TWI283861B - Disc interface, disc interface system having the same, and disc interfacing method - Google Patents

Disc interface, disc interface system having the same, and disc interfacing method Download PDF

Info

Publication number
TWI283861B
TWI283861B TW093126131A TW93126131A TWI283861B TW I283861 B TWI283861 B TW I283861B TW 093126131 A TW093126131 A TW 093126131A TW 93126131 A TW93126131 A TW 93126131A TW I283861 B TWI283861 B TW I283861B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
information
output
signal
input
interface
Prior art date
Application number
TW093126131A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200518076A (en
Inventor
Si-Hoon Hong
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of TW200518076A publication Critical patent/TW200518076A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI283861B publication Critical patent/TWI283861B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B27/00Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
    • G11B27/36Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318314Tools, e.g. program interfaces, test suite, test bench, simulation hardware, test compiler, test program languages
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0668Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
    • G06F3/0671In-line storage system
    • G06F3/0673Single storage device
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00Record carriers by type
    • G11B2220/20Disc-shaped record carriers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

12838¾^^ 九、發明說明: 本發明主張於2003年9月9日向韓國知識產權局申抹 且專利申請號爲2003-63407的優先權。該專利所揭;的入 部内容並入此申請案,以供參考。 /'、 【發明所屬之技術領域】 本發明關於一種碟片介面系統’且特別是關於一種介 面系統,其可在個人電腦與CD-ROM驅動器和/或硬碟驅1 動裔之間做為介面。 ' 【先前技術】 圖ί是常用碟片介面系統100的方塊圖,該系統包括 碟片介面120。根據圖1所示,常用的碟片介面系統1〇〇 可由電腦110、碟片介面120和備用裝置13〇組成。碟片 介面120包括物理層單元12ι和數位單元123,備用裝置 ⑽可操作硬碟和/或CD-ROM。電腦11〇與碟片介面12〇 通過串列線在1.5Gbps下以差分信號的形式交換資料。在 碟片介面120中,物理層單元121和數位單元123之間可 以超過150Mbps的速率進行資料傳輸和接收。而在數位單 兀123和備用裝置13〇之間,資料可以大約133Mbps的速 率,行傳輸和接收。物理層單元121可以是類比電路,數 位單元123可以依據連接指令和/或整合驅動電子設備介 面;^準(Integrated Drive ElectiOnics (IDE),如··高級技術 附加政置;f示準(the Advanced Technology Attachment (ΑΤΑ) I2838^75p,doc standard))執行資料的轉換和傳輸功能。 时碟片介面120所使用晶片(如:積體電路晶片)的數 位單兀123無法在實際的運行速度下進行檢測,因爲還沒 有一種數位電路檢測裝置能夠以超過15〇河13卵的速度對& 位電路進行檢測。即使存在這樣的檢測裝置,想利用也有 困難’因爲該裝置只能檢測已安裴好的數位電路並且成本 很高。