JP2000065552A - はんだ検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 プリント基板に印刷されたクリーム状はんだ
の印刷状態の良否を検査するはんだ検査装置に関し、検
査結果を各ランド単位または各部品単位で管理すること
を目的とする。 【解決手段】 プリント基板を撮像して得られる画像デ
ータに基づきプリント基板に印刷されたはんだの印刷状
態を検査するはんだ検査装置において、複数のはんだ印
刷箇所の検査結果をはんだ印刷箇所毎に管理するランド
単位管理と、部品単位で管理する部品単位管理とを行う
データ管理手段を有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品等を表面
実装するためにプリント基板上に印刷されたクリーム状
はんだの印刷状態の良否を検査するはんだ検査装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、プリント基板の所定位置にク
リーム状はんだを印刷し、その上に電子部品等を仮止め
してプリント基板をリフロー炉に通し、電子部品等のは
んだ付けを行う表面実装方式が用いられている。

【０００３】この場合、クリームはんだ印刷機によって
プリント基板に印刷したクリーム状はんだの各印刷箇所
を、画像処理技術を用いて検査し、印刷ずれ、印刷にじ
み、印刷かすれなどの印刷不良を検出する検査装置が知
られている（例えば、特開平４−１０４０４４号参
照）。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のはん
だ検査装置は検査結果から不良箇所を検出すると、クリ
ーム状はんだを印刷するクリームはんだ印刷機にその結
果をフィードバックし、印刷不良原因を除去するように
していた。

【０００５】このとき、はんだ検査装置から出力される
不良箇所のデータは、部品単位（例えば、抵抗器、コン
デンサ、トランジスタ等）であるため、例えばトランジ
スタが実装される箇所では、トランジスタの３つのピン
を固着する３つのランド（電極部）にそれぞれクリーム
状はんだを印刷するので、検査箇所は３箇所であるにも
かかわらず、この３箇所の結果を１つにまとめた部品単
位の検査結果が出力されていた。

【０００６】従って、ある部品に対するクリーム状はん
だの印刷状態の良否の検査結果が不良と判定された場合
は、不良と判定された部品のどのランドに印刷されたク
リーム状はんだの印刷状態が不良なのか、また何箇所が
不良なのか等を詳細に確認し分析することができないと
いう不都合があり、正確な印刷不良箇所をクリームはん
だ印刷機にフィードバックすることができなかった。

【０００７】本発明は、このような従来の課題を解決す
るためになされたもので、クリーム状はんだが印刷され
たプリント基板の検査結果を、各ランド単位または各部
品単位で管理することができるはんだ検査装置を提供す
ることを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明によるはんだ検査
装置は、プリント基板を撮像して得られる画像データに
基づきプリント基板に印刷されたはんだの印刷状態を検
査するはんだ検査装置において、複数のはんだ印刷箇所
の検査結果をはんだ印刷箇所毎に管理するランド単位管
理と、部品単位で管理する部品単位管理とを行うことが
できるデータ管理手段を有するものである。

【０００９】ここでいう「管理」には、一つのランドま
たは部品に一つの検査結果データを対応させて記憶する
ことを含む。

【００１０】本発明によると、プリント基板上のはんだ
印刷箇所の検査結果を、ランド単位で管理するデータと
部品単位で管理するデータとを有し、ランド単位で管理
する場合ははんだ印刷箇所毎の検査結果を管理し、部品
単位で管理する場合は複数のはんだ印刷箇所の検査結果
を１つの部品単位にまとめた検査結果として管理するの
で、プリント基板上に印刷されたクリーム状はんだの印
刷状態の良否について詳細な確認および分析を行うこと
ができ、加えて正確な印刷品質情報をクリームはんだ印
刷機にフィードバックすることができる。

【００１１】また、本発明によるはんだ検査装置を別の
観点から規定すると、次のように表現される。すなわ
ち、はんだが印刷されたプリント基板を撮像する撮像手
段と、この撮像手段によって撮像したプリント基板の画
像から被検査データを作成する画像処理手段と、この被
検査データと予め入力した基準となる判定データとを比
較して各はんだ印刷箇所のはんだの印刷状態を検査する
検査手段と、検査手段で検査した検査結果をはんだ印刷
箇所毎にランド単位で、または複数のはんだ印刷箇所を
１つの部品単位にまとめた部品単位で管理するデータ管
理手段とを備えるものである。

