JPH0619638A - ディスク装置のオンライン診断における自動スケジュール方法 - Google Patents

ディスク装置のオンライン診断における自動スケジュール方法

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JPH0619638A
JPH0619638A JP4177279A JP17727992A JPH0619638A JP H0619638 A JPH0619638 A JP H0619638A JP 4177279 A JP4177279 A JP 4177279A JP 17727992 A JP17727992 A JP 17727992A JP H0619638 A JPH0619638 A JP H0619638A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、例えば、磁気ディスク装置をオン
ライン診断するときの自動スケジュール方法に関し、ユ
ーザジョブ, ユーザシステムに影響を与えることなく診
断する。 【構成】 ユーザの計算機システムに接続されている、
例えば、各磁気ディスク装置のメジャメントブロック(M
B), 又は、ユニットコントロールブロック(UCB) を
参照し、各磁気ディスク装置のビジー状態に対応して、
各磁気ディスク装置毎に、入出力命令を発行する期間(D
L 値) を動的に変更,設定して、各磁気ディスク装置
に対応してテストモジュール名と,DL値とからなるテ
ストスケジュールテーブルを生成し、該生成されたテ
ストスケジュールテーブルに基づいて、該磁気ディス
ク装置を診断する。又、上記設定した入出力命令を発行
する期間(DL 値) と、ユーザシステムの装置別のトラッ
ク数, 及び装置別の平均トラックリード時間を基に、全
面リード完了日時を予測する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、計算機システムに接続
される、例えば、磁気ディスク装置の使用によるジョブ
アベンド (ジョブの異常終了),及びシステムダウンを未
然に防止するための、該磁気ディスク装置に対するオン
ライン自動診断の自動スケジュール方法に関する。
【0002】最近の電子計算機のシステムの大規模化に
伴い、周辺装置台数(特に磁気ディスク装置)の増加は
著しく、障害の未然防止,障害発生時の早期対処が要求
されている。
【0003】例えば、電子計算機の周辺系装置を保守す
る分野において、保守側の課題の1つである“異常装置
の早期確認・早期対処,重要障害の未然防止”を実現す
るため、システム稼働中に磁気ディスク装置の診断をオ
ンライン状態のまま保守用(CE)シリンダ,サーフェス・
アナライズ(SA)シリンダ{全トラックのホームアドレス
(HA)が記憶されていて、あるトラックが読めないとき、
該サーフェス・アナライズ(SA)シリンダを読んで、該ト
ラックのホームアドレス(HA)を認識して、各レコードを
読み取り処理するためのシリンダ}, ユーザデータ域全
ての、例えば、全面リードテストを行い、指定された期
間でユーザジョブに影響を与えないように診断(特に媒
体の表面検査)を行うことが必要となる。
【0004】保守技術者はその結果をみて、重点的にチ
ェックする磁気ディスク装置を絞れる。又、オンライン
診断中に重要障害を検出した場合にはカストマエンジニ
ア(CE)所課へ自動的に通報することもできる。
【0005】
【従来の技術】図7, 図8は、従来の磁気ディスク装置
のオンライン診断方法を説明する図であり、図7は、計
算機システムの構成例を示し、図8は、従来の人手によ
るオンライン診断用のテスト定義テーブルのフォーマ
ット例を示している。
【0006】従来は、図7に示した計算機システムの、
オンライン状態のファイル記憶装置(DASD)、例えば、磁
気ディスク装置(DASD01,02) 4 に対して診断テストを行
うためのテスト定義テーブルとして、キーボード(KB)
30 から、図8に示した形式の、装置機番,テスト名
(テストモジュール名),及び入出力命令の発行間隔(DL
値) を人手が設定し、主記憶装置(MS) 2上の所定の領域
に展開していた。
【0007】中央処理装置(CPU) 1 が、主記憶装置(MS)
2上に、予め、展開されている診断プログラム 20 を実