但是,如果對應碟片介面12〇的晶片(如:積體電 路晶片)的數位單元123在低於實際的運行速度下被檢測 =話,可能檢測不到實際運行速度中所産生的電路運行故 障,從而導致這些未被發現的碟片介面故障滯留下來。 用於測試碟片介面120之數位單元123的測試裝置, 可支援某種硬碟介面標準(如:串列高級技術標準^,可 傳輸差分、Tx和/或RX信號形式的資料,這些信號可以 1.5Mbps的速率向電腦11〇輸入或從電腦11〇輸出。該裝 置還能過至少十隻接腳以大於150MHz的頻率,探測到^ 物理層單元121和數位單元123之間傳遞的信號。 在相關技術中,物理層單元121和數位單元123可分 別進行測試。此方法需要可以傳送信號的接腳,將物理層 單元121和數位單元123之間的傳輸信號通過接腳發送^ 晶片外部。^腳和/或探針觸點的延遲特性使得探測 150MHz或更高頻率的信號變得困難,因此要在實際的操 作速度下分別測试數位單元123是不可能的。 ' 【發明内容】 I2838^i75Pif.d〇c 本發明的實施例可提供一種碟片介面,該碟片介面可 以較低的速度(對應-般檢測裝置的運行速度)接收簡化 的檢測命令資訊。這種-般檢測裝置可自動生成即時測試 程式信號,可監控輸入/輸出資料用以僧錯測試程式信號, 並可監控包括碟片介面在内的碟片介面系統。 本發明的實施例又提供一種碟片介面方法,通過這種 可以以較低的速度(對應_般檢測裝置的實際運行 速度)來接收祕的檢測命令資訊 入/輸出資料以倾㈣職程式錢。 ㈣ 號發"一般檢_置包括測試程式信 二人二貞&貝雜出单70。測試程式信號發生器可對 生成目U 資訊編碼’回應檢測啓動信號的邏輯狀態, 資=,2號°㈣錯資訊輸出單元則可對數位傳輸 R解碼,亚輸出偵錯資訊。 碼與式信,生f可包括狀態機單元、暫存器和編 訊的^儲t °狀ί機单几可産生對應於檢測命令輸入資 暫存考开二汛,该貧訊可回應檢測啓動信號的邏輯狀態。 碼與二二错檢測命令輸入資訊’用以回應存儲資訊。編 碼和^1^可對來自暫存_檢測命令輸人資訊進行編 伯k碼,可生成測試程式信號。 擾碼單Γ =4輸出單元可包括先進先出記憶體和解碼與解 訊。解碼必先進先出圮憶體可存儲並/或輸出數位傳輸資 輸資訊t'r擾碼單元可對來自先進先出記憶體的數位傳 仃解碼和/或解擾碼,同時輸出偵錯資訊。先進先 128 娜 出記憶體可輸出關於記憶體已佔用空間的資訊 存儲。狀態機單元可檢查已占空二 頁關貝Λ,虽已占空間超出閾值時判斷其發生戸 過測试程式信號的輸崎,將储原始資訊輪出。k 訊的==可接收偵錯資訊’並把它當作檢測命令資 命;另—實施例中’一般的檢測方法是對檢測 號二::=、,該資訊可回應檢測啓動信號的邏輯信 行解i ^1成,収程式信號,以及對數位傳輸資訊進 於檢測命:二碼過;可包括:生成對應 餘能射訊,回應檢測啓動信號的邏 輯狀fe,存儲檢測命令輸人f訊,該f訊回應 出的檢測命令輸入資訊編碼和/或擾碼,生成測 本^月的另一實施例中可提供一種硬碟介面,由檢測 =二理層單元、多工器和數位單元組成。檢測單元可 經:l:°p令輸入貧訊編碼’回應檢測啓動信號的第二個邏 你值二-並生成暮樣式#號作爲數位接收資訊;可對數 位傳輸魏解碼,將其作級義果 動信號的第-邏輯狀態,檢測單= ϊϊί出物理層資訊,作爲數位接收資訊;可轉換數位 ’生成電腦輸人信號。多卫11可選擇測試程式信 ^ 口物理層資訊兩者之一’可回應檢測啓動信號的邏輯狀 12838^75ρΆά0€ 對檢測命令資气=貝^出早7°。測試程式信號發生器 態,可生成列^ —回應檢測啓動信號的第二個邏輯狀 輸資訊解碼錯資訊輸出單元可對數位傳 碼愈式域發生器可包括狀態機單元、暫存器和編 訊“儲。:態:元可生成對應於檢測命令輸入資 暫存二2應檢測ί動信號的第二個邏輯狀態。 編碼盘抵1〜貝1〒令輸入資訊,該資訊回應存儲資訊。 編碼和S早自5存器的檢測命令輸入資訊進行 k馬並可生成測試程式信號。 擾碼單元可包括先進先出記憶體和解碼與解 ㈣可按順序存儲並輸出數位傳輸 傳輪資訊解碼出記憶體的數位 訊,ί進先出記憶體可輸出有關記憶體已佔用空間的資 記憶體訊狀態機單元可檢查有關 生、、益中 1曰]勺貝0田已占二間超出閾值時判斷其發 出保態機單元可通過測試程式資訊的輸出連接線輸 部分檢測二『資訊’將其作爲 以是差分^ 使用㈣輸出㈣和電腦輸入信號可 I2838^75pif.doc 在本發明的另—實施例中可以提供—種碟片介 統’該系統可包括碟片介面和備用裝置。碟片介^ 測命令輸入資訊編碼,可生成測試程式信號;可轉換雷= 輸出資訊’以生成物理層資訊;可處理測試 卢= 理層資訊兩者之-,作爲數位接收資訊,並輸出二以 =以及可轉換數位傳輸資訊,回應數位接收資訊:: ,入資訊’以輸出電腦輸入信號,和/或對數位傳輸資‘ 果以資訊。備用裝置可輪出介面輸入資訊; 為二果”1面輸人資訊可通過執行檢測命令而獲得, 測咋令可回應介面輸出資訊。 取 碟片介面系統可進一步包括一台電腦,它可生 =儲備用裝置命令的電腦輸出信號,並可處理對應於^ 面輸入資訊的電腦輸入信號。 、 法,iff _另—實施例中可以提供—種碟片介面方 動二2·可對檢測命令輸入資訊編碼’以回應檢測啓 邏輯狀態,可生成測試程式信號,作爲數 ^貝Ί及可對作_試結果輸人的數位傳輸資訊 狀H 輪出偵錯資訊;在檢測啓動信號的第一邏輯 作;不二„試程式資訊和偵錯資訊;可轉換電腦輪出 ΐΐ拖:,Ϊ可輪出物理層資訊,作爲數位接收資訊,並 程式作立專輪資訊,以生成電腦輸入信號;可選擇測試 邏^或物理層資訊兩者之一,回應檢測啓動信號的 訊,以二屮=輪出數位接收資訊;以及可處理數位接收資 输出;丨面輸出資訊,可生成數位傳輸資訊,以回應 pif.doc 1283 _75l 數位接收資訊和/或介面輸入資訊。 