JP2005251264A - 垂直磁気記録媒体およびその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 媒体ノイズの低減化を図ると共に、記録されている磁化の熱安定性を向上させ、高記録密度で記録再生特性に優れる垂直磁気記録媒体を提供すること。
【解決手段】 非磁性の基板1上に磁性層6を備えている垂直磁気記録媒体において、磁性層6は、第1の磁性層6aであるCo層と第2の磁性層6bであるPd層とを交互に多層積層して構成され、第2の磁性層6bには、SiOを添加する。KuとKuとの比を所定の値以上とすることにより、ヘッドによる垂直磁気記録媒体への書き込みやすさと記録された磁化の熱安定性との両立をさらに向上することが可能となる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、垂直磁気記録媒体に関し、より詳細には、高記録密度で記録再生特性に優れる垂直磁気記録媒体に関する。
近年、パーソナルコンピュータやワークステーションの高機能化に伴って搭載される記録装置は、大容量で小型の磁気記録装置が求められている。このような背景から、記録装置の磁気ディスクにはさらなる高記録密度化が要求されている。
現在実用化されている磁気記録方式は、磁化容易軸が磁気記録媒体面に平行となる「面内(長手)磁気記録方式」である。この面内磁気記録方式において記録密度を向上させるためには、記録媒体が備える磁性膜の残留磁化(Br)と磁性層膜厚(t)との積を小さくする必要があることに加え、保持力(Hc)も増大させる必要がある。このため、磁性膜の膜厚を薄くして結晶粒径を制御するための試みがなされている。
しかしながら、面内磁気記録方式においては、ビット長の短縮化に伴って反磁界が増加し残留磁束密度が減少するために再生出力が低下するという問題があり、さらに、結晶粒の微細化や磁性膜の薄膜化に伴って顕在化してくる「熱揺らぎ問題」もある。このような理由から、現在では、面内磁気記録方式によって磁気ディスクの高密度化を図ることは技術的に限界があると予想されている。
一方、これらの問題を解決しつつ面記録密度を向上させるために「垂直磁気記録方式」が検討されている。垂直磁気記録方式では、磁性膜の磁化容易軸が基板面に対し垂直方向に配向するように磁気記録媒体を設計する。従って、磁化遷移領域において隣接する磁化同士が相互に向き合うことがなく、ビット長が短くなっても磁化が安定で、かつ、磁束の減少もなく、高密度磁気記録媒体の磁気記録方法として適している。
このような利点の反面、垂直磁気記録媒体には、磁性層中の磁性粒界相互間の領域への非磁性元素の偏析が充分に行なわれず、その結果、磁性粒間の磁気的相互作用が大きくなり、媒体ノイズが高くなり易いという問題がある。したがって、非磁性元素の粒界偏析を促進可能な材料制御技術を開発することにより、媒体ノイズを低減させ、SN比を向上させた上で高密度記録化を達成することが求められている。
そこで公知の垂直磁気記録媒体の構成として、例えば、アルミやガラス等の非磁性基板上に軟磁性の裏打ち層を形成し、その上に磁性層を垂直に配向させるための下地層を形成し、さらに、その上に垂直磁気記録層と保護層を形成するという「2層垂直磁気記録媒体」が知られている。この垂直磁気記録層として、Co‐Cr、Co‐Cr‐Ta、Co‐Cr‐PtなどのCo基合金からなる垂直磁化膜、Pt/CoやPd/Coなどの多層積層垂直磁化膜、Tb‐CoやTb‐Fe‐Coなどの非晶質垂直磁化膜、などの多くの多層膜構成が検討されている。
なかでも、Pt/CoやPd/Coなどの多層積層垂直磁化膜は、垂直磁気異方性が大きく、熱安定性が高く、保磁力が大きく、さらに、角型比も容易に1.0近傍の値が得られることなどの理由により、将来の高記録密度媒体として盛んに研究されている。しかしながら、これらの多層膜媒体はいわゆる媒体ノイズが大きく、このノイズの低減が実用化に向けての課題である。
このような媒体ノイズの低減のため、下地層へのグラニュラー層の適応が行われてきた。また、特許文献1では、媒体ノイズの低減のために、CoとPtまたはPdとを交互に積層した多層積層垂直磁化膜中にB元素またはO元素を含有させた垂直磁気記録媒体が開示されている。
特開2002−25032号公報
しかしながら、特許文献1に開示された垂直磁気記録媒体では、多層積層中のCo層やPt層またはPd層へのB元素やO元素の添加により、垂直磁気異方性定数Ku(本明細書では「Ku」とも呼ぶ)の低下を招いてしまい、記録された磁化の熱安定性の低下の原因になってしまう。よって、熱安定性を確保するために垂直磁気異方性定数Kuを大きく保ちながら、媒体ノイズを下げるようにすることが重要である。
以上から明らかなように、垂直磁気記録媒体は、優れた高密度記録の実現に大いに期待されているが、まだ改善しなければならない課題が残されている。特に、媒体ノイズを低減させると共に、熱安定性を向上させなければならない。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、媒体ノイズの低減化を図ると共に、記録されている磁化の熱安定性を向上させ、高記録密度で記録再生特性に優れる垂直磁気記録媒体を提供することにある。
