JP2005538902A - 超高純度液体中の粒子の生成を最小限にするための装置および方法 - Google Patents

超高純度液体中の粒子の生成を最小限にするための装置および方法 Download PDF

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Abstract

超高純度液体を搬送するために使用するパッケージ容器内における粒子の生成を最小限にするシステムおよび方法。容器内における粒子の生成は、液体の充填、搬送および分配時に存在する空気−液体界面を減少させることにより減少する。

Description

本発明は、超高純度液体中の粒子の生成を最小限にすることに関する。より詳細には、本発明は、容器の充填、分散および搬送時における超高純度液体中の粒子の生成を最小限にすることに関する。
発明の背景
多くの業界で、超高純度液体中の粒子の数および粒度を制御して、純度を確保する必要がある。特に、超高純度液体は超小型電子製品製造プロセスの多くの態様で使用されているため、半導体メーカーは、プロセス薬品および化学処理機器に関する厳密な粒子濃度仕様を確立した。これらの仕様は、製造プロセスの改善と共により厳密になり続けている。こうした仕様は必要であり、つまり、製造プロセスで使用される流体が高レベルの粒子を含む場合、これらの粒子は固体表面上に蒸着するからである。その結果、製品が不完全になるか、またはさらに意図した目的に使用できなくなる可能性がある。
こうした仕様の背景にある一般的な理念は、流体が清潔であれば、流体処理構成部品も清潔であり、構成部品を通過する流体が清潔さを保つということである。あるいは、流体の容器が清潔であり、容器に清潔な流体が充填されれば、流体は、充填プロセスで清潔を保つであろう。清潔な容器中の清潔な流体は、顧客に引き渡されてもなお清潔である筈である。製造作業から到着したばかりの流体処理構成部品は、多くの場合パッケージ前に洗浄され、洗浄作業に固有な点は、洗浄システム自体は洗浄液を汚染しないという仮定である。対照的に、特定の流体処理構成部品、たとえば、ポンプは、ポンプが供給する流体中に連続的に粒子を落とすと一般に認識されている。
しかし、粒子は、流体が構成部品を通過するか、または容器に供給される方法に応じて多かれ少なかれ流体中に出現する可能性があることは、一般には認識されていない。たとえば、清潔な容器に清潔な水が部分的に充填されて蓋がされ、激しく揺り動かされると、水中の粒子の濃度は著しく増加する。液体中の粒子濃度を十分に低くして厳密な工業仕様に適合させるには、新しい工程が必要である。
したがって、先行技術では、容器に充填し、充填容器を搬送し、容器から液体を分配する時の液体中における粒子の生成を最小限にするシステムが必要である。
発明の簡単な要約
本発明は、液体中に生成される粒子の量を最小限にするように、容器に超高純度液体を充填するシステムおよび方法に関する。容器中における空気−液体界面の存在は、液体中に観察される粒子濃度を増加させることが分かった。本発明は、液体を充填、搬送および容器から分配する時の空気−液体界面を最小限にするシステムおよび方法に関する。
超高純度液体中における粒子の生成を減少させる第1の方法は、底部充填法を用いて容器に充填することである。底部充填法は、水没先端を有する浸漬管(dip tube)を使用して行なわれ、液体は水没先端から容器に入る。容器に充填する時に浸漬管の先端を液体の表面より下に水没させることにより、液体は、飛散、乱流および空気の混入が少ない状態で容器に入ることが可能である。飛散、乱流および空気の混入を防止すると、空気−液体界面が最小限になり、その結果液体中における粒子の生成が減少する。
超高純度液体中における粒子の生成を減少させる第2の方法は、ライナおよび硬質のオーバーパックを備えるタイプの液体用容器に充填することであり、先ずライナを圧潰し、圧潰したライナに充填する。この方法で容器に充填すると、ライナ中における空気−液体界面を除去し、充填された容器にはヘッドスペースが存在しないことになる。
超高純度液体中における粒子の生成を減少させるその他の方法としては、容器に充填するためにノズルを使用するか、または洗浄ジェットとしてノズルを使用するシステム内でノズルを水没させることが挙げられる。ノズルを液体の表面より下に水没させることにより、空気−液体界面が減少して、粒子の生成が少なくなる。
さらに、堰を有し、この堰の上から液体が水溜め内に落下することが可能な再循環槽の場合、粒子の生成は、液体が水溜め内に落下し、飛散、泡立ちおよび乱流が生じる時に発生する可能性がある。堰と水溜め内の液体との間の溢出距離を短縮して、飛散が最小限の状態で液体が水溜めに入るようにすることで、液体中における粒子濃度を減少させることができる。
サイフォンシステムでは、スマートサイフォンを使用しても、粒子の生成を減少させることができる。スマートサイフォンは、サイフォン作用が空気の混入によって中断され、サイフォン内に残っている液体がタンク内に逆に落下する前に、サイフォン作用を停止させるように制御されるサイフォンである。
最後に、出荷前に、ヘッドスペースのいかなる空気をも容器から除去すると、容器内の液体中における粒子濃度が減少する。ライナを使用する容器の場合、ヘッドスペースは、容器を加圧してヘッドスペースの空気を排出することによりライナから除去することができる。さらに、剛性の容器の場合、不活性空気袋を挿入すると、ヘッドスペースを除去することができる。
詳細な説明
図1は、容器に超高純度液体を充填するための標準上部充填装置の図である。図1には、容器1と、液体2と、スピゴット3と、充填ライン4と、バルブ5と、超高純度液体源6とが示されている。バルブ5は、充填ライン4上の超高純度液体源6とスピゴット3との間に位置する。バルブ5が開くと、超高純度液体2はスピゴット3において容器1に入る。スピゴットは、容器1の上部にある開口部上に位置する。
超高純度液体がスピゴット3から出ると、液体2は、容器1内に自由に落下し、飛散、泡立ちおよび空気の混入を生じる。飛散、泡立ちおよび空気の混入は、液体の表面積を増加し、その結果容器中の液体の空気−液体界面を増加させる。この方法で容器に充填すると、容器1内に保存された液体2中に著しい粒子の生成が生じ、その結果液体2中の粒子濃度が増加する。
底部充填法
図2は、液体2中の粒子濃度を低下させる図1の充填システムの変形を示す。図2には、充填ライン4に接続されたスピゴット3と、バルブ5と、超高純度液体源6とを備え、図1に類似する容器7が示されている。しかし、図1のシステムと違って、図2の充填システムは、スピゴット3に接続された充填管8をさらに備える。充填管8は水没先端9で終端し、容器7の内部容積内に下方に延在し水没先端9は容器7の底部付近に位置する。
容器7が充填されると、水没先端9は、実質的に全体の充填サイクルで液体2の表面下に水没し、先端9からの液体の流れは連続的に液体表面2の下に保たれる。その結果、液体は、容器7中に落下せずに水没先端9から出て行く。むしろ、容器1中への液体2の導入ははるかに円滑であり、飛散、泡立ちまたは乱流がより大幅に少なくなる。
水没先端9を有する充填管8を使って容器に充填すると、液体7中の粒子濃度が低くなることが分かった。特に、図1に示した従来の上部充填法に比べて、図2の底部充填法は液体2中における粒子の生成がはるかに少ない。充填管8の先端9を水没させることにより、空気−液体界面は乱流が少ない状態で維持され、液体全体の表面が減少する。こうして減少した空気−液体界面は、容器58からの粒子の飛散を遅延させ、液体中で観察される粒子濃度を最小限にする。
圧潰ライナ充填法
図3は、超高純度液体のパッケージに使用される別のタイプの容器を示す。図3の容器10は、剛性外側容器12と、圧潰可能なライナ14と、中間領域16と、浸漬管18と、付属部品20とを備える。容器10に充填する標準的な方法は、ライナ14を剛性の外側容器12内に挿入することである。次に、ライナ14が外側容器12を圧迫するまで、ライナ14を膨張させる。ライナ14が膨張したら、容器10に液体を従来の方法で充填する。
図3の容器充填方法は、充填時の粒子の生成を最小限にするように変更することができる。詳細には、図3に示す容器10は、容器の充填時における空気−液体界面を著しく減少させるように充填することができる。
容器10には、超高純度液体源22と、清潔な乾燥空気源24と、排気口26と、分配ライン28と、ライナ空気排出口30とが接続される。流体充填および分配ライン32は、液体源22を浸漬管18においてライナ14の内側に接続する。充填および分配ライン32は、分配ライン28にも接続する。充填バルブ34は充填および分配ライン32上に位置して、流体が液体源22からライナ14に流れるのを可能にする。同様に、分配バルブ36は充填および分配ライン32上に位置して、流体が容器10から分配ライン28に流れるのを可能にする。
