JP2005260026A - 樹脂封止装置及び樹脂封止方法 - Google Patents

樹脂封止装置及び樹脂封止方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2005260026A
JP2005260026A JP2004070334A JP2004070334A JP2005260026A JP 2005260026 A JP2005260026 A JP 2005260026A JP 2004070334 A JP2004070334 A JP 2004070334A JP 2004070334 A JP2004070334 A JP 2004070334A JP 2005260026 A JP2005260026 A JP 2005260026A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
pot
mold
substrate
upper mold
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004070334A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4426880B2 (ja
Inventor
Muneo Miura
宗男 三浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Towa Corp
Original Assignee
Towa Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Towa Corp filed Critical Towa Corp
Priority to JP2004070334A priority Critical patent/JP4426880B2/ja
Priority to TW94103667A priority patent/TWI253724B/zh
Priority to SG200500899A priority patent/SG115730A1/en
Priority to KR1020050015772A priority patent/KR100698676B1/ko
Priority to CN 200510054534 priority patent/CN1666851A/zh
Publication of JP2005260026A publication Critical patent/JP2005260026A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4426880B2 publication Critical patent/JP4426880B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/565Moulds
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/14Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles
    • B29C45/14639Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles for obtaining an insulating effect, e.g. for electrical components
    • B29C45/14647Making flat card-like articles with an incorporated IC or chip module, e.g. IC or chip cards
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/0025Preventing defects on the moulded article, e.g. weld lines, shrinkage marks
    • B29C2045/0036Submerged or recessed burrs

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Casting Or Compression Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)

Abstract

【課題】樹脂封止において、ポットブロックと上型との間に樹脂ばりが形成されること、基板の損傷が発生すること、及び、皿ばね等の調整が必要になることである。
【解決手段】下型1にはポットブロック9と基板ブロック5とが配置され、ポットブロック9は基板ブロック5に対して摺動可能にコイルばね21により弾性支持される。上型2には、ピン24が水平方向に進退可能に設けられる。上型2と下型1との型締めが完了する前に、基板ブロック5上の基板16は、ピン24によりポットブロック9に適当な圧力で押し当てられる。また、型締め状態で、基板16は上型2と基板ブロック5とによって適当なクランプ圧で挟持され、ポットブロック9はコイルばね21により上型2に対して適当な圧力で押し当てられる。また、型締めが解除された状態で、ポットブロック9は、コイルばね21が伸長することにより基板ブロック5に対して摺動しながら上昇する。
【選択図】図2

