JP2005085282A - ディスクインターフェース装置、それを備えたディスクインターフェースシステム及びその方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ディスクインターフェースシステムにおいて、テストのための最小限のテスト命令語情報を一般的なテスト装備の動作速度のように十分に遅い速度で入力させつつ実際の動作速度のテストベンチを自動的に発生する。これにより、十分に遅い速度でテスト命令語情報とデバッギングデータとが入出力されるが、ディスクインターフェース装置のデジタルユニットを実際の動作速度で動作させうるので、一般的な低コストのテスト装備で高速動作デジタル回路をテストすることができる。
【選択図】図2
Description
本発明によるディスクインターフェース方法は、テストイネーブル信号の第2論理状態に応答して、テスト命令語入力情報をエンコードしてデジタル受信情報としてテストベンチを生成して出力し、テスト結果として入力されるデジタル送信情報をデコードしてデバッギング情報を出力し、前記テストイネーブル信号の第1論理状態で前記テストベンチ及び前記デバッギング情報を出力しない段階と、コンピュータ出力信号を変換して前記デジタル受信情報として物理層情報を出力し、前記デジタル送信情報を変換してコンピュータ入力信号を発生させる段階と、前記テストイネーブル信号に応答して、前記テストベンチまたは前記物理層情報のうち何れか一つを選択して前記デジタル受信情報を出力する段階と、前記デジタル受信情報を処理してインターフェース出力情報を出力し、前記デジタル受信情報またはインターフェース入力情報に応答して前記デジタル送信情報を発生させて出力する段階と、を備えることを特徴とする。
210 コンピュータ
220 ディスクインターフェース装置
221 テストユニット
223 物理層部
225 MUX
227 デジタルユニット
230 ハードディスク/CD−ROM
2211 テストベンチ生成部
2217 デバッギング情報出力部
COMMI テスト命令語入力情報
TBD テストベンチ
Rx コンピュータ出力信号
PHD 物理層情報
RXD デジタル受信情報
ATAPD インターフェース出力情報
RAWD インターフェース入力情報
TXD デジタル送信情報
Tx コンピュータ入力信号
DEBD デバッギング情報
TESTEN テストイネーブル信号
CNT メモリ使用量情報
CLR 制御信号
Claims (22)
- テストイネーブル信号の第2論理状態に応答して、テスト命令語入力情報をエンコードしてデジタル受信情報としてテストベンチを生成して出力し、テスト結果として入力されるデジタル送信情報をデコードしてデバッギング情報を出力し、前記テストイネーブル信号が第1論理状態である場合には、前記テストベンチ及び前記デバッギング情報を出力しないテストユニットと、
コンピュータ出力信号を変換して前記デジタル受信情報として物理層情報を出力し、前記デジタル送信情報を変換してコンピュータ入力信号を発生する物理層部と、
前記テストイネーブル信号の論理状態に応答して、前記テストベンチまたは前記物理層情報のうち何れか一つを選択して前記デジタル受信情報を出力するマルチプレクサと、
前記デジタル受信情報を処理してインターフェース出力情報を出力し、前記デジタル受信情報またはインターフェース入力情報に応答して前記デジタル送信情報を発生して出力するデジタル処理部と、
を備えることを特徴とするディスクインターフェース装置。 - 前記テストユニットは、
前記テストイネーブル信号の第2論理状態に応答して、前記テスト命令語入力情報をエンコードして前記テストベンチを生成して出力するテストベンチ生成部と、
前記デジタル送信情報をデコードしてデバッギング情報を出力するデバッギング情報出力部と、
を備えることを特徴とする請求項1に記載のディスクインターフェース装置。 - 前記テストベンチ生成部は、
前記テストイネーブル信号の第2論理状態に応答して、前記テスト命令語入力情報に対応する保存情報を発生して出力するステートマシン部と、
前記保存情報に応答して前記テスト命令語入力情報を保存するレジスターと、
前記レジスターに保存されて出力されたテスト命令語入力情報をエンコードしかつスクランブルして前記テストベンチを生成して出力するエンコーディング及びスクランブリング部と、
を備えることを特徴とする請求項2に記載のディスクインターフェース装置。 - 前記デバッギング情報出力部は、
