JP2005336022A - プロトン伝導性セラミックス - Google Patents

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Abstract

【課題】プロトン伝導性及び低温焼結性に優れており、更に、高温領域における化学的安定性に優れており、プロトン伝導性及び相対密度を長期にわたり良好に維持することができるプロトン伝導性セラミックスを提供する。
【解決手段】Aa1-b-cB’bB”c3-αで表されるペロブスカイト型構造を有する金属酸化物である。A:バリウム、ストロンチウム、カルシウムのうちの少なくとも1種である。aの範囲は0.8以上で1.2以下である。B:セリウム、ジルコニウム、チタンのうち少なくとも1種である。B’:イットリウム、アルミニウム、スカンジウム、ガリウム、インジウム、及び、ランタノイド系列に属する原子番号が59〜71の金属元素のうちの少なくとも1種である。bの範囲は0.01以上で0.3以下である。B”:ニッケル、コバルト、クロム、マンガン、鉄のうちの少なくとも1種である。cの範囲は0.01以上で0.2以下である。
【選択図】 図1

Description

本発明はペロブスカイト構造を有するプロトン伝導性セラミックスに関する。
従来、ある種のペロブスカイト構造を有するセラミックスがかなりのプロトン伝導性を示すことは知られている。即ち、BaCeO3,SrCeO3はプロトン伝導性をほとんど示さないが、Ceの5%をYb,Yで置換したBaCe0.95Yb0.053-α、SrCe0.950.053-αをもつセラミックスが水素または水蒸気の雰囲気においてかなりのプロトン伝導性を示すことが知られている。また、BaZr1-XCeX3-αで表される組成を有するペロブスカイト型酸化物で形成されたイオン伝導体が知られている(特許文献1)。ここでXは0よりも大きく0.8以下とされている。特許文献1の実施例では製造過程において1650℃で10時間焼結すると記載されており、低温における焼結性は充分ではない。
特開2001−307546号公報
上記したセラミックスによれば、焼結温度が高くないと、充分な焼結性が得られず、相対密度も小さくなる。更に、化学的安定性が必ずしも充分ではない。本発明は上記した実情に鑑みてなされたものであり、プロトン伝導性及び低温焼結性に優れており、更に化学的安定性に優れており、プロトン伝導性及び相対密度を長期にわたり良好に維持することができるプロトン伝導性セラミックスを提供することを課題とする。
本発明に係るプロトン伝導性セラミックスは、化学式Aa1-b-cB’bB”c3-αで表されるペロブスカイト型構造を有する金属酸化物であって、
A:バリウム(Ba)、ストロンチウム(Sr)、カルシウム(Ca)のうちの少なくとも1種
aの範囲は0.8以上で1.2以下
B:セリウム(Ce)、ジルコニウム(Zr)、チタン(Ti)のうち少なくとも1種
B’:イットリウム(Y)、アルミニウム(Al)、スカンジウム(Sc)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、及び、ランタノイド系列に属する原子番号が59〜71の金属元素のうちの少なくとも1種
bの範囲は0.01以上で0.3以下
B”:ニッケル(Ni)、コバルト(Co)、クロム(Cr)、マンガン(Mn)、鉄(Fe)のうちの少なくとも1種
cの範囲は0.01以上で0.2以下
且つ、プロトン伝導性及び低温焼結性に優れていることを特徴とするものである。
本発明に係るプロトン伝導性セラミックスの製造方法は、原料粉末の集合体を1150〜1580℃で焼結して焼結体とし、各請求項1〜請求項3のうちのいずれかに係るプロトン伝導性セラミックスを製造することを特徴とする。低温焼結性が優れているため、1150〜1580℃と低い温度領域において焼結したとしても、プロトン伝導性セラミックスの相対密度を高くすることができ、緻密性及び機械的強度を高めることができる。例えば、原料粉末を圧縮して圧粉体を形成し、その圧粉体を1150〜1580℃で焼結して焼結体とし、各請求項のうちのいずれかに係るプロトン伝導性セラミックスを製造することができる。