本発明は、このような目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、非磁性の基板上に磁性層を備えている垂直磁気記録媒体であって、前記磁性層は、第1の磁性層であるCo層と第2の磁性層であるPd層とを交互に多層積層して構成され、該第2の磁性層には、Si酸化物が添加されていることを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1記載の垂直磁気記録媒体において、前記磁性層の結晶磁気異方性エネルギーは、E≒Kusinθ+Kusinθで近似され、ここでKuおよびKuは一軸異方性定数であり、θは自発磁化と磁性層の磁化容易軸とのなす角であり、結晶磁気異方性定数KuはKu=Ku+Kuの関係にあり、前記磁性層の磁化がほぼ飽和した条件でトルク磁力計で磁気異方性を測定した場合の前記Kuおよび前記Kuは、Ku/Ku≧0.25の関係を満たすことを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項1または2記載の垂直磁気記録媒体において、前記Si酸化物の添加の量は、2〜8mol%の濃度範囲であることを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項1乃至3のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体において、前記第1の磁性層の膜厚は0.2〜0.5nmであり、前記第2の磁性層の膜厚は0.6〜1.0nmであることを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、請求項1乃至4のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体において、前記磁性層と前記基板との間に下地層を備え、前記磁性層は該下地層の直上に設けられていることを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、請求項5記載の垂直磁気記録媒体において、前記下地層は、Ru膜であることを特徴とする。
請求項7に記載の発明は、請求項5または6記載の垂直磁気記録媒体において、前記下地層の厚みは、5〜20nmであることを特徴とする。
請求項8に記載の発明は、請求項5乃至7のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体において、前記下地層の表面は、酸素吸着されていることを特徴とする。
請求項9に記載の発明は、請求項5乃至8のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体において、前記基板と前記下地層との間に該下地層の結晶配向をC軸配向させるための配向制御層を設けることを特徴とする。
請求項10記載の発明は、請求項9記載の垂直磁気記録媒体において、前記配向制御層は、第1の配向制御層と第2の配向制御層とを積層させて構成されていることを特徴とする。
請求項11に記載の発明は、請求項10記載の垂直磁気記録媒体において、前記第1の配向制御層はTa層であり、前記第2の配向制御層はNiFeNbB層、NiFeCr層またはNiFeSi層のうちのいずれかであることを特徴とする。
請求項12に記載の発明は、請求項11記載の垂直磁気記録媒体において、前記NiFeNbB層の組成は、Niが64〜86at%、Feが10〜20at%、Nbが2〜10%、Bが2〜6at%の範囲であり、前記NiFeCr層の組成は、Niが50〜70at%、Feが10〜20at%、Crが20〜30at%の範囲であり、前記NiFeSi層の組成は、Niが70〜88at%、Feが10〜20at%、Siが2〜10at%の範囲であり、前記各組成は、各元素の組成比の合計が100%になるようにすることを特徴とする。
請求項13に記載の発明は、請求項10乃至12のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体において、前記第1の配向制御層の厚みは1〜5nmであり、前記第2の配向制御層の厚みは5〜30nmであることを特徴とする。
請求項14に記載の発明は、請求項10乃至13のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体において、前記基板と前記第1の配向制御層との間に、軟磁性の裏打ち層が設けられていることを特徴とする。
請求項15に記載の発明は、請求項14記載の垂直磁気記録媒体において、前記裏打ち層は、CoZrNbまたはCoZrTaの合金組成を有し、50〜300nmの膜厚であることを特徴とする。
請求項16に記載の発明は、垂直磁気記録媒体の製造方法であって、非磁性の基板上に、Ru膜の下地層を成膜する下地層成膜工程と、前記下地層の直上に第1の磁性層であるCo層とSi酸化物が添加された第2の磁性層であるPd層とを交互に多層積層して磁性層を成膜する成膜工程とを有することを特徴とする。
請求項17に記載の発明は、請求項16記載の垂直磁気記録媒体の製造方法において、前記成膜工程は、CoのターゲットおよびPdに2〜8molの濃度範囲でSi酸化物を添加させた組成のターゲットを用いるスパッタ法であることを特徴とする。
請求項18に記載の発明は、請求項16または17記載の垂直磁気記録媒体の製造方法において、前記下地層成膜工程では、前記下地層の表面を、質量流量比1〜10%の酸素を混合したガス圧0.1〜10PaのArガス中に1〜10秒間曝して前記下地層の表面に酸素を吸着させることを特徴とする。
