_2を処理するため、回線 200_4に接続された光波長分波器 50と、 この光波 長分波器 50で分波された光信号を、 それぞれ電気信号に変換する光/電気変換器 20—2, 20_3と、運用信号 700_2を装置機能部 10に与え、ループバック信号 700_1 をスルー (以後、 このスルーする信号をスルー信号 720と称することがある。) さ せる選択を行う波長選択部 60と、 この波長選択部 60に接続された、 スル 信号 720に基づき回線試験を行う回線品質検查部 410とを備えていることである。 さらに、 ノード装置 100が、 ノード装置 ΙΟΟζと異なる点は、 スィッチ 90及ぴ 電気/光変換器 30_2の代わりに、 装置機能部 10で処理された運用信号 700_2、 光 /電気変換器 20_1からの運用信号 700— 1 (以後、 ループパック信号 700— 1 と称す ることがある。)、 及びスルー信号 720の中の少なくとも 1つに光波長を割り当て る波長割当部 70と、 それぞれ割り当てられた信号を光信号に変換する電気/光変 換器 30_2, 30_3と、 これらの電気/光変換器 30一 2, 30_3の出力信号を合波 (波長 多重) して回線 200_2に出力する光波長合波器 80とを備えていることである。 また、 オーバヘッドモニタ 11が、 それぞれ、 制御信号 910, 920で波長選択部 60及び波長割当部 70を制御することも、 従来のオーバへッドモニタ llz と異な つている。
図 1及び図 4を参照して、 マスタノード装置 100_1が、 自装置に隣接するリモ ートノード装置 100_2との間の回線試験を実施する動作手順例を以下に説明する。 ステップ T11: リモートノード装置 100—2において、装置機能部 10が回線 200—3 からの運用信号 700_1を処理した後、 回線 200— 5に送出するサービス状態を保つ たまま以下の処理が実施される (図 4参照)。
マスタノード装置 100一 1 において、 装置機能部 10は、 図 7に示した D1〜D12 バイ トのいずれかを用いて、 リモートノード装置 100— 2に対して "DCC通信確立 要求" を送信する。
リモートノード装置 100—2において、オーバへッドモニタ 11は、マスタノード 装置 100_1に対して "DCC通信確立要求" に対する "受信確認通知" を DCC信号 で応答する。 これにより、 マスタノード装置 100_1 とリモートノード装置 100— 2 の間に DCC通信系が確立する。
マスタノード装置 100—1は、 回線 200—3からの運用信号 700—1をループバック させるように DCC信号で制御命令を、 リモートノード装置 100_2に対して送出す る。
リモートノード装置 100—2において、 制御命令を受信したオーバへッドモニタ 11は、装置機能部 10からの運用信号 700— 2に光波長; L 1を、ループパック信号(運 用信号) 700_1に光波長; L 2を割り当てる制御信号 920を波長割当部 70に与える (図 4参照)。
なお、 上述した運用信号 700_1をループバックするループバック部は、 この波 長割当部 70及ぴオーバへッドモニタ 11で構成されている。
これにより、 「マスタノード装置 100— 1 → 回線 200_3 →リモートノード装置 100_2 (ノレープバック) → 回線 200_4→ マスタノード装置 100—1」 のノレープバッ ク系が確立する。
ステップ T12: リモートノード装置 100— 2において、 回線 200_3からの運用信号 700_1は、 ループバック信号 700_1として波長割当部 70に与えられる。 波長割当 部 70は、 運用信号 700_1及び運用信号 700_2にそれぞれ光波長 λ 2, X Iを割り 当て電気/光変換器 30_2, 30— 3に出力する (図 4参照)。
電気/光変換器 30—2, 30_3は、 それぞれ、 電気信号を波長 λ 2, λ ΐの光信号に 変換する。 光波長合波器 80は、 波長 λ 2, λ ΐの光信号を合波 (波長多重) して 回線 200—4から出力する (図 4参照)。
これにより、 回線 200_3からの運用信号 700—1は、 光波長え 2のループパック 信号 700_1として回線 200—4にループバックされる (図 1参照)。
ステップ T13:回線 200—4は、 回線 200_6からの波長 λ 1の運用信号 700—2と波 長え 2のループパック信号(運用信号) 700_1を波長多重伝送する。