空気供給ライン38は、清潔な乾燥空気源24をライナ14と剛性容器12との間の中間領域16に接続する。空気供給ライン38上には、空気入口バルブ40と空気排出口バルブ42とが位置する。空気入口バルブ40は、空気源24から中間領域16に至る空気の流れを制御する。同様に、空気排出口バルブ42は、中間領域16内の空気が容器10から排気口26に排出されるのを可能にする。
空気排出口ライン44は、ライナ14の内側をライナ空気排出口30に接続する。ライナ排出口バルブ46は、空気排出口ライン44上に位置し、ライナ14内部からの空気が、空気排出口ライン44を介してライナ空気排出口30に排出されることを可能にする。
付属部品20は、剛性容器12の上部開口部に接続する。圧潰可能ライナ14は、剛性容器12内に配置されて、付属部品20内に延在するように構成される。浸漬管18は、圧潰可能ライナ14内に配置されて、内張り容器10の実質的に底部に突出する。浸漬管18も、付属部品20内に延在し、上記のように流体充填ライン32に露出するように構成される。中間領域16は、圧潰可能ライナ14と剛性容器12との間の領域であり、圧潰可能ライナ14が膨張するかまたは収縮するかに応じてサイズが変化する。
内張り容器10、および内張り容器10がライン32、38および44に接続される方法は、剛性容器に液体が充填される時に一般に存在する空気−液体界面を最小限にするように容器10に充填することを可能にする。空気−液体界面を最小限にすることにより、液体中における粒子の生成が最小限になる。
容器10に充填するこの方法は、ライナ14を圧潰することで開始する。すべてのバルブ34、36、40、42および46の閉鎖で開始し、ライナ14は、空気入口バルブ40およびライナ排気口バルブ46を開放することにより圧潰される。空気入口バルブ40は、開放された後、空気源24からの清潔な乾燥空気が空気供給ライン38を介して中間領域16に流入することを可能にする。清潔な乾燥空気源24は、適切に構成された任意の源で良く、従来の方法で空気供給ライン38に接続される。この空気の流れは、中間領域16における圧力を増加して、圧潰可能ライナ14を圧縮する。ライナ排気口バルブ46も開放し、空気は中間領域16内に圧入されてライナ14を圧潰し、ライナ14の内部から押し出される空気は、空気排出口ライン44を介して容器10から出て、ライナ空気排出口30において排出することが可能である。実質的にすべての空気がライナ14の内部から排出されて、ライナ14が適切に圧潰されると、空気入口バルブ40およびライナ排気口バルブ46が閉鎖する。
ライナ14が圧潰すると、容器10には、まだ圧潰したライナ14の内部に位置している浸漬管18を使用して充填することができる。容器14に充填するには、充填バルブ34および空気排出口42を開放する。充填バルブ34を開放すると、液体は液体源22から充填および分配ライン32を介して圧潰可能ライナ14内に流入することができる。内張り容器10に充填されると、圧潰可能ライナ14は膨張する。空気排出口バルブ42が開放すると、中間領域16内の空気は、ライナ14に流体が充填されて、ライナ14が膨張する時に、ライン46を介して容器10の排気口26から出ることができる。
空気の大部分を圧潰ライナ14から除去する結果として、液体が浸漬管18を介してライナ14内に導入されると、空気−液体界面が著しく減少し、それにより容器10から飛散する粒子が対応して減少する。圧潰ライナ充填法を用いて容器10に充填すると、液体中における粒子の生成が減少し、工業用のより高純度の液体が得られることが分かった。
内張り容器10内の液体も、粒子の生成が最小限であるように分配することができる。これは、空気入口バルブ40を開放して、清潔な乾燥空気が空気供給ライン38を通って中間領域16内に流入できるようにして行われる。空気の流れは中間領域16内の圧力を増加させ、圧潰可能ライナ14を圧縮するために使用することができる。圧潰可能ライナ14が圧縮されると、圧潰可能ライナ14内に収用された液体は、充填および分配ライン32を介して容器10から、分配バルブ36を通って分配ライン28に押し出される。容器10の中身をこうして分配すると、ポンプの必要性がなくなる。ポンプは、ポンプが供給する液体中に連続的に粒子を落とす。さらに、こうした分配方法は分配時の空気−液体界面を減少させ、これは、液体中における粒子の生成を減少させることが分かっている。
上記の圧潰ライナ充填法は浸漬管を備え、液体は、底部充填法を用いて前記浸漬管を通って容器内に導入されるが、同じ利点は、浸漬管を備えない上部充填法を用いて達成することができる。圧潰ライナ充填法を使用して達成される結果として得られる粒子濃度は、従来の充填法に比べてはるかに少ない。特に、こうした圧潰ライナ充填法では、直径0.2μmの粒子の場合、粒子濃度は、一貫して1mL当たり2粒子未満であることが実証されている。実際、特定の実施態様における圧潰ライナ充填法は、直径0.2μmの粒子の場合、1mL当たり1粒子未満という粒子濃度が達成された。現在の業界仕様は、直径0.2μmの粒子の場合、1mL当たりの50粒子未満であることを要求する。
図3は、上記で圧潰可能ライナ14内に空気を含むように説明したが、本発明は空気に限定することを意図するのではなく、圧潰可能ライナは、その他の気体、たとえば窒素、アルゴンもしくはその他の適切な気体または気体の組合せを含むことができる。図3の容器充填法は、清潔な乾燥空気源24を使用する場合についても説明した。しかし、本発明は、清潔な乾燥空気に限定することを意図するのではなく、源24は、その他の適切な気体または気体の組合せ、たとえば窒素、アルゴンなどをシステムに供給することができる。さらに、上記のシステムおよび以下に説明するシステムは、超高純度水を使用するように説明するが、粒子量を厳密に制御することが望ましいその他の流体も本発明の利益を受けられる。
図2および3に示す別の充填法が、液体中における粒子の数を改善する程度は、以下の表1にまとめ、図4A〜6Dに関して説明する以下の実験により示される。表1は、4種類の方法により容器に充填し、容器の中身を光学粒子カウンタを通して分配して、液体中における粒子の結果として得られる濃度を測定することを示す。
表1の第1充填法の結果は、容器に上部充填し、容器を逆転させて、結果として得られる粒子数を得る場合に関する。このデータを得るために使用した充填および分配方法は、図4Aおよび4Bに示す。図4Aは、容器50と、充填管52と、充填ライン54と、バルブ56と、超高純度水源58とを示す。バルブ56が開放すると、超高純度水源58からの超高純度水は、充填ライン54を通って容器50に移動する。超高純度水は、充填管52において容器50に入る。充填管52は容器50の開口部の上に配置されるので、超高純度水は、容器に入ると、容器の上部から底部に落下して、飛散、泡立ちおよび空気の混入を生じる。
図4Bは、容器50内の超高純度水がその後分配される方法を示す。図4Bは、圧力容器60内に位置する容器50を示す。圧力容器60には、清潔な乾燥空気源62と、調整バルブ64と、圧力表示器66とが接続される。容器50内には、分配プローブ68が存在する。分配プローブ68は分配ライン70に接続され、分配ライン70に沿って、粒子カウンタ72と、ロタメータ74と、バルブ76とが配置される。容器50の中身は、分配ライン70上のバルブ76を開放し、圧力容器60に清潔な乾燥空気を供給することにより分配することができる。清潔な乾燥空気は、清潔な乾燥空気源62と、バルブ64と、圧力表示器66とを従来の方法で使用して供給される。
超高純度水は、分配される時、液体の粒子濃度を得るように構成された粒子カウンタ72を通過する。適切な粒子カウンタの1つは、粒子測定システムM−100光学粒子カウンタである。さらに、ロタメータ74は、超高純度水が分配される流量を測定するように構成される。
図4Aおよび4Bに示すシステムは、表1の1行目および2行目のデータを得るために使用した。1行目のデータを得るに当たり、図4Aに示す方法に従って10個の容器に超高純度水を充填全容量の約90%まで充填した。各々の容器は、所望の充填レベルに達したら蓋をして、徐々に1回逆転させて混合する。次に、容器上の蓋を分配プローブと置き換えて、図4Bに示すように容器を分配用の圧力容器内に配置した。各容器は、毎分300mLで粒子カウンタを通って分配した。
2行目のデータを、同様にして得た。10個の容器には、約90%の容量まで充填した。しかし、容器を1回だけ単に逆転させて混合するのではなく、容器を180rpmの軌道攪拌機上で10分間揺り動かして、搬送条件をシミュレートした。次に、容器を、図4Bに示したように分配した。