請求項19に記載の発明は、請求項16乃至18のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体の製造方法において、前記下地層成膜工程に先立って、前記基板上に前記下地層の結晶配向をC軸配向させるための第1の配向制御層であるTa層と第2の配向制御層であるNiFeNbB層、NiFeCr層またはNiFeSi層のうちのいずれかを成膜する配向制御層成膜工程をさらに有し、前記配向制御層成膜工程では、前記第1の配向制御層と前記第2の配向制御層とを積層させることを特徴とする。
請求項20に記載の発明は、請求項16乃至19のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体の製造方法において、前記配向制御層成膜工程に先立って、前記基板上に軟磁性の裏打ち層であるCoZrNb層またはCoZrTa層を成膜する裏打ち層成膜工程をさらに有することを特徴とする。
以上説明したように、本発明によれば、垂直磁気記録媒体において、磁性層を第1の磁性層であるCo層と第2の磁性層であるPd層とを交互に多層積層し、第2の磁性層には、Si酸化物を添加するので、垂直磁気記録媒体に記録された磁化の熱安定性を向上させることができ、優れた記録再生特性を得ることができる。
また、KuとKuとの比を所定の値以上とすることにより、ヘッドによる垂直磁気記録媒体への書き込みやすさと記録された磁化の熱安定性との両立をさらに向上することが可能となる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。
(本発明を実施するにあたって実行した検討事項)
従来の垂直磁気記録媒体では、高密度記録媒体として有利な点が多く存在するが、磁性層中の磁性粒界相互間の領域への非磁性体の偏析が充分に行なわれず、磁性粒間の磁気的相互作用が大きくなり、媒体ノイズが高くなり易いという問題があった。
この点を考慮して、多層積層垂直磁化膜の基本構成をCo/Pdとし、Co層にSiOを添加した垂直磁気記録媒体を作製する。
このようにして、Co層にSiOを添加すると、Co粒子間に非磁性のSiOを偏析させることができる。このため、Co粒子の微細化・孤立化を図ることができ、媒体ノイズの低減を図ることができる。また、媒体ノイズの低減により、SN比を上げることができるため、記録再生特性は向上され、また、高密度記録が達成される。
一方、上述のように、垂直磁気記録媒体において、媒体ノイズを低減させることに加え、優れた記録再生特性を持たせ、記録された磁化の熱安定性を向上させることが望まれている。
本発明の一実施形態は、上記により説明した検討事項に鑑みてなされたものであり、本
発明の幾つかの実施形態を以下に説明する。
本発明の一実施形態は、第1の磁性層であるCo層と第2の磁性層であるPd層とを交互に積層させた多層積層膜を備える垂直磁気記録媒体において、Pd層にSi酸化物を添加するものである。このように、Pd層にSi酸化物を添加し、そのPd層とCo層とを積層させることにより、結晶磁気異方性定数Kuを大きくすることができるのである。また、一軸異方性定数Kuも大きくすることができるのである。
(本発明の原理)
本発明の原理を以下に示す。
垂直磁気記録媒体に記録された磁化の熱安定性を向上するためには、垂直磁気異方性定数Kuを大きくする必要があるが、一般に、垂直磁気異方性定数Kuを大きくしようとすると、保持力Hcやスイッチング磁界Hkも大きくなる。保持力Hcやスイッチング磁界Hkが大き過ぎると、ヘッドによる磁気記録媒体への書き込みが困難になってしまうので、それらの大きさを適度にする必要がある。Kuは、Ku=Ku+Kuで与えられる。ここで、KuおよびKuは一軸異方性定数(本明細書では、それぞれ「Ku」および「Ku」とも呼ぶ)である。また、磁気記録媒体への記録時のスイッチング磁界は、飽和磁化をMsとすると、Hk=2Ku/Msで与えられるので、Kuが小さいほどHkが小さくなり、磁気記録媒体への書き込みが行い易くなる。
一方、記録された磁化の熱安定性を考慮すると、Kuは、大きい方が望ましい。すなわち、磁性粒子の体積をVとすると、磁気記録媒体に記録された磁化は、「KuV」で表される磁気異方性エネルギーを有し、ボルツマン定数をk、絶対温度をTとすると、周囲環境は、「kT」で表される熱エネルギーを有し、記録されている磁化の熱安定性は、KuV/kTで表されるので、熱安定性の向上には、Kuを大きくすることが必要である。
このように、優れた記録再生特性を得るためには、Kuを小さくし、記録された磁化の熱安定性を向上するためには、Kuを大きくしなければならない。
ところが、Ku=Ku+Kuであるので、Kuを大きくしても、Kuを大きくできればKuを小さくすることがでる。従って、Kuを大きくし、かつKuに占めるKuの割合を大きくできれば、記録された磁化の熱安定性を向上させると共に、スイッチング磁界を適度に保つことができ、優れた記録再生特性を得ることができる。また、種々の条件で作製された各垂直磁気記録媒体においてKuが同じであれば、Kuを大きくしKuのKuに占める割合を大きくすることが重要である。
なお、記録された磁化の熱安定性を向上させ、かつHkを適度に保つためには、一軸異方性定数Kuが垂直磁気異方性定数Kuに占める割合は、大きい方が望ましく、Ku/Kuが25%以上であることが好ましい。