本発明によれば、プロトン伝導性に優れていると共に、低温焼結性に優れており、緻密性および相対密度を高めることができ、機械的強度を向上させるのに有利である。更に化学的安定性に優れている。特に中温領域、高温領域(100〜1100℃)における化学的安定性にも優れている。化学的安定性は、セラミックスの材質自体の化学的安定性、緻密化による分解促進ガスの浸透防止に起因する化学的安定性を含む。本発明によれば、このように化学的安定性にも優れているため、プロトン伝導性及び密度が長期にわたり良好に維持される。
本発明に係るプロトン伝導性セラミックスによれば、化学式Aa1-b-cB’bB”c3-αで表されるペロブスカイト型構造を有する金属酸化物を基材とする。Aサイト元素は、バリウム(Ba)、ストロンチウム(Sr)、カルシウム(Ca)のうちの少なくとも1種であり、1種または2種以上とすることができる。従ってAサイト元素はバリウム(Ba)およびストロンチウム(Sr)の双方とすることができる。この場合、モル比としては、Ba=Sr、Ba≒Sr、Ba>Sr、Ba<Srとすることができる。
Bサイト元素は、セリウム(Ce)、ジルコニウム(Zr)、チタン(Ti)のうち少なくとも1種であり、1種または2種以上とすることができる。従ってBサイト元素はセリウム(Ce)およびジルコニウム(Zr)の双方とすることができる。この場合、モル比としては、Ce=Zr、Ce≒Zr、Ce>Zr、Ce<Zrとすることができる。
Aサイト元素のモル比であるaの範囲は、ペロブスカイト型構造の確保を考慮して0.8〜1.2である。aの範囲としては0.85〜1.15、0.9〜1.1、あるいは1.0を採用できる。ここでaの下限値は0.8、0.85、0.9または0.95にでき、aの上限値は1.2、1.1または1.05とすることができる。Aサイト元素のモル比とBサイトのモル比との総和を2としたとき、モル比で、Bサイト元素を0.5以上の割合で含む形態を採用できる。
Bサイトの元素はセラミックスの機械的強度の向上、化学的安定性の向上を期待できる。ここで、要請される機械的強度、化学的安定性、用途、使用温度等によっても異なるものの、Bサイト元素の下限側のモル比としては、0.5以上、0.6以上、0.7以上を必要に応じて例示できる。また上記した下限と組み合わせ得るBサイト元素の上限側のモル比としては、0.98以下、0.97以下、0.95以下、0.90以下、0.85以下、0.80以下を必要に応じて例示できる。
B’サイト元素はイットリウム(Y)、アルミニウム(Al)、スカンジウム(Sc)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、及び、ランタノイド系列に属する原子番号が59〜71の金属元素のうちの少なくとも1種である。従って、B’サイト元素は1種または2種以上とすることができる。B’サイト元素は、主として、当該セラミックスにプロトンを存在させるためのものである。B’サイト元素は、主として、結晶格子中に酸素空孔(酸素があるべきでありながら、酸素が存在しないサイト)を作る役割を果たす。ランタノイド系列の元素としては、原子番号59のプラセオジム(Pr)、原子番号60のネオジム(Nd)、原子番号64のガドリニウム(Gd)、原子番号70のイッテリビウム(Yb)、原子番号62のサマリウム(Sm)、原子番号63のユウロムビウム(Eu)、原子番号65のテルビウム(Tb)のうちの少なくとも1種を例示できる。従って1種または2種以上含有しても良い。bの範囲は0.01〜0.3であり、0.03〜0.25、あるいは0.05〜0.2、あるいは0.08〜0.15とすることができる。ここでbの下限値は0.01、0.03、0.05にでき、この下限値と組み合わせ得るbの上限値は0.25、0.22、0.2、0.15とすることができる。