行すると、上記主記憶装置(MS) 2上のテスト定義テーブ
ルが参照されて、該テスト定義テーブルの定める入
出力命令の発行間隔(DL 値)で、入出力命令を発行
し、磁気ディスク装置(DASD01,02) 4 の全領域を、例え
ば、リードして、診断していた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】通常、計算機システム
に接続される各種の、磁気ディスク装置においては、装
置の種類に対応して、記憶容量とか、コマンド体系が異
なることから、装置機番毎に、予め、定められているテ
ストモジュール名を指定する必要があり、最近のよう
に、システムの大規模化が行われると、装置機番ごとに
診断の指定 (テストモジュール名) を人手でするには非
常な工数がかかるという問題があった。
【0009】又、一度入出力命令の発行間隔を設定する
と、それを柔軟に変更できなかった。従って、ビジー状
態の磁気ディスク装置(DASD01,02) 4 に対しても一定の
入出力命令発行間隔(DL 値) でアクセスするため、
ユーザジョブ, 及びユーザシステムに悪影響を与えてい
た。更に、ビジー状態でない磁気ディスク装置(DASD01,
02) 4 に対しても、上記一定の入出力命令の発行間隔
(該発行間隔には、待ち時間が含まれている) により
診断するために長時間を要していた。
【0010】本発明は上記従来の欠点に鑑み、例えば、
磁気ディスク装置をオンライン診断するときの自動スケ
ジュール方法に関し、ユーザジョブ, ユーザシステムに
影響を与えることなく診断するための入出力命令を発行
することができるスケジュール方法を提供することを目
的とするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】図1〜図3は本発明の原
理説明図であり、図1は全体の構成を示し、図2は、D
L値(入出力発行間隔)の設定方法と,設定例を示して
おり、図2(a),(b),(c),(d) は、メジャメントブロック
(MB)の累積情報を基にDL値(入出力発行間隔)を
設定する場合を示し、図3(a),(b) は、ユニットコント
ロールブロック(UCB) を基に、該DL値(入出力発行
間隔)を設定する場合を示している。上記の問題点は
下記の如くに構成した、例えば、磁気ディスク装置をオ
ンライン診断するときの自動スケジュール方法によって
解決される。
【0012】(1) 計算機システムに接続されているオン
ライン状態の全ての、例えば、磁気ディスク装置 4に対
して全面アクセス (例えば、全面リード) を行って診断
する際の自動スケジュール方法であって、該計算機シス
テムに接続されている各ディスク装置 4の制御情報ブロ
ック、例えば、メジャメントブロック(MB), 又は、ユ
ニットコントロールブロック(UCB) を参照して、該デ
ィスク装置 4の、指定された期間のビジー状態から、各
ディスク装置に対して発行する入出力命令の発行間隔(D
L 値) を動的に変更, 設定して、各ディスク装置に対
応してテストモジュール名と, 該入出力命令の発行間隔
(DL 値) を設定したテストスケジュールテーブルを
生成し、該生成したテストスケジュールテーブルに基
づいて、該ディスク装置を診断するように構成する。
【0013】(2) 1項に記載のディスク装置のオンライ
ン診断における自動スケジュール方法であって、該求め
た入出力命令の発行間隔(DL 値) と、該計算機システ
ムに接続されている各ディスク装置 4別のトラック数,
及び、各ディスク装置 4別の平均トラックアクセス (リ
ード) 時間を基に、該計算機システムにオンライン接続
されている各ディスク装置 4に対する全面アクセス (リ
ード) 完了日時を予測して、例えば、次の定期保守時期
と重なるような場合には、該入出力命令の発行間隔(DL
値) の、例えば、最小値を修正して、該予測された全
面アクセス完了日時を補正する。
【0014】
【作用】即ち、本発明のディスク装置のオンライン診断
における自動スケジュール方法は、システム配下におけ
る入出力装置の構成定義、即ち、装置識別情報テーブル
を自動的に読込み、オンライン状態のファイル記憶装
置(DASD)に対して、ユニットコントロールブロック (以
下、UCBという)や、メジャメントブロック(以
下、MBという)を利用して、該診断対象のファイル