ステップ T14:マスタノード装置 100_1において、 光波長分波器 50は、 運用信 号 700—2及ぴループパック信号(運用信号) 700_1を分波して、 それぞれ、 光/電気 変換器 20_2, 20_3に与える。光/電気変換器 20_2, 20_3は、それぞれ、信号 700_2, 700—1を電気信号に変換して波長選択部 60に与える。
波長選択部 60は、 波長; L 1の運用信号 700一 2を装置機能部 10に与える。 これ により、 運用信号 700一 2は、 通常のサ一ビス状態で伝送される。
ステップ T15:また、 波長選択部 60 は、 波長; L 2 のループバック信号(運用信 号) 700—1を回線品質検査部 410に与える。 これにより、 回線品質検查部 410は、 運用信号 700—1に基き回線試験を実施することができる。
図 2及ぴ図 4を参照して、 中継ノード装置 100—2を介して接続されたマスタノ 一ド装置 100一 1とリモートノード装置 100_3との間の回線の試験手順例を以下に 説明する。
ステップ T21:リモートノード装置 100_3において、装置機能部 10が回線 200_5 からの運用信号 700_1を処理した後、 回線 200_7に送出するサービス状態を保つ たまま、 以下の処理が実施される。
マスタノード装置 100一 1は、 中継ノード装置 100_2との間で DCC通信系を確立 した後、 回線 200_6からの波長; L 1の運用信号 700_2を装置機能部 10に与え、 波 長; L 2 のループパック信号(運用信号) 700—1 を終端せずにスルーさせる制御命令 をリモートノード装置 100—2に送信する。
さらに、 マスタノード装置 100一 1は、 リモートノード装置 100— 3 との間で DCC 通信系を確立した後、 リモートノード装置 100_3に対して、 回線 200_5からの運 用信号 700_1をループパックさせる指示を与える制御命令を送出する。
リモートノード奘置 100 3において、 波長割当き β 70は、 奘啬機能部 10からの 運用信号 700_2に波長; L 1を、ループバック信号(運用信号) 700—1に波長え 2をに 割り当て、 1本のファイバに波長 λ ΐの運用信号 700_2と波長 λ 2のループバック 信号 (運用信号) 700_1を波長多重して送出する。
これにより、「マスタノード装置 100_1 → 回線 200_3 → 中継ノード装置 100_2 → 回線 200_5 → リモートノード装置 100—3 (ループバック) → 回線 200_6 → 中継ノード装置 100_2 → 回線 200一 4 → マスタノード装置 100—1」 のループバッ ク系が確立し、 ループパック信号 700— 1には回線 200— 5からの運用信号 700_1が そのまま流れ込むことになる。
ステップ Τ22, Τ23:図 1に示したステップ T12, T13と同様である。
ステップ Τ24 :中継ノード装置 100_2において、運用信号 700一 2は装置機能部 10 で処理された後、運用信号 700—1はスルー信号 720として、波長割当部 70に与え られる。さらに、運用信号 700一 2、及び運用信号(スルー信号) 700_1は、それぞれ、 電気/光変換器 30_2, 30—3で光波長え 1 , λ 2の光信号に変換された後、 光波長合 波器 80に与えられる。 光波長合波器 80は、 運用信号 700_2, 700一 1を回線 200_4 に波長多重して出力する (図 4参照)。
ステップ Τ25〜Τ27 :図 1に示したステップ Τ13〜Τ15と同様である。これにより、 中継ノード装置 100_2が存在する場合においても、 回線試験を実施することが可 能になる。
すなわち、マスタノード装置 100—1において、回線品質検査部 410は、回線 200_4 からの波長; 2のループパック信号(運用信号) 700—1を監視し、 B1〜B3パイト等 の回線エラーチェックパイ トを検査して、 「回線 200—3 - 回線 200—5 — 回線 200—6 — 回線 200_4」 の回線品質を確認することが可能となる。
図 3及び図 4を参照して、 回線 200_3が運用状態でないときマスタノード装置 100_1とリモートノード装置 100_2との間の回線の試験手順例を以下に説明する。 ステップ T31:マスタノード装置 100_1において、 信号切換部 40は、 運用信号 700— 1側から試験信号 800側に信号切換を行う。 試験信号生成部 310は、 試験信 号 800を送出する (図 4参照)。