B”:遷移金属であるニッケル(Ni)、コバルト(Co)、クロム(Cr)、マンガン(Mn)、鉄(Fe)のうちの少なくとも1種である。従ってB”サイト元素は1種または2種以上とすることができる。B”サイト元素は、主として、プロトン伝導性、低温焼結性、高温領域における化学的安定性、緻密性、機械的強度の向上に有効である。B”サイト元素のモル比が過少であると、目的とするプロトン伝導性及び低温焼結性が得られにくい。しかしB”サイト元素のモル比が過剰であると、他の元素が相対的に減少し、目的とするプロトン伝導性が得られにくいし、更に焼結性が低下したり、使用条件によっては化学的安定性、機械的強度が低下する傾向があり、また、電極層または触媒層をセラミックスに設ける場合に、電極層または触媒層との反応性が高くなるおそれがある。なお、使用温度、コスト、用途等によっても、本発明に係るB”サイト元素の量を調整することが好ましい。上記した実情を考慮し、cの範囲は0.01〜0.2、あるいは0.01〜0.1、あるいは0.02〜0.1とすることができ、0.02〜0.07、あるいは0.02〜0.06である。ここでcの下限値は0.01、0.03、0.05にでき、この下限値と組み合わせ得るcの上限値は0.15、0.1、0.06とすることができる。なおc<bとすることができる。必要に応じてc=b、c≒b、c>bとすることもできる。
更に本発明に係るプロトン伝導性セラミックスによれば、酸素がかなり欠損しても、ペロブスカイト型構造は安定的に保たれる。即ち、一般式ABO3において酸素がかなり変化しても、ペロブスカイト型構造は安定的に保たれる。酸素欠損はαで示され、構成元素であるAサイト元素、Bサイト元素、B’サイト元素、B”サイト元素、使用温度、雰囲気の酸素分圧等に応じて変化する値である。従って酸素欠損量αとしては、モル比で、一般的には−0.7以上で+0.7以下の範囲、あるいは、−0.5以上で+0.5以下の範囲を例示できるが、これらに限定されるものではない。故に酸素(O)としては、モル比で、2.3以上で且つ3.7以下の範囲、あるいは、2.5以上で且つ3.5以下の範囲を例示することができる。但しこれに限定されるものではない。
故に、本発明に係るプロトン伝導性セラミックスは、一般式ABO3-αで表されるペロブスカイト型構造を有する金属酸化セラミックスを基材とすることができる。本発明に係る製造方法は、原料粉末を圧縮した圧粉体を1100〜1580℃で焼結して焼結体とし、各請求項に係るプロトン伝導性セラミックスを製造する。1100〜1580℃、1150〜1580℃という低温領域であっても、良好に焼結でき、緻密化、相対密度の向上を図り得る。組成、焼結時間等によっても異なるものの、焼結温度の下限値としては例えば1140℃、1160℃、1180℃、1200℃、1220℃を採用できる。焼結温度の上限値としては例えば1550℃、1500℃、1475℃、1450℃、1400℃を採用できる。従って焼結温度としては例えば1150℃〜1550℃、1180〜1500℃、1200〜1450℃、1250〜1400℃等を採用できる。組成、焼結温度、サイズ等によっても異なるものの、焼結時間としては例えば30分〜10時間、1〜8時間、1.5〜6時間、2〜5時間を採用することができる。焼結性が良いため、焼結時間は短くてすむ。焼結時間の下限値としては例えば30分、1時間、2時間を採用でき、焼結時間の上限値としては例えば10時間、8時間、6時間、4時間を採用できる。このように本発明にプロトン伝導性セラミックスによれば、焼結性が優れているため、セラミックスの緻密性が高く、相対密度が高い。本発明にセラミックスによれば、プロトン伝導性が発現される。プロトン伝導性が特に発現される高温領域としては、一般的には400〜1500℃程度、殊に700〜1200℃が例示される。本発明に係るプロトン伝導性セラミックスによれば、低温領域で焼結するときであっても、相対密度(理論密度に対する実密度の比率)は高く、93%以上であり、更に95%以上、97%以上とすることができる。焼結性が高いためである。また化学的安定性が高い。
