JP2006071416A - 印刷はんだ検査装置 - Google Patents
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Abstract
表示されたプリント基板のレイアウト上で印刷はんだされた状態が基準のデータに対してどの程度差があるか定量的に一瞥して分布或いは傾向が認識できるようにすることが目的である。
【課題を解決するための手段】
差演算手段9により、測定された印刷はんだ状態を表す、印刷はんだの高さ、面積又は体積を、予め記憶した基準との差を偏差値として求め、階調割振手段10により、偏差値を表示上の階調で表現し、各印刷はんだ箇所毎に階調表示することで分布状態が認識できる構成にし、かつ階調表示がどの程度の偏差値かの目安となる階調スケールを表示する構成にした。さらに、より大きな目で全体の傾向が認識できるようにレイアウトを複数の領域に分けて領域毎に偏差値の平均をとり、その平均値を階調表示する構成にした。
【解決手段】
【選択図】 図1
Description
前記各位置における判定用データと所定の基準データとの差を表す偏差値を求めて出力する差演算手段と、所定幅に亘って変化する表示上の階調に各該偏差値を割り振り、該偏差値に対応する階調を求める階調割振手段と、
前記表示手段に、前記プリント板の各位置を示すレイウトを表示させ、該階調割振手段の出力を受けて、前記各位置に当該位置の偏差値に対応する階調表示を行わせると共に、少なくとも前記所定幅の上限近傍の特定階調及び下限近傍の特定階調に対する前記偏差値を階調スケールとして表示させる表示制御手段とを備えた。
前記各位置における判定用データと所定の基準データとの差を表す値を求め、かつ前記プリント板表面を複数の領域(L)に分けて該複数領域のそれぞれにおける該差を表す値の平均値を求め、各領域の偏差値として出力する差演算手段と、所定幅に亘って変化する表示上の階調に各該偏差値を割り振り、各該偏差値に対応する階調を求める階調割振手段と、前記表示手段に、前記プリント板を示すレイウトを表示させ、該レイアウト上の該各領域に当該領域の偏差値に対応する階調表示を行わせると共に、少なくとも前記所定幅の上限近傍の特定階調及び下限近傍の特定階調に対する前記偏差値を階調分布スケールとして表示させる表示制御手段とを備えた。
前記表示制御手段は、前記階調割振手段は同一のプリント板に対して、高さ、面積、体積及び印刷はんだズレに対応するレイアウトの階調及び階調スケールを表示する構成とした。
上記、差演算手段9及び階調割振手段10は、基準データに対する印刷はんだ状態を各印刷はんだ箇所毎の階調表示して、全体として一瞥できるようにしたが、次に示す例は、基板1を領域に分けて、階調表示することにより、面的に傾向を把握できるようにしたものである。
4a 移動制御部、 5 移動機構部、 6 測定値記憶手段、 7 データ生成手段
8 判定手段、 9 差演算手段、 10 階調割振手段、 11 表示制御手段
12 表示手段、 13 設計情報記憶手段、 14 操作手段
Claims (4)
- プリント板の表面に光を照射させ、その反射光から得られるプリント板表面の各位置における変位を示す測定値を取得する測定手段(100)と、該測定値を記憶する測定値記憶手段(6)と、該測定値を基に、前記各位置におけるはんだの印刷状態を表す少なくとも高さ、面積、体積又は印刷はんだズレの一つが含まれる判定用データを生成するデータ生成手段(7)とを有し、該測定値記憶手段の測定値に基づいてはんだの印刷状態を識別可能に表示手段(12)に表示する印刷はんだ検査装置において、
前記各位置における判定用データと所定の基準データとの差を表す偏差値を求めて出力する差演算手段(9)と、所定幅に亘って変化する表示上の階調に各該偏差値を割り振り、該偏差値に対応する階調を求める階調割振手段(10)と、
前記表示手段に、前記プリント板の各位置を示すレイウトを表示させ、該階調割振手段の出力を受けて、前記各位置に当該位置の偏差値に対応する階調表示を行わせると共に、少なくとも前記所定幅の上限近傍の特定階調及び下限近傍の特定階調に対する前記偏差値を階調スケールとして表示させる表示制御手段(11)とを備えたことを特徴とする印刷はんだ検査装置。 - プリント板の表面に光を照射させ、その反射光から得られるプリント板表面の各位置における変位を示す測定値を取得する測定手段(100)と、該測定値を記憶する測定値記憶手段(6)と、該測定値を基に、前記各位置におけるはんだの印刷状態を表す少なくとも高さ、面積、体積又は印刷はんだズレの一つが含まれる判定用データを生成するデータ生成手段(7)とを有し、該測定値憶手段の測定値に基づいてはんだの印刷状態を識別可能に表示手段(12)に表示する印刷はんだ検査装置において、
前記各位置における判定用データと所定の基準データとの差を表す値を求めて、かつ前記プリント板表面を複数の領域(L)に分けて該複数領域のそれぞれにおける該差を表す値の平均値を求め、各領域の偏差値として出力する差演算手段(9)と、所定幅に亘って変化する表示上の階調に各該偏差値を割り振り、各該偏差値に対応する階調を求める階調割振手段(10)と、
前記表示手段に、前記プリント板を示すレイウトを表示させ、該レイアウト上の該各領域に当該領域の偏差値に対応する階調表示を行わせると共に、少なくとも前記所定幅の上限近傍の特定階調及び下限近傍の特定階調に対する前記偏差値を階調分布スケールとして表示させる表示制御手段(11)とを備えたことを特徴とする印刷はんだ検査装置。 - 前記差演算手段は、前記プリント板表面を複数(N)の列領域に分けて各領域における列平均値を求めるとともに、前記プリント板表面を複数(M)の行領域に分けて各領域における行平均値を求めて、さらに該列平均と行平均を重ねた平均値を求めて、前記複数(L=N×M)の領域それぞれの平均値とすることを特徴とする請求項2に記載の印刷はんだ検査装置。
- 前記データ生成手段は、前記各位置におけるはんだの印刷状態を表す高さ、面積、体積及び印刷はんだズレの各判定用データを生成し、
前記表示制御手段は、前記階調割振手段は同一のプリント板に対して、高さ、面積、体積及び印刷はんだズレに対応するレイアウトの階調及び階調スケールを表示することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の印刷はんだ検査装置。
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