Description

本発明は、プリント基板等の回路基板(以下「基板」という。)に装着されたチップ状素子(以下適宜「チップ」という。)を樹脂封止して電子部品を形成する、樹脂封止装置及び樹脂封止方法に関するものである。
従来の樹脂封止装置について、図4,図5を参照して説明する。図4(1)は従来の樹脂封止装置における型締め直前の状態を、図4(2)は型締めされた状態でキャビティに流動性樹脂が注入される状態を、それぞれ示す断面図である。図5(1)は従来の樹脂封止装置において流動性樹脂の侵入が発生した状態を、図5(2)は侵入した流動性樹脂が硬化して基板ブロックの昇降を阻害する状態を、それぞれ示す断面図である。なお、以下の説明で使用するいずれの図も、わかりやすくするために誇張して描かれている。
図4,図5に示されているように、樹脂封止装置には、下型1と上型2とからなる樹脂封止型3が設けられている。そして、下型1には凹部4が設けられており、凹部4には下型1の一部を構成する基板ブロック5が配置され、基板ブロック5は複数の皿ばね6からなる皿ばねユニット7によって弾性支持されている。また、皿ばねユニット7と凹部4の底面との間には、適当な板厚を有するスペーサ8が設けられている。また、下型1に設けられた凹部4には、基板ブロック5に隣接してポットブロック9が固定されている。言い換えれば、基板ブロック5は、ポットブロック9の側壁に対して摺動しながら昇降することができるように、皿ばねユニット7によって弾性支持されている(例えば、特許文献1参照)。また、ポットブロック9には円筒状の空間であるポット10が設けられ、ポット10にはプランジャ11が昇降自在に設けられている。ポット10におけるプランジャ11の上には、流動性樹脂の原材料である樹脂タブレット12が配設されている。
一方、上型2には、ポット10に相対向する位置に凹部であるカル13が設けられ、カル13につながるようにして、溝であるランナ14が設けられている。そして、ランナ14につながるようにして、凹部であるキャビティ15が設けられている。すなわち、上型2と下型1とが型締めした状態において、カル13とランナ14とからなる樹脂流路が、ポット10とキャビティ15とを連通することになる。更に、基板ブロック5の上には、1個又は複数個のチップ(図示なし)が装着された基板16が、その端面と基板ブロック5の端面とが面一(つらいち)になるようにして配置されている。また、基板16は、上型2と下型1とが型締めした状態においてその基板16に装着されたチップがキャビティ15に収容されるような位置に、配置される。
従来の樹脂封止装置は、次のようにして動作する。まず、図4(1)の状態から下型1を下降させる。そして、下型1のうちポットブロック9の上面と上型2の下面とを型合せ面P.L.において接触させて、上型2と下型1とを型締めする。その型締め状態において、基板16は、皿ばねユニット7によって弾性支持された基板ブロック5と上型2とによって所定の圧力、すなわち、所定のクランプ圧で挟持され、ポットブロック9は、上型2によって押圧される。ここで、上型2と下型1とを型締めする際に、基板ブロック5はポットブロック9の側壁に対して摺動しながら下降する。次に、図4(2)に示すように、下型1に設けられたヒータ(図示なし)により樹脂タブレット12を加熱溶融させて、流動性樹脂17を形成する。そして、プランジャ11が上昇して、流動性樹脂17を圧送し、カル13、ランナ14を順次経由してキャビティ15に注入する。次に、流動性樹脂17を更に加熱し硬化させて硬化樹脂を形成し、基板とチップと硬化樹脂とを含む成形体を完成させる。その後に、上型2と下型1とを型開きして、基板16と硬化樹脂とを含む成形体を取り出す。ここで、上型2と下型1とを型開きする際に、基板ブロック5はポットブロック9の側壁に対して摺動しながら上昇する。
しかしながら、上述した従来の技術によれば、以下のような問題がある。第1に、図5(1)に示すように、基板16の端面(図では右側)とポットブロック9の側壁との間にすき間が生じることがあり、このことに起因する問題がある。ここで、基板ブロック5とポットブロック9との側壁同士の間には、基板ブロック5の摺動を確保するためにすき間18が設けられている。そして、基板16の端面とポットブロック9の側壁との間にすき間が生じている場合には、流動性樹脂17がすき間18に侵入して硬化し、図5(2)に示すように、すき間18において形成された余分な硬化樹脂19が基板ブロック5の昇降を阻害する場合がある。この場合には、すき間18において、挟まれている又は基板ブロック5に付着している余分な硬化樹脂19によって、引き続いて樹脂封止を行う際に基板ブロック5の下降が阻害される。このことにより、まず、型締めが不十分になってポットブロック9の上面と上型2の下面との間にすき間20が発生し、このすき間20に流動性樹脂17が漏れ出し、硬化樹脂からなる樹脂ばりが形成されて成形体が不良品になることがある。次に、基板ブロック5の下降が阻害されることによって基板16が過大なクランプ圧で押圧され、基板16の特性によっては、基板16に傷が発生し、又は基板16が破損するおそれがある。
第2に、皿ばねユニット7の弾性を使用して基板16を挟持することに起因する問題がある。まず、基板16の厚さばらつきが大きい場合には、大きい板厚を有する基板16が過大なクランプ圧で押圧されて損傷するおそれがある。次に、この場合においても、ポットブロック9の上面と上型2の下面との間にすき間20が発生し、このすき間20に樹脂ばりが形成され、成形体が不良品になるおそれがある。更に、基板16の機種を変えて、板厚の規格が異なる別の機種の基板16を使用する場合には、そのままの皿ばねユニット7では板厚の差を吸収できない場合がある。この場合には、下型1を分解して、皿ばね6の枚数を増減する、又は、スペーサ8を板厚が異なる別のものに交換する等の調整が必要になるので、工数が増大する。これらの問題は、適当なクランプ圧により基板16を挟持する目的で、皿ばねユニット7に代えて他の種類のばねや高分子材料等の他の弾性部材を使用した場合にも、同様に発生し得る。また、上述した諸問題のうち余分な硬化樹脂19及び樹脂ばりに関する問題は、近年、電子部品の薄型化を図るために低粘度の流動性樹脂が広く使用されるようになったことに伴い、いっそう顕著になっている。