本発明に係るプロトン伝導性セラミックスとしては、代表的なものとして、バリウム(Ba)−セリウム(Ce)−イットリウム(Y)−ニッケル(Ni)−酸素(O)系の金属酸化物を挙げることができる。この金属酸化物として、例えば、BaCe03系にイットリウム、ニッケルをドープしたセラミックス(BaCe0.9-X0.1NiX3-α系、a=1、X=0.01〜0.3、または、0.01〜0.2)を挙げることができる。Ba0.95Ce0.850.1Ni0.053-α系を挙げることができる。Aサイト元素としてはバリウム(Ba)、ストロンチウム(Sr)、カルシウム(Ca)のうちの複数元素を採用しても良い。Bサイト元素としてはセリウム(Ce)、ジルコニウム(Zr)、チタン(Ti)のうちの複数元素を採用しても良い。従ってBa0.5Sr0.5Ce0.850.1Ni0.053-α系、Ba0.6Sr0.4Ce0.850.1Ni0.053-α系、BaCe0.45Zr0.40.1Ni0.053-α系(a=1)、BaCe0.55Zr0.40.1Ni0.053-α系(a=1)を挙げることができる。
また、ストロンチウム(Sr)−ジルコニウム(Zr)−イットリウム(Y)−コバルト(Co)−酸素(O)系の金属酸化物を挙げることができる。この金属酸化物として、例えば、SrZr03系にイットリウム及びコバルトをドープしたセラミックス(SrZr0.9-X0.1CoX3-α系、a=1、X=0.01〜0.3、または、X=0.01〜0.2)を挙げることができる。
また、ストロンチウム(Sr)−セリウム(Ce)−イットリビウム(Yb)−酸素(O)系の金属酸化物を挙げることができる。この金属酸化物として、例えば、SrCe03系にイッテリビウムをドープしたセラミックス(SrCe0.9-XYbX3-α系、X=0.01〜0.3、または、X=0.01〜0.2)を挙げることができる。
また、BaZr03系にY及びCoをドープしたセラミックス(BaZr0.9-X0.1CoX3-α系、X=0.01〜0.3、または、X=0.01〜0.2)、CaZr03系にIn及びNiをドープしたセラミックス(CaZr0.9-XIn0.1NiX3-α系、X=0.01〜0.3、または、X=0.01〜0.2)を挙げることができる。
本発明に係るプロトン伝導性セラミックスによれば、600℃における導電率は例えば10-2〜10-4S/cm程度である。本発明に係るプロトン伝導性セラミックスによれば、その表面及び裏面の少なくとも一方には、触媒層を積層させる形態を例示できる。触媒層により、下記の反応の活性を促進させることができ、プロトン伝導性の向上を期待できる。H2→2H++2e-(アノード側)、2H++2e-→H2(カソード側)
従って触媒層としては、アノード側、カソード側のいずれか一方、または双方に設けることができる。触媒層としては白金、パラジウム、ロジウム、銀、金のうちの少なくとも1種を含むことができる。また本発明に係るセラミックスによれば、その表面及び裏面の少なくとも一方には、電圧を印加させるため電極層を積層させる形態を例示できる。電圧を印加させれば、電極層における反応活性の促進を期待できる。電極層としては触媒層と兼用することができ、白金、パラジウム、ロジウム、銀、金のうちの少なくとも1種を含むことができる。本発明に係るセラミックスによれば、その厚みは特に限定されるものではなく、薄膜、厚膜、厚層等のように適宜選択できる。厚みとしては、組成、当該セラミックスを単独で用いるか、当該セラミックスを担体に薄膜状として保持させるかによっても相違する。厚みについては、一般的には下限として0.1μm、1μmを例示でき、上限として20mm、40mm等を例示できる。但しこれらに限定されるものではない。
本発明に係るプロトン伝導性セラミックスの製造方法としては、その厚み等に応じて適当な方法を採用できる。厚膜のときには、例えば、原料粉末を加圧した圧粉体を焼結して形成する方法を採用できる。薄膜のときには、原料粉末を分散媒に分散させた溶液を基板に膜状に塗布し、焼結する方法を採用できる。あるいは、真空蒸着、イオンプレーティング、スパッタリング等の物理的気相蒸着(PVD)方法を採用できる。あるいは、原料気体を加熱した基板上に導いて反応させて被膜を形成する化学的気相蒸着(CVD)方法を採用できる。場合によっては、プラズマによる熱源を用い原料粉末を瞬時に溶融して基板に吹き付けて被膜を形成するプラズマ溶射方法を採用できる。