表1にまとめた容器に充填する第3の方法を図5Aおよび5Bに示す。図5Aに示すシステムは、容器80と、浸漬管82と、水没先端84と、充填ライン86と、バルブ88と、超高純度水源90とを備える。浸漬管82は容器80内に延在して、水没先端84で終端する。容器80が充填される時、超高純度水は水没先端84を介して容器80に入る。したがって、水は、水没先端84を出ると、図4Aに示す上部充填法比べて、より円滑に飛散、泡立ちおよび乱流が少ない状態で容器内に入る。
図5Bは、超高純度水が容器80から分配される方法を示す。この方法は、図4Bに関して上記で説明した方法と同じである。したがって、圧力容器60を使用して、水の粒子濃度を決定することを可能にする粒子カウンタおよびロタメータを通過させて超高純度水を分配した。表1の3行目は、図5Aに示す方法に従って10個の容器に充填し、図5Bに示す方法に従ってこれらの容器を分配する結果をまとめるものである。
図6A〜6Dは、表1のデータを得るためにテストした第4容器充填方法を示す。図6A〜6Dは、図3に関して上記で述べたのと同じ容器および流動回路構成を使用して、圧潰可能なライニングを有する容器に充填および分配するプロセスを示す。しかし、図3に示すシステムと違って、図6A〜6Dに示すシステムは、充填および分配ライン32上に位置する光学粒子カウンタ90およびロタメータ92をさらに有する。光学粒子カウンタ90およびロタメータ92は、超高純度水を容器10から分配する時に、超高純度水の粒子濃度を得るために使用される。
容器に充填および分配するために使用する方法は、図6Aに示すように開始する。図6Aでは、圧潰可能ライナ14を圧潰する最初の工程は、他のバルブ34、36および42を閉じた状態で、空気入口バルブ40およびライナ排気口バルブ46を開放することにより行なわれる。入口バルブ40およびライナ排気口バルブ46を開放すると、清潔な乾燥空気が清潔な乾燥空気源24から中間領域16にライン38を介して入ることを可能にすることによりライナ14を圧潰する。同時に、中間領域16が加圧され、ライナ14内の空気は、ライナ排気口バルブ46からライナ 空気排出口30に押し出される。その結果、ライナ14は浸漬管18の周囲で圧潰する。
図6Bは、ライン32を貫流する超高純度水中の粒子の基準数を測定する任意の次の工程を示す。基準サンプルを得るため、ライナ排気口バルブ46を閉鎖して、充填バルブ34および分配バルブ36の両方、並びに空気入口バルブ40を開放する。開放されたバルブ34および36は、水が源22から充填および分配ライン32を通って直接粒子カウンタ90およびロタメータ92に流れ、分配ライン28から流出することを可能にする。開放された空気入口バルブ40は、空気が清潔な乾燥空気源24から空気供給ライン38に流れ、ライナを圧潰状態に保ち、源22からの水がライナ14に入るのを防止する。
水中の基準粒子濃度が得られたら、容器に充填した後、この基準を内張り容器10内の水の粒子濃度と比較する。この工程は、浸漬管18に水を充填して、管18内に存在する混入空気があれば、その空気を除去する利点も提供する。
図6Cは、水を圧潰ライナ14内に導入することにより、容器10を充填する工程を示す。容器10の充填を開始するには、他のすべてのバルブ36、40、46を閉じた状態で、充填バルブ34および空気排出口バルブ42を開放する。開放した充填バルブ34は、水源22からの水が充填および分配ライン32に入り、浸漬管18を介してライナ14の充填を開始することを可能にする。水が圧潰可能ライナ14に入ると、圧潰可能ライナ14が膨張して、空気を中間領域16から押し出す。開放した空気排出口バルブ42は、中間領域16内の空気が、圧潰可能ライナ14が膨張する時に、ライン38を通って排出するのを可能にする。この充填プロセスは、圧潰可能ライナ14が所望のレベルまで充填されるまで続く。充填されると、充填バルブ34が閉鎖する。
図6Dは、液体を内張り容器10から分配する最終工程を示す。水を分配するには、他のバルブ34、42、46を閉じた状態で、分配バルブ36および空気入口バルブ40を開放する。空気入口バルブ40を開放すると、空気は空気源24から中間領域16内に流入することを可能にする。空気は圧潰可能ライナ14上に圧力を形成して、圧潰可能ライナ14を圧縮し、水を圧潰可能ライナ14から押し出す。液体は、ライナ14の浸漬管18から出て、分配ライン32を貫流する。水が分配ライン32を通過する時、光学粒子カウンタ90により粒子濃度が測定され、ロタメータ92により流量が測定される。空気は、所望の量(一般に全部)の水が圧潰可能ライナ14内から除去されるまで中間領域16内に押し出される。こうして水を分配すると、粒子を飛散させると周知されているポンプの必要性をなくす。
以下の表1に、上記の4回の実験から収集したデータをまとめる。この表は、4回の実験の平均結果を含む。データから分かるとおり、最高粒子濃度は、容器に上部から充填して揺り動かした時に得られる。さらに、底部充填法、特にライナを最初に圧潰し、次に圧潰ライナに充填することを含む充填法(「圧潰ライナ充填法」)は、液体中に著しく低い粒子濃度を生じることが分かる。
表1のデータは、容器内に空気−液体界面が存在することが、液体中における粒子の生成に影響することを示す。特に、表1にまとめた結果は、空気−液体界面が圧潰ライナ充填法などの充填時に存在しない場合、粒子の生成は事実上存在しないことを示す。他の3種類の充填方法と同様、空気−液体界面が存在すると、粒子の生成が見られた。
空気−液体界面に関して説明したが、類似の結果は、真空が液体表面上に存在する容器を含む他の界面についても得られた。したがって、空気−液体界面という用語は、最も広義に使用され、液体表面と接触する空気、その他の気体もしくは気体の組合せ、または真空をも含むどの液体界面も含む。
圧潰ライナ充填法を含むさらに2回の実験を実施した。これらの実験は、容器の中身を分配する方法が、結果として生じる粒子の生成に影響を及ぼすことも示した。以下の表2は、上記の図3に関して説明した方法により容器に圧潰充填して、2種類の方法で中身を分配することにより得られた結果を比較する。
第1の分配方法は、圧潰ライナ充填容器(容器A)の中身を第2容器(容器B)に注ぐことを含んでいた。上記の表1のデータにより示すように、圧潰ライナ充填法を用いて容器Aに充填すると、容器A内の水は非常に低い粒子濃度を有していた。次に、容器Aからの水を同じ容器、容器B内に注いだ。容器Bは、標準の分配プローブで蓋をして、粒子カウンタを通して分配した。以下の表2に示すように、水中の粒子濃度は、容器B内に注いだ後に著しく増加した。
使用した第2の分配方法を図7A〜7Bに示す。第2の方法は、第1容器、容器Aに圧潰ライナ充填し、次に第2容器、容器Bに容器Aから圧潰ライナ充填することを含んでいた。図7Aは、このプロセスの第1工程、つまり圧潰ライナ充填法を用いて容器Aに充填する工程を示す。図3に示す容器および流動回路と同様、図7A〜Cは、剛性外側容器102および内側ライニング104を有する内張り容器100を示す。内側ライニング104は、ライン108を介して超高純度水源106に接続される。充填バルブ110は、液体が源106から容器100に通過するのを制御する。
また、第1容器100には、窒素源112と、窒素入口バルブ114と、圧力表示器116とが接続されているように示されている。窒素源112は、窒素供給ライン120を介して中間領域118に接続される。窒素供給ライン120上には、4個のバルブ122〜128が配置される。2個の外側バルブ122、128は、ライン120内の窒素が排出されるのを可能にする。2個の内側バルブ124、126は、窒素が第1容器100または第2容器130に選択的に方向付けることができるように、窒素の流れを制御する。第2容器130は、分配ライン132により第1容器100に接続される。分配ラインに沿って、2個のバルブ134、136が配置される。
第1の内張り容器100と同様、第2の内張り容器132は、剛性容器138および圧潰可能ライナ140を備える。剛性容器138と圧潰可能ライナ140との間の中間領域142も、ライン120により窒素源に接続される。第1容器100および第2容器130はともに、浸漬管144がそれぞれの圧潰可能ライナ104、140内に配置されている。
図7Cでは、粒子カウンタ150およびロタメータ152は、バルブ134、136間の分配ライン132に沿って配置される。粒子カウンタ150およびロタメータ152をバルブ134、136間に配置すると、第2容器130の中身は、粒子カウンタ150およびロタメータ152を通過して分配され、粒子濃度に関するデータを収集することができる。