上述のように、優れた記録再生特性を得ると共に、記録された磁化の熱安定性を向上させるために、すなわち、垂直磁気異方性定数Kuを大きく保ち、かつ一軸異方性定数Kuも大きくするために、本発明の一実施形態では、図1に示すように、垂直磁気記録媒体において、磁性層をCo層とSi酸化物を添加したPd層とを積層させた多層積層膜とする。
(垂直磁気記録媒体の構成)
図1は、本発明の一実施形態の垂直磁気記録媒体の基本的な構成例を説明するための概念図で、Alやガラスなどの非磁性の基板1上に、裏打ち層2と配向制御層(3および4)と下地層5と垂直配向した磁性層6とが順次積層され、磁性層6の上には保護層7が設けられている。
上述した本発明の一実施形態の垂直磁気記録媒体において、磁性層6をCo層とPd層とを多層に積層させた多層積層膜で基本構成し、かつ、Pd層にSi酸化物を添加させ、かかる構成の磁性層6を、磁性層6を構成する磁性粒相互間の磁気的相互作用を小さくするために設けられた下地層5上に形成する。ここで、下地層5は好ましくは、Ru膜で構成されているが、Pt膜、Pd膜、Pt/Pd積層膜などであっても良い。また、磁性層6に添加されるSi酸化物の組成は好ましくは化学量論比を満足するものとされ、SiO(0<x≦2)の組成を有するが好ましくはSiOである。図1に示されている裏打ち層2と配向制御層(3および4)は、下地層5の結晶配向性(C軸配向性)を高めるために下地層5と基板1との間に付加することが好ましい層であり、これらの層を備えない構成の垂直磁気記録媒体とすることも可能である。
より具体的に説明すると、下地層5はhcp(六方最密)結晶構造であるRuの膜からなり、その厚さは5〜20nmの範囲とする。なお、下地層5の表面に酸素吸着処理を施した後に磁性層6を形成することとすると、磁性層6の磁気特性を更に高めることが可能となる。すなわち、下地層5の表面に酸素吸着させると、この下地層5の上に形成される磁性層6の磁性粒間の磁気的相互作用が抑制され、Hc付近での磁化曲線の傾きα(本明細書では、「α」とも呼ぶ)が緩やかとなり、記録再生が容易化するという利点がある。なお、下地層5への酸素吸着は、下地層5の形成後、その表面を、質量流量比1〜10%の酸素を混合したガス圧0.1〜10PaのArガス中に1〜10秒間曝すことにより行われる。
上述のαとは、磁性層6を構成する磁性粒子相互間の磁気的な相互作用の大きさを表す指標である。αが小さければ、磁性粒子間の磁気的な相互作用が低減されているといえ、媒体ノイズが低減しているといえるのである。
磁性層6は、Co/Pdの多層積層膜で基本構成されており、この多層積層膜を構成する第1の磁性層6aであるCo層には何も添加せず、第2の磁性層6bであるPd層には、Si酸化物(SiO)が添加されて、Co/Pd−SiOなどの組成を有する多層積層膜となる。本発明の一実施形態で好ましく用いられるSiOは、2〜8mol%の濃度範囲でPd層に添加する。また、Co層の厚さは、0.2〜0.5nmの範囲とし、Pd層の厚さは、0.6〜1.0nmとする。
このように、Co層には何も添加せず、Pd層にSiOを添加し、それらの層を積層させることにより、結晶磁気異方性定数Kuを大きく保つことができ、かつ、一軸異方性定数Kuも大きくすることができる。従って、記録された磁化の熱安定性を向上することができ、また、スイッチング磁界Hkを適度に保つことができることから、優れた記録再生特性を得ることができるのである。
さらに、Pd層にSiOを添加することで、粒子間に非磁性であるSiOを偏析させて磁性粒子の微細化・孤立化を図ることができる。従って、保持力Hcを適度に保つことができ、媒体ノイズも低減することができる。
本発明の一実施形態の垂直磁気記録媒体において、表面に酸素吸着させた下地層5を設けるのは、この下地層5上に形成される磁性層6の保磁力(Hc)付近の磁化曲線の傾きαを制御するためであり、磁性層6にCo/Pdの多層積層膜を用いるのは、Co‐Cr合金などの磁性層に比較してHcが大きく角型比が容易に1となり、界面磁気異方性を利用して大きな結晶磁気異方性が得られるからである。結晶磁気異方性を大きくすると、記録された磁化の熱安定性を向上させるばかりでなく、磁化容易軸が磁性層6の表面に対して垂直になり易くなり、その表面に対して垂直な磁場に対する保持力が大きくなり、また、残留磁化が残り易くなる。
配向制御層(3および4)は、下地層5(Ru層)の結晶配向性(C軸配向性)を高めるために設けられるものであり、好ましくは、第1の配向制御層3であるTa層と第2の配向制御層4であるNiFeNbB層とを積層させた2層構造として構成される。なお、第2の配向制御層はNiFeCr層やNiFeSi層であってもよい。下地層5のC軸配向性を高めることで、この下地層5の上に設けられる磁性層6の結晶配向性も向上し磁気特性を更に高めることが可能となる。配向制御層3であるTa層の厚さは、1〜5nmの範囲とし、また、配向制御層4とすることができるNiFeNbB層、NiFeCr層およびNiFeSi層の厚さは、5〜30nmの範囲とする。また、NiFeNbB層の組成を、Niが64〜86at%、Feが10〜20at%、Nbが2〜10%、Bが2〜6at%の範囲とし、NiFeCr層の組成を、Niが50〜70at%、Feが10〜20at%、Crが20〜30at%の範囲とし、NiFeSi層の組成を、Niが70〜88at%、Feが10〜20at%、Siが2〜10at%の範囲とする。ただし、各元素の組成比の合計が100%になるようにして各層を作成する。
裏打ち層2は、記録ヘッドでの書き込み能力を増大させるために設けられるもので、例えば、50〜300nmの厚みの軟磁性膜であり、その組成は例えばCoZrNbやCoZrTaの組成とすることができる。