以下、本発明の実施例1を図面を参照して具体的に説明する。
本実施例は、バリウム−セリウム−イットリウム−ニッケル−酸素系のペロブスカイト型構造をもつ金属酸化物を対象とする。つまり、化学式BaCe0.9-X0.1NiX3-αで表されるプロトン伝導性セラミックスを対象とする。化学式A11-b-cB’bB”c3-αとすれば、Aサイト元素はバリウム(Ba)である。Bサイト元素はセリウムである。B’サイト元素はイットリウム(Y)であり、B’サイト元素のモル比bは0.1である。またB”サイト元素はニッケル(Ni)であり、B”サイト元素のモル比cはX(X=c)である。B’及びB”サイト元素は、Bサイト元素を一部置換したものである。酸素欠損量αのモル比としては、一般的には−0.5以上で+0.5以下の範囲となるが、これに限定されるものではない。
本実施例によれば、Aサイト元素のモル比とBサイト元素のモル比との総和を2としたとき、B”サイト元素であるニッケルのモル比であるX(X=c)としては、X=0.05としている。従ってc<bとされている。即ち、B’サイト元素のモル比>B”サイト元素のモル比、具体的には、イットリウム(Y)のモル比>ニッケル(Ni)のモル比とされている。これは、B”サイト元素であるニッケル(Ni)は低温焼結性、緻密性及び化学的安定性を向上させ得るものの、ニッケル(Ni)が過剰であると、プロトン伝導性セラミックスに電極層または触媒層を設けたとき、電極層または触媒層と反応し易くなるためである。なお、(c/b)としては(0.05/0.1)=0.5とされている。
本実施例によれば、出発原料粉末として、炭酸バリウム(BaCO3、純度99.0%)、酸化セリウム(CeO3、純度99.9%)、酸化イットリウム(Y23、純度99.9%)、酸化ニッケル(NiO、純度99.9%)の各粉末を用いた。これらの出発原料粉末を所定の割合で秤量した。秤量した出発原料をメノウ製の乳鉢でエタノールを用いて湿式混合し、混合粉末を形成した。その後、混合粉末からエタノールを蒸発させた。その混合粉末を成形型(金型)で加圧成形して成形体を形成した。成形体を大気中で1000℃で5時間、か焼した。その後、か焼した成形体をメノウ製の乳鉢で粉砕した。更にアセトンを分散剤として用い、ジルコニア製の遊星式ボールミル(300rpm)で3時間粉砕し、粉末を形成した。その後、ドラフト内でアセトンを蒸発させた。このようにした得られた粉末を別の成形型(金型)で成形し、円盤形状の圧粉体を得た。更に圧粉体をラバープレス法により静水圧で加圧(加圧力:200MPa)し、加圧体を形成した。その加圧体を大気雰囲気において1250℃、5時間加熱保持することにより焼結した。これにより試料を形成した。相対密度は99%であった。
更に、プロトン伝導性を評価するために、図1に示す装置を用い、水素濃淡電池の起電力を測定した。この場合、直径約15mm、厚み1.0mmの円盤ペレット状の試料10を用いた。試料10の両端面に白金ペーストを塗布して900℃で1時間焼き付け、これにより多孔質の白金層12(多孔質の触媒層)を試料10の両端面に形成した。
更に、その白金層12を白金集電体で覆った後、図1に示すように、ガラス製のリング状のシール14を介して第1セラミックス管(アルミナ)16の軸端16aと第2セラミックス管18(アルミナ)の軸端18aとの間に試料10を挟んだ。これにより試料10を隔壁とする第1室16dと第2室18dとを形成した。第1セラミックス管16は第1ガス導入口16b、第1ガス導出口16c、第1室16dをもつ。第1ガス導入口16bには第1ガス供給管(アルミナ)20が配置されている。第2セラミックス管18は第2ガス導入口18b、第2ガス導出口18c、第2室18dをもつ。第2ガス導入口18bには第2ガス供給管(アルミナ)22が配置されている。試料10の周辺には加熱装置28が設けられている。