在本發明的另一實施例中可以提供一種 法,可包括:可對檢測命令輸人資訊編碼,可生i 式信號;㈣換電腦輸出信號,該錢可生成物理tit 可處理測拙式㈣和/或物理層魏兩者之—θ 數位接收資訊,並輸出介面輸出資訊;可轉換數位傳資 訊,用以回應數位接收資訊和/或介面輸人資訊的,以^出 電腦輸入信號;可對触傳歸崎碼 :· 以及’可通過備用裝置輸出介面輸人資 介 時得到的。直衡心日應介面輸出資訊的命令 县憎為上述和其他目的、特徵和優點能更明顯 =’下文特+祕實關,並配合_圖式 說 明如下。 【實施方式】 明本==關進—步詳細制此發明,_可圖解說 明本㈣的實關。但是此發明可通過許多 不 應僅限於按照本文巾灿㈣施舰行 反 =施例是爲了更詳細更完整地揭示本專利=二 充刀地把本發明的使用原理傳達給技術熟練的人。在 这些附圖中,相同的標號代表相同的元件。 是根據本發明實施例所繪示之具有μ介面220 ㈣片w面祕2GG的方塊圖。參關2,碟片介面系統 11 I2838^i75pif.doc 200可包括碟片介面220和諸如硬碟驅 動器的備用裝置230。碟片介面系統200更可以包:! 電腦210。 尺j μ匕彷σ 此=片可對測試命令輪入資訊C0MM1編碼, mfl α)ΜΜ1可生成_程式信 =資=可:nr10輪出的-信餐^ Πΐ = g可選擇測試程式信號· 和/或物里層貞s麟者之—作爲數位接收資訊rxd
理數位接收資訊RXD,以輸出介面輸出資訊atapd。碑 片=22二可轉換已生成的用以回應數位接收資訊_ 和/或“輸入資訊RAWD的數位傳輸資訊txd,以輸出 輸入到電腦2㈣Tx信號,並/或對數位傳輸資訊τχΐ)解 碼,輸出偵錯資訊DEBD。
備用袭置230可回應介面輸出資訊ATApD執行測試 命令,並/或輸齡面輸人:纽,該㈣rawd可以通過 執行測試命令而得到。備用裝置23()可執行使用者和/或電 腦210的“令’進行存儲和/或讀取資訊。存儲資訊的命令 可包括WRITE MULTIPLE和WRITE DMA (直接記憶體
存取)’讀取資訊的命令可包括READ MULTIpLE和READ =MA。備用裝置230可傳輸設備m,並可初始化參數, e又備Π3可回應用以識別該裝置的device命 令,初始化參數可包括特徵設置和/或回應設置特徵的命令 SET FEATURE 〇 電腦210可生成與存取備用裝置230的命令對應的電 12 I28384175pif.doc 腦輸出信號Rx ;可處理與介面輸入資訊RAWD對應的電 腦輸入信號Tx。電腦輸出信號RX和/或電腦輸入信號Tx 可以是一般數位信號、差分信號等等。差分信號可用於速 度車父面的有可用於連接板的信號線的系統;可減少信號線 的數量;可減少由電磁介面產生錯誤信號的可能性。
在碟片介面系統200中,碟片介面220可包括檢測單 元221,它可以檢測到數位單元227是否在正常運行。檢 測單元221可以與一般檢測裝置對應的較低的運行速度接 收^測命令輸入資訊c〇MM1,一般檢測裝置可自動生成 =時測試程式信號TBD。檢測單元221也可監控輸入/輸出 資料以彳貞錯即時測試程式信號。檢測命令輸入資訊 COMM1 了至少對應下列命令中的一個:identify DEVICE ^ SET FEATURE ^ READ MULTIPLE ^ WRITE
:域並行輸入到檢測單元221。當用其他命令檢測數位單 元227日守,碟片介面220的數位單元227的運行可按以上 用簡化的檢測命令進行檢測。檢測命令輸入資訊 1 1可由〒令和/或參數的8位元資訊dd及包括一 =斗地址和/或-晶片卿地址cs在_ 5位元地址資訊 組成,如圖3所示。 明。 碟片介面220將在下面做更詳細的說 根據本發明的實施例, 221、物理層單元223 '多」 層單元223和數位單元227 7,碟片介面220可包括檢測單元 多工器225和數位單元227。物理 227可以採用常用元件,這些元件 1283 8逐Lspitdoc 可通過硬碟介面標準(例如,串列高級技術標準)介面電
腦210和備用裝置23〇。檢測單元221可以實際運行速度 檢測數位單元227。 、X 一檢測單元221可對檢測命令輸入資訊c〇MMl編碼, 該貧訊可回應檢測啓動信號TESTEN的第二個邏輯狀態 (例如’邏輯“高電平”狀態);可生成測試程式信號TBD 作爲數位接收資訊RXD。檢測單元221可對作爲檢測結果 輸入到此處的數位傳輸資訊TXD解碼,以輸出偵錯資訊 D,BD。檢測單力221 $會在檢測啓動信號的第一邏輯狀 您(例如,邏輯“低電平,,狀態)輸出測試程式信號丁肋 =/或傭資訊DEBD。檢測單Α221可接收檢測命令輸入 貧訊C0MM1,•可輸出伯錯資訊DEBD,該資訊可以大於 60MHz的___錢;可根據時健號以大於 150MHz的頻率輸出測試程式信號丁BD。 檢測單元221可包括測試程式信號發生器2211和/或 偵錯貧訊輸ih單元2217。職程式信號發生^ 221丨可對 =命令輸入資訊C_編碼,該資訊可回應檢測啓動 二的第t個邏輯狀態’可生成測試程式信號 、’’曰資輸出單元2217可對數位傳輸資訊TXD解 碼,並輸出傭資訊㈣D。關於檢測單元221,隨後參 照圖3再作說明。 