特開2001−191333号公報(第2−4頁、図1−3)
本発明が解決しようとする課題は、樹脂封止において、下型とポットブロックとが滑らかに摺動しないという課題、及び、基板を弾性支持することに起因する課題である。具体的には、ポットブロックと上型との間に樹脂ばりが形成されること、基板の損傷が発生すること、及び、皿ばね等の調整が必要になることである。
上述の課題を解決するために、本発明に係る樹脂封止装置は、チップ状素子が装着された基板(16)が配置される下型(1)と、該下型(1)において昇降可能に嵌装されたポットブロック(9)と、該ポットブロック(9)に設けられ流動性樹脂(17)が貯留されるポット(10)と、該ポット(10)において昇降可能に嵌装され流動性樹脂(17)を圧送するプランジャ(11)と、下型(1)に相対向して設けられた上型(2)と、該上型(2)に設けられチップ状素子が収容されるキャビティ(15)と、上型(2)に設けられポット(10)とキャビティ(15)とを連通する樹脂流路(13,14)とを有しており、キャビティ(15)に注入された流動性樹脂(17)が硬化して形成された硬化樹脂(28)によりチップ状素子を樹脂封止する樹脂封止装置であって、ポットブロック(9)を昇降させる昇降手段(21,26)を備えるとともに、上型(2)と下型(1)とが型締めした状態において上型(2)と下型(1)とにより適当な圧力で基板(16)が挟持され、各々昇降手段(21,26)により、上型(2)と下型(1)とが型締めした状態においてポットブロック(9)が上型(2)に押し当てられており、かつ、上型(2)と下型(1)との型締めが解除された状態においてポットブロック(9)が下型(1)の少なくとも一部に対して摺動しながら上昇することを特徴とする。
また、本発明に係る樹脂封止装置は、チップ状素子が装着された基板(16)が配置される下型(1)と、該下型(1)において嵌装されたポットブロック(9)と、該ポットブロック(9)に設けられ流動性樹脂(17)が貯留されるポット(10)と、該ポット(10)において昇降可能に嵌装され流動性樹脂(17)を圧送するプランジャ(11)と、下型(1)に相対向して設けられた上型(2)と、該上型(2)に設けられチップ状素子が収容されるキャビティ(15)と、上型(2)に設けられポット(10)とキャビティ(15)とを連通する樹脂流路(13,14)とを有しており、キャビティ(15)に注入された流動性樹脂(17)が硬化して形成された硬化樹脂(28)によりチップ状素子を樹脂封止する樹脂封止装置であって、上型(2)と下型(1)との型締めが完了する前にポットブロック(9)の側壁に対して基板(16)を押し当てる可動部材(24)を備えるとともに、ポットブロック(9)と下型(1)の少なくとも一部とが相対的に昇降可能であり、ポットブロック(9)の側壁に対して基板(16)が押し当てられた状態で流動性樹脂(17)がキャビティ(15)に注入されることを特徴とする。
また、本発明に係る樹脂封止方法は、チップ状素子が装着された基板(16)が配置される下型(1)と、該下型(1)において昇降可能に嵌装されたポットブロック(9)と、該ポットブロック(9)に設けられ流動性樹脂(17)が貯留されるポット(10)と、該ポット(10)において昇降可能に嵌装され流動性樹脂(17)を圧送するプランジャ(11)と、下型(1)に相対向して設けられた上型(2)と、該上型(2)に設けられチップ状素子が収容されるキャビティ(15)と、上型(2)に設けられポット(10)とキャビティ(15)とを連通する樹脂流路(13,14)とを有する樹脂封止装置を使用して、キャビティ(15)に注入した流動性樹脂(17)を硬化させて形成した硬化樹脂(28)によりチップ状素子を樹脂封止する樹脂封止方法であって、上型(2)と下型(1)とが適当な圧力で基板(16)を挟持する工程と、上型(2)に対してポットブロック(9)を押し当てる工程と、挟持する工程と押し当てる工程とにより上型(2)と下型(1)とを型締めする工程と、プランジャ(11)によってキャビティ(15)に流動性樹脂(17)を注入する工程と、流動性樹脂(17)を硬化させる工程と、上型(2)と下型(1)との型締めを解除した後にポットブロック(9)を下型(1)の少なくとも一部に対して摺動させながら上昇させる工程とを備えたことを特徴とする。
また、本発明に係る樹脂封止方法は、チップ状素子が装着された基板(16)が配置される下型(1)と、該下型(1)において下型(1)の少なくとも一部に対して相対的に昇降可能に嵌装されたポットブロック(9)と、該ポットブロック(9)に設けられ流動性樹脂が貯留されるポット(10)と、該ポット(10)において昇降可能に嵌装され流動性樹脂を圧送するプランジャ(11)と、下型(1)に相対向して設けられた上型(2)と、該上型(2)に設けられチップ状素子が収容されるキャビティ(15)と、上型(2)に設けられポット(10)とキャビティ(15)とを連通する樹脂流路(13,14)とを有する樹脂封止装置を使用して、キャビティ(15)に注入した流動性樹脂を硬化させて形成した硬化樹脂(28)によりチップ状素子を樹脂封止する樹脂封止方法であって、上型(2)と下型(1)とが基板(16)を挟持する工程と、上型(2)に対してポットブロック(9)を押し当てる工程と、挟持する工程と押し当てる工程とにより上型(2)と下型(1)とを型締めする工程と、上型(2)と下型(1)との型締めが完了する前にポットブロック(9)の側壁に対して基板(16)を押し当てる工程と、ポットブロック(9)の側壁に対して基板(16)が押し当てられた状態でプランジャ(11)によってキャビティ(15)に流動性樹脂(17)を注入する工程と、流動性樹脂(17)を硬化させる工程と、上型(2)と下型(1)とを型開きする工程とを備えたことを特徴とする。
本発明によれば、上型(2)と下型(1)との型締めが解除された状態において、ポットブロック(9)が下型(1)に対して摺動しながら上昇する。これにより、すき間(18)に侵入した流動性樹脂(17)が硬化して余分な硬化樹脂(19)が形成された場合であっても、ポットブロック(9)の上昇によって、その余分な硬化樹脂(19)が掻き出されることが可能になる。したがって、下型(1)とポットブロック(9)との滑らかな摺動が確保される。これにより、まず、ポットブロック(9)の上面と上型(2)の下面との間におけるすき間(20)の発生が防止されるので、このすき間(20)における樹脂ばりの発生が防止される。また、基板(16)において損傷が発生することが防止される。