そして、プロトン伝導性を調べるべく水素濃淡電池で起電力を測定する試験を行った。この場合、第1室16d及び第2室18dのそれぞれに水素分圧が異なるガスを導入して行った。第1室16d側のアノード及び第2室18d側のカソードでは次の反応が生じるため、水素分圧に見合った起電力が生じる。理論起電力は、下記の式1に示すネルンストの式に基づいて求められる。アノードは酸化反応を行う部位と定義される。カソードは還元反応を行う部位と定義される。
アノード H2→2H++2e-
カソード 2H++2e-→H2
理論起電力E0=(RT/2F)×ln[(PH2(アノード)/(PH2(カソード)]……(1)
周知のように、Rは気体定数を示す。Tは温度(K)を示す。Fはファラデー定数を示す。PH2(アノード)はアノード側(第1室16d)の水素分圧を示す。PH2(カソード)はカソード側(第2室18d)の水素分圧を示す。
起電力を測定する際には、ペレット状の試料10(厚み0.5mm、直径13mm)を用いると共に、試料10の表裏の白金層12にリード線24、26を電気的に接続した。更に、水素濃淡電池の基準ガスとして1atmの水素ガスをアノード側の第1室16d側に導入した。ガス混合器を用いてアルゴンガスと水素とを所定の比率で混合した混合ガスをカソード側の第2室18dに導入した。そして、カソード側の第2室18dの混合ガスの水素分圧をガスクロマトグラフィーで測定した。発生した起電力については、レコーダで起電力が安定したことを確認した後に、エレクトロメータで起電力を測定した。
図2は化学式BaCe0.9-X0.1NiX3-αで(x=0.05)表されるプロトン伝導性セラミックスを有する水素濃淡電池の起電力の測定結果(試料温度:600℃)を示す。図2の横軸はカソード側の水素分圧の対数を示し、縦軸は起電力を示す。図2において、特性線S1は、アノード側とカソード側とにおける水素分圧差に基づいてネルンストの式で算出された理論起電力を示す。○印は測定値を示す。ここで、電解質がプロトンのみを導電種とするときには、水素濃淡電池の起電力はネルンストの式に基づく理論起電力に従うものである。図2に示すように測定結果は共に直線性が認められ、プロトン伝導性を示すことが確認された。
更に上記した本実施例に係るプロトン伝導性セラミックスの安定性を調べた。この場合、試料を炭酸ガス雰囲気(CO2:100%)において高温(900℃)で2時間さらした。大気中にも炭酸ガスは含まれている。この試験は100%炭酸ガス雰囲気で行う加速試験である。試験前後における試料のX線回折パターンを測定した。図3はその測定結果を示す。図3において特性線10は焼結後の試験結果(as sintered)を示す。特性線11は高温の炭酸ガス雰囲気においてさらした後の試験結果(after CO2 treatment)を示す。特性線10および特性線11の比較から理解できるように、本実施例に係る試料を炭酸ガス雰囲気にさらしたとしても、回折パターンの変化は認められず、本実施例に係る試料は化学的に安定であること示す。このように本実施例に係るプロトン伝導性セラミックスは化学的安定性に優れているため、当該セラミックスが高温領域に保持されたとしても、プロトン伝導性及び密度が良好に維持される。比較例1として、Niを含まないBaCe0.90.13-αについてもX線回折パターンを測定した。図3において特性線20は焼結後の試験結果を示す。特性線21は高温の炭酸ガス雰囲気においてさらした後の試験結果を示す。特性線20および特性線21に示すように、炭酸ガス雰囲気に試料をさらしたときには、回折パターンの変化が認められ、比較例1に係る試料は高温雰囲気において分解が生じており、化学的に安定的でないことがわかる。これはBaCeO3+CO2→BaCO3+CeO2の反応によるものと推察される。
更に、セラミックスの相対密度と焼結温度との関係について試験した。この場合、実施例1に係るBaCe0.9-X0.1NiX3-α(x=0.05)で表されるセラミックスを用いた。上記した比較例1のセラミックスについても同様に試験した。図4は試験結果を示す。○印は実施例1の試験結果を示し、△印は比較例1の試験結果を示す。図4に示すように、比較例1によれば、焼結温度が1400℃であっても相対密度は70%程度であった。これに対して実施例1によれば、焼結温度が1250〜1400℃と低いときであってもプロトン伝導性セラミックスの相対密度が高い。相対密度はいわゆるアルキメデス法に基づいて求めた。ここで、ドーパント元素を含まないセラミックス(BaCeO3、BaZrO3、SrZrO3、SrCeO3)の理論密度をそれぞれ100%とし、Bサイト元素、B’サイト元素及びB”サイト元素といったドーパント元素を含むセラミックスの相対密度を求めた。