以上説明したように、本発明の一実施形態では、基本構成がCo/Pdの多層積層膜において、この多層積層膜を構成する第1の磁性層6aであるCo層には何も添加せず、第2の磁性層6bであるPd層にSiOを添加し、これらの磁性層を積層させるので、垂直磁気異方性定数Kuを大きくすることができ、かつKuに占める一軸異方性定数Kuの割合を大きくすることができるので、垂直磁気記録媒体に記録された磁化の熱安定性を向上すると共に、優れた記録再生特性を得ることができる。
また、磁性層6bに非磁性体であるSiOを偏在させるので、磁性粒間の磁気的相互作用を小さくすることができ、媒体ノイズを低減することができる。
さらに、下地層5として、表面に酸素吸着させたRu下地層を用いることにより、保持力Hc付近での磁化曲線の傾きαを緩やかにして磁性層6の粒子間の磁気的相互作用を小さくすることができ、記録再生を容易化することができる。
以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明するが、本発明は、下記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々変更可能であることは言うまでもない。
(実施例1)
本実施例では、基板1をガラス基板、裏打ち層2をCoZrNb膜、配向制御層3をTa層、配向制御層4をNiFeNbB層、下地層5をRu層、保護層7を窒素ドープのカーボン膜とし、磁性層6を、Co組成の第1の磁性層6aであるCo層と、Pd−SiO組成の第2の磁性層6bであるPd−SiO層とを多層積層させて構成した例について説明する。
この垂直磁気記録媒体の製造方法は以下のとおりである。基板1は厚み0.635mmで直径2.5インチのガラス基板であるが、その径や厚さは本質的ではない。また、材質も本質的ではなく、基板1としてAl基板などでもよい。
基板1を充分に洗浄したのちに、軟磁性層であるCoZrNb膜を成膜して裏打ち層2をスパッタリング法により形成する。本実施例で用いたスパッタターゲットは、87at%Co‐5at%Zr‐8at%Nb組成である。スパッタガスとしてはArガスを用い、Arガス圧約1Paで室温にて約200nmの厚さに成膜した。なお、CoZrNb膜は、室温成膜した非晶質状態でも充分な軟磁気特性を有する。
このCoZrNb膜の上に、連続して、Taの第1の配向制御層3をスパッタ成膜する。用いたターゲットは純Taである。Arガスでスパッタを行い膜厚3nmの厚さに成膜した。成膜温度は室温、ガス圧は約1Paである。
このTa膜の上に、連続して、NiFeNbBの第2の配向制御層4をスパッタ成膜する。用いたターゲットの組成は79at%Ni−12at%Fe−3at%Nb−6at%Bである。Arガスでスパッタを行い膜厚約25nmの厚さに成膜した。成膜温度は室温、ガス圧は約1Paである。
上述により成膜された配向制御層3および4は、次に成膜する下地層5(Ru層)の結晶配向をhcp結晶構造にさせるために用いている。すなわち、Ruの下地層5の結晶をC軸配向させて保磁力を向上させることを目的として、結晶配向制御用に第1の配向制御層3としてTa層、第2の配向制御層4としてNiFeNbB層を用いるのである。
上述により成膜されたNiFeNbB膜の上に、下地層5であるRu膜をスパッタ成膜する。用いたターゲットは純Ruである。Arガスでスパッタを行い膜厚約10nmの厚さに成膜した。成膜温度は室温、ガス圧は約4Paである。このようにして成膜したhcp結晶構造であるRu下地層5の表面を、1Paの圧力下でArガスに質量流量比2%のOガスを混合させた雰囲気中に10秒程度曝してRu表面に適度な量の酸素を吸着させた。
このように、下地層5として、表面に酸素吸着させたRu下地層を用いることにより、Hc付近での磁化曲線の傾きを緩やかにして垂直磁性層の粒子間の磁気的相互作用を小さくし、記録再生を容易化している。
次に、このRuの下地層5の上に、Co/Pd−SiO多層積層膜からなる垂直配向した磁性層6をスパッタリングにより形成する。用いたターゲットは、純Co、およびPdに5mol%のSiOを添加させた組成(95mol%Pd−5mol%SiO)のターゲットである。これらの2つのターゲットを同時に放電してスパッタさせながら回転させることで、Co層とPd−SiO層とを交互に積層させる。なお、成膜されたPd−SiO層の組成は、用いたターゲットの組成を反映して95mol%Pd−5mol%SiOである。Arガスでスパッタを行い、膜厚はCo層が0.3nm、Pd−SiO層が0.8nmである。なお、この成膜は室温で行っており、ガス圧は5Paである。
このように、磁性層6として第1の磁性層6aであるCo層と第2の磁性層6bであるPd−SiO層とを交互に多層積層されたCo/Pd−SiOを用いることで、Kuを大きくすることおよびKuに占めるKuを大きくすることを図っている。また、PdにSiOを添加することでPd粒子間に非磁性のSiOを偏析させてPd粒子の微細化・孤立化を図っている。
最後に、保護層7である窒素ドープのカーボン(C:N)膜をスパッタ成膜する。用いたターゲットはCである。Arガスに質量流量比4%のNガスを混合させた雰囲気中にArガスでスパッタを行い膜厚約7nmの厚さに成膜した。成膜温度は室温、Arガス圧は約1Paである。
このようにして、Co/95mol%Pd−5mol%SiO多層積層膜からなる磁性層を備える垂直磁気記録媒体を作製した。