乂 出物腦輸出信號Rx’該信號可輸 傳”^ D作减位接收資訊RXD ;可轉換數位 寻輸貝§fL TXD ’可生成電腦輸入信號Tx。物理層單元223 1283 86i75pif.doc 多工器225可選擇測試程式信號TBD和/或物理層資 訊PHD兩者之-,用以回應檢測啓動信㉟testen二邏 ,狀態丄可將所選的資訊作爲數位接收資訊RXD輸出。 备數位單兀227被檢測時,檢測啓動信號TESTEN可處於 ,輯高電平狀態’多工器225可輸出測試程式信號TBD: 片介面220的數位單元227可正常運行時,檢測啓動 k唬TESTEN可處於邏輯低電平狀態,多工器225可輸出 物理層資訊PHD。 ’ ^妾收並朗電腦輸出信號Rx,可生成並輪㈣腦輸入信 號Tx,Rx與Tx信號可以是差分信號。這時碟片介面22〇 可能沒有被檢測’但是運行正常。電腦輸出信號Rx可以 是差分信號,它可由電腦21〇輸出’該信號可按電腦21〇 和/或使用者發出的有關存儲和/或讀取資訊的指令傳遞資 訊。電腦輸人錢TX可以是差分信號,該信號可傳遞數 位單元227和/或備用褒置230生成的資訊,該資訊可回應 電腦輸出信號Rx,並可從物理層單元223輸出。
_數位單元227可處理數位接收資訊RXD,以輸出介面 輸出貧訊ATAPD ;可生成數位傳輸資訊TXD,回應數位 =收貧訊RXD和/或介面輸入資訊RAWD。由於資訊可符 合標準電子集成驅動器介面(例如,高級技術附加裝置標 準)在數位單元227和/或備用裝置23〇之間傳輸,因此介 出資訊ATAPD和/或介面輸入資訊RAWD可以是符 合標準電子集成驅動器介面 (例如,高級技術附加裝置標 準)的分組資料。 下 15 12838¾ pif.doc 圖3疋圖2所示實施例的檢測單元221的方塊圖。 參照圖3,測試程式信號發生器2211可包括狀態機單 :編碼和/或擾碼單元瓜4及第二多工器2215 1 怨機皁70 2212可包括暫存器2213。狀態機單元2212可生 成並域,出對應於檢測命令輸人資訊CQMM1的存儲資 =,該資訊可回應檢測啓動信號TESTEN的第二個邏輯狀 2212可触鑛資訊DEBD,該資訊是檢 1、°P 7貝讯的一部分。暫存器2213可存儲檢測命令輸入資 訊C0MM1,該資訊可回應存儲資訊。編碼和擾碼單元而 可對檢測命令輸人資訊c〇MM1編碼和/ ^器加輸出,可生成測試減錢邮。編碼貝^ 擾1操作可對某個命令和/或參數上的8位元資訊編碼,使 之k成1G位元資料,並/或可執行代碼轉換,這樣可減少 電磁干擾。編碼和/或擾碼操作可不受位數限制。 偵錯資訊輸出單元2217可包括先進先出記憶體UN 和解碼與解擾碼單元2219。先進先出記憶體2218可按順 序存儲並/或輸出數位傳輸資訊TXD。先進先 、 勘可通舰_單元迎的㈣錢clr^清零= 信號可檢查出可能發生的非正常狀態。解碼和解擾^單= 2219可對來自先進先出記憶體而的數位傳輸資訊TXD 解碼和/絲擾碼,並可輸出倾f訊DEBD。解碼和/ 擾碼操1 乍可對10位元數位傳輸資訊TXD解碼,使之變 8位元資訊’並/或對該資訊解擾碼。解碼和解擾碼操二 不受位數限制。 ' 16 12838¾ pif.doc 次先進先出記憶體2218可輸出關於記憶體已佔用空間 的資Λ CNT ’該資訊可回應數位傳輸資訊TXD的 ^態機單元加可檢查CNT #訊。當記憶體的已占空間 超出閾值時,狀態機單元2212可判斷出發生溢出,並/或 通過用以輸ώ職財錢TBD的雜線 讀,原始資訊概醜。保持原始fWH= 2第—夕工态2215輸出’此時多工器控制信號MUXC 巧於邏輯低電平狀態。當多工器控制信號Muxc可處於 電平狀態時’從編碼和擾碼單元2214輸出的測試程 ί〇=Μ:通f第二多工器2215輪出。保持原始資訊 TXD 禁止數位單元227輸出數位傳輸資訊 TXD。虽 >又有輸出保持原始資訊H〇LDpRi時,數位單元 227才可再次輸出數位傳輸資訊丁XD。 、軍流程圖’顯示了圖2所示碟片介面系統細的 檢ΐΐ是碟片介面系統200中所述的實施例的 =·撒位早70 227的操作過程。狀態機單元2212可接收命 二檢測命令輸入ffRC〇MM1,該資訊可回細Η) 啓動信號TES而的第二個邏輯狀態,並可生成盘 5)=^料訊。暫存1 2213可射摄騎令輸入魏 c〇: ’ _訊可回應S42㈣存蹄訊。編碼和 標準(例如:串列高級技術附加裝 _ 2213的檢測命令輸人資訊⑺顧 .、、、s炎碼’並可生成S43〇的測試程式信號τ肋。 測試程式信號TBD可通過第二多工器2215輸出,被 17 if.doc Ι2838^75Ρι 傳遞到數位單元227,數位單元227可 接收資訊RXD進行處理, 唬作爲數位 測試程式錢勘。 面(例如’高級技術附加她範)。:== 如,硬碟驅動器和/或CD-R0M驅動哭)(例 資訊ATAPD ;可執行相應的命令輸出 出資訊ATAPD ;可輸出介t 7可回應介面輸 心,面輸入資訊RAWD作a ΐ = 術附加裝置標準)。數位單元227 ^x〇 位傳於hTYn ί 序存儲和/或輸出數 傳輸貝5fl TXD。解碼和解擾碼單元2219可 出記憶體2218輸出的數位傳輸資訊伽解碼和/或解擾 亚可輸出S480的谓錯資訊DEBD。先進先出記 8可輸出有關記髓已Μ _資訊CNT,喊數位傳 輸貧訊TXD存儲。狀態機單元2212可檢查CNT資訊,當 記憶體已占空間超出閾值時,可判斷出發生了溢出,並^ 通過輸出測試程式信號TBD的連接線(TBD輸出線)將 保持原始資訊HOLDPRI輸出。 使用者可將偵錯資訊DEBD確定爲檢測結果,檢測結 果預期爲S490的檢測命令輸入資訊c〇MM1。使用者可將 來自解碼和解擾碼單元2219的偵錯資訊DEBD與預期的 檢測結果做比較,以確定兩者是否相互對應。如果結果是 不對應’那麼使用者可判斷數位單元可能發生錯誤。如果 18 I2838^75pKdoc D1BD 結果對應’則使用者可輸 入二他檢測〒令輸入資訊C0MM1到檢測單元221。