また、皿ばねユニット(7)を介することなく、下型(1)と上型(2)とにより、適当な圧力、すなわち、適当なクランプ圧で基板(16)が挟持される。これにより、皿ばねユニット(7)の弾性を使用して基板(16)を挟持する場合に比較して、下型(1)又は上型(2)の動作を制御することにより、適当なクランプ圧で基板(16)が挟持される。したがって、基板(16)の板厚についてばらつきや規格の相違があった場合においても、基板(16)における損傷の発生が防止され、更に、皿ばね(6)やスペーサ(8)等の調整が不要になる。
また、昇降手段(21,26)によってポットブロック(9)が上昇し、上型(2)と下型(1)とが型締めした状態において、昇降手段(21,26)によってポットブロック(9)が上型(2)に対して押し当てられる。これにより、ポットブロック(9)の上面と上型(2)の下面との間におけるすき間(20)の発生が防止されるので、このすき間(20)における樹脂ばりの発生が防止される。
また、上型(2)と下型(1)とが型締めし、ポットブロック(9)の側壁に対して基板(16)が押し当てられた状態で、すなわち、ポットブロック(9)の側壁と基板(16)の端面との間にすき間が生じない状態で、流動性樹脂(17)がキャビティ(15)に注入される。これにより、下型(1)とポットブロック(9)との間に設けられたすき間(18)に流動性樹脂(17)が侵入することが防止される。したがって、このすき間(18)に余分な硬化樹脂(19)が形成されないので、下型(1)とポットブロック(9)との滑らかな摺動が確保される。これにより、ポットブロック(9)の上面と上型(2)の下面との間におけるすき間(20)における樹脂ばりの発生が防止され、基板(16)における損傷の発生が防止される。
下型(1)には、下型(1)の一部を構成する基板ブロック(5)と、ポットブロック(9)とが配置されている。ポットブロック(9)は、基板ブロック(5)に対して摺動しながら昇降できるように、下型(1)に対してコイルばね(21)によって弾性支持されている。上型(2)には、ピン(24)が水平方向に進退可能に設けられている。そして、まず、上型(2)と下型(1)との型締めが完了する前に、基板ブロック(5)上に配置された基板(16)は、ピン(24)によってポットブロック(9)に適当な圧力で押し当てられる。また、上型(2)と下型(1)とが型締めした状態において、基板(16)は上型(2)と基板ブロック(5)とによって適当なクランプ圧で挟持され、ポットブロック(9)はコイルばね(21)によって上型(2)に対して適当な圧力で押し当てられる。また、上型(2)と下型(1)との型締めが解除された状態において、ポットブロック(9)は、コイルばね(21)が伸長することによって押圧されるとともに、基板ブロック(5)に対して摺動しながら上昇する。
本発明に係る樹脂封止装置の実施例1を、図1を参照して説明する。図1(1)は本実施例に係る樹脂封止装置における型締め直前の状態を、図1(2)は型締めされた状態でキャビティに流動性樹脂が注入される状態を、それぞれ示す断面図である。図1に示されているように、本実施例では、下型1に設けられた凹部4には、凹部4の底面に接するようにして、下型1の一部を構成する基板ブロック5が配置されている。すなわち、基板ブロック5は、皿ばねユニット等の弾性部材を介することなく、下型1の凹部4に直接配置されている。また、本実施例では、ポットブロック9は、下型1に対してコイルばね21を介して弾性支持されている。すなわち、ポットブロック9の下面に設けられた嵌装孔22と、下型1の凹部4の底面において嵌装孔22に相対向するようにして設けられた嵌装孔23とに、コイルばね21が嵌装されている。
本実施例に係る樹脂封止装置の動作を、説明する。まず、図1(1)に示すように、上型2と下型1とが型開きした状態では、ポットブロック9の上面が、基板16の上面に対して突出している。この状態から上型2が下降して、上型2と下型1とを型締めする。
次に、上型2の型面がポットブロック9の上面と基板16の上面とに順次接触して、図1(2)に示すように、上型2が所定のクランプ圧でポットブロック9と基板16とを押圧する。これにより、ポットブロック9を介してコイルばね21が圧縮されるとともに、ポットブロック9が下降して上型2と下型1とが型締めされる。その後に、溶融樹脂17をキャビティ15に注入して硬化させ、硬化樹脂(図示なし)を形成する。
ここで、上型2がポットブロック9と基板16とを押圧するクランプ圧は、次の2つの条件を満たすようにして予め定められている。第1に、クランプ圧は、基板16の特性に応じて、基板16に損傷が生じない程度の値に定められている。そして、このクランプ圧は、下型1又は上型2の動作を制御することによって可変になっている。言い換えれば、このクランプ圧は、その値を検出するセンサと、検出された値に基づいて上型2又は下型1(図1では上型2)の昇降を制御する制御手段によって、制御される。第2に、クランプ圧は、そのクランプ圧とコイルばね21によってポットブロック9が上型2に対して押し当てられる圧力との和が、ポットブロック9と上型2との間にすき間(図5(2)のすき間20を参照)が発生しない程度に、すなわち、流動性樹脂17の漏れ出しが発生しない程度に、十分大きくなるように定められている。また、基板16は、上型2と、弾性部材を介することなく下型1に配置された基板ブロック5とによって挟持される。したがって、この工程においては、まず、基板16の特性に応じた適当なクランプ圧がその基板16に直接印加されるので、基板16の損傷が防止される。また、ポットブロック9と上型2との間において、すき間の発生が防止されるので、樹脂ばりの発生が防止される。これらにより、成形体における不良品の発生が防止される。