記憶装置(DSAD)のビジー状態をチェックし、入出力発行
間隔(DL 値) を動的に変更しながら、該ファイル記憶
装置(DSAD)のオンライン診断を、システムに悪影響を与
えないよう自動的に行うようにしたものである。
【0015】(1) システム配下の装置IDテーブルを
参照し、装置の識別コード(DID:CLASS/TY
PE)より、ファイル記憶装置(DASD)をピックアップ
し、その名称と機番を取り出し、あらかじめ登録してあ
る装置名と診断用のテストモジュールよりその機番に実
行するテスト名を決めて、テストモジュール/装置対応
テーブルを作成する。該装置名と診断用のテストモジ
ュールとの対応テーブルの設定は、前述のように、装
置毎に、記憶容量,コマンド体系が異なっているため、
装置毎に異なるテスト方法が必要とする為である。
【0016】又、装置機番に対応した、例えば、UCB
を求め、該UCBの状態からオンライン状態か否か
をチェックする。該装置のビジー状態により、入出力命
令の発行間隔(DL 値) を求める。該装置のビジー状態
を求めるには、以下の2通りがある。基本的に 1) の方
法によるが、該MBが求められないときは、 2) の方法
で入出力命令の発行間隔(DL 値)を求める。
【0017】1) UCBのアドレスをもとに、ある時
刻のビジー時間MB(α)を求める。具体的には、該
MBには、以下の情報が格納されている。 装置接続時間の累計値[チャネルと装置接続時間の累計
値] 装置保留時間の累計値[デバイスエンドペンディングの
累計値] 装置切り離し時間の累計値[チャネルと装置が切り離さ
れている時間の累計値] 従って、上記の3つの累計値から、ビジー時間MB
(α)を求める場合、例えば、それぞれの累計値に重
みを付加して、その加重平均をとることで、ある時刻で
の累計されたビジー時間MB(α)を求めることができ
る。
【0018】次に、指定された時間間隔(Δt)後のM
B(β)を求め、β−α=γとする。γ≧0のときγ
/Δt(勾配値)に応じてDLパラメタ値を決定する。
γ<0のときは、カウンタエリアが一周していることが
考えられるので、再度2点間のMBを測定し直す。こ
のときのMB(α)とMB(β)との関係を図2(c),
(d) に示す。図2(d) は、γ<0となって測定をし直し
た場合の例を示している。
【0019】例えば、γ<0のときは,γ≧0になるま
で最高3回測定し直し、それでもだめなときはΔtの値
を短くして3回繰り返し、その旨をメッセージ出力す
る.以上のことをγ≧0になるまで繰り返す。
【0020】該γ/Δt(勾配値)からDL値(入出力
発行間隔)を導くための対応を、図2(a) に示す。即
ち、該γ/Δt(勾配値)が“1”より小さいときに
は、空き時間が長いことを意味しているので、DL値
(入出力発行間隔)も、図2(a) に示したように、短
くする。
【0021】同様に、該γ/Δt(勾配値)が“1”〜
“2”の場合,“2”〜“3”の場合,“3”以上の場
合について、それぞれ、DL値(入出力発行間隔)の
求め方を図2(a) に示したように定める。
【0022】従って、オペレータが指示する該DL値
(入出力発行間隔)の最小値をを600msec,最
大値を1000msecのときの、実際のDL値(入出
力発行間隔)の設定例は図2(b) に示したようになる。
【0023】2) 上記MBが求められない場合には、
以下の方法による。即ち、オンライン状態のファイル記
憶装置(DASD)の機番からUCBアドレスを求めて、指定
時間間隔をn分割し、等間隔でn回分そのUCB上の
ビジーフラグが“オン”になっている数をカウント
(m)し、以下の計算式により、装置のビジー率(b)
を求める。
【0024】b=m/n×100[%] 図3(a) は、上記UCBのビジー率からのDL値の設
定方法を示し、図3(b) は、オペレータが指示する該D
L値(入出力発行間隔)の最小値をを600mse
c,最大値を1000msecのときの、実際のDL値
(入出力発行間隔)の設定例を示している。
【0025】装置機番 ;uuuu テストモジュール名;testmod 入出力発行間隔(DL 値) ;time としたときのテスト定義; ON=uuuu/test
mod/DL=timeを、図1に示した手順によって
求める。
【0026】即ち、システム配下の装置IDテーブル