Hfl DEBD可對應預期的檢測結果即檢測命令輸入資訊 C0MM1 (該資訊可對應上文所述的這些命令:咖卿^
DEVICE ^ SET FEATURE ^ READ MULTIPLE,WRITE MULTIPLE ’ READ DMA 及 WRITE DMA)時,使用者則 可判断出數位單元沒有發生任何錯誤。 、 根據本發明的實施例,碟片介面系統2〇〇可通過碟片 介面220接收簡化的檢測命令資訊c〇MM1,該碟片介面 220可具有檢測單元22卜可自動生成和/或監控輸入/輸出 貧料,以偵錯即時測試程式信號。 根據本發明的實施例,在碟片介面系統中,碟片介面 可以:般檢測裝置對應的較低的運行速度接收簡化的檢測 命令資訊,以及可自動生成即時測試程式信號。碟片介面 的數位單元可在實際的運行速度下運行,而檢測命令資訊 和/或偵錯資料可以較低的速度輸入和輸出。這樣,高速運 行的數位電路就可以用一台成本較低的檢測裝置來檢測 了0 根據本發明的實施例,儘管檢測命令輸入資訊 COMM1可由一命令和參數的8位元資訊dd及包括一資 料地址DA和/或一晶片選擇地址CS在内的5位元地址資 訊組成,但是正如技術一般的人所希望的那樣,檢測命令 輸入資§fl和地址資訊可由任意位元陣列成,人們將會明白 這一點。 19 12838¾ 75pif.doc 1() / ittr 料解物或職碼操作可將 =兀數,傳輸_ TXD解碼成8位元資訊,但是 ^人所敎_樣,難傳輸#訊彻 =位元_成並可被解碼成任意位數,人們將會明白這一 儘管本剌的實_找照_ at ^行說明的,但是正如技術-般的人所希望的那樣: 二發明範圍内,任何介面都可被採用,人們將二^ “低實ΐ列採用了“高電平邏輯狀態,,和 的人所希望的那樣,在本發明範_, 以被採用,人們將會明白這—點。仃邏輯狀態都可 in笞本务明的實施例採 =:=::rr是任意的存儲裝置, 而且,人們也將會明白,正如枯淋 和ΐ備那樣’本發明實施例中所述的碟片介面 ^ 可作爲硬體和/或軟體來執行。 技術針對電腦來說明的,但是正如 明,人們將會明白這-點何處理設備都可採用該發 s奢解到,正如以下要求所述的那樣,本發明 20 1283 8^i75pif.doc 可能會產生種種形式和細節上的改變,但不會偏離其精 和範圍。 雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以 限f本發明,任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之精神 =範圍内,當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之保護 範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 · 【圖式簡單說明】 、 圖1緣示一具有碟片介面的傳統碟片介面系统的方塊 · 圖2繪示一個包括本發明實施例中提供的碟片介面的 碟片介面系統的方塊圖。 、 圖3是圖2所示檢測單元的實例方塊圖。 —圖4疋—個流程®1 ’顯示圖2所示碟片介面系統的運 【主要元件符號說明】 1〇〇碟片介面系統 120碟片介面 11〇電腦 13〇備用裝置 121物理層單元 123數位單元 200介面系統 21 12838j575pif-doc 210電腦 220碟片介面 230備用裝置 221檢測單元 223物理層單元 225多工器 227數位單元 2211測試程式信號發生器 2212狀態機單元 2213暫存器 2214編碼和/或擾碼單元 2217偵錯資訊輸出單元 2218先進先出記憶體 2219解碼與解擾碼單元 S410-S490本發明之方法的各步驟 22

Claims (1)

12838¾ 75pif.doc 十、申請專利範圍: 1·一種碟片介面,包括: A則早70 ’回應一檢測啓動信號的-第二個邏輯狀 ί作命令輸,訊進行編碼,以生成—測試程式信 二二、巧接收育訊’並對作爲檢測結果輸人的—數位 仃碼’以輸出—偵錯資訊,其中該檢測單元 動信號的一第一邏輯狀態,不輸出該測試程式 6唬和該偵錯資訊; 次⑽?理f早70,轉換—電腦輸出資訊,輸出一物理層 处艰多广$ ’回應該檢測啓動信號的該第二個邏輯狀 悲〜擇該測試程式信號和該物理層資一 出該數位接收資訊;以及 可心 以輸 -,位處理單元’回應魏位接㈣訊或該介面輸入 貝成’處理_位接收f訊,以輸出一介 成該數位傳輸資訊。 ㈤貝几生 2.如中請專利範圍第i項所述的碟片介面, 測早元更包括: “ T Μ檢 -測試程雜號射H,回應驗轉 二個邏輯狀態,對該檢測命令輸入資訊;虎= 該測試程式信號;以及 馬以生成 -债錯資訊輸料元,對魏位_f 以輸出該偵錯資訊。 L進仃解碼, 23 1283 86Js75pif-«loc 測試^介面,其中該 狀態,該檢測啓動信號的該第二個邏輯 -暫ίϊΐ命令輸入資訊的-存儲資訊; 訊;以及°σ ρ 4存儲資訊,存賴檢測命令輸入資 二對==出的該檢測命令 4如申杜直^碼以生成_試程式信號。 