次に、上型2が上昇して、上型2と下型1とを型開きする。この際に、上型2が上昇し始めると、すなわち、上型2と下型1との型締めが解除された状態になると、ポットブロック9は、コイルばね21が伸長することにより押圧され上昇して、図1(1)に示された位置にまで復帰する。また、これに伴い、ポットブロック9が基板ブロック5に対して摺動しながら上昇する。これにより、ポットブロック9と基板ブロック5との間のすき間18に侵入した流動性樹脂17が硬化して、余分な硬化樹脂(図5(2)の余分な硬化樹脂19を参照)が形成された場合であっても、上昇するポットブロック9によってその余分な硬化樹脂が掻き出される。したがって、ポットブロック9の滑らかな昇降が確保される。なお、この工程では、下型1に設けられたエジェクトピン(図示なし)が下型1から成形体を突き出し、その後に、搬送機構(図示なし)がその成形体を搬出する。
本実施例によれば、ポットブロック9と基板ブロック5との間のすき間18に形成された余分な硬化樹脂が、ポットブロック9の上昇により掻き出される。したがって、下型1の基板ブロック5とポットブロック9との滑らかな摺動が確保される。また、上型2と下型1とが型締めした状態において、ポットブロック9が適当な圧力で上型2に押し当てられる。したがって、ポットブロック9の上面と上型2の下面との間におけるすき間の発生が防止されるので、このすき間における樹脂ばりの発生が防止される。また、上型2と下型1とが型締めした状態において、基板16が適当なクランプ圧により挟持される。したがって、基板16の損傷が防止されるとともに、基板16の板厚についてのばらつきや規格の相違があった場合においても、皿ばねやスペーサ等(図4,図5の皿ばね6及びスペーサ8を参照)の調整が不要になる。
なお、本実施例では、弾性部材であるコイルばね21が、ポットブロック9を昇降させる昇降手段として機能する。すなわち、上型2と下型1とが型締めする際には、上型2がポットブロック9を押圧し、これによりコイルばね21が圧縮してポットブロック9を下降させる。また、上型2と下型1とが型開きする際には、コイルばね21が伸長してポットブロック9を上昇させる。
本発明に係る樹脂封止装置の実施例2を、図2を参照して説明する。図2(1)は本実施例に係る樹脂封止装置において型締め直前に基板がポットブロックに押し当てられた状態を、図2(2)は型締めされた状態でキャビティに流動性樹脂が注入される状態を、それぞれ示す断面図である。図2に示されているように、本実施例は、実施例1の構成に加えて、流動性樹脂が注入される状態で、基板16がポットブロック9に押し当てられていることを特徴とする。具体的には、上型2において、水平方向に進退可能な可動部材、すなわち、ピン24が設けられている。また、下型1におけるピン24に相対向する位置には、ピン24の可動範囲に応じて溝25が設けられており、上型2と下型1とが型締めされた状態でピン24が溝25に収容されるようになっている。
本実施例に係る樹脂封止装置は、次のようにして動作する。まず、図2(1)に示すように、上型2と下型1との型締めが完了する前に、ピン24を使用して、基板16をポットブロック9に適当な圧力で押し当てる。そして、この状態から上型2が下降して、上型2と下型1とを型締めする。この過程で、ピン24とポットブロック9とは、基板16の両端面に対して、それぞれ接触して摺動しながら下降する。
次に、図2(2)に示すように、上型2と下型1とを型締めして、かつ、ピン24によって基板16をポットブロック9に適当な圧力で押し当てた状態で、溶融樹脂17をキャビティ15に注入して硬化させる。この工程では、基板16がポットブロック9に押し当てられているので、基板16の端面(図では右側)とポットブロック9の側壁との間にすき間が生じることが防止される。したがって、基板ブロック5とポットブロック9との側壁同士の間に設けられたすき間18に流動性樹脂17が侵入しないので、すき間18における余分な硬化樹脂(図5(2)の余分な硬化樹脂19を参照)の形成が防止される。
以上説明したように、本実施例によれば、実施例1におけるのと同様の効果に加えて、次の効果が得られる。すなわち、基板ブロック5とポットブロック9との間に設けられたすき間18において余分な硬化樹脂の形成が防止されるので、下型1とポットブロック9との滑らかな摺動が確保される。
なお、上述の説明においては、基板16をポットブロック9に押し当てるピン24を、上型2の側に設けた。これに限らず、ピン24を下型1の側に設けてもよい。また、ピン24を、下型1と上型2とは独立させて、下型1の側方に設けることもできる。更に、いずれの場合においても、ピン24が、ポットブロック9に対して基板16を押し当てて、上型2と下型1とが型締めされた後に後退することとしてもよい。また、ピン24が、上型2と下型1とが型締めされた状態においても、基板16をポットブロック9に押し当て続けることとしてもよい。
また、下型1において、凹部4の底面に直接接するようにして基板ブロック5を配置した。これに限らず、弾性部材(図4,図5の皿ばねユニット7を参照)により基板ブロック5が弾性支持された状態で、ピン24が基板16をポットブロック9に押し当ててもよい。このことにより、基板ブロック5とポットブロック9との間のすき間18において余分な硬化樹脂の形成が防止されるので、それぞれ下型1において弾性支持された、基板ブロック5とポットブロック9との滑らかな摺動が確保される。更に、凹部4にポットブロック9を直接配置するとともに、基板ブロック5を弾性支持してもよい。この場合においても、すき間18において余分な硬化樹脂の形成が防止されるので、基板ブロック5とポットブロック9との滑らかな摺動が確保される。そして、いずれの場合においても、弾性部材として他の形式のばねを使用してもよく、金属材料、金属を含む複合材料、高分子材料等を使用してもよい。
本発明に係る樹脂封止装置の実施例3を、図3を参照して説明する。図3(1)は本実施例に係る樹脂封止装置において型締めされ基板がポットブロックに押し当てられた状態でキャビティに流動性樹脂が注入される状態を、図3(2)は上型と下型とが型開きする状態を、それぞれ示す断面図である。図3に示されているように、本実施例は、上型2と下型1との型締めを解除した後に、コイルばね21とは別の昇降手段として設けられた突き上げバー26が動作することを特徴とする。この突き上げバー26は、プランジャ11の軸を保持する保持部材27の外側に設けられている、筒状部材又は複数の板状部材である。また、突き上げバー26は、適当な突き上げ力を有する駆動手段(図示なし)に連結され、昇降可能に設けられている。そして、突き上げバー26によって突き上げられるポットブロック9は、コイルばね21によって押圧された場合にコイルばね21が伸びきった時点で到達する位置よりも、更に上まで上昇する。