図2は、Co/95mol%Pd−5mol%SiO多層積層膜からなる磁性層を備える垂直磁気記録媒体(媒体Aとも呼ぶ)、94mol%Co−6mol%SiO/Pd多層積層膜からなる磁性層を備える垂直磁気記録媒体(媒体Bとも呼ぶ)、94mol%Co−6mol%SiO/95mol%Pd−5mol%SiO多層積層膜からなる磁性層を備える垂直磁気記録媒体(媒体Cとも呼ぶ)、および純Co層と純Pd層とを多層積層させたCo/Pd多層積層膜からなる磁性層(媒体Dとも呼ぶ)を備える垂直磁気記録媒体の各々の保持力Hcの、Pd層またはPd−SiO層の膜厚依存性を説明するための図である。同図において、縦軸は保持力Hcであり、横軸はPdまたはPd−SiOの膜厚(厚さ)である。
なお、媒体B、媒体Cおよび媒体Dは、磁性層の構成を上述のようにした以外は、媒体Aと同様の組成および成膜プロセスを用いて垂直磁気記録媒体を作製した。
図2において、Hcは、4種類の媒体ともPdまたはPd−SiOの膜厚が0.8nmであれば、Hcは大きくなることが分かる。この膜厚において、媒体Cについては、Hcは4000Oe程度である。一方、本発明に係る媒体Aは、Hcは7000Oe程度であり、優れた記録再生特性を得るためには十分な大きさである。また、媒体Bについては、Hcは7500Oe程度である。また、Co層およびPd層にSiOを添加していない媒体Dについては、Hcが10000Oe程度あり大きすぎる。Hcが大きすぎると、磁化方向を反転させるのに、記録再生に用いるリングヘッドから発生する磁界が足らず、十分な記録再生が行えない。
上述のように、Co層およびPd層を基本構成とする多層積層膜を備える垂直磁気記録媒体において、Co層やPd層へのSiO添加の有無によって、Hcの大きさを調整することができ、特に、本発明に係る媒体Aでは、Hcの大きさを大きすぎず、また小さすぎず、適度な大きさにすることができ、優れた記録再生特性を得ることができる。
(実施例2)
図3は、Co/95mol%Pd−5mol%SiO多層積層膜からなる磁性層を備える垂直磁気記録媒体(媒体Aとも呼ぶ)、94mol%Co−6mol%SiO/Pd多層積層膜からなる磁性層を備える垂直磁気記録媒体(媒体Bとも呼ぶ)、94mol%Co−6mol%SiO/95mol%Pd−5mol%SiO多層積層膜からなる磁性層を備える垂直磁気記録媒体(媒体Cとも呼ぶ)、および純Co層と純Pd層とを多層積層させたCo/Pd多層積層膜からなる磁性層(媒体Dとも呼ぶ)を備える垂直磁気記録媒体の各々の、磁化曲線のHc付近の傾きαのPdまたはPd−SiO層の膜厚依存性を説明するための図で、この図において、縦軸が傾きα、横軸がPdまたはPd−SiO膜厚である。磁化曲線の傾きαは、磁性層6を構成する磁性粒相互間の磁気的な相互作用の大きさを示す指標であり、この値が小さい方が好ましいとされる。
なお、本実施例において、本発明に係る媒体Aの作製条件および作成方法については、実施例1と同様であるので、それらの説明は省略する。また、媒体B、媒体Cおよび媒体Dは、磁性層の構成を上述のようにした以外は、媒体Aと同様の組成および成膜プロセスを用いて垂直磁気記録媒体を作製した。
図3において、4種類の媒体のいずれにおいても、PdまたはPd−SiOの膜厚が厚い方がαは小さくなることが分かる。また、媒体Dについては、αが1.5以上であるのに対し、媒体A、媒体Bおよび媒体Cについては、各膜厚において、媒体Dに比べて、αは小さい値を示し、またその値は同程度であることも分かる。すなわち、Co層およびPd層を基本構成とする多層積層膜を備える垂直磁気記録媒体において、Co層またはPd層にSiOを添加すると、磁性粒相互間の磁気的相互作用を抑制することができ、その結果、媒体ノイズが低減されることを意味している。
(実施例3)
表1は、Co/95mol%Pd−5mol%SiO多層積層膜からなる磁性層を備える垂直磁気記録媒体(媒体Aとも呼ぶ)、94mol%Co−6mol%SiO/Pd多層積層膜からなる磁性層を備える垂直磁気記録媒体(媒体Bとも呼ぶ)、94mol%Co−6mol%SiO/95mol%Pd−5mol%SiO多層積層膜からなる磁性層を備える垂直磁気記録媒体(媒体Cとも呼ぶ)、および純Co層と純Pd層とを多層積層させたCo/Pd多層積層膜からなる磁性層(媒体Dとも呼ぶ)を備える垂直磁気記録媒体の各々の、垂直磁気異方性定数Ku、一軸異方性定数KuおよびKu、ならびにKuとKuとの比、すなわちKu/Kuを求めた結果である。
なお、本実施例において、本発明に係る媒体Aの作製条件および作成方法については、実施例1と同様であるので、それらの説明は省略する。また、媒体B、媒体Cおよび媒体Dは、磁性層の構成を上述のようにし、多層積層膜を構成するCo層またはCo−SiO層の膜厚を0.3nmとし、Pd層またはPd−SiO層の膜厚を0.8nmとした以外は、媒体Aと同様の組成および成膜プロセスを用いて垂直磁気記録媒体を作製した。
また、本実施例では、磁性層の磁化がほぼ飽和した条件で、トルク磁力計により印加磁界Hを10kOe〜25kOeの範囲で変化させて測定した各印加磁界Hに対する磁気トルク曲線をフーリエ解析し、磁性膜の結晶磁気異方性エネルギーEがE≒Kusinθ+Kusinθ(θ:自発磁化と磁性膜の磁化容易軸とのなす角)で近似される関係を用いて各印加磁界Hに対するKuとKuとを求めた。このようにして求められた各印加磁界Hに対するKuおよびKuを、印加磁界の逆数(1/H)でプロットし直線で近似した。すなわち、Kuについては、その直線において、1/H=0(すなわちy切片)に外挿して得られた値に2πMs(Ms:飽和磁化)を足した値をKuと定義した。また、Kuについては、上述の直線において、外挿して得られた値をそのままKuと定義した。さらに、Ku=Ku+Kuであるので、Kuについては、Ku−Kuで求められる値をKuと定義した。