前記デジタル送信情報を保存して出力するFIFOメモリ部と、
前記FIFOメモリ部から出力されるデジタル送信情報をデコードしかつデスクランブルしてデバッギング情報を出力するデコーディング及びデスクランブリング部と、
を備えることを特徴とする請求項3に記載のディスクインターフェース装置。 - 前記FIFOメモリ部は、前記デジタル送信情報の保存に応答してメモリ使用量を示すメモリ使用量情報を出力し、
前記ステートマシン部は、前記メモリ使用量情報をチェックして、臨界値を超えた場合にオーバーフローが発生したと判断し、この場合に、前記テストベンチが出力される連結線を通じてホールドプリミティブ情報を出力することを特徴とする請求項4に記載のディスクインターフェース装置。 - 前記ステートマシン部は、前記デバッギング情報を受信して、前記テスト命令語情報の一部としうることを特徴とする請求項4に記載のディスクインターフェース装置。
- 前記コンピュータ出力信号及び前記コンピュータ入力信号は、差動信号であることを特徴とする請求項1に記載のディスクインターフェース装置。
- テスト命令語入力情報をエンコードしてテストベンチを生成し、コンピュータ出力信号を変換して物理層情報を生成し、前記テストベンチまたは前記物理層情報のうち何れか一つをデジタル受信情報として、前記デジタル受信情報を処理したインターフェース出力情報を出力し、前記デジタル受信情報またはインターフェース入力情報に応答して発生させたデジタル送信情報を変換してコンピュータ入力信号を出力するか、またはデコードしてデバッギング情報を出力するディスクインターフェース装置と、
前記インターフェース出力情報に応答して命令語に対応した結果情報として前記インターフェース入力情報を出力するバックアップ装置と、
を備えることを特徴とするディスクインターフェースシステム。 - 前記ディスクインターフェースシステムは、コンピュータをさらに備え、前記コンピュータは、前記バックアップ装置にアクセスする命令語に対応する前記コンピュータ出力信号を発生し、前記インターフェース入力情報に対応する前記コンピュータ入力信号を処理することを特徴とする請求項8に記載のディスクインターフェースシステム。
- 前記テスト命令語入力情報は、装置認識、初期設定、多重読出し、多重書込み、DMA方式の読出し、及びDMA方式の書込みのうち一つ以上の命令語に対応する情報を含むことを特徴とする請求項8に記載のディスクインターフェースシステム。
- 前記ディスクインターフェース装置は、
テストイネーブル信号の第2論理状態に応答して、前記テスト命令語入力情報をエンコードして前記デジタル受信情報として前記テストベンチを生成して出力し、テスト結果として入力される前記デジタル送信情報をデコードして前記デバッギング情報を出力し、前記テストイネーブル信号が第1論理状態である場合には、前記テストベンチ及び前記デバッギング情報を出力しないテストユニットと、
前記コンピュータ出力信号をデジタル信号に変換して前記デジタル受信情報として物理層情報を出力し、前記デジタル送信情報を変換して前記コンピュータ入力信号を発生する物理層部と、
前記テストイネーブル信号の論理状態に応答して、前記テストベンチまたは前記物理層情報のうち何れか一つを選択して前記デジタル受信情報を出力するマルチプレクサと、
前記デジタル受信情報を処理して前記インターフェース出力情報を出力し、前記デジタル受信情報または前記インターフェース入力情報に応答して前記デジタル送信情報を発生して出力するデジタル処理部と、
を備えることを特徴とする請求項8に記載のディスクインターフェースシステム。 - テストイネーブル信号の第2論理状態に応答して、テスト命令語入力情報をエンコードしてデジタル受信情報としてテストベンチを生成して出力し、テスト結果として入力されるデジタル送信情報をデコードしてデバッギング情報を出力し、前記テストイネーブル信号が第1論理状態である場合には、前記テストベンチ及び前記デバッギング情報を出力しない段階と、
コンピュータ出力信号を変換して前記デジタル受信情報として物理層情報を出力し、前記デジタル送信情報を変換してコンピュータ入力信号を発生する段階と、
前記テストイネーブル信号の論理状態に応答して、前記テストベンチまたは前記物理層情報のうち何れか一つを選択して前記デジタル受信情報を出力する段階と、
前記デジタル受信情報を処理してインターフェース出力情報を出力し、前記デジタル受信情報またはインターフェース入力情報に応答して前記デジタル送信情報を発生させて出力する段階と、
