JPS6375844A - 障害修復の確認方法 - Google Patents
障害修復の確認方法Info
- Publication number
- JPS6375844A JPS6375844A JP61220153A JP22015386A JPS6375844A JP S6375844 A JPS6375844 A JP S6375844A JP 61220153 A JP61220153 A JP 61220153A JP 22015386 A JP22015386 A JP 22015386A JP S6375844 A JPS6375844 A JP S6375844A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- test data
- information
- test
- trouble
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000011084 recovery Methods 0.000 title abstract description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 30
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims abstract description 6
- 230000008439 repair process Effects 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 claims description 5
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 12
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
故障発生時のロギングデータを分析し、環境を再現して
、故障修復の確認を行なう過程を自動化した方式。
、故障修復の確認を行なう過程を自動化した方式。
本発明は、電子計算機の本体系、周辺系、および回線系
などの装置において装置異常が発生した際、テストデー
タを自動生成して故障環境を再現し、障害修復の確認を
行なう方式に関する。
などの装置において装置異常が発生した際、テストデー
タを自動生成して故障環境を再現し、障害修復の確認を
行なう方式に関する。
装置の保守には装置異常の早期発見、迅速な分析、修復
が要求され、修復したらそれで正常な状態に戻ったか否
かの修復確認の作業が要求される。
が要求され、修復したらそれで正常な状態に戻ったか否
かの修復確認の作業が要求される。
装置に異常が発生するとセンスデータ、ＬＯＧ（ログ）
情報などを元に保守担当員が故障箇所を推定し、プリン
ト板交換などの修理を行ない、次いで修復の確認を行な
うが、これには予め用意されているテストプログラムを
走行させ、正常に実行されるかどうかを見る。
情報などを元に保守担当員が故障箇所を推定し、プリン
ト板交換などの修理を行ない、次いで修復の確認を行な
うが、これには予め用意されているテストプログラムを
走行させ、正常に実行されるかどうかを見る。
このテストプログラムはあらゆるｆ［の障害を想定し、
それに対処するものであるので、膨大な量があり、作成
が相当に厄介である。また修復時には保守担当員が持つ
知識経験をベースに装置が異常を起した状態に対応して
いると思われるテストプログラム、テストデータを選択
、実行して、修復確認する。これはいわば各種各様の動
作を行なわせるからその中には故障を生じた動作も含ま
れているであろう、それが正常に実行されたということ
は障害が修復されたということであるとする、というも
のであり、このためテストプログラムの走行は例えば５
時間などの長時間に亘るものであった。また、保守担当
員の経験、知識が修復確認作業の手際に大きく左右する
という問題点があった。
それに対処するものであるので、膨大な量があり、作成
が相当に厄介である。また修復時には保守担当員が持つ
知識経験をベースに装置が異常を起した状態に対応して
いると思われるテストプログラム、テストデータを選択
、実行して、修復確認する。これはいわば各種各様の動
作を行なわせるからその中には故障を生じた動作も含ま
れているであろう、それが正常に実行されたということ
は障害が修復されたということであるとする、というも
のであり、このためテストプログラムの走行は例えば５
時間などの長時間に亘るものであった。また、保守担当
員の経験、知識が修復確認作業の手際に大きく左右する
という問題点があった。
本発明はか−る点を改善し、障害発生時にその障害に対
するテストプログラム（テストデータ）を自動生成させ
、保守担当員が障害箇所の修復をしたら直ちにそのテス
トプログラムを走行させて、迅速、適確な確認を可能に
しようとするものである。
するテストプログラム（テストデータ）を自動生成させ
、保守担当員が障害箇所の修復をしたら直ちにそのテス
トプログラムを走行させて、迅速、適確な確認を可能に
しようとするものである。
本発明の障害修復の確認方式は、電子計算機の本体系、
周辺系及び回線系各装置に装置異常が発生した際、ログ
データ（１４）を参照して異常修復を行なう間に、該ロ