を参照して、装置の識別コードを求め、該装置識別コー
ドより、該システムに接続されているファイル記憶装置
(DASD)を抽出し、その名称と、機番を取り出し、予め、
定められているテストモジュール名/装置対応テーブル
によりテストモジュール名を求め、該装置に対応した
UCBアドレスを認識し、該UCBアドレスから取り出
したUCBを介して、例えば、MB累計値を求め、該
求めたMB累計値から、該装置に対するDL値(入出力
命令の発行間隔)を算出して、図1に示した、従来は
人手で作成していた本発明のテストスケジュールテーブ
ルを自動生成する。
【0027】(2) 次に、上記入出力発行間隔(DL 値)
を基に、該ファイル記憶装置(DASD)に対する全面リード
完了予測日時を求める方法を以下に説明する。指定した
期日を入力すると、システム配下の、上記装置IDテー
ブルから、オンライン状態のファイル記憶装置(DASD)
だけをピックアップし、該ファイル記憶装置(DASD)の種
別を分類し、下記の算出式Tにより、全ファイル記憶装
置(DASD)の全面リード時間を求め、リード完了予測日時
を提示する。
【0028】もしその日時に不満、例えば、カストマエ
ンジニア(CE)による次回の定期保守に間に合わない等の
問題があれば、入出力発行間隔の最小値を短縮(ユーザ
JOBに若干の負担)すれば、可能であることを提示す
る。
【0029】ここで、オペレータとの折り合い、具体的
には、現在のファイル記憶装置(DASD)の使用状況によ
り、入出力発行間隔の最小値を短縮してもよいことが分
かると、テストスケジュールテーブルの入出力発行間
隔時間(DL 値) を変更する。
【0030】このようにして生成されたテストスケジュ
ールテーブルに従い、全面リードテストが起動され
る。 算出式: DASD種別(A)の全シリンダ数×DASD種別
(A)のシリンダあたりのトラック数×DASD種別
(A)の平均トラックリード時間 +DASD種別(B)の全シリンダ数×DASD種別
(B)のシリンダあたりのトラック数×DASD種別
(B)の平均トラックリード時間 ・・・・・・・・・・・・ +DASD種別(n)の全シリンダ数×DASD種別
(n)のシリンダあたりのトラック数×DASD種別
(n)の平均トラックリード時間 ─────────
────T あとは期日までにオンライン診断(例えば、リトライ抑
止モードで、ファイル記憶装置(DASD)全面リード)を行
い、診断結果を出力するとともにカストマエンジニア(C
E)所課に自動通報する。
【0031】該全面リードテストが開始されると、入出
力発行間隔(DL 値) を変化させ、ユーザジョブへの影
響を最小限にするため、指定間隔(例えば、起動時のパ
ラメタにより変更可能とする)で装置ごとのビジー状態
を判定し、該入出力発行間隔(DL 値) を、動的に変化
させる。
【0032】又、毎日どこまでリードしたかを表示・印
刷出力し、あとどのくらい残っているか、またどのくら
いまでに終わるかを表示・印刷出力およびカストマエン
ジニア(CE)所課に自動通報する。
【0033】又、リード時にコレクタブルエラーがある
とセンス情報とその位置(CCHHR:シリンダ番号,
トラック番号)をメモデータセットに記録する。又、コ
レクタブルエラーが特定シリンダ・ヘッドに集中してい
る場合は、あらかじめ設定してあるしきい値をこえたと
きにフラグコードを生成し、例えば、カストマエンジニ
ア(CE)所課に自動通報する。
【0034】このサブシステムに対して、停止要求が入
力されると、きりの良いところでリード処理を終了し、
現在リード中の機番の装置がどこまで読みおわっている
か(CCHH)をテストスケジュールのメモデータセッ
トに記録保持する。又、リード中に重要障害(リード不
可能なトラックを検出したなど)を検出したときは、直
ちに、フラグコード化し、カストマエンジニア(CE)所課
に自動通報する。
【0035】その後において、このファイル記憶装置(D
SAD)が起動されると、上記メモデータセットを参照しに
ゆき、その次のCCHHから再びリードチャネルコマン
ド語(CCW) をスケジュールし、リード処理を再開する。
【0036】又、2重化ボリューム制御機構 (DVC
F) で制御されている磁気ディスク装置の場合、1つの
論理ボリュームに対して、物理的に等価な2つの物理ボ