を備えることを特徴とするディスクインターフェース方法。 - 前記テストベンチは、前記テスト命令語入力情報をエンコードしかつスクランブルして生成した情報であり、
前記デバッギング情報は、前記デジタル送信情報をデコードしかつデスクランブルして生成した情報であることを特徴とする請求項12に記載のディスクインターフェース方法。 - 前記テストベンチの生成は、
前記テストイネーブル信号の第2論理状態に応答して、前記テスト命令語入力情報に対応する保存情報を発生して出力する段階と、
前記保存情報に応答して前記テスト命令語入力情報を保存する段階と、
保存されて出力された前記テスト命令語入力情報をエンコードしかつスクランブルして前記テストベンチを生成して出力する段階と、
を備えることを特徴とする請求項12に記載のディスクインターフェース方法。 - 前記デバッギングデータの生成は、
前記デジタル送信情報を保存して出力する段階と、
保存されて出力される前記デジタル送信情報をデコードしかつデスクランブルしてデバッギング情報を出力する段階と、
を備えることを特徴とする請求項14に記載のディスクインターフェース方法。 - 前記デジタル送信情報の保存は、
前記デジタル送信情報の保存に応答してメモリ使用量を示すメモリ使用量情報出力段階を含み、
前記メモリ使用量情報が所定臨界値を超えた場合に、オーバーフローが発生したと判断し、この場合に、前記テストベンチが出力される連結線を通じてホールドプリミティブ情報が出力されることを特徴とする請求項15に記載のディスクインターフェース方法。 - 前記デバッギング情報は、前記テスト命令語情報の一部として使用されうることを特徴とする請求項13に記載のディスクインターフェース方法。
- 前記コンピュータ出力信号及び前記コンピュータ入力信号は、差動信号であることを特徴とする請求項12に記載のディスクインターフェース方法。
- テスト命令語入力情報をエンコードしてテストベンチを生成する段階と、
コンピュータ出力信号を変換して物理層情報を生成する段階と、
前記テストベンチまたは前記物理層情報のうち何れか一つをデジタル受信情報として、前記デジタル受信情報を処理したインターフェース出力情報を出力する段階と、
前記デジタル受信情報またはインターフェース入力情報に応答して発生させたデジタル送信情報を変換してコンピュータ入力信号を出力する段階と、
前記デジタル送信情報をデコードしてデバッギング情報を出力する段階と、
所定バックアップ装置によって前記インターフェース出力情報に応答して命令語に対応した結果情報として前記インターフェース入力情報を出力する段階と、
を備えることを特徴とするディスクインターフェース方法。 - 前記ディスクインターフェース方法は、コンピュータによって前記バックアップ装置にアクセスする命令語に対応する前記コンピュータ出力信号を発生し、前記インターフェース入力情報に対応する前記コンピュータ入力信号を処理する段階をさらに備えることを特徴とする請求項19に記載のディスクインターフェース方法。
- 前記テスト命令語入力情報は、装置認識、初期設定、多重読出し、多重書込み、DMA方式の読出し、及びDMA方式の書込みのうち一つ以上の命令語に対応する情報を含むことを特徴とする請求項19に記載のディスクインターフェース方法。
- 前記テスト命令語入力情報及び前記コンピュータ出力信号は、
テストイネーブル信号の第2論理状態に応答して、前記テスト命令語入力情報をエンコードして前記デジタル受信情報として前記テストベンチを生成して出力し、テスト結果として入力される前記デジタル送信情報をデコードして前記デバッギング情報を出力し、前記テストイネーブル信号の第1論理状態で前記テストベンチ及び前記デバッギング情報を出力しない段階と、
前記コンピュータ出力信号をデジタル信号に変換して前記デジタル受信情報として物理層情報を出力し、前記デジタル送信情報を変換して前記コンピュータ入力信号を発生させる段階と、
前記テストイネーブル信号に応答して、前記テストベンチまたは前記物理層情報のうち何れか一つを選択して前記デジタル受信情報を出力する段階と、
前記デジタル受信情報を処理して前記インターフェース出力情報を出力し、前記デジタル受信情報または前記インターフェース入力情報に応答して前記デジタル送信情報を発生させて出力する段階と、
を備えて処理されることを特徴とする請求項19に記載のディスクインターフェース方法。
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