本実施例に係る樹脂封止装置は、次のようにして動作する。まず、上型2と下型1とが型開きした状態で、突き上げバー26は、ポットブロック9に対して離間しており、初期位置に待機している。
次に、図3(1)に示すように、上型2が下降することによって、図1(2)と同様にして上型2と下型1とを型締めする。そして、その状態において、コイルばね21がポットブロック9を適当な圧力で上型2に押し当てる。また、実施例2と同様に、上型2と下型1との型締めが完了する前に、ピン24を使用して、基板16をポットブロック9に適当な圧力で押し当てる。なお、この工程以降において、ピン24は実施例2と同様の動作を行うが、ピン24を設けない構成を採用することも可能である。
次に、流動性樹脂17の注入と硬化とを行って、基板16と硬化樹脂28とを含む成形体29を完成させ、その後に、上型2を上昇させる。ここで、上型2が上昇し始めると、すなわち、上型2と下型1との型締めが解除された状態になると、コイルばね21が伸長することによりポットブロック9を押圧して、ポットブロック9を初期位置(図1(1)を参照)にまで復帰させる。また、この工程以降においては、ポットブロック9の上昇とともに、下型1に設けられたエジェクトピン30が下型1から成形体29を突き出す。更に、上型2に設けられたエジェクトピン(図示なし)が、上型2から成形体29を突き出す。
次に、図3(2)に示すように、突き上げバー26が上昇して、ポットブロック9を更に上昇させる。その後に、エジェクトピン30によって下型1から突き出された成形体29を、搬送機構(図示なし)が搬出する。
本実施例によれば、コイルばね21の伸長によりポットブロック9が上昇し得る位置よりも更に上まで、突き上げバー26がポットブロック9を上昇させる。これにより、ポットブロック9と基板ブロック5との間におけるすき間18の下方に余分な硬化樹脂が形成された場合であっても、突き上げバー26がポットブロック9を上昇させることにより、その余分な硬化樹脂が掻き出される。また、すき間18において、余分な硬化樹脂がポットブロック9と基板ブロック5とに強固に付着している場合であっても、大きな突き上げ力で突き上げバー26を上昇させることにより、その余分な硬化樹脂が掻き出される。したがって、すき間18の下方に余分な硬化樹脂が形成された場合であっても、下型1とポットブロック9との滑らかな摺動がいっそう効果的に確保される。
なお、本実施例では、昇降手段としてコイルばね21と突き上げバー26とを併用したが、これに代えて、突き上げバー26を単独で使用することもできる。この場合には、突き上げバー26が、ポットブロック9を昇降させる昇降手段として機能する。更に、この場合には、上型2と下型1とが型締めした状態で、突き上げバー26によって、上型2に対してポットブロック9が適当な圧力で押圧されることが好ましい。したがって、上型2に対してポットブロック9が押圧される圧力を検出するセンサと、その検出値に応じて突き上げバー26の昇降を制御する制御手段とを備えておくことが好ましい。
なお、上述した各実施例においては、下型1に設けられた凹部4に、その凹部4の底面に接するようにして、下型1の一部を構成する基板ブロック5が配置されるようにした。これに限らず、基板ブロック5を下型1に一体化させることもできる。
また、ポットブロック9を支持する弾性部材として、コイルばね21を使用した。これに代えて、弾性部材として他の形式のばねを使用してもよい。また、所定の弾性、耐久性、及び耐熱性を有する材料であれば、弾性部材として、金属材料、金属を含む複合材料、高分子材料等を使用することができる。
また、上型2を下降させることにより、上型2と下型1とを型締めすることとした。これに限らず、下型1を上昇させて、又は、上型2と下型1とを相対的に移動させて、上型2と下型1とを型締めしてもよい。
また、図1−図3においてポットブロック9を挟んで基板16を配置して、それらに装着されたチップ状素子を同時に樹脂封止することもできる。この構成によれば、樹脂封止する際の効率をいっそう向上させることができる。
また、本発明は、上述の各実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で、必要に応じて、任意にかつ適宜に組み合わせ、変更し、又は選択して採用できるものである。
図1(1)は実施例1に係る樹脂封止装置における型締め直前の状態を、図1(2)は型締めされた状態でキャビティに流動性樹脂が注入される状態を、それぞれ示す断面図である。 図2(1)は実施例2に係る樹脂封止装置において型締め直前に基板がポットブロックに押し当てられた状態を、図2(2)は型締めされた状態でキャビティに流動性樹脂が注入される状態を、それぞれ示す断面図である。 図3(1)は実施例3に係る樹脂封止装置において型締めされ基板がポットブロックに押し当てられた状態でキャビティに流動性樹脂が注入される状態を、図3(2)は上型と下型とが型開きする状態を、それぞれ示す断面図である。 図4(1)は従来の樹脂封止装置における型締め直前の状態を、図4(2)は型締めされた状態でキャビティに流動性樹脂が注入される状態を、それぞれ示す断面図である。 図5(1)は従来の樹脂封止装置において流動性樹脂の侵入が発生した状態を、図5(2)は侵入した流動性樹脂が硬化して基板ブロックの昇降を阻害する状態を、それぞれ示す断面図である。
符号の説明
1 下型
2 上型
3 樹脂封止型
4 凹部
5 基板ブロック
6 皿ばね
7 皿ばねユニット
8 スペーサ
9 ポットブロック
10 ポット
11 プランジャ
12 樹脂タブレット
13 カル(樹脂流路)
14 ランナ(樹脂流路)
15 キャビティ
16 基板
17 流動性樹脂
18,20 すき間
19 余分な硬化樹脂
21 コイルばね(昇降手段)
22,23 嵌装孔
24 ピン(可動部材)
25 溝
26 突き上げバー(昇降手段)
27 保持部材
28 硬化樹脂
29 成形体
30 エジェクトピン
P.L. 型合せ面