债錯資訊輸第2項中所述的碟片介面,其中該 ===先出記憶體存儲並輸 數位傳單元對從該先進先出記憶體輸出的該 5 /申仃解碼和紐碼,以輸出該彳貞錯資訊。 進先出第4項所述㈣片介面,其中該先 記4°已匕門=該數位傳輸資訊的存儲,輸出有關- 出:二已占空間超出一間值時,判斷其謹 訊輪出^ 程式信號的輸出連接線,將保持原始資 機單6·Γ=ί利範圍第3項所述的碟片介面,其中該態 八早70接收5亥谓錯資訊,將其作爲該檢測命令資訊的一部 才0 Φ «/.如Γ請專利範圍第1項中所述的碟片介面,其中該 電腦輸出信號和該電腦輸人錢是不同的信號。 24 I2838^i75pif.doc 8.—種碟片介面系統,包括: -測: I:,命令輸入資訊進行編碼以生成 訊’處理該測試程式錢 數位接收㈣,以輸出—介面輸出資$ 之-作爲- =成的—數位傳= 谓錯資訊二及虎或對該數位傳輸資訊解碼以輸出-
括- ,申?^jf圍第8項所述的碟片介面系統,更包 腦矜出神 成對應於存取該備職置之命令的電 〇>. 以及處理對應該介面輸入資訊的電腦輸入信 裝t回應介面輪出資訊,輪出該介面輸入資 〇作為執仃该檢測命令得到的結果。 、 10·、士口申凊專利範圍第8項所述的碟片介面系統,其 ”亥檢成ί Π卩令輸入資訊包括對應於至少下列命令之一的資
A · IDENTIFY DEVICE,SET FEATURE ,READ MULTIPLE ’ WRITE MULTIPLE,READ DMA 和 WRITE DMA 〇 11·如申請專利範圍第8項所述的碟片介面系統,其 中該碟片介面包括·· 一檢測單元,回應一;^測啓動信號的一第二個邏輯狀 態,對一檢測命令輸入資訊進行編碼,以生成一測試程式 信號作爲一數位接收資訊,並對作爲檢測結果輸入的一數 25 128386i 75pif.doc 位傳輸資訊解碼,以輸出一價錯資訊, 該檢測啓動信號的一第一邏輯狀熊,二中忒檢測單元在 號和該偵錯資訊; 〜、 兩出該測試程式信 -物理層單元,轉換—電職& 層資訊作爲該數位接收資訊,以 ^金以輸出-物理 以生成一電腦輸入信號; 、忒數位傳輸資訊, 一多工器,回應該檢測啓動信 該測試程式信號和該物理層資 μ邏輯狀態’選擇 接收資訊;以及 貝Λ兩者之―,以輸出該數位 訊,處理該數位資訊介面輸入資 成該數位傳輸資訊。 軋出垓”面輸出資訊,並生 12.—種碟片介面方法,包括: 回應一檢測啓動信號的—笛— 二;:試程式信號二= 轉換:電腦輪=測:=;偵錯資訊,· 入資訊,· 轉換數位傳輸資訊,以生成-電腦輸 信號邏輯狀態,選擇該測試程式 以及 貞柏者之―,叫出職位接收資訊,· 26 128386i 75pif.doc 應該數位接收資訊或該介面輸入資訊,處理該數位 資笊育汛以輸出該介面輸出資訊,以及生成該數位傳輪 中兮、申請專利範圍第12項所述的碟片介面方法’其 和:信號是通過對該檢測命令輸入資訊進行編碼 Ζ.成的貧訊,該偵錯資訊是通過對該數位傳輪資 戒進仃解碼和解擾碼而生成的資訊。 寻别貝 中該^料碟編方法,其 該檢:個邏輯狀態’生成對應 對::二存儲貝成,存儲該檢測命令輸人資訊;以及 ^ 碼,以生成制邮式信號。 存储並輸出該數位傳輸資訊;以及 資訊對該數位傳輸資訊進行解碼和解擾碼,以輸出該偵錯 如申請專利範圍第15 中存储該數位傳輸資訊之步驟包括:,碟片,|面方法’其 空間的資訊數1=輸貝Λ的存儲’輸出有關-記憶體已占 通 逆拱線,將保持原始資訊輸出。 27 128386J575pif.doc Π.如申請專利範圍第u項所述的碟 立 中該谓錯資訊可使用爲該檢測命令資訊的_部分。〆” 18.如申請專利範圍第12項所述的碟片介: 立 中該電腦輸人信號是不同的信號^ ^ 19·種碟片介面方法,包括: 信號對—檢測命令輸人資訊進行編碼,以生成—測試程式 轉換一電腦輸出信號,以生成一物理層資訊; 處理該_程式域和該物理層 一數位接收資訊,以輸出一介面輸出資訊; 作 該數:數位Ϊ收資訊或該介面輸入資訊所生成的 緣位傳輸^ ’以輸電腦輸入信號; 及亥數位傳輸貧訊進行解碼,以輸出一谓錯資訊;以 入資輸出資訊’通過一備用裝置輸出該介面輸 該檢測命其中該結果f訊是該_裝置執行 包括·如申'月專利範圍第19項所述的碟片介面方法,更 電腦輸出信號,該電腦輸出信號係對應於電腦 存取_岐備之命令,錢 ^理對應該介面輸人資訊的—電腦輸入信號。 中該檢測19 ___找’其 7輸入貝矾包括至少一條對應於下列命令的資 28 128386is75pif.doc 訊:IDENTIFY DEVICE,SET FEATURE,READ MULTIPLE,WRITE MULTIPLE,READ DMA 和 WRITE DMA 〇 22.如申請專利範圍第19項所述的碟片介面方法,其 中該檢測命令輸入資訊和該電腦輸出信號的處理包括: 回應一檢測啓動信號的一第二個邏輯狀態,對該檢測 命令輸入資訊進行編碼,以生成該測試程式作號作良 位接收資訊,並且對作爲結果輸入的該數位傳輸資;;解 碼,以輸出戎偵錯資訊,其中在該檢測啓動信號的一第一 邏輯狀態下,不輸出該測試程式信號和該偵錯資訊; 轉^該電腦輸出信號爲—數位信號,以輸出該物理層 接收資訊,以及轉換該數位傳輸資訊, 以生成该電腦輸入信號; 回應言亥檢測啓動信號的該邏輯狀態,選擇 和該物理層資訊兩者之一 μ式耘式 以及 以輸出5亥數位接收資訊; 回應該數位接收資訊或介面輪 二⑽’以輪出該介面輸出資訊’並且生成 29