図7Aは、図3に関して上記で説明した方法により、第1容器100のライナを圧潰して、容器に充填する第1の工程を示す。次に、図7Bに示すように、第2容器130のライナ140を圧潰した。第2容器130のライナ140を圧潰すると、第1容器100の中身は第2容器130内に分配された。したがって、第2容器130にも、圧潰ライナ充填法を用いて充填した。しかし、水源から水を充填するのではなく、第2容器130には、第1容器100からの水を充填した。この方法は、空気−液体界面を最小限にする方法で第2容器130に充填することを可能にした。
第2容器130を充填した後、図7Cに示すように、液体を第2容器から分配ライン120を介して分配した。分配ライン120を貫流する水は粒子カウンタ150を通って流れるため、水中の粒子濃度を決定することができる。水は、水の流量を決定するためにロタメータ152を通って流れる。
以下の表2は、上記の2つの分配方法を実施した超高純度水中に生じる粒子濃度を示す。このデータが示すように、かなり高い粒子の生成は、単に水を1個の容器から別の容器に注入することから生じる可能性がある。
類似の実験では、標準のHDPE試薬瓶を用いて、同じ2つの分配方法を再現した。これらの実験では、第1容器100は、HDPE瓶と置き換えた。この実験の結果を以下の表3にまとめる。
表3では、第1行は、図2に関して上記で述べた方法により、水没した浸漬管を介して充填されたHDPE試薬瓶の粒子濃度を表す。水没浸漬管充填および分配法は、他の2つの充填および分配方法を比較できる基準データを得るために使用した。表3の第2行は、HDPE試薬瓶の中身を第2容器(容器B)内に単に注いだ結果を示す。表3の最後の行は、水没浸漬管を使用してHDPE試薬瓶に充填した充填および分配手順によるデータを含み、第2容器(容器B)は、図7Bに関して上記で述べた方法に類似する方法を使用して、HDPE試薬瓶から圧潰充填した。
表3に示すように、水没浸漬管を使ってHDPE瓶に充填すると、著しい数の粒子が生成された。さらに、表3の第1行および第3行を比較すると分かるように、その後、圧潰充填法を用いてHDPE瓶から圧潰ライナ容器に分配した時に、実際上粒子は生成されなかった。やはり、空気−液体界面が存在する一般的な様式の容器から別の容器に液体を注ぐ場合、著しい粒子の生成が観察された。液体の移動が、空気−液体界面が減少する方法で行なわれる場合、粒子の生成は同様に減少する。
容器から液体を分配する様々な方法の効果を決定するために、さらにもう1つの実験を行い、結果として得られた液体の粒子濃度を以下の表4にまとめる。表4のデータを得るため、図2に関連して上記で説明した方法に類似する水没浸漬管を使用して、標準の4L剛性HDPE試薬瓶に3Lの超高純度水を充填した。第1テストでは、瓶を加圧して、瓶内の水は浸漬管から直接光学粒子カウンタに分配した。第2テストでは、瓶を1分間揺動させてから、水を光学粒子カウンタに分配した。瓶を出る水の粒子濃度を表4に示す。
表4のデータは、空気−液体界面が粒子の飛散に与える影響が、一般にポリマー容器に共通であることを示す。容器の揺動と液体中の粒子濃度の測定との間の時間の長さは、測定に影響しないようだった。
水没排出ノズル
図8Aおよび8Bは、ノズル170を使用して超高純度液体を分配する2つの方法を比較する図である。図8Aには、液体を容器172内に排出するノズル170が示されている。ノズル170は充填ライン174に接続され、充填ライン174は超高純度液体源176に接続され、バルブ178により調整される。排出ノズル170は容器172上に位置するため、液体がノズル170から排出される時、液体は容器172内の開放槽上に噴霧される。その結果、空気が混入して、容器172に液体を充填する時に空気−液体界面領域が増加する。
図8Bは、ノズルを使用して容器に充填する別の方法で、液体中における粒子の生成を減少させる方法を示す。図8Bには、容器182に充填するためのノズル180が示されている。このノズルは、超高純度液体源186に接続されている充填ライン184に接続される。充填ライン184を通る液体の流れは、バルブ188により制御される。ノズル180は、容器182内の液体の表面190より下に位置する。ノズル180が水没する結果として、容器内に流れる流体の乱流は少なくなり、飛散及び空気の混入が減少する。
図9は、水没ノズルが槽内の液体の粒子濃度の低下に与える影響を強調する。図9は、水没ノズルを有するシステム、および液体表面上に位置するノズルを有するシステムに関して経過時間で得た粒子濃度の測定値を示すグラフである。図9のデータを得るため、超高純度水をノズルからステンレス鋼容器内の開放槽内に噴霧した。噴霧水は、槽内の水面に方向付けられ、どの固体表面にも衝突しなかった。槽からの水は、噴霧の結果である粒子の精製を測定するために、光学粒子カウンタに方向付けた。2種類のタイプのノズル、つまり高圧ステンレス鋼ノズルおよびカイナーノズルを使用した。この2種類のタイプのノズルは、最初に槽の液体表面から3インチ上に保持し、次に水没させた。
図9のy軸は、粒度が0.065μm未満の粒子に関して、1mL当たりの粒子の数として示される粒子濃度を表す。x軸は、経過時間を分で表す。ノズルを液体の表面より上に保持した時に、ステンレス鋼ノズルにより生じる粒子濃度は第1の集団200であり、ノズルを液体の表面より上に保持した時に、カイナーノズルにより生じる粒子濃度は集団202により示される。ノズルを水没させた後に生じる粒子濃度は、集団204および206で示す。
図9の結果は、ノズルを水面上に保持した場合の粒子の生成が著しく増加することを示す。比較上、ノズルを水面下に水没させた場合、粒子濃度ははるかに少なかった。これらの結果は、液体表面上に位置するノズルによって生じるなど、空気−液体界面の増加は、ノズル作動時の強度の粒子生成に関連することを示す。
上記の図面に様々に図示した水没ノズルシステムは、液体を供給するか、または洗浄またはその他の目的の液体ジェットを生成するために使用することができる。上記の実験結果が示すように、ノズルの目的、つまり洗浄または充填に関係なく、粒子の生成を最小限にするために、ノズルを水没させることができるようにノズルシステムを構成するべきである。
堰からの溢出距離の減少
本発明のもう1つの態様は、堰から溢出領域へ溢出した液体中における粒子の生成を最小限にすることに関する。これは、堰と溢出領域における水位との間の距離を最小限にすることにより達成される。図10Aおよび10Bは、堰の溢出距離の減少という概念を示す。図10Aには、堰212を有し、液体が堰の上から溢出トラフまたは水溜め214内に溢出する再循環槽210が示されている。溢出トラフ214は、液体を槽システム内で再循環させるための再循環ポンプ218に接続する。再循環ポンプ218は、液体をフィルタ220から逆に再循環槽210内に楊送する。
図10Aでは、溢出トラフ214内の液体水位222は十分に低く、液体は、堰212から溢出するとトラフ内に落下して、飛散、泡立ち、乱流および空気の混入を生じる。図10Bのシステムは、溢流堰212の上縁に比べて高さが非常に高い溢出トラフ214内の液体224の水位を示す。したがって、液体が堰212から溢出する時に落下しなければならない液体の距離は、大幅に減少する。これは、液体が、飛散、泡立ち、乱流および空気の混入を減少させるように、溢出トラフ214に入ることを可能にする。
堰の上から水溜め内に溢流する水中における粒子の生成レベルを決定するために、調査を実施した。図11は、この調査を実施するに当たって使用したテストシステムの図である。図11には、再循環エッチング槽230と、水溜め232と、循環ポンプ234と、フィルタ236とが示されている。槽230と水溜め232との間には槽231が位置し、堰231の上では、水が槽230から水溜め232内に溢出することができる。さらに、このシステムは、超高純度水源238と、フィルタバイパスバルブ240と、排水管242と、遮断バルブ244および244Aとを備える。やはり、槽230には、サンプルポンプ246と、粒子カウンタ248と、流量計250とが接続される。
図11のシステムは、2つの流動ループを備える。主流動ループ252は、水溜め232を循環ポンプ234およびフィルタ236に接続する。テストに使用するのに適する1つのフィルタ236は、0.2μm定格のUPEフィルタである。テスト時、主流動ループ252は、槽230と、水溜め232と、循環ポンプ234と、フィルタ236とにより、毎分50Lで動作させた。槽230はPVDFから構成される60L槽であり、ポンプ234内のその他の湿潤材料、たとえば管類およびフィルタ筐体はテフロンPFAだった。流動回路構成およびバルブ240、244、244Aは、テストによってはフィルタ236をバイパスできるように構成した。