【００１２】本発明の一実施態様においては、データ管
理手段は、はんだ印刷箇所毎のランド単位の検査結果デ
ータとプリント基板の部品実装データとから部品単位の
検査結果データを得るものである。

【００１３】プリント基板の部品実装データとは、プリ
ント基板に実装する各部品の形状、寸法、種別、実装位
置などのデータである。このデータとランド単位で検査
した検査結果データ中の例えばランド位置データとを突
き合わせることによって、各ランドと各部品との対応関
係が判るので、部品単位の検査結果データを得ることが
できる。

【００１４】また、クリーム状はんだの検査結果をラン
ド単位で保存しておけば、部品実装後の検査は部品単位
で行われるのが一般的であるので、部品実装後の検査に
おいて不良と判定された部品に属する複数のランドを特
定することが容易であり、その特定した複数のランドの
中に検査結果が不良のランドがあれば、そのランドが不
良の原因と推定でき、印刷工程条件を調整することがで
きる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を用いて説明する。図１は、本発明によるはんだ
検査装置の一実施の形態を示すブロック図である。この
はんだ検査装置は検査時の基準となるモデル基板Ｐ１を
撮像して得られる検査領域のパラメータ（判定データ）
と、被検査基板Ｐ２を撮像して得られる被検査領域のパ
ラメータ（被検査データ）とを比較し、被検査基板Ｐ２
の各ランド毎および各部品毎にクリーム状はんだが正し
く印刷されているか否かを検査するものである。

【００１６】このはんだ検査装置は画像データ入力部１
および画像データ処理部２を備え、画像データ入力部１
は基板Ｐ１，Ｐ２に印刷されたクリーム状はんだを撮像
し、その撮像信号を画像データ処理部２に入力する。画
像データ処理部２は入力された撮像信号を画像データに
変換し、この画像データに基づいて判定データと被検査
データとを作成し、両データを比較して被検査基板Ｐ２
のクリーム状はんだの印刷状態の良否を検査する。

【００１７】（画像データ入力部）画像データ入力部１
は、モデル基板Ｐ１および被検査基板Ｐ２を載置するコ
ンベア１１、このコンベア１１をＹ方向（図の手前方
向）に移動させるＹ軸テーブル部１２、コンベア１１に
載置された基板Ｐ１，Ｐ２を照射する投光部１３、基板
Ｐ１，Ｐ２を撮像する撮像部１４をその構成として含ん
でいる。

【００１８】また、投光部１３は、基板Ｐ１，Ｐ２に赤
色光、緑色光および青色光をそれぞれ異なる入射角で照
射するリング状の発光体１３Ｒ，１３Ｇ，１３Ｂを備
え、撮像部１４はカラーテレビカメラ１５、このカラー
テレビカメラ１５をＸ方向（図の横方向）に移動させる
Ｘ軸テーブル部１６を備えている。

【００１９】Ｙ軸テーブル部１２およびＸ軸テーブル部
１６は、それぞれ画像データ処理部２からの制御信号に
基づいて動作するモータ（図示せず）を備え、これらモ
ータによってＹ軸テーブル部１２がコンベア１１をＹ方
向へ移動させ、Ｘ軸テーブル部１６がカラーテレビカメ
ラ１５をＸ方向へ移動させ、基板Ｐ１，Ｐ２の表面全て
をカラーテレビカメラ１５で撮像することができるよう
に構成されている。

【００２０】（画像データ処理部）画像データ処理部２
は、Ａ／Ｄ変換部２１、メモリ部２２、撮像コントロー
ラ２３、画像処理部２４、ＸＹテーブルコントローラ２
５、検査部２６、ティーチング部２７、データ管理部２
８を備え、これら各部はバスライン２９を介して制御部
（ＣＰＵ）３０に接続されている。また、制御部３０
は、キーボード３１、表示装置３２、プリンタ３３、通
信部３４およびフロッピーディスク装置３５に接続され
ている。

【００２１】Ａ／Ｄ変換部２１は、撮像部１４から供給
されるカラー信号Ｒ，Ｇ，Ｂをアナログ／ディジタル変
換して制御部３０に画像データとして出力する。メモリ
部２２は、ＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモリ）を備
え、制御部３０の作業エリアとして使用される。

【００２２】撮像コントローラ２３は、制御部３０と投
光部１３および撮像部１４との間を接続するインターフ
ェイス等を備え、制御部３０からの指示に基づき投光部
１３の各発光体１３Ｒ，１３Ｇ，１３Ｂの光量の調整、
撮像部１４のカラーテレビカメラ１５の各色相光出力の
相互バランスの制御などを行う。