グデータよりテストデータを自動生成し、該テストデー
タにより装置をテストして修復確認を行なうことを特徴
とするものである。
周辺系及び回線系各装置に装置異常が発生した際、ログ
データ（１４）を参照して異常修復を行なう間に、該ロ
グデータよりテストデータを自動生成し、該テストデー
タにより装置をテストして修復確認を行なうことを特徴
とするものである。
この方式によれば、装置の修復確認を保守担当者の能力
に依存することな（、また莫大なテストデータ群を用意
することなく行なうことができ、テストデータが自動生
成されることから診断時間の短縮された信頼性の高い診
断が可能となり、テストデータの開発に関しても工数を
短縮することが可能になる。
に依存することな（、また莫大なテストデータ群を用意
することなく行なうことができ、テストデータが自動生
成されることから診断時間の短縮された信頼性の高い診
断が可能となり、テストデータの開発に関しても工数を
短縮することが可能になる。
第１図は、外部大容量記憶装置（磁気ディスク）におけ
る本発明のテストデータの自動生成の実施例を示す。１
０は該記憶装置、１２はテストデータ自動生成機構であ
る。該機構１２は記憶装置１０に関するＬＯＧデータを
常時採取してメモリに循環的に格納しており、従って記
憶装置１０に障害例えば訂正不可能な読取りデータが発
生すると、ＬＯＧデータメモリを読出すことによりその
読取りエラーが発生した箇所（場所）情報、読取りエラ
ーであることの事象コード、およびそれ以前は何をして
いたかの履歴情報が得られる。保守担当員はこのＬＯＧ
データ１４をみて障害原因ひいては修理すべき部分を推
定し、修復する。
る本発明のテストデータの自動生成の実施例を示す。１
０は該記憶装置、１２はテストデータ自動生成機構であ
る。該機構１２は記憶装置１０に関するＬＯＧデータを
常時採取してメモリに循環的に格納しており、従って記
憶装置１０に障害例えば訂正不可能な読取りデータが発
生すると、ＬＯＧデータメモリを読出すことによりその
読取りエラーが発生した箇所（場所）情報、読取りエラ
ーであることの事象コード、およびそれ以前は何をして
いたかの履歴情報が得られる。保守担当員はこのＬＯＧ
データ１４をみて障害原因ひいては修理すべき部分を推
定し、修復する。
一方、テストデータ自動生成機構はＬＯＧデータのうち
の箇所情報より回路■がシーク情報を生成し、事象コー
ド（ボジシッニング、リード、ライトのエラ一種別）よ
り回路■がデータパターンを作成し、履歴（［客先生前
のＳＦＭ−５ＥＥＫ変位情報の記録及び障害発生時のリ
ード／ライトデータ情報）を基に回路■が初期設定情報
（環境設定情報）を作成する。テストデータ生成部はこ
れらを基にテストデータ（テストプログラム）を作成し
、メモリの各ＣＣＷ（チャネル コマンド ワード）域
１６に逐次書込む。回路ｒ、ｎ、ｍはリード／ライト別
のワーストパターンをデフォルトとし、履歴のデータを
応用するＰＬＡ手法の応用回路とする。なお回路■〜■
はソフトウェアで構成することもできる。
の箇所情報より回路■がシーク情報を生成し、事象コー
ド（ボジシッニング、リード、ライトのエラ一種別）よ
り回路■がデータパターンを作成し、履歴（［客先生前
のＳＦＭ−５ＥＥＫ変位情報の記録及び障害発生時のリ
ード／ライトデータ情報）を基に回路■が初期設定情報
（環境設定情報）を作成する。テストデータ生成部はこ
れらを基にテストデータ（テストプログラム）を作成し
、メモリの各ＣＣＷ（チャネル コマンド ワード）域
１６に逐次書込む。回路ｒ、ｎ、ｍはリード／ライト別
のワーストパターンをデフォルトとし、履歴のデータを
応用するＰＬＡ手法の応用回路とする。なお回路■〜■
はソフトウェアで構成することもできる。
保守担当員は障害を修復すると、上記作成されたテスト
プログラムによりテストを行なう。このテストプログラ
ムは上記のようにして作成され、発生した障害に対応す
るものであるから、何回か繰り返し実行することで障害
を起した状態が再現され、それが正常に実行されること
で修復完了を確認することができる。
プログラムによりテストを行なう。このテストプログラ
ムは上記のようにして作成され、発生した障害に対応す
るものであるから、何回か繰り返し実行することで障害
を起した状態が再現され、それが正常に実行されること
で修復完了を確認することができる。
ＬＯＧデータの具体例を第２図に示す。磁気ディスク（
、ＤＡＳＤ）から読取り処理を実行しているときシーク
エラーが発生したとすると、箇所情報としてはＣＣＨＩ
ｆ Ｒ即ち、シークエラーが発生したときのシリンダ（
ＣＣ）ナンバ（本例では０２）、、該当ヘッド（ＨＨ）
ナンバ′（同０２）、およびレコード（Ｒ）ナンバ（同
３）が採用され、本例では０２０２３が該箇所情報にな
る。事象コードは、これは０１はシークエラー、０２は
リードエラー、０３はライトエラーなどと予め定めてお
き、本例ではシークエラーであるから０１とする。履歴
情報はヘッドの以前の位ヱ、付加情報即ち以前実行され
ていた処理の情報（リードなら０１．ライトなら０２．
・・・・・・）および履歴情報の個数で構成する。
、ＤＡＳＤ）から読取り処理を実行しているときシーク
エラーが発生したとすると、箇所情報としてはＣＣＨＩ
ｆ Ｒ即ち、シークエラーが発生したときのシリンダ（
ＣＣ）ナンバ（本例では０２）、、該当ヘッド（ＨＨ）