ステップ T32: リモートノード装置 100_2において、 波長割当部 70は、 ループ バックされた試験信号 800に波長 λ ΐ又は; L 2を割り当て回線に送出する(図 4参 照)。 なお、 回線 200_4が、 例えば波長; L 1の運用信号 700_2 (図示せず) が送信 されている運用状態である場合、 ループバックした試験信号 800には異なる波長 ぇ2を割り当てて回線に送出する。
ステップ Τ33:回線 200_4は、 ループバック信号(試験信号) 800を伝送する。 ステップ Τ34: マスタノード装置 100—1において、 回線品質検査部 410は、 試験 信号 800に基づき回線試験を実施する。
これにより、 回線が運用状態でない場合も回線試験を行うことが可能になる。 以上説明したように、 本発明に係るノード装置によれば、 マスタノード装置にお いて、 光波長分波器が、 リモートノード装置でループバックされた第 1の運用信 号を受信して分波し、 この第 1の運用信号に基づき回線品質検査部が回線の品質 を検査するように構成し、 第 1の運用信号がリモートノード装置又は中継ノード 装置から受信する第 2の運用信号とは異なる光波長に割り当てられているように したので、 外部の試験装置を用いることなく、 運用中のデータを用いた回線試験 を行うことが可能になり、 試験コス トの削減することと、 試験信号を用いた場合 と比較してより確かな回線品質を確認することが可能になる。
また、 リモートノード装置において、 ループバック部が受信した第 1の運用信 号を自装置でループバックし、 光波長合波器が第 1の運用信号とこの第 1の運用 信号とは異なる光波長に割り当てられた第 2の運用信号とを合波して該マスタノ ード装置に送信するように構成したので、 同様に、 外部の試験装置を用いること なく、 運用中の全データを用いた回線試験を行うことが可能になる。
また、 中継ノード装置において、 光波長分波器がリモートノード装置でループ バックされた第 1の運用信号を分波し、 光波長合波器が該分波された第 1の運用 信号と、 この第 1の運用信号とは異なる光波長に割り当てられた第 2の運用信号 とを合波してマスタノード装置又は中継ノード装置に向けて出力するように構成 したので、 中継ノード装置を経由して接続されたマスタノード装置とリモートノ ード装置との間の回線試験が可能になる。
さらに、 マスタノード装置において、 第 1の運用信号の代わりに試験信号をリ モートノード装置に送信する試験信号生成部をさらに備えたことにより、 非運用 時においても回線試験を行うことが可能になる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . リモートノード装置へ送信され該リモートノード装置でループバックされた 第 1の運用信号を受信して分波する光波長分波器と、
該分波された該第 1の運用信号に基づき回線の品質を検査する回線品質検査部 を備え、
該第 1の運用信号が、 該リモートノード装置又は中継ノード装置から受信する 第 2の運用信号とは異なる光波長に割り当てられていることを特徴としたマスタ ノ一ド装置。
2 . マスタノード装置から受信した第 1の運用信号を自装置でループバックする ループバック部と、
該第 1の運用信号とこの第 1の運用信号とは異なる光波長に割り当てられた第 2の運用信号とを合波して該マスタノード装置に送信する光波長合波器を備えた ことを特徴とするリモートノード装置。
3 . 請求の範囲 2において、
該ループバック部は、 該第 1の運用信号を、 該第 2の運用信号とは異なる光波 長に変換する波長割当部を含むことを特徴としたリモートノード装置。
4 . 請求の範囲 2において、
該第 1の運用信号と第 2の運用信号が予め異なる光波長に割り当てられている ことを特徴としたリモートノード装置。
5 . リモートノード装置でループバックされた第 1の運用信号を分波する光波長 分波器と、
該分波された第 1の運用信号と、 この第 1の運用信号とは異なる光波長に割り 当てられた第 2の運用信号とを合波してマスタノード装置に向けて出力する光波 長合波器を備えたことを特徴とする中継ノ一ド装置。
6 . 請求の範囲 5において、
該光波長分波器と該光波長合波器の間に、 該第 1の運用信号を該第 2の運用信 号とは異なる光波長に変換する波長割当部をさらに備えたことを特徴とする中継 ノ一ド装置。
7 . 請求の範囲 5において、
該第 1の運用信号と該第 2の運用信号が予め異なる光波長に割り当てられてい ることを特徴とする中継ノード装置。
8 . 請求の範囲 1において、
該第 1の運用信号の代わりに試験信号を該リモートノ一ド装置に送信する試験 信号生成部をさらに備えたことを特徴とするマスタノード装置。
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