Claims (4)

  1. チップ状素子が装着された基板が配置される下型と、該下型において昇降可能に嵌装されたポットブロックと、該ポットブロックに設けられ流動性樹脂が貯留されるポットと、該ポットにおいて昇降可能に嵌装され前記流動性樹脂を圧送するプランジャと、前記下型に相対向して設けられた上型と、該上型に設けられ前記チップ状素子が収容されるキャビティと、前記上型に設けられ前記ポットと前記キャビティとを連通する樹脂流路とを有しており、前記キャビティに注入された流動性樹脂が硬化して形成された硬化樹脂により前記チップ状素子を樹脂封止する樹脂封止装置であって、
    前記ポットブロックを昇降させる昇降手段を備えるとともに、
    前記上型と前記下型とが型締めした状態において前記上型と前記下型とにより適当な圧力で前記基板が挟持され、
    各々前記昇降手段により、前記上型と前記下型とが型締めした状態において前記ポットブロックが前記上型に押し当てられており、かつ、前記上型と前記下型との型締めが解除された状態において前記ポットブロックが前記下型の少なくとも一部に対して摺動しながら上昇することを特徴とする樹脂封止装置。
  2. チップ状素子が装着された基板が配置される下型と、該下型において嵌装されたポットブロックと、該ポットブロックに設けられ流動性樹脂が貯留されるポットと、該ポットにおいて昇降可能に嵌装され前記流動性樹脂を圧送するプランジャと、前記下型に相対向して設けられた上型と、該上型に設けられ前記チップ状素子が収容されるキャビティと、前記上型に設けられ前記ポットと前記キャビティとを連通する樹脂流路とを有しており、前記キャビティに注入された流動性樹脂が硬化して形成された硬化樹脂により前記チップ状素子を樹脂封止する樹脂封止装置であって、
    前記上型と前記下型との型締めが完了する前に前記ポットブロックの側壁に対して前記基板を押し当てる可動部材を備えるとともに、
    前記ポットブロックと前記下型の少なくとも一部とが相対的に昇降可能であり、
    前記ポットブロックの側壁に対して前記基板が押し当てられた状態で前記流動性樹脂が前記キャビティに注入されることを特徴とする樹脂封止装置。
  3. チップ状素子が装着された基板が配置される下型と、該下型において昇降可能に嵌装されたポットブロックと、該ポットブロックに設けられ流動性樹脂が貯留されるポットと、該ポットにおいて昇降可能に嵌装され前記流動性樹脂を圧送するプランジャと、前記下型に相対向して設けられた上型と、該上型に設けられ前記チップ状素子が収容されるキャビティと、前記上型に設けられ前記ポットと前記キャビティとを連通する樹脂流路とを有する樹脂封止装置を使用して、前記キャビティに注入した流動性樹脂を硬化させて形成した硬化樹脂により前記チップ状素子を樹脂封止する樹脂封止方法であって、
    前記上型と前記下型とが適当な圧力で前記基板を挟持する工程と、
    前記上型に対して前記ポットブロックを押し当てる工程と、
    前記挟持する工程と前記押し当てる工程とにより前記上型と前記下型とを型締めする工程と、
    前記プランジャによって前記キャビティに前記流動性樹脂を注入する工程と、
    前記流動性樹脂を硬化させる工程と、
    前記上型と前記下型との型締めを解除した後に前記ポットブロックを前記下型の少なくとも一部に対して摺動させながら上昇させる工程とを備えたことを特徴とする樹脂封止方法。
  4. チップ状素子が装着された基板が配置される下型と、該下型において前記下型の少なくとも一部に対して相対的に昇降可能に嵌装されたポットブロックと、該ポットブロックに設けられ流動性樹脂が貯留されるポットと、該ポットにおいて昇降可能に嵌装され前記流動性樹脂を圧送するプランジャと、前記下型に相対向して設けられた上型と、該上型に設けられ前記チップ状素子が収容されるキャビティと、前記上型に設けられ前記ポットと前記キャビティとを連通する樹脂流路とを有する樹脂封止装置を使用して、前記キャビティに注入した流動性樹脂を硬化させて形成した硬化樹脂により前記チップ状素子を樹脂封止する樹脂封止方法であって、
    前記上型と前記下型とが前記基板を挟持する工程と、
    前記上型に対して前記ポットブロックを押し当てる工程と、
    前記挟持する工程と前記押し当てる工程とにより前記上型と前記下型とを型締めする工程と、
    前記上型と前記下型との型締めが完了する前に前記ポットブロックの側壁に対して前記基板を押し当てる工程と、
    前記ポットブロックの側壁に対して前記基板が押し当てられた状態で前記プランジャによって前記キャビティに前記流動性樹脂を注入する工程と、
    前記流動性樹脂を硬化させる工程と、
    前記上型と前記下型とを型開きする工程とを備えたことを特徴とする樹脂封止方法。
JP2004070334A 2004-03-12 2004-03-12 樹脂封止装置及び樹脂封止方法 Expired - Lifetime JP4426880B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004070334A JP4426880B2 (ja) 2004-03-12 2004-03-12 樹脂封止装置及び樹脂封止方法
TW94103667A TWI253724B (en) 2004-03-12 2005-02-04 Resin sealing apparatus and resin sealing method
SG200500899A SG115730A1 (en) 2004-03-12 2005-02-16 Resin sealing apparatus and resin sealing method
KR1020050015772A KR100698676B1 (ko) 2004-03-12 2005-02-25 수지 밀봉장치 및 수지 밀봉 방법
CN 200510054534 CN1666851A (zh) 2004-03-12 2005-03-10 树脂封止装置和树脂封止方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004070334A JP4426880B2 (ja) 2004-03-12 2004-03-12 樹脂封止装置及び樹脂封止方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005260026A true JP2005260026A (ja) 2005-09-22
JP4426880B2 JP4426880B2 (ja) 2010-03-03