【００２３】画像処理部２４は、制御部３０を介して供
給された画像データを処理し、被検査データファイルや
判定データファイルを作成して制御部３０および検査部
２６へ供給する。

【００２４】ＸＹテーブルコントローラ２５は、制御部
３０とＸ軸テーブル部１６およびＹ軸テーブル部１２と
の間を接続するインターフェイス等を備え、制御部３０
からの指示に基づきＸ軸テーブル部１６およびＹ軸テー
ブル部１２を制御する。

【００２５】検査部２６は、検査時に制御部３０から供
給された判定データと、画像処理部２４から転送された
被検査データとを比較し、被検査基板Ｐ２におけるクリ
ーム状はんだの印刷状態の良否を判定し、その判定結果
を制御部３０へ出力する。

【００２６】ティーチング部２７は、ティーチングモー
ド時に制御部３０から判定データファイルが供給された
ときにこれを記憶する。また、検査時に制御部３０から
転送要求があったときに、この要求に応じて判定データ
を制御部３０および検査部２６に供給する。

【００２７】データ管理部２８は、はんだ印刷箇所をラ
ンド単位で検査するための検査用データの作成および検
査結果データの記憶を行うもので、各ランド毎に検査ウ
ィンドウおよび抽出ウィンドウの設定を行い、また各ラ
ンド毎に検査結果の良または不良を表すデータを記憶す
る。さらに、ランド単位の検査結果データの中の位置デ
ータと、プリント基板に実装する部品の形状、寸法、種
別、実装位置を表す部品実装データとを突き合わせるこ
とによって、各ランドと各部品との対応関係から部品単
位の検査結果データを作成して記憶する。

【００２８】キーボード３１は操作情報やモデル基板Ｐ
１に関するデータ、モデル基板Ｐ１上のランドや部品に
関するデータ等を入力するのに必要な各種のキーを備え
ており、このキーボード３１から入力されたデータは制
御部３０へ供給される。

【００２９】表示装置３２はＣＲＴ（ブラウン管）また
はＬＣＤ（液晶表示装置）を備え、制御部３０から供給
される画像データ、判定結果、キー入力データなどを画
面上に表示するものである。プリンタ３３は制御部３０
から供給される判定結果などを、予め定められた書式
（フォーマット）でプリントアウトするものである。

【００３０】（ティーチングモード）次に、制御部３０
の制御のもとにプリント基板に印刷されたクリーム状は
んだの印刷品質を検査する動作について説明する。新た
な被検査基板Ｐ２を検査するときは、制御部３０はモデ
ル基板Ｐ１を用いて検査時の基準となる判定データを作
成するためにティーチングモードを実行する。なお、モ
デル基板Ｐ１は各ランドにクリーム状はんだが正しく印
刷された基準となる基板である。

【００３１】まず、装置各部を制御して投光部１３や撮
像部１４をオンし、撮像条件やデータの処理条件を整え
る。次に、Ｙ軸テーブル部１２上にモデル基板Ｐ１をセ
ットし、Ｘ軸テーブル部１６およびＹ軸テーブル部１２
を制御してモデル基板Ｐ１の各所定位置で撮像部１４に
よってモデル基板Ｐ１を撮像する。

【００３２】モデル基板Ｐ１は投光部１３からの照射光
を受けつつ撮像部１４のカラーテレビカメラ１５により
撮像される。すなわち、投光部１３は撮像コントローラ
２３からの制御信号に基づいて赤色光、緑色光、青色光
を異なる入射角で照射して、３原色光の混合した光によ
りモデル基板Ｐ１を投光する。撮像部１４はその反射光
像をカラーテレビカメラ１５で得て電気信号に変換す
る。

【００３３】また、投光部１３は、その照明下でモデル
基板Ｐ１上のはんだの印刷状態を検出することを可能と
するために、発光体１３Ｒ，１３Ｇ，１３Ｂが発する各
色相の光が混色されると、完全な白色光となるように撮
像コントローラ２３によって制御されている。

【００３４】すなわち、発光体１３Ｒ，１３Ｇ，１３Ｂ
は混色により白色光となるような対波長発光エネルギー
分布を有する赤色光スペクトル、緑色光スペクトル、青
色光スペクトルの光を発する発光体をもって構成すると
共に、各発光体から照射された赤色光、緑色光、青色光
が混色して白色光となるように各色相光の光量が調整さ
れている。