Figure 2005251264
この表から分かるように、Kuについては、本発明に係る媒体Aが最も大きな値を示していることが分かる。従って、記録されている磁化の熱安定性はKuV/kTで表されるので、Kuが最も大きい媒体Aが、記録された磁化の熱安定性が最も良いといえる。
また、Co層およびPd層を基本構成とする多層積層膜において、Co層にSiOを添加していない媒体Aおよび媒体DのKuは、Co層にSiOを添加している媒体Bおよび媒体CのKuに比べて大きいことも分かる。従って、Co層にSiOを添加しない方が、記録された磁化の熱安定性に有利であるといえる。
また、比Ku/Kuについても、本発明に係る媒体Aは、最も高いKuを達成した上で最も大きいことが分かる。上述のように、記録時のスイッチング磁界Hkは、Hk=2Ku/Msと表せるので、Kuのみがスイッチング磁界Hkに影響するが、記録された磁化の熱安定性はKu=Ku+Kuで効いてくる。従って、Kuを大きくし、かつKuも大きくすると、すなわちKuを大きくし比Ku/Kuを大きくすると、垂直磁気記録媒体への書き込みを容易にすることができ、記録された磁化の熱安定性を向上することができる。
(実施例4)
表2は、Co/95mol%Pd−5mol%SiO多層積層膜からなる磁性層を備える垂直磁気記録媒体(媒体Aとも呼ぶ)、94mol%Co−6mol%SiO/Pd多層積層膜からなる磁性層を備える垂直磁気記録媒体(媒体Bとも呼ぶ)、および純Co層と純Pd層とを多層積層させたCo/Pd多層積層膜からなる磁性層(媒体Cとも呼ぶ)を備える垂直磁気記録媒体の各々の、記録再生特性としてSN比(SNR)およびOW(オーバーライト)特性を求めた結果である。
なお、本実施例において、本発明に係る媒体Aの作製条件および作成方法については、実施例1と同様であるので、それらの説明は省略する。また、媒体B、媒体Cは、磁性層の構成を上述のようにし、多層積層膜を構成するCo層またはCo−SiOの膜厚を0.3nmとした以外は、媒体Aと同様の組成および成膜プロセスを用いて垂直磁気記録媒体を作製した。
また、SNRの評価は、線記録密度470kFCIにおいて、面内媒体用のリングヘッドを用いて実行した。
さらに、OW特性の評価は、垂直磁気記録媒体において、低い線記録密度上に高い線記録密度で書き込んだ場合のOW特性をOW1として、低い線記録密度で書き込んだ信号に対して、高い線記録密度でオーバーライトし、最初に書き込んだ低い線記録密度の信号と、オーバーライトした後の残留している低い線記録密度の信号との比をとることにより実行した。使用した記録密度は低い線記録密度が53.5kFCI(12T)であり、高い線記録密度が642kFCI(1T)である。なお、高い線記録密度上に低い線記録密度で書き込んだ場合のOW特性(OW2とも呼ぶ)についても、OW1と同様にして、最初に書き込んだ高い線記録密度の信号と、オーバーライトした後の残留している高い線記録密度の信号との比をとることにより実行した。使用した線記録密度は高い線記録密度が321kFCI(2T)であり、低い線記録密度が42.8kFCI(15T)である。
Figure 2005251264
この表から分かるように、SNRは、媒体Aが最も高く、次に媒体Bが高く、媒体Cが最も低いことが分かる。ところで、SNRが大きいと、低ノイズ化が実現でき、記録密度の向上を図ることができる。従って、媒体Aについて、媒体Bや媒体Cに比べて高いSNRを得ることができ、記録密度は向上され、記録再生特性は改善される。
また、媒体AのOW1は40.8dB、またOW2は40.6dBが確保されており、それらいずれの値も、媒体Bおよび媒体CのOW特性よりも高い値である。従って、媒体Aについて、媒体Bや媒体Cに比べて高いOW特性を得ることができ、記録再生特性は改善される。
上述のように、Co層にSiOを添加せず、Pd層にSiOを添加した本発明に係る媒体Aについて、検討事項で説明した媒体Bや従来の媒体Cに比べて高いSNRおよびOW特性を得ることができ、記録再生特性を向上させることができるといえる。
本発明の一実施形態の垂直磁気記録媒体の構成例を説明するための図である。 Co層またはCo−SiO層およびPd層またはPd−SiO層から構成される多層積層膜を備える垂直磁気記録媒体の各々の保持力Hcの、Pd層またはPd−SiO層の膜厚依存性を説明するための図である。 Co層またはCo−SiO層およびPd層またはPd−SiO層から構成される多層積層膜を備える垂直磁気記録媒体の各々の磁化曲線のHc付近の傾きαのPdまたはPd−SiO層の膜厚依存性を説明するための図である。
符号の説明
1 基板
2 裏打ち層
3 第1の配向制御層
4 第2の配向制御層
5 下地層
6 磁性層
6a 第1の磁性層
6b 第2の磁性層
7 保護層

Claims (20)

  1. 非磁性の基板上に磁性層を備えている垂直磁気記録媒体であって、
    前記磁性層は、第1の磁性層であるCo層と第2の磁性層であるPd層とを交互に多層積層して構成され、該第2の磁性層には、Si酸化物が添加されていることを特徴とする垂直磁気記録媒体。