2次流動ループ254は、サンプルポンプ246、粒子カウンタ248および流量計250を通る2次流動経路を備える。2次流動ループ254は、毎分50mLの流量で動作し、水中の粒子濃度を決定するために使用した。図11に示すテストシステムは、粒子サンプルが一般に槽230から得られることを示す。しかし、サンプルは、水溜め232から得ても良い。さらに、液体源238は超高純度水を供給するように記載されているが、槽はHF、HCl、または粒子濃度が厳密に制御されるその他の流体を使って作動させることもできる。
図12は、新しいフィルタ236を取り付けてから一晩の後に、槽230を作動させた結果を示すグラフである。図12のグラフを生成するために使用したデータを得るため、粒子の測定を槽230内で行い、フィルタ236は新品だった。最初、水溜め232内の水位は槽230内の水位より1インチ下に達し、槽230からの水が水溜め232内に溢出する時に、飛散または泡立ちの兆候はなかった。図12から分かるように、粒子データの最初の数時間で、新しいフィルタ236の標準の「激増」(flush−up)曲線260が存在した。
結局、蒸発によって、水溜め232内の水位は時間の経過と共に低下し、堰231上の溢出距離が増加した。この距離が増加すると、堰231の上から溢出する水による水溜め232内の乱流も増加した。約200分後、槽230内の粒子濃度も徐々に増加した。これは、フィルタ236の保持力の損失に起因したのではなく、水溜め232内における粒子の生成により、フィルタ236の入口における問題の粒子濃度の増加に起因した。
18時間の作動後、蒸発によって、水溜め232の水位が著しく低下し、水溜め232から溢出する水は著しい飛散および泡立ちを生じた。水源238を使用して、システムに水を追加した。十分な水を槽230に追加して、飛散および泡立ち活動が消滅する位置まで水溜め232内の水位を上昇させると、槽230内の粒子レベルは、粒子カウンタの最小サイズの2本のチャネル内で著しく減少した。この効果は、図12の激減(drop off)曲線262により示す。
図12のデータを得るために使用したシステムでは、粒子の測定は、槽230内におけるフィルタ236の下流で行なった。粒子の生成源は、フィルタ236の上流に位置する水溜め232内にあると結論された。したがって、生成された粒子の少なくともいくつか、特に、フィルタの細孔サイズ定格より著しく小さい粒子はフィルタ236を通過した。この結果は、フィルタが保護され、再循環が一定でも、流体中における粒子の多量の生成が、フィルタ236の下流でも観察されたことを示した。フィルタ236の使用、およびデータに見られるサイズの相違は、粒子カウンタ248により測定された現象が、単純にカウンタ248のフローセルに入る「泡」ではなかったという証拠である。
こうした事象のシーケンス、つまり新しいフィルタ236から粒子が激増し、液体が蒸発して、堰231上の溢出高さの増加に応じて、生成される粒子の数が増加することを含むシーケンスは、再循環槽システム内に配置した多数の異なるタイプのフィルタ236について記録した。これは、希釈濃度のHFおよびHClを槽システム内で使用した場合にも見られた。
フィルタ236の効果を強調するため、第2のテストは、図11に示すシステムを使用して実施した。第2のテストでは、主流動ループ252は、システムが清潔になるまで作動させた。次に、バルブ244および244Aは、システムが「フィルタバイパスモード」になるように構成した。フィルタバイパスモードでは、システムは水を再循環させるが、水はフィルタ236を通過しなかった。その結果、フィルタ236によるシステム内の粒子の除去は行なわれなかった。
図13は、フィルタバイパスモードテストの結果を示すグラフである。図13には、2本の曲線がある。第1の曲線264は、水が堰231から溢出した時に飛散が生じた場合にテストした水の粒子数を示す。第2の曲線266は、水が堰231から溢出した時に飛散が生じなかった時にテストした水の粒子数を示す。第1の曲線264から分かるように、槽230内の水位と、水溜め232内の水位との距離が大きい場合、堰231から溢出して水溜め232内で飛散する液体により、著しい粒子の生成が生じた。粒子の数は槽230内で、直径0.065μm以上の粒子の場合10,000/mLを超える濃度まで急速に増加する。
同じフィルタバイパス法、同じ流量および同じポンプを使用する制御テストでは、粒子濃度は、直径0.065μm以上の粒子の場合、30分間のテストで約100〜200/mLに留まった。この制御テストが唯一異なった点は、槽230内の水位と水溜め232内の水位との間の距離が小さく、水が堰231から溢出する時に水溜め232内で飛散が観察されなかったことである。やはり、多くの形式でテストを繰り返し、結果が一定していることを実証した。このシステムに使用したポンプは、制御データで分かるとおり非常に清潔に動作し、システム内の粒子の飛散に対する影響は非常に少なかった。
スマートサイフォン
図14は、サイフォンの一般的な方法の図である。図14には、充填管272を備えるタンク270が示されている。充填管272には、超高純度水源276からタンク内に入る流れを調節して、水を水源276から水再利用領域278に迂回させる3方バルブ274が接続される。タンク270には、サイフォン管280および粒子サンプル管282も接続される。最後に、容量センサ284をタンク270上に配置する。
実験は、図14に示すサイフォンシステムで実施し、サイフォンシステムが粒子の生成に与える影響を決定した。実験を行なうに当たり、15LのECTFEフッ素ポリマータンク270を使用した。タンク270内の水位は、充填管272およびサイフォン管280を使用して周期的に上下させた。粒子のサンプリングは、重力供給法を用いて、タンク270から粒子サンプル管282を介して連続的に実施した。粒子データを得るために、1個のサンプル当たり平均30秒を選択した。
水源276からの充填流量は、毎分1Lに設定した。容量レベルセンサ284を使用して、タンク270上の高レベルを検出した。高レベルを検出した後、センサ284はPLC(図14に示さない)を起動して、タイミング制御信号を4分間オンにする。このタイミング信号は、バルブを開放するなどにより、サイフォン管280に接続されたサイフォンを起動し、サイフォンで水をタンクから毎分2.5L抽出するために使用した。サイフォンをサイフォン管280に接続するほか、場合によりポンプを交換した。
制御信号は、3方バルブ274も起動し、タンク270の排水過程で超高純度水の供給をテストタンク270から水再利用領域278に迂回させた。4分間経過後、テストタンク270に水を10分間、毎分1Lで補充し、新しいサイクルシーケンスを開始した。こうして、タンク270内の水位を周期的に、円滑に規則正しく上下させた。
何回かのテストでは、高レベルセンサ284および制御信号を停止させて、サイフォン管280のバルブを連続的に開放状態に保持し、高水位に達すると、システムはサイフォンを生成する。十分な水をサイフォンで移すと、タンク270内の水位が低下し、サイフォンは混入空気により遮断されて、サイフォン管280内の水はタンク270内に落下して戻る。これらのテストでは、3方バルブ274を無効にして、毎分1Lの給水276がタンク270に常時絶え間なく送水するようにした。
調節したもう1つの変数は、タンク270内の充填管272の高さだった。何回かのテストは、上部充填法を用いて実施し、充填管272はタンク270内に配置し、水はタンク270の上部から充填した。テストによっては、底部充填法を使用し、充填管272はタンク270の底部付近に配置し、充填管272は、常にタンク270内の水位より下に水没させた。
図15は、サイフォンを使用してタンクに充填する最善のシナリオを示すグラフである。図15のグラフのデータを得るため、「スマート」サイフォンのほかに、底部充填の充填管を使用した。スマートサイフォンとは、高レベルセンサ284を使用して、流体水位がサイフォン管280の底部に達する前、ひいてはサイフォンがサイフォン作用を遮断することを可能にする前に、サイフォンを停止することを可能にするタイミング信号を生成するサイフォンシステムを意味する。
タンク270内の水位、ひいては空気−液体界面が周期的に上下する場合も、結果として生じる粒子レベルは比較的少ない。平均粒子レベルは、直径が0.10μm以下の粒度を有する粒子の場合、1mL当たり約1.2個の粒子だった。これは、入って来る給水量を測定した時に見られた粒子レベル、つまり直径が0.10μm以下の粒度を有する粒子の場合、1mL当たり約0.03個という平均粒子レベルに比べて良好ではない。