(組成と焼結温度と相対密度との関係)
プロトン伝導性セラミックスの組成を変えて、焼結温度と相対密度との関係を試験した。試験結果を表1に示す。表1に示すように、比較例1〜4によれば、相対密度を高くするためには、焼結温度を高温にする必要があり、更に焼結時間も長くする必要がある。殊に比較例2によれば、焼結温度を1700℃、焼結時間を10時間であっても、相対密度に90%にすぎない。これに対して実施例1〜実施例5によれば、表1に示すように、焼結温度が1250〜1400℃と低めであり、更に焼結時間が2〜5時間と短めであっても、プロトン伝導性セラミックスの相対密度が93%以上、96%以上に確保され、緻密性、機械的強度、ガス浸透防止性等が確保されている。
Figure 2005336022
表1によれば、Aサイト元素としてBaおよびSrが採用されている。Bサイト元素としてCeおよびZrが採用されている。B’サイト元素としてYおよびYbが採用されている。B”サイト元素としてNi、CoおよびFeが採用されている。これにより焼結温度が低めで且つ焼結時間が短めであっても、プロトン伝導性セラミックスの相対密度が確保され、緻密性、機械的強度、ガス浸透防止性等が確保されている。
(その他)その他、本発明は上記した実施例のみに限定されるものではなく、要旨を逸脱しない範囲内で適宜変更して実施できるものである。発明の形態、実施例、図に記載の語句、データは一部であっても、請求項に記載できるものである。
以上のように、本発明に係るプロトン伝導性セラミックスは、プロトン伝導性を有するため、水素濃淡電池、水素センサ、燃料電池、水素分離装置等に利用することができる。
実施例で用いた試験装置の概念図である。 水素濃淡電池の起電力の結果を示すグラフである。 試料のX線回折を示すグラフである。 焼結温度と相対密度との関係を示すグラフである。

Claims (5)

  1. 化学式Aa1-b-cB’bB”c3-αで表されるペロブスカイト型構造を有する金属酸化物であって、
    A:バリウム(Ba)、ストロンチウム(Sr)、カルシウム(Ca)のうちの少なくとも1種
    aの範囲は0.8以上で1.2以下
    B:セリウム(Ce)、ジルコニウム(Zr)、チタン(Ti)のうち少なくとも1種
    B’:イットリウム(Y)、アルミニウム(Al)、スカンジウム(Sc)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、及び、ランタノイド系列に属する原子番号が59〜71の金属元素のうちの少なくとも1種
    bの範囲は0.01以上で0.3以下
    B”:ニッケル(Ni)、コバルト(Co)、クロム(Cr)、マンガン(Mn)、鉄(Fe)のうちの少なくとも1種
    cの範囲は0.01以上で0.2以下
    且つ、プロトン伝導性及び低温焼結性に優れていることを特徴とするプロトン伝導性セラミックス
  2. 請求項1において、相対密度が93%以上であることを特徴とするプロトン伝導性セラミックス。
  3. 請求項1または請求項2において、高温雰囲気における化学的安定性が高いことを特徴とするプロトン伝導性セラミックス。
  4. 請求項1〜請求項3のうちのいずれかにおいて、c<b、c=b、c≒b、c>bのいずれかであることを特徴とするプロトン伝導性セラミックス。
  5. 原料粉末の集合体を1100〜1580℃で焼結して焼結体とし、各請求項1〜請求項4のうちのいずれかに係るプロトン伝導性セラミックスを製造するプロトン伝導性セラミックスの製造方法。
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