  2. 前記磁性層の結晶磁気異方性エネルギーは、E≒Kusinθ+Kusinθで近似され、ここでKuおよびKuは一軸異方性定数であり、θは自発磁化と磁性層の磁化容易軸とのなす角であり、結晶磁気異方性定数KuはKu=Ku+Kuの関係にあり、前記磁性層の磁化がほぼ飽和した条件でトルク磁力計で磁気異方性を測定した場合の前記Kuおよび前記Kuは、Ku/Ku≧0.25の関係を満たすことを特徴とする請求項1記載の垂直磁気記録媒体。
  3. 前記Si酸化物の添加の量は、2〜8mol%の濃度範囲であることを特徴とする請求項1または2記載の垂直磁気記録媒体。
  4. 前記第1の磁性層の膜厚は0.2〜0.5nmであり、前記第2の磁性層の膜厚は0.6〜1.0nmであることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
  5. 前記磁性層と前記基板との間に下地層を備え、前記磁性層は該下地層の直上に設けられていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
  6. 前記下地層は、Ru膜であることを特徴とする請求項5記載の垂直磁気記録媒体。
  7. 前記下地層の厚みは、5〜20nmであることを特徴とする請求項5または6記載の垂直磁気記録媒体。
  8. 前記下地層の表面は、酸素吸着されていることを特徴とする請求項5乃至7のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
  9. 前記基板と前記下地層との間に該下地層の結晶配向をC軸配向させるための配向制御層を設けることを特徴とする請求項5乃至8のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
  10. 前記配向制御層は、第1の配向制御層と第2の配向制御層とを積層させて構成されていることを特徴とする請求項9記載の垂直磁気記録媒体。
  11. 前記第1の配向制御層はTa層であり、前記第2の配向制御層はNiFeNbB層、NiFeCr層またはNiFeSi層のうちのいずれかであることを特徴とする請求項10記載の垂直磁気記録媒体。
  12. 前記NiFeNbB層の組成は、Niが64〜86at%、Feが10〜20at%、Nbが2〜10%、Bが2〜6at%の範囲であり、前記NiFeCr層の組成は、Niが50〜70at%、Feが10〜20at%、Crが20〜30at%の範囲であり、前記NiFeSi層の組成は、Niが70〜88at%、Feが10〜20at%、Siが2〜10at%の範囲であり、前記各組成は、各元素の組成比の合計が100%になるようにすることを特徴とする請求項11記載の垂直磁気記録媒体。
  13. 前記第1の配向制御層の厚みは1〜5nmであり、前記第2の配向制御層の厚みは5〜30nmであることを特徴とする請求項10乃至12のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
  14. 前記基板と前記第1の配向制御層との間に、軟磁性の裏打ち層が設けられていることを特徴とする請求項10乃至13のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
  15. 前記裏打ち層は、CoZrNbまたはCoZrTaの合金組成を有し、50〜300nmの膜厚であることを特徴とする請求項14記載の垂直磁気記録媒体。
  16. 垂直磁気記録媒体の製造方法であって、
    非磁性の基板上に、Ru膜の下地層を成膜する下地層成膜工程と、
    前記下地層の直上に第1の磁性層であるCo層とSi酸化物が添加された第2の磁性層であるPd層とを交互に多層積層して磁性層を成膜する成膜工程と
    を有することを特徴とする垂直磁気記録媒体の製造方法。
  17. 前記成膜工程は、CoのターゲットおよびPdに2〜8molの濃度範囲でSi酸化物を添加させた組成のターゲットを用いるスパッタ法であることを特徴とする請求項16記載の垂直磁気記録媒体の製造方法。
  18. 前記下地層成膜工程では、前記下地層の表面を、質量流量比1〜10%の酸素を混合したガス圧0.1〜10PaのArガス中に1〜10秒間曝して前記下地層の表面に酸素を吸着させることを特徴とする請求項16または17記載の垂直磁気記録媒体の製造方法。
  19. 前記下地層成膜工程に先立って、前記基板上に前記下地層の結晶配向をC軸配向させるための第1の配向制御層であるTa層と第2の配向制御層であるNiFeNbB層、NiFeCr層またはNiFeSi層のうちのいずれかを成膜する配向制御層成膜工程をさらに有し、
    前記配向制御層成膜工程では、前記第1の配向制御層と前記第2の配向制御層とを積層させることを特徴とする請求項16乃至18のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体の製造方法。
  20. 前記配向制御層成膜工程に先立って、前記基板上に軟磁性の裏打ち層であるCoZrNb層またはCoZrTa層を成膜する裏打ち層成膜工程をさらに有することを特徴とする請求項16乃至19のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体の製造方法。
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