ナンバ′（同０２）、およびレコード（Ｒ）ナンバ（同
３）が採用され、本例では０２０２３が該箇所情報にな
る。事象コードは、これは０１はシークエラー、０２は
リードエラー、０３はライトエラーなどと予め定めてお
き、本例ではシークエラーであるから０１とする。履歴
情報はヘッドの以前の位ヱ、付加情報即ち以前実行され
ていた処理の情報（リードなら０１．ライトなら０２．
・・・・・・）および履歴情報の個数で構成する。
次に自動生成されるテストデータの一例を示す。
ＳＦＭ ＸＸＸＸＸＸＸＸ５ＥＥＫ
ａｄｄｒｌ （以前の位置情報）ＳＥＥＫ
ａｄｄｒ２ （障害発生の位置情報）ＳＩＤＥＱ
ａｄｄｒ３ Ｔｉｃ ＊ −８ ＲＥＡＤ−ＤＡＴＡ ＸＸＸＸＸＸＸＸａｄｄｒｌ ：
０００００５０００１ （ＯＯＣＣＨＨ）ａｄｄｒ
２ ： ０００００２０００２ （ＯＯＣＣＨＨ）ａ
ｄｄｒ３ ： ０００２０００２００ （ＣＣＨＨＲ
）ＳＥＥＫエラーが発生した際は、ヘッドが正常にシー
クを行ない、その地点で基本的動作（リード）を正常に
行なうか否かを確認する。リードデータが正しいか否か
のチェックではない。
ａｄｄｒｌ （以前の位置情報）ＳＥＥＫ
ａｄｄｒ２ （障害発生の位置情報）ＳＩＤＥＱ
ａｄｄｒ３ Ｔｉｃ ＊ −８ ＲＥＡＤ−ＤＡＴＡ ＸＸＸＸＸＸＸＸａｄｄｒｌ ：
０００００５０００１ （ＯＯＣＣＨＨ）ａｄｄｒ
２ ： ０００００２０００２ （ＯＯＣＣＨＨ）ａ
ｄｄｒ３ ： ０００２０００２００ （ＣＣＨＨＲ
）ＳＥＥＫエラーが発生した際は、ヘッドが正常にシー
クを行ない、その地点で基本的動作（リード）を正常に
行なうか否かを確認する。リードデータが正しいか否か
のチェックではない。
以上説明したことから明らかなように本発明によれば、
装置の修復確認を保守担当者の能力に依存することなく
、また莫大なテストデータ群を用意することなく行なう
ことができ、テストデータが自動生成されることから診
断時間の短縮された信頬性の高い診断が可能となり、テ
ストデータの開発に関しても工数を短縮することが可能
になる。
装置の修復確認を保守担当者の能力に依存することなく
、また莫大なテストデータ群を用意することなく行なう
ことができ、テストデータが自動生成されることから診
断時間の短縮された信頬性の高い診断が可能となり、テ
ストデータの開発に関しても工数を短縮することが可能
になる。
第１図は本発明の実施例を示す説明図、第２図はＬＯＧ
データの具体例を示す説明図である。 第１図で１２はテストデータ自動生成機構、１４はＬＯ
Ｇデータ、１６はＣＣＷ域である。
データの具体例を示す説明図である。 第１図で１２はテストデータ自動生成機構、１４はＬＯ
Ｇデータ、１６はＣＣＷ域である。
Claims (1)
- 電子計算機の本体系、周辺系及び回線系各装置に装置異
常が発生した際、ログデータ（１４）を参照して異常修
復を行なう間に、該ログデータよりテストデータを自動
生成し、該テストデータにより装置をテストして修復確
認を行なうことを特徴とする障害修復の確認方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61220153A JPS6375844A (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | 障害修復の確認方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61220153A JPS6375844A (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | 障害修復の確認方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6375844A true JPS6375844A (ja) | 1988-04-06 |
| JPH0467217B2 JPH0467217B2 (ja) | 1992-10-27 |
Family
ID=16746717
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61220153A Granted JPS6375844A (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | 障害修復の確認方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6375844A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005085282A (ja) * | 2003-09-09 | 2005-03-31 | Samsung Electronics Co Ltd | ディスクインターフェース装置、それを備えたディスクインターフェースシステム及びその方法 |
| JP2008146141A (ja) * | 2006-12-06 | 2008-06-26 | Nec Corp | ストレージシステムと記憶領域の選択方法並びにプログラム |