図15に示すように、粒子のバーストは数時間ごとに発生する。しかし、達成された最大粒子濃度は、直径が0.10μm以下の粒度を有する粒子の場合、1mL当たりの粒子数はわずか約20個だった。図15のグラフに示したテストの時間スケールは、約15時間だった。
図16は、上部充填およびスマートサイフォンを使用したテストシステムから収集したデータを示すグラフである。図16に関して得たデータの場合、充填管272はタンク270内の水面の上に位置するため、水はタンク270内に落下し、飛散および泡立ちが生じる。スマートサイフォンは、やはり、このデータの収集時にインプリメントされていた。図15のグラフと図16のグラフとを比較すると分かるように、上部充填時の粒子レベルは、底部充填時に比べて約100倍高かった。さらに、タンクの循環頻度は粒子データで見られる。
図17および18は、ダム(dum)サイフォンを使用して収集したデータを示す。ダムサイフォンとは、空気の混入によりサイフォン作用が遮断されるサイフォンを意味する。図17は、ダムサイフォンを有する底部充填を使用するシステムを示し、図18は、ダムサイフォンによる上部充填を使用するシステムを示す。
図17および18から分かるように、サイフォンが遮断された後に、粒子レベルが瞬時に増加し、粒子レベルの低い水をタンク270に追加すると、粒子レベルの低下が生じる。このサイクルは自動的に繰り返され、粒子は、サイフォン作用が遮断するごとに瞬時に増加し、粒子レベルの低い水をタンク270に追加するごとに低下する。やはり、15時間にわたってデータを収集した。データの長期にわたるクリーンアップ傾向は殆どないか、またはまったく見られず、タンク循環シーケンスの頻度は粒子データで明確に見られる。図17および18のタンク充填および分配サイクルの頻度は、一定に維持されなかった点に注意を要する。むしろ、あるサイクルでは比較的迅速であり、他のサイクルでは比較的遅かった。
以下の表5は、図15〜18に示した実験の結果を数値的にまとめたものである。これらのデータは、上部から充填する場合も、または空気の混入により、サイフォン作用が遮断される場合も、タンク内の粒子濃度が増加することを示す。
ヘッドスペースの除去
部分的に充填された容器を揺動すると、液体中に高い粒子濃度が生じる。この同じ現象は、容器を搬送する時に見られることが多い。何種類かの液体をパッケージする場合、容器内の液体が膨張することができるように、容器内にある量のヘッドスペースを残すことが必要であるか、または望ましい。このヘッドスペースを設けるため、容器には細大容量まで充填するのではなく、ある量の空気が液体の上部と容器の上部との間に存在するレベルまで充填する。容器を搬送する時、容器内の液体は、このヘッドスペースにより容器内で飛散して揺動する。粒子の生成を減少させるもう1つの方法は、充填後にヘッドスペースの空気を容器から除去し、容器内の空気−液体界面を減少させるか、または排除し、その結果として、容器の搬送またはその他の移動時における粒子の生成を最小限にすることである。
図19Aおよび19Bは、ヘッドスペースの空気が除去される開放充填法を示す。図19Aおよび19Bには、図3に関して上記で説明した容器に類似する内張り容器300が示されている。内張り容器300は剛性外側容器302を備え、ライナ304が剛性外側容器302の内部に位置する。ライナ304内には、浸漬管306が配置される。浸漬管306は、容器に液体を供給するために充填ライン308に接続される。ライナ304は、充填前に圧潰されない。
図19Aは、内張り容器300に液体を充填する工程を示す。液体は、充填ライン308から浸漬管306を通り、ライナ304に流入する。内張り容器300が所望のレベルまで充填されると、ヘッドスペース310が、ライナ304の液体の水位と、ライナ304の上部との間に存在する。
図19Bは、容器300からヘッドスペース310を除去する工程を示す。図19Bには、ヘッドスペースの空気を排出するためのライナ空気排出口314のほかに、空気入口312が示されている。空気入口312は、剛性外側容器302と内側ライナ304との間に位置する中間領域316に接続する。ヘッドスペース310を除去するため、空気は、空気入口312を介して中間領域316に供給される。同時に、内側ライナ304の内部は、ライナ空気排出口314に露出している。空気入口312からの空気による剛性容器302とライナ304との間の増加した圧力は、ライナ304を圧縮する。ライナ304が圧縮すると、ヘッドスペースの空気は、ライナ空気排出口314を使用してライナ304の内部から排出される。ライナ304は、ヘッドスペースの実質的にすべての空気がライナ304から除去されるまで圧縮される。容器300は蓋をされ、ライナ304は空気が再度入って来るのを防止するために封止される。
ヘッドスペースを占める空気のみを排出するほか、容器内に保持される液体の所望の量を超える量をライナに充填することが可能である。ライナに過剰に充填した後、ライナは、容器内に保持することが望ましい最終的な量を生じる量だけパージすることができる。こうして、ヘッドスペースの空気の存在は、同様に防止される。
図20Aおよび20Bは、超高純度液体を搬送するために使用される容器中のヘッドスペースを除去するもう1つの方法を示す。図20Aは、浸漬管322を使用する底部充填法により充填される容器320を示す。ヘッドスペース324により形成される空気−液体界面を除去するため、図20Bは、ライナ内の残留ヘッドスペース内に不活性空気袋326を挿入する様子を示す。あるいは、ヘッドスペースの空気は、ライナと剛性容器との間の領域を加圧して、ヘッドスペースの空気を排出することにより減少させることができる。
不活性空気袋はヘッドスペースの領域を占め、その結果、空気を液体から隔離する。ヘッドスペース324の除去は空気−液体界面をなくし、その結果、搬送によって生じる水中における粒子の生成を最小限にする。
図19A〜Bおよび図20A〜Bに関して上記で説明した方法を使用するほか、図3に関して上記でより詳細に説明した圧潰ライナ充填法を使用して容器に充填することにより、ヘッドスペースがゼロのライナを得ることができる。圧潰ライナ充填法は、空気−液体界面がない状態で充填および分配することを可能にするほか、ヘッドスペースが残存しない容器に充填する方法も提供する。
開放充填法と比較したゼロヘッドスペース充填法の利点は、以下の表6に記載のデータから明らかである。表6に記載のデータを得るため、容器に充填する2種類の方法をテストした。テストした第1の方法は、膨張したライナに粒子のない水を充填する標準の開放充填法だった。表6から分かるように、後に水の粒子をテストすると、水の粒子濃度は必ず増加した。正確な粒子濃度は、同一タイプのライナのテストごとに多少変化した。さらに、粒子濃度は、たとえばPTFEライナとPEPEライナなど、ライナのタイプによっても著しく変化する可能性がある。
表6のデータを得るためにテストした第2の方法は、ゼロヘッドスペース充填法だった。圧潰ライナ充填法に類似するゼロヘッドスペース充填法では、先ずライナを剛性外側容器内に配置した。次に、浸漬管を挿入するのに十分な程度まで、ライナを膨張させる。浸漬管組立体には、プローブが取り付けられる。好ましくは、プローブは再循環プローブのように構成されて、ライナに至る2個のポート、つまり充填ポートおよび排気口ポートとを有していた。ライナと剛性外側容器との間の空間は、ライナ中の空気を排気口ポートから排出することにより、ライナを完全に圧潰するために加圧した。次に、ライナに、浸漬管に取り付けられた充填ポートを使用して充填する。容器を、同様に浸漬管を使用して分配した。
この充填法は、ライナに充填すると、実質的に空気−液体界面をなくす。その結果、充填時における粒子の飛散は著しく減少した。結局、搬送時でも、ヘッドスペースの除去により、分配流体中の粒子のレベルが減少することになる。
本発明について、好ましい実施態様に関して説明したが、当業者は、本発明の精神および範囲を逸脱せずに形態および詳細に変更を加えることができることを認識するであろう。特に、容器中における粒子の生成は、容器のタイプ、ライナのタイプおよび容器中に導入される流体のタイプに応じて異なる可能性があることは理解されよう。しかし、低粒子レベルに依存する製品性能基準を有する液体は、上記の充填およびパッケージ方法によって利益を得る。こうした液体としては、半導体処理に使用される超高純度酸および塩基、半導体処理に使用される有機溶剤、写真平版化学薬品、CMPスラリおよびLCD市販化学薬品が挙げられる。
本発明の特徴および利点は、以下の実施例に関してさらに詳細に示す。以下の実施例は、本発明の性質および範囲に関して制限的に構成されるのではなく、本発明の広範な実践に有用な特定の好ましい態様を単に具体的に示すことを意図している。
実施例1