リュームに対してリード処理を行う。
【0037】このようにして、テストスケジュールテー
ブルの全てのテストを行い、システム配下の全てのフ
ァイル記憶装置(DASD)がリードされると、カストマエン
ジニア(CE)所課に自動通報される。担当カストマエンジ
ニア(CE)は、その結果をみて、定期保守に備える。
【0038】従って、保守技術者の保守作業の軽減とな
り、又、障害装置の早期発見, 及び重要障害の未然防止
に役立つ効果が得られる。
【0039】
【実施例】以下本発明の実施例を図面によって詳述す
る。前述の図1〜図3は、本発明の原理説明図であり、
図4〜図6が本発明の一実施例を示した図であり、図4
は、本発明を適用した計算機システムの構成例を示して
おり、図5,図6は、図4に示した計算機システムに対
応して生成される各テーブルの構成例を示している。
【0040】本発明においては、ユーザの計算機システ
ムに接続されている各磁気ディスク装置 4のメジャメン
トブロック(MB), 又は、ユニットコントロールブロッ
ク(UCB) を参照し、各磁気ディスク装置(DASD01,02)
4 のビジー状態に対応して、各磁気ディスク装置(DASD0
1,02) 4 毎に、入出力命令を発行する期間(DL 値) を
動的に変更する手段, 又、上記設定した入出力命令を発
行する期間(DL 値) と、ユーザシステムの各磁気ディ
スク装置(DASD01,02) 4 別のトラック数, 及び装置別の
平均トラックリード時間を基に、全面リード完了日時を
予測する手段が、本発明を実施するのに必要な手段であ
る。尚、全図を通して同じ符号は同じ対象物を示してい
る。
【0041】以下、図1〜図3を参照しながら、図4〜
図6によって、本発明のディスク装置のオンライン診断
における自動スケジュール方法を説明する。図4に示し
た計算機システムの装置構成の場合、装置識別情報テー
ブル(装置IDテーブル)は、図5(a) に示したもの
になる。図4では、説明の便宜上、全ての装置を示して
いないが、登録装置の総数=25(10進)で、装置機
番“0002”には、プリンタ装置(装置名称:PT0
01)が接続されており、装置機番“0140”“01
41”には、それぞれ、磁気ディスク装置(装置名称:
DASD 01,02) 4 が接続されていることを示している。
【0042】本実施例で使用される、各磁気ディスク装
置(DASD01,02) 4 のユニットコントロールブロック(UC
B) のアドレスから検索されるMB(メジャーメント
ブロック)には、前述のように、以下の情報が格納さ
れている. 装置接続時間の累計値[チャネルと装置接続時間の累計
値] 装置保留時間の累計値[デバイスエンドペンディングの
累計値] 装置切り離し時間の累計値[チャネルと装置が切り離さ
れている時間の累計値] 従って、これも、前述したように、それぞれの累積値に
重みを付けて、例えば、加重平均をとることにより、該
磁気ディスク装置(DASD01,02) 4 の、ある時刻でのビジ
ー時間と定義する。
【0043】前述のように、各磁気ディスク装置(DASD0
1,02) 4 は、その記憶容量, コマンド体系が異なること
から、予め、各磁気ディスク装置(DASD01,02) 4 に対応
して登録されているテストモジュール名称 (例えば、上
記のDASD01,02,〜に対応したテストモジュール名(testm
od 1,2,3, 〜) により、テストモジュール/装置対応テ
ーブルが、図5(b) に示されているように生成され
る。
【0044】又、該磁気ディスク装置(DAAD01,02) 4 に
対応したユニットコントロールブロック(UCB) {図6
(a) 参照}には、装置機番と, 該装置が使用可能状態で
あり、該計算機システムに組み込まれている場合には
“ON”、該装置が使用不可能状態であり、該計算機シス
テムに組み込まれていない場合には“OFF"として示され
ているので、該ユニットコントロールブロック(UCB)
を参照することにより、該計算機システムに接続されて
いる磁気ディスク装置 4を特定することができる。
【0045】上記のようにして求めた、該計算機システ
ム配下に、実際に接続されている磁気ディスク装置 4を
抽出し、そのユニットコントロールブロック(UCB) か
ら検索した、上記MBから、ある時点での該磁気ディ