| US10635522B2 (en) | 2017-05-08 | 2020-04-28 | Fujitsu Limited | Processor-fault reproduction method, information processing apparatus, and recording medium recording execution-time reporting program |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59220153A (ja) * | 1983-05-30 | 1984-12-11 | Kagome Kk | 乳酸発酵飲料の製造方法 |
-
1986
- 1986-09-18 JP JP61220153A patent/JPS6375844A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59220153A (ja) * | 1983-05-30 | 1984-12-11 | Kagome Kk | 乳酸発酵飲料の製造方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005085282A (ja) * | 2003-09-09 | 2005-03-31 | Samsung Electronics Co Ltd | ディスクインターフェース装置、それを備えたディスクインターフェースシステム及びその方法 |
| JP2008146141A (ja) * | 2006-12-06 | 2008-06-26 | Nec Corp | ストレージシステムと記憶領域の選択方法並びにプログラム |
| US10635522B2 (en) | 2017-05-08 | 2020-04-28 | Fujitsu Limited | Processor-fault reproduction method, information processing apparatus, and recording medium recording execution-time reporting program |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0467217B2 (ja) | 1992-10-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5410545A (en) | Long-term storage of controller performance | |
| WO2021169260A1 (zh) | 一种系统板卡电源检测方法、装置、设备及存储介质 | |
| US4268905A (en) | Autonomous fault diagnosis for disk drive using an internal microprocessor | |
| Hsiao et al. | Reliability, availability, and serviceability of IBM computer systems: A quarter century of progress | |
| US6591389B1 (en) | Testing system for circuit board self-test | |
| US3916178A (en) | Apparatus and method for two controller diagnostic and verification procedures in a data processing unit | |
| JPS6375844A (ja) | 障害修復の確認方法 | |
| Bashkow et al. | A programming system for detection and diagnosis of machine malfunctions | |
| JP3986898B2 (ja) | メモリ擬似故障注入装置 | |
| JPS6146864B2 (ja) | ||
| JP3342039B2 (ja) | ファイルを管理する処理装置 | |
| KR950012495B1 (ko) | 메모리 진단장치 및 방법 | |
| JP4398102B2 (ja) | 車載用電子機器 | |
| JP3664466B2 (ja) | メモリ・チェック・テスト実行方法及び記憶媒体 | |
| JP2776815B2 (ja) | 多重プロセッサシステムの障害回復方法 | |
| JPH0619638A (ja) | ディスク装置のオンライン診断における自動スケジュール方法 | |
| JPH05324950A (ja) | 情報処理装置の論理カード | |
| JP2878014B2 (ja) | Ｒａｍ試験方式 | |
| KR960020563A (ko) | 전전자 교환기의 이중화 공통 버스 자원 및 프로세서의 자가 진단 및 복구 방법 | |
| JPS62165254A (ja) | Ｅｃｃ回路付記憶装置 | |
| JPH07253913A (ja) | ログ解析プログラムの検証装置 | |
| JPS60171554A (ja) | メモリの診断処理方法 | |
| JPS60254244A (ja) | 再試行制御方式 | |
| JPS5922319B2 (ja) | 主記憶制御装置の論理回路診断方式 | |
| JPH02178862A (ja) | 情報処理装置 |