同一ロットの酸化物スラリOS−70KL材料(コネチカット州、ダンベリー(Danbury,CT)のATMIマテリアルズライフサイクルソリューションズ(ATMI Materials Lifecycle Solutions))から、OS−70KL材料を含む数種類のサンプルガラス瓶を構成し、本明細書および同時係属米国特許出願[ATMI代理人名簿番号522CIP]および[ATMI代理人名簿番号565]に一般に図示および説明されているタイプのドラム容器内の袋中における液体の挙動をシミュレートした。これらの特許出願は、ライナの内部容積におけるヘッドスペースを変更して、引用することにより本明細書に全体を援用する。
サンプルガラス瓶は、異なるヘッドスペースレベル、0%、2%、5%および10%で構成した。サンプルガラス瓶の各々は、手で1分間だけ激しく揺動してから、ガラス瓶内の液体をAccusizer780単一粒子光学整粒器内で分析した。この整粒器は、Sci−テックインク(Sci−Tec Inc.)(カリフォルニア州、サンタバーバラ(Santa Barbara,CA))から市販されている粒度範囲粒子カウンタであり、粒度範囲別に粒子の数を求めた後、これらの粒度範囲を広範な粒子分布状に「瓶に入れる(binned)」ことができる。
この実験で得られたデータを以下の表1に示す。粒子数は、0%、2%、5%および10%のヘッドスペース容積という様々なヘッドスペースの割合値(ヘッドスペースの空隙量を構成する液体上の空気量が占める合計内部容積の割合として表現される)における0.57μm、0.98μm、1.98μmおよび9.99μmの粒度の各々に関して示す。
粒度分析器は、粒度が大きい粒子の数に関するデータを、μm単位の特定の粒度を超える粒子の場合、1mL当たりの粒子数という単位で提示した。粒子数データは、こうした粒子濃度を含む試薬を使用して、半導体ウェハ上に超小型電子デバイスを製造する場合の粒子数の大きさとウェハの欠点との間の直接的な相関関係を提供するために決定した。
揺動実験直後に得られたデータは、ヘッドスペースの値が増加するにつれて、粒度が大きい粒子、特に0.98μm以上の粒子場合、粒子数が増える傾向があることを示す。24時間後に得られたデータは、粒子分布が増加するという同じ傾向を示す。
このデータは、ガラス瓶内のヘッドスペースが増加すると、粒度が大きい粒子の凝集が増加することを示し、これは、半導体製造用途に有害であり、集積回路を破壊する可能性があり、またはデバイスが、意図する目的に対して肉眼的に欠点のあるウェハ上に形成される可能性がある。
本明細書、並びに2002年5月3日に出願された同時係属米国出願第10/139 104号および2002年5月3日に出願された同時係属米国出願第10/139 186号に図示および説明されているタイプのドラム容器内にある袋に適用されるように、この実施例の結果は、好ましいゼロヘッドスペース構成の値を示す。高純度液体を保持する容器内の有意なヘッドスペースは、容器の搬送から生じる容器の運動と結合して、対応する運動、たとえば収用された液体の跳ね飛びを生じ、望ましくない粒子濃度を生じる。したがって、収用された液体に粒子が形成されるのを最小限にするため、ヘッドスペースは、ゼロヘッドスペース条件にできる限り近くなるように相応に最小限にするべきである。
本発明について詳細に説明して来たが、以下で請求する本発明の精神および範囲を逸脱することなく、本発明に様々な変更、置換ならびに修正を加えることが可能であることが理解されよう。
図面の簡単な説明
容器に超高純度液体を充填するための標準上部充填装置の図である。 容器に充填するための水没管底部充填方法の図である。 圧潰可能なライナを有する容器の図である。 容器に充填するための標準上部充填装置の図である。 分配される液体が光学粒子カウンタおよびロタメータを通過するように、図4Aのように充填された容器の中身を分配する図である。 容器に充填するための水没管底部充填方法の図である。 分配される液体が光学粒子カウンタおよびロタメータを通過するように、図5Aに示すように充填された容器の中身を分配する図である。 圧潰可能ライナを有する容器に充填し、次に液体を容器から分配する方法の図である。 圧潰可能ライナを有する容器に充填し、次に液体を容器から分配する方法の図である。 圧潰可能ライナを有する容器に充填し、次に液体を容器から分配する方法の図である。 圧潰可能ライナを有する容器に充填し、次に液体を容器から分配する方法の図である。 第1容器に充填し、第1容器の中身を第2容器に分配し、中身を第2容器から光学粒子カウンタおよびロタメータを通して分配する方法の図である。 第1容器に充填し、第1容器の中身を第2容器に分配し、中身を第2容器から光学粒子カウンタおよびロタメータを通して分配する方法の図である。 第1容器に充填し、第1容器の中身を第2容器に分配し、中身を第2容器から光学粒子カウンタおよびロタメータを通して分配する方法の図である。 ノズルを使用して容器に充填する標準的な方法の図である。 充填ノズルを水没させて容器に充填する方法の図である。 水没ノズルおよび表面上のノズルの両方に関する経過時間における粒子濃度を示すグラフである。 堰から溢流水溜め領域内に溢出する再循環槽内における液体の図である。 液体中における粒子の形成を減少させるように、堰から溢流水溜め領域内に溢出する再循環槽内における液体の図である。 槽の堰上から水溜め内に溢出する水が、粒子濃度をテストされるシステムの図である。 再循環槽テストにおけるフィルタのフラッシュアップ経過時間における粒子濃度を示すグラフである。 フィルタバイパスを有する再循環槽の場合の経過時間における粒子数を示すグラフである。 タンクに充填するためのサイフォンシステムの図である。 底部充填スマートサイフォンの場合の経過時間における粒子数を示すグラフである。 上部充填スマートサイフォンの場合の経過時間における粒子数を示すグラフである。 底部充填ダムサイフォンの場合の経過時間における粒子数を示すグラフである。 上部充填ダムサイフォンの場合の経過時間における粒子数を示すグラフである。 容器を充填する方法ならびに充填容器内のヘッドスペースを除去する方法を示す。 容器に充填する方法ならびに不活性空気袋を使用してヘッドスペースを除去する方法を示す。

Claims (45)

  1. 超高純度液体の処理時における粒子の生成を最小限にする方法であって、
    液体を容器内に導入する工程と、
    前記液体中で生成される粒子の量を最小限にするように、空気-液体界面を制御する工程と、を含む方法。
  2. 前記液体中に生成される粒子の数を最小限にするように、空気−液体界面を制御する工程は、前記空気−液体界面を制御して、約0.2μmの粒度を有する粒子の場合、1mL当たり約2粒子未満の粒子濃度を達成する工程を含む、請求項1に記載の方法。
  3. 前記液体中に生成される粒子の数を最小限にするように、空気−液体界面を制御する工程は、
    ライナを剛性容器内部に設ける工程と、
    前記ライナ中のいかなる空気をも除去するように、前記ライナを圧潰する工程と、
    前記圧潰ライナに、前記超高純度液体を充填する工程と、
    を含む、請求項2に記載の方法。
  4. 前記ライナを圧潰する工程は、
    前記ライナを圧潰するように、前記ライナと前記剛性容器との間の中間領域を加圧する工程と、
    前記ライナが圧潰する時に、前記ライナ内部の空気が出て行くことを可能にするように前記ライナを排気する工程と、
    を含む、請求項3に記載の方法。
  5. 前記ライナを圧潰した後、前記ライナを封止する工程をさらに含む、請求項4に記載の方法。
  6. 前記圧潰ライナに充填する工程は、
    前記ライナに液体を供給する工程と、
    前記ライナに液体が充填される時に、前記中間領域を排気する工程と、
    を含む、請求項4に記載の方法。
  7. 前記液体中に生成される粒子の数を最小限にするように、空気−液体界面を制御する工程は、
    ライナを剛性容器内部に設ける工程と、
    残留ヘッドスペースが前記ライナ内に存在するように、最大容量未満まで前記ライナに液体を充填する工程と、
    前記ライナと前記剛性容器との間の領域を加圧して、前記ヘッドスペースの空気を排出して、前記ヘッドスペースを減らす工程と、
    を含む、請求項1に記載の方法。
  8. 前記液体中に生成される粒子の数を最小限にするように、空気−液体界面を制御する工程は、
    残留ヘッドスペースが前記ライナ内に存在するように、最大容量未満まで前記ライナに液体を充填する工程と、
    不活性空気袋を前記ヘッドスペース内に挿入して、前記ヘッドスペースを減少させる工程と、
    を含む、請求項1に記載の方法。