【００３５】撮像部１４は、投光部１３の上方に配置さ
れたカラーテレビカメラ１５によってモデル基板Ｐ１か
らの反射光を３原色のカラー信号Ｒ，Ｇ，Ｂに変換して
画像データ処理部２へ供給する。

【００３６】この撮像動作で得られた３原色のカラー信
号Ｒ，Ｇ，Ｂは、Ａ／Ｄ変換部２１でディジタル画像デ
ータに変換されメモリ部２２にリアルタイムで記憶され
る。次いで、制御部３０はメモリ部２２から各色相に対
応する画像データを画像処理部２４へ転送する。画像処
理部２４では各色相の画像データを各色相別の適当な閾
値で２値化するなどして、赤色、緑色、青色のパターン
を抽出する。

【００３７】また、制御部３０は画像処理部２４を制御
して、各ランドの撮像パターンについて明度をチェック
するなどして各ランドの位置などを識別する。この後、
制御部３０は各色相パターンとランド位置データとに基
づいて、被検査基板Ｐ２を検査するのに必要な判定デー
タファイルを作成し、これをティーチング部２７に記憶
し、ティーチングモードを終了する。

【００３８】（検査モード）次に、図２に示すフローチ
ャート図を参照しながら、被検査基板Ｐ２に印刷された
クリーム状はんだの印刷状態の良否を検査する動作につ
いて説明する。

【００３９】検査モードに移行すると、制御部３０はテ
ィーチング部２７やキーボード３１からその日の日付デ
ータや被検査基板Ｐ２のＩＤナンバー（識別番号）など
を取り込むと共に、ティーチング部２７から判定データ
ファイルを読み出し、これを検査部２６に供給する（ス
テップＳ１）。

【００４０】次いで、制御部３０は撮像条件やデータの
処理条件を整えた後、検査をスタートさせる（ステップ
Ｓ２）。被検査基板Ｐ２の供給があれば（ステップＳ
３）、Ｙ軸テーブル部１２上に被検査基板Ｐ２をセット
し（ステップＳ４）、ティーチングモード時と同様に画
像処理部２４にて各色相パターンの検出を行い、各色相
パターンとランド位置データとに基づいて被検査データ
ファイルを作成する（ステップＳ５，Ｓ６）。

【００４１】次いで、制御部３０は被検査データファイ
ルを検査部２６に転送し、この被検査データファイルと
判定データファイルとを比較し、被検査基板Ｐ２上の所
定の抽出ウィンドウにつきはんだ印刷状態の良否を判定
する（ステップＳ７）。

【００４２】判定結果が良であればデータ管理部２８に
検査結果を記憶し（ステップＳ８）、その被検査基板Ｐ
２を搬出する（ステップＳ９）。判定結果が不良であれ
ば判定結果を表示装置３２やプリンタ３３に供給して表
示およびプリントアウトさせ（ステップＳ１０，Ｓ１
１）、その後にデータ管理部２８に検査結果を記憶し
（ステップＳ８）、被検査基板Ｐ２を搬出する（ステッ
プＳ９）。表示およびプリントアウトの内容としては、
基板上の不良箇所の座標、ランド番号、部品名称、不良
内容等がある。

【００４３】この一連の処理（ステップＳ３〜Ｓ１１）
を被検査基板Ｐ２の供給が続く限り繰り返し、被検査基
板Ｐ２の供給が途切れると、被検査基板Ｐ２の検査が終
了したか判定し（ステップＳ１２）、終了していなけれ
ばステップＳ３以降の処理を繰り返す。終了していれば
検査モードを終了する。

【００４４】ところで、検査部２６における検査結果と
して、データ管理部２８にはんだ印刷箇所毎にランド単
位の検査結果を記憶することができる（ステップＳ
８）。そして、各ランドの位置データとプリント基板に
実装する部品の種別や大きさ、実装位置等を表す部品実
装データとを突き合わせることによって、各ランドと各
部品との対応関係が判るので、ランド単位の検査結果か
ら部品単位の検査結果を求めて記憶する。なお、部品実
装データはキーボード３１、通信部３４、フロッピーデ
ィスク３５などから入力する。

【００４５】また、ランド単位の検査結果を保存してい
るので、不良として特定された部品に属するランドの検
査結果の中に不良のものがあれば、その不良がはんだ付
け後の不良原因であると推定できる。この推定に基づい
て、クリームはんだ印刷工程条件を調整することができ
る。