TW093126131A 2003-09-09 2004-08-31 Disc interface, disc interface system having the same, and disc interfacing method TWI283861B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2003-0063407A KR100518596B1 (ko) 2003-09-09 2003-09-09 실제 동작 속도의 테스트 벤치를 생성하는 디스크인터페이스 장치, 및 이를 구비한 디스크 인터페이스시스템, 및 그 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200518076A TW200518076A (en) 2005-06-01
TWI283861B true TWI283861B (en) 2007-07-11

Family

ID=34309406

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW093126131A TWI283861B (en) 2003-09-09 2004-08-31 Disc interface, disc interface system having the same, and disc interfacing method

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7103496B2 (zh)
JP (1) JP2005085282A (zh)
KR (1) KR100518596B1 (zh)
TW (1) TWI283861B (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7346135B1 (en) 2002-02-13 2008-03-18 Marvell International, Ltd. Compensation for residual frequency offset, phase noise and sampling phase offset in wireless networks
US7319705B1 (en) 2002-10-22 2008-01-15 Marvell International Ltd. Programmable pre-emphasis circuit for serial ATA
US7246192B1 (en) 2003-01-10 2007-07-17 Marvell International Ltd. Serial/parallel ATA controller and converter
US8930583B1 (en) 2003-09-18 2015-01-06 Marvell Israel (M.I.S.L) Ltd. Method and apparatus for controlling data transfer in a serial-ATA system
KR101910933B1 (ko) * 2011-12-21 2018-10-24 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 집적회로 및 그의 테스트 제어방법
US10739786B2 (en) 2016-07-01 2020-08-11 Uatc, Llc System and method for managing submaps for controlling autonomous vehicles

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS593647A (ja) * 1982-06-30 1984-01-10 Fujitsu Ltd デ−タ処理システム
JPS6375844A (ja) * 1986-09-18 1988-04-06 Fujitsu Ltd 障害修復の確認方法
JPH08297927A (ja) * 1995-04-27 1996-11-12 Sony Corp 記録再生装置および磁気記録再生装置
JPH09292447A (ja) * 1996-04-26 1997-11-11 Sony Corp 故障検出回路
US6263373B1 (en) * 1998-12-04 2001-07-17 International Business Machines Corporation Data processing system and method for remotely controlling execution of a processor utilizing a test access port
JP2001005768A (ja) * 1999-06-25 2001-01-12 Nec Ibaraki Ltd 磁気テープ装置
JP2001201542A (ja) * 2000-01-18 2001-07-27 Toshiba Microelectronics Corp スキャンフリップフロップ及び半導体集積回路
JP2001296331A (ja) * 2000-04-13 2001-10-26 Seiko Epson Corp スキャンテスト回路