Family

ID=35038212

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004070334A Expired - Lifetime JP4426880B2 (ja) 2004-03-12 2004-03-12 樹脂封止装置及び樹脂封止方法

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP4426880B2 (ja)
KR (1) KR100698676B1 (ja)
CN (1) CN1666851A (ja)
SG (1) SG115730A1 (ja)
TW (1) TWI253724B (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009166382A (ja) * 2008-01-17 2009-07-30 Apic Yamada Corp 金型装置
JP2011009589A (ja) * 2009-06-29 2011-01-13 Towa Corp 樹脂封止型及び樹脂封止方法
JP2012080039A (ja) * 2010-10-06 2012-04-19 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置の製造方法
KR20130001919U (ko) * 2011-09-15 2013-03-25 세메스 주식회사 기판 몰딩 장치
WO2013051055A1 (ja) * 2011-10-04 2013-04-11 株式会社佐藤精機 射出成形装置
JP2014008761A (ja) * 2012-07-03 2014-01-20 Apic Yamada Corp 樹脂封止装置
JP2015051557A (ja) * 2013-09-06 2015-03-19 アピックヤマダ株式会社 モールド金型及び樹脂モールド装置並びに樹脂モールド方法
JP2016134545A (ja) * 2015-01-21 2016-07-25 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置の製造方法
WO2018211909A1 (ja) * 2017-05-18 2018-11-22 アピックヤマダ株式会社 モールド金型及び樹脂モールド方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5539814B2 (ja) * 2010-08-30 2014-07-02 Towa株式会社 基板露出面を備えた樹脂封止成形品の製造方法及び装置
EP2660858A4 (en) * 2010-12-27 2016-03-30 Nissan Motor SEMICONDUCTOR MODULE, MOLDING DEVICE AND MOLDING PROCESS
JP6143665B2 (ja) * 2013-12-26 2017-06-07 Towa株式会社 半導体封止方法及び半導体封止装置
KR102022328B1 (ko) * 2018-01-15 2019-11-04 (주)디엠씨 반제품 방수검사장치
CN112802776B (zh) * 2020-12-31 2023-10-20 苏州首肯机械有限公司 伺服半导体封装压机智能化压力控制系统及控制方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3127889B2 (ja) * 1998-06-25 2001-01-29 日本電気株式会社 半導体パッケージの製造方法およびその成形用金型

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009166382A (ja) * 2008-01-17 2009-07-30 Apic Yamada Corp 金型装置
JP2011009589A (ja) * 2009-06-29 2011-01-13 Towa Corp 樹脂封止型及び樹脂封止方法
JP2012080039A (ja) * 2010-10-06 2012-04-19 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置の製造方法
KR20130001919U (ko) * 2011-09-15 2013-03-25 세메스 주식회사 기판 몰딩 장치
KR200479309Y1 (ko) 2011-09-15 2016-01-14 세메스 주식회사 기판 몰딩 장치
WO2013051055A1 (ja) * 2011-10-04 2013-04-11 株式会社佐藤精機 射出成形装置
US9505155B2 (en) 2011-10-04 2016-11-29 Satoseiki Co., Ltd. Injection molding apparatus
JP2014008761A (ja) * 2012-07-03 2014-01-20 Apic Yamada Corp 樹脂封止装置
JP2015051557A (ja) * 2013-09-06 2015-03-19 アピックヤマダ株式会社 モールド金型及び樹脂モールド装置並びに樹脂モールド方法
JP2016134545A (ja) * 2015-01-21 2016-07-25 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置の製造方法
WO2018211909A1 (ja) * 2017-05-18 2018-11-22 アピックヤマダ株式会社 モールド金型及び樹脂モールド方法
JP2018192712A (ja) * 2017-05-18 2018-12-06 アピックヤマダ株式会社 モールド金型及び樹脂モールド方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN1666851A (zh) 2005-09-14
KR20060042228A (ko) 2006-05-12
JP4426880B2 (ja) 2010-03-03
KR100698676B1 (ko) 2007-03-23
TWI253724B (en) 2006-04-21
SG115730A1 (en) 2005-10-28
TW200531238A (en) 2005-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100698676B1 (ko) 수지 밀봉장치 및 수지 밀봉 방법
JP5776094B2 (ja) 樹脂モールド方法および樹脂モールド装置
JP2016181548A (ja) 樹脂封止装置及び樹脂封止方法
JP5352896B2 (ja) トランスファ成形方法及びトランスファ成形装置
JP6345883B2 (ja) 磁石埋込み型コアの製造方法
KR101440218B1 (ko) 수지봉지 성형장치
KR102192241B1 (ko) 반송 기구, 수지 성형 장치, 성형 대상물의 성형 다이로의 전달 방법, 및 수지 성형품의 제조 방법
JP6598642B2 (ja) 樹脂封止装置及び樹脂封止方法
US11981059B2 (en) Conveying apparatus and resin molding apparatus
JP2017092220A (ja) 樹脂封止装置及び樹脂封止方法
JP3423912B2 (ja) 電子部品、電子部品の樹脂封止方法、及び樹脂封止装置
JP5958505B2 (ja) 樹脂封止装置およびその封止方法
JP5218573B2 (ja) 樹脂成形装置
JP2019005902A (ja) モールド金型及び樹脂モールド方法
JP6804275B2 (ja) 成形型、樹脂成形装置及び樹脂成形方法
JP2002343819A (ja) 樹脂封止方法及び基板クランプ機構
JP2009170475A (ja) 半導体装置製造設備および半導体装置の製造方法
JP3612063B2 (ja) 樹脂封止金型、それを用いた樹脂封止方法および樹脂封止装置
KR20060050312A (ko) 수지 밀봉 형
JP4481705B2 (ja) 半導体素子封止装置および半導体素子封止方法
JP2017177554A (ja) 回路装置、回路装置の製造装置及びその製造方法
KR101143939B1 (ko) 하형 블록 및 이를 포함하는 전자 부품 몰딩용 금형 유닛
KR102071561B1 (ko) 반도체 패키지용 몰딩 장치
JP2004130590A (ja) 樹脂成形金型及び樹脂成形方法
JP4226023B2 (ja) 樹脂封止金型および樹脂封止方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070214

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081021

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090818

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091015

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091201

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091211

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4426880

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121218

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131218

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term