スク装置 4のビジー状態を認識して、該磁気ディスク装
置 4に対するDL値(入出力命令の発行間隔)を算出
して、図6(b) に示したテストスケジュールテーブル
を生成し、診断プログラムは、該テストスケジュールテ
ーブルが指示するDL値(入出力命令の発行間隔)
に基づいて、入出力命令を発行し、どのシリンダ・ヘッ
ド(CCHHR) までリードしたか, 又は、どの磁気ディスク
装置(DAAD01,02) 4 が全面リードを完了したかを、前述
のメモデータセットに記憶しておく。
【0046】具体的には、 1) ユニットコントロールブロック(UCB) を参照し、
オンライン状態の磁気ディスク装置 4の装置機番が14
0と141の2つであることが認識されるので、上記テ
ストスケジュールテーブルの機番数の欄には、図示さ
れている如くに、「002 」が設定される。
【0047】2) 装置機番「140」の磁気ディスク装
置 4に対してスケジュールするテストEモジュール名
は、testmod 1 ,スケジュール中の入出力命令の発行間
隔(DL値)は800msec(X“0320”),こ
の装置機番の最小入出力発行間隔は600msec(X
“0258”),最大入出力発行間隔は1000mse
c(X“03E8”),リード完了のシリンダ・ヘッド
(CCHHR) は0101000A0C,その装置機番
での最大シリンダ・ヘッド (CCHHR) は0A680
00F00,テスト中のフラグ{図1に示した制御ビッ
トのビット 15 }をオンとする。
【0048】3) 装置機番「141」に対しても同様
に、テストモジュール(testmod 2) が、図示されている
如くに設定され、制御フィールドは、テスト未であるこ
とを示す「0000」を設定する。
【0049】4) 上記のようにして、各磁気ディスク装
置 4についての入出力命令の発行間隔(DL値)がス
ケジュールされると、作用欄で詳細に説明したように、
T式に従って、各磁気ディスク装置 4に対する全面リー
ド時間を求め、該オンライン診断の全面リード完了予測
日時を求めることができ、該求めた全面リード完了予測
日時と、カストマエンジニア(CE)保守時との関係から、
必要に応じて該入出力命令の発行間隔(DL値)を補正
する。
【0050】尚、上記の実施例においては、磁気ディス
ク装置を例にして説明したが、磁気ディスク装置に限ら
れるものではなく、光ディスク装置, 光磁気ディスク装
置等の他のディスク装置であってもよいことはいうまで
もないことである。
【0051】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明の
ディスク装置のオンライン診断における自動スケジュー
ル方法によれば、診断プログラムが、計算機システム配
下の、例えば、磁気ディスク装置のユニットコントロー
ルブロック(UCB) を参照して、オンライン接続されてい
る磁気ディスク装置毎に、入出力命令の発行間隔(DL
値)を求め、且つ、その入出力命令の発行間隔(DL
値)を、該磁気ディスク装置のビジー状態に対応して
動的に変更して、テストスケジュールテーブルを生成
し、該生成されたテストスケジュールテーブルに基づ
いて、入出力命令を発行し、該テストスケジュールテー
ブルの全てのテストを行い、システム配下の全てのフ
ァイル記憶装置(DASD)がリードされると、カストマエン
ジニア(CE)所課に自動通報され、担当カストマエンジニ
ア(CE)は、その結果をみて、定期保守に備えることがで
きるようにしたものである。
【0052】従って、保守技術者の保守作業の軽減とな
り、又、障害装置の早期発見, 及び重要障害の未然防止
に役立つ効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理説明図(その1)
【図2】本発明の原理説明図(その2)
【図3】本発明の原理説明図(その3)
【図4】本発明の一実施例を示した図(その1)
【図5】本発明の一実施例を示した図(その2)
【図6】本発明の一実施例を示した図(その3)
【図7】従来の磁気ディスク装置のオンライン診断方法
を説明する図(その1)
【図8】従来の磁気ディスク装置のオンライン診断方法
を説明する図(その2)
【符号の説明】
1 中央処理装置(CPU) 2 主記憶装
置(MSU) 3 操作卓 30 キーボー
ド(KB) 4 ファイル記憶装置(DASD01