  9. 前記液体を前記容器内に導入する工程は、前記液体を堰から水溜めに溢出させる工程を含み、前記液体中に生成される粒子の数を最小限にするように、空気−液体界面を制御する工程は、前記堰と前記水溜め内の水位との間の溢出距離を減少させる工程を含む、請求項1に記載の方法。
  10. 前記液体中に生成される粒子の数を最小限にするように、空気−液体界面を制御する工程は、
    前記液体を前記容器内に導入するように、浸漬管を使用するする工程と、
    前記液体を前記容器内に導入する時に、前記浸漬管の先端を前記液体中に水没させる工程と、
    を含む、請求項1に記載の方法。
  11. 前記液体中に生成される粒子の数を最小限にするように、空気−液体界面を制御する工程は、
    液体を前記容器内に導入するように、ノズルを使用する工程と、
    前記液体を前記容器内に導入する時に、前記ノズルを前記液体中に水没させる工程と、
    を含む、請求項1に記載の方法。
  12. 前記容器は第1容器であり、液体を前記容器内に導入する工程は、前記液体を第2容器から前記第1容器内にサイフォンで移す工程を含み、前記液体中に生成される粒子の数を最小限にするように、空気−液体界面を制御する工程は、サイフォン作用が中断しないように前記サイフォンを制御する工程を含む、請求項1に記載の方法。
  13. 前記超高純度液体は、酸、塩基、有機溶剤、フォトリソグラフィー薬品、CMPスラリおよびLCD市販化学薬品からなる群から選択される、請求項1に記載の方法。
  14. 超高純度液体の処理時に、前記液体中の粒子の生成を最小限にする方法であって、
    初期粒子濃度を有する液体を第1の位置から第2の位置に搬送する工程と、
    前記液体が前記第2位置にある時の前記液体の最終粒子濃度が、前記初期粒子濃度を実質的に超えないように、搬送時の空気−液体界面を制御する工程と、
    を含む方法。
  15. 前記液体を第1位置から第2位置に搬送する工程は、浸漬管を使用して液体源から容器に充填する工程を含む、請求項14に記載の方法。
  16. 前記容器の充填時に前記空気−液体界面を制御する工程は、前記浸漬管の先端を前記容器内の液体中に水没させる工程を含む、請求項15に記載の方法。
  17. 前記液体を第1位置から第2位置に搬送する工程は、ノズルを介して液体を容器内に導入する工程を含む、請求項14に記載の方法。
  18. 前記空気−液体界面を制御する工程は、前記容器内の液体に前記ノズルを水没させる工程を含む、請求項17に記載の方法。
  19. 前記液体を第1位置から第2位置に搬送する工程は、液体が堰から溢出して槽から水溜め内に入ることを可能にする工程を含む、請求項14に記載の方法。
  20. 搬送時の前記空気−液体界面を制御する工程は、前記堰と、前記水溜め内に位置する液体の表面との間の溢出距離を最小限にする工程を含む、請求項19に記載の方法。
  21. 前記液体を第1位置から第2位置に搬送する工程は、液体を第1位置から第2位置にサイフォンで移す工程を含む、請求項14に記載の方法。
  22. 搬送時の前記空気−液体界面を制御する工程は、サイフォン作用が中断しないように前記サイフォンを制御する工程を含む、請求項21に記載の方法。
  23. 前記サイフォンを制御する工程は、前記サイフォンがサイフォン作用を中断しないように、前記第1容器内の液体の水位を制御する工程を含む、請求項22に記載の方法。
  24. 前記液体を第1位置から第2位置に搬送する工程は、第1容器を液体源から充填する工程を含み、前記第1容器は、剛性容器内に配置されたライナを含む、請求項14に記載の方法。
  25. 液体を充填した後の前記第1容器内の液体は、粒度が0.2μmの粒子の場合、1mL当たり約2粒子未満の粒子濃度を有する、請求項24に記載の方法。
  26. 前記空気−液体界面を制御する工程は、
    前記ライナ内の空気を除去するように、前記ライナを圧潰する工程と、
    前記ライナに前記液体源から液体を供給することによって、前記圧潰ライナに液体を充填し、前記ライナに液体が充填される時に、前記ライナと前記剛性容器との間に位置する中間領域を排気する工程と、
    を含む、請求項25に記載の方法。
  27. 前記液体を前記ライナから分配するように、前記中間領域を加圧して、前記第1容器から前記液体を分配する工程をさらに含む、請求項26に記載の方法。
  28. 前記液体を前記第1容器から分配する工程は、前記液体を前記第1容器から第2容器に搬送する工程を含み、前記第2容器は、剛性容器内に配置されたライナを含む、請求項27に記載の方法。
  29. 前記第1容器のライナを前記第2容器のライナに接続する工程と、
    前記ライナ内の空気を除去するように、前記第2容器内のライナを圧潰する工程と、
    前記液体を前記第1容器のライナから前記第2容器のライナに移動させるように、前記第1容器の中間領域を加圧する工程と、
    前記第2容器のライナに前記第1容器のライナから液体が充填される時に、前記第2容器内の前記ライナと前記剛性容器との間に位置する中間領域を排気する工程と、
    をさらに含む、請求項28に記載の方法。
  30. 前記空気−液体界面を制御する工程は、
    残留ヘッドスペースが前記ライナ内に存在するように、最大容量未満まで前記ライナに液体を充填する工程と、
    前記ヘッドスペースの空気を排出するように、前記ライナと前記剛性容器との間の領域を加圧して、前記ヘッドスペースを減らす工程と、
    を含む、請求項24に記載の方法。
  31. 前記空気−液体界面を制御する工程は、
    残留ヘッドスペースが前記容器内に存在するように、最大容量未満まで前記容器に液体を充填する工程と、
    不活性空気袋を前記ヘッドスペース内に挿入することにより、前記ヘッドスペースを減少させる工程と、
    を含む、請求項14に記載の方法。
  32. 超高純度液体中における粒子の生成を減少させる、超高純度液体を処理するためのシステムであって、
    初期粒子濃度を有する液体を第1位置から第2位置に搬送するための手段と、
    前記液体の最終粒子濃度が前記初期粒子濃度を実質的に超えないように、前記液体の搬送時の空気−液体界面を制御する手段と、
    を含むシステム。
  33. 前記空気−液体界面を制御する手段は、水没先端を有する浸漬管を備える、請求項31に記載のシステム。
  34. 前記空気−液体界面を制御する手段は、水没ノズルを備える、請求項31に記載のシステム。
  35. 前記液体を搬送する手段は、堰によって水溜めから分離される再循環槽を備える、請求項31に記載のシステム。
  36. 前記空気−液体界面を制御する手段は、前記堰と、前記水溜め内の液体の水位との間の距離を減少させる手段を備える、請求項35に記載のシステム。
  37. 前記空気−液体界面を制御する手段は、混入空気によりサイフォン作用を中断しないように前記サイフォンを制御するスマートサイフォンシステムを備える、請求項31に記載のシステム。
  38. 前記最終粒子濃度は、粒度が0.2μmの粒子の場合、1mL当たり約2粒子未満である、請求項31に記載のシステム。
  39. 前記空気−液体界面を制御する手段は、
    剛性外側容器および圧潰可能ライナを有する容器と、
    前記ライナ内のいかなる空気をも除去するように、前記ライナを圧潰する手段と、
    前記圧潰ライナを充填するために前記ライナに接続された液体源と、
    前記ライナに液体が充填される時に、前記ライナと前記剛性外側容器との間に位置する中間領域を排気するための手段と、を備える、請求項38に記載のシステム。
  40. 前記ライナを圧潰する手段は、
    前記中間領域を加圧するために前記容器に接続された空気源と、
    前記ライナが圧潰される時に、前記ライナ内の空気が出て行くことを可能にする、前記ライナを排気する排気口と、を備える、請求項39に記載のシステム。
  41. 前記ライナと前記剛性外側容器との間の前記中間領域を加圧することにより、前記液体を前記容器から分配する手段を、さらに備える、請求項39に記載のシステム。
  42. 前記空気−液体界面を制御する手段は、前記容器に液体が充填された後に、前記容器内のヘッドスペースを減少させる手段を備える、請求項31に記載のシステム。
  43. ヘッドスペースを減少させる前記手段は、不活性空気袋を備える、請求項42に記載のシステム。
  44. 前記不活性空気袋は、前記ヘッドスペース内に位置する、請求項43に記載の方法。
  45. 前記不活性空気袋は、前記ライナと前記剛性容器との間に位置する、請求項43に記載の方法。

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