【００４６】図３〜図５は、それぞれはんだ印刷箇所を
ランド単位または部品単位で管理する際のプリント基板
上のウィンドウ設定状態を示す図で、（ａ）はランド単
位、（ｂ）は部品単位である。

【００４７】図３（ａ）は、２ピンの角チップ系部品
（例えば、コンデンサ、抵抗器など）の各ランドのウィ
ンドウ設定状態を示し、各ピンのランドＬＡに対してラ
ンドＬＡが存在する可能範囲を特定するための抽出ウィ
ンドウＷａと、その中で検査範囲を特定するための検査
ウィンドウＷｂ（ただし、Ｗａ＞Ｗｂ）を示す。隣接す
る２つのランドＬＡはコンデンサＣの２つのピンに対応
している。検査結果を部品単位で管理する場合は、部品
であるコンデンサＣと２つのランドＬＡの検査結果とを
対応付けて記憶する。

【００４８】一方、同図（ｂ）に示すように、部品の存
在する可能範囲を特定するための抽出ウィンドウＷＡを
ランド単位の２つの抽出ウィンドウＷａの外接矩形で１
つにまとめた形で設定すると、ランド単位の検査データ
を得ることなく、最初から部品単位の検査データを得る
こともできる。

【００４９】同図（ａ）または（ｂ）のどちらの抽出ウ
ィンドウを使用するかは、任意に切り換えることができ
る。図（ｂ）において、検査ウィンドウＷＢは検査ウィ
ンドウＷｂと同じである。また、部品本体ウィンドウＷ
Ｃは２つの検査ウィンドウＷＢの間に設定される。

【００５０】同様にして、図４（ａ）は３ピンのトラン
ジスタ系部品の各ランドのウィンドウ設定状態を示し、
角チップ系部品の場合と同様に各ピンのランドＬＡに対
してランドＬＡが存在する可能範囲を特定するための抽
出ウィンドウＷａと、その中で検査範囲を特定するため
の検査ウィンドウＷｂを示す。隣接する３つのランドＬ
ＡはトランジスタＴＲの３つのピンに対応している。こ
の場合も検査結果を部品単位で管理する場合は、部品で
あるトランジスタＴＲと３つのランドＬＡの検査結果と
を対応付けて記憶する。

【００５１】一方、同図（ｂ）に示すように、部品の存
在する可能範囲を特定するための抽出ウィンドウＷＡを
ランド単位の３つの抽出ウィンドウＷａの外接矩形で１
つにまとめた形で設定すると、ランド単位の検査データ
を得ることなく、最初から部品単位の検査データを得る
こともできる。

【００５２】同図（ａ）または（ｂ）のどちらの抽出ウ
ィンドウを使用するかは、任意に切り換えることができ
る。図（ｂ）において、検査ウィンドウＷＢは検査ウィ
ンドウＷｂと同じである。また、部品本体ウィンドウＷ
Ｃは３つの検査ウィンドウＷＢの間に設定される。

【００５３】次に、図５（ａ）は多ピンのＬＳＩ系部品
の各ランドのウィンドウ設定状態を示し、各ピンのラン
ドＬＡに対してランドＬＡが存在する可能範囲を特定す
るための抽出ウィンドウＷａと、その中で検査範囲を特
定するための検査ウィンドウＷｂを示す。隣接する複数
のランドＬＡは集積回路ＩＣの複数のピンに対応してい
る。この場合も検査結果を部品単位で管理する場合は、
部品である集積回路ＩＣと複数のランドの検査結果とを
対応付けて記憶する。

【００５４】一方、同図（ｂ）に示すように、ＬＳＩ系
部品の４辺の各辺毎に、ランド単位の複数の抽出ウィン
ドウＷａの外接矩形で１つにまとめた形で４つの抽出ウ
ィンドウＷＡ１〜ＷＡ４を設定すると、ランド単位の検
査データを得ることなく、最初から部品単位の検査デー
タを得ることもできる。

【００５５】同図（ａ）または（ｂ）のどちらの抽出ウ
ィンドウを使用するかは、任意に切り換えることができ
る。図（ｂ）において、検査ウィンドウＷＢは検査ウィ
ンドウＷｂと同じである。また、部品本体ウィンドウＷ
Ｃは４つの抽出ウィンドウＷＡ１〜ＷＡ４の間に設定さ
れる。

【００５６】以上のように、本実施の形態においては、
モデル基板Ｐ１についての３原色カラー信号を画像処理
部２４で処理し、印刷状態が良好な各はんだ印刷箇所に
ついて赤色、緑色、青色の各色相パターンを検出し、判
定データを作成する。