JP2002071758A (ja) * 2000-08-29 2002-03-12 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路のテスト装置
US8019901B2 (en) * 2000-09-29 2011-09-13 Alacritech, Inc. Intelligent network storage interface system
JP4863547B2 (ja) * 2000-12-27 2012-01-25 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Bist回路内蔵半導体集積回路装置
JP2003084997A (ja) * 2001-09-11 2003-03-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd エミュレーションシステム及びその検証方法
US6747469B2 (en) * 2001-11-08 2004-06-08 Koninklijke Philips Electronics N.V. Preconditioning integrated circuit for integrated circuit testing
JP4075360B2 (ja) * 2001-11-27 2008-04-16 セイコーエプソン株式会社 データ転送制御装置及び電子機器
KR20030095828A (ko) * 2002-06-14 2003-12-24 삼성전자주식회사 주변기기 인터페이스 장치 및 그에 적합한 우선 순위 제어방법

Also Published As

Publication number Publication date
US7103496B2 (en) 2006-09-05
TW200518076A (en) 2005-06-01
KR20050026672A (ko) 2005-03-15
US20050065748A1 (en) 2005-03-24
JP2005085282A (ja) 2005-03-31
KR100518596B1 (ko) 2005-10-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5039061B2 (ja) メモリトランザクション再生メカニズム
US6725379B1 (en) Stolen computer detection and protection
TWI283352B (en) Integrated circuit having multiple modes of operation
CN107918571B (zh) 测试储存单元的方法以及使用该方法的装置
CN101201776A (zh) 多操作系统平台整合测试方法
TWI283861B (en) Disc interface, disc interface system having the same, and disc interfacing method
CN108132910A (zh) 系统互连以及具有系统互连的片上系统
JP2004126707A (ja) インタフェース変換装置及びインタフェース変換方法
CN111656447B (zh) 用于时钟信号抖动产生的技术
EP3353699A1 (en) Techniques for coordinating device boot security
JP2014174997A (ja) オンダイのプログラム可能なヒューズ
WO2008011326A1 (en) Detecting and differentiating sata loopback modes
US20140047290A1 (en) Error generating apparatus for solid state drive tester
KR20230036730A (ko) 메모리 컨트롤러 및 이를 포함하는 메모리 시스템
US7590781B2 (en) Signal processing system for electronic systems having different types of input/output controllers
EP2775403B1 (en) Randomization of access to entire memory contents of a fuse array
CN107203452A (zh) 硬盘监控方法及硬盘监控系统
JP4455393B2 (ja) プログラマブルロジックコントローラ
JP7499449B2 (ja) 在席検知システムおよび在席検知方法
KR101852986B1 (ko) 중복 퓨즈 코딩을 위한 컴퓨터 실행 방법, 정보 저장 장치 및 비일시적 컴퓨터 판독 가능 매체
JP2005085282A5 (zh)
JP2806856B2 (ja) 誤り検出訂正回路の診断装置
KR100335374B1 (ko) 멀티미디어카드에 기반한 비디오 코덱 제어 장치
TWI345151B (en) Apparatus and method for testing sata function of motherboard
US11481600B2 (en) Semiconductor devices