【００５７】次いで、被検査基板Ｐ２についての３原色
カラー信号を画像処理部２４で処理し、被検査基板Ｐ２
上のはんだ印刷箇所について同様の各色相パターンを検
出して被検査データを作成する。

【００５８】そして、この被検査データと判定データと
を検査部２６で比較し、この比較結果から被検査基板Ｐ
２のはんだ印刷箇所につき印刷状態の良否を判定する。
この検査結果は、データ管理部２８に記憶される。

【００５９】この場合、検査結果は各はんだ印刷箇所毎
にランド単位で記憶するが、このランド単位の検査結果
を、プリント基板に実装する部品の実装位置等を表す部
品実装データとつき合わせることにより、複数のランド
の検査結果を部品毎にまとめた部品単位で管理すること
ができる。

【００６０】

【発明の効果】本発明によれば、プリント基板上のはん
だ印刷箇所の検査結果を、ランド単位で管理するデータ
と部品単位で管理するデータとを有し、ランド単位で管
理する場合ははんだ印刷箇所毎の検査結果を管理し、部
品単位で管理する場合は複数のはんだ印刷箇所の検査結
果を１つの部品単位にまとめた検査結果として管理する
ので、プリント基板上に印刷されたクリーム状はんだの
印刷状態の良否について詳細な確認および分析を行うこ
とができ、加えて正確な印刷品質情報をクリームはんだ
印刷機にフィードバックすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるはんだ検査装置の一実施の形態を
示すブロック図である。

【図２】本発明によるはんだ検査装置の検査手順を示す
フローチャート図である。

【図３】角チップ系部品のウィンドウ設定状態を示す図
で、図（ａ）はランド単位、図（ｂ）は部品単位であ
る。

【図４】トランジスタ系部品のウィンドウ設定状態を示
す図で、図（ａ）はランド単位、図（ｂ）は部品単位で
ある。

【図５】ＬＳＩ系部品のウィンドウ設定状態を示す図
で、図（ａ）はランド単位、図（ｂ）は部品単位であ
る。

【符号の説明】

１ 画像データ入力部 ２ 画像データ処理部 １１ コンベア １２ Ｙ軸テーブル部 １３ 投光部 １３Ｒ，１３Ｇ，１３Ｂ 発光体 １４ 撮像部 １５ カラーテレビカメラ １６ Ｘ軸テーブル部 ２１ Ａ／Ｄ変換部 ２２ メモリ部 ２３ 撮像コントローラ ２４ 画像処理部 ２５ ＸＹテーブルコントローラ ２６ 検査部 ２７ ティーチング部 ２８ データ管理部 ２９ バスライン ３０ 制御部（ＣＰＵ） ３１ キーボード ３２ 表示装置 ３３ プリンタ ３４ 通信部 ３５ フロッピーディスク装置 ＬＡ ランド Ｐ１ モデル基板 Ｐ２ 被検査基板 Ｗａ，ＷＡ 抽出ウィンドウ Ｗｂ，ＷＢ 検査ウィンドウ ＷＣ 部品本体ウィンドウ Ｃ コンデンサ ＴＲ トランジスタ ＩＣ 集積回路

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 プリント基板を撮像して得られる画像デ
   ータに基づき前記プリント基板に印刷されたはんだの印
   刷状態を検査するはんだ検査装置において、 複数のはんだ印刷箇所の検査結果を前記はんだ印刷箇所
   毎に管理するランド単位管理と、部品単位で管理する部
   品単位管理とを行うことができるデータ管理手段を有す
   ることを特徴とするはんだ検査装置。
2. 【請求項２】 はんだが印刷されたプリント基板を撮像
   する撮像手段と、 前記撮像手段によって撮像した前記プリント基板の画像
   から被検査データを作成する画像処理手段と、 前記被検査データと予め入力した基準となる判定データ
   とを比較して各はんだ印刷箇所のはんだの印刷状態を検
   査する検査手段と、 前記検査手段で検査した検査結果を前記はんだ印刷箇所
   毎にランド単位で、または複数のはんだ印刷箇所を１つ
   の部品単位にまとめた部品単位で管理するデータ管理手
   段と、を備えることを特徴とするはんだ検査装置。
3. 【請求項３】 データ管理手段は、はんだ印刷箇所毎の
   ランド単位の検査結果データとプリント基板の部品実装
   データとから部品単位の検査結果データを得ることを特
   徴とする請求項１または２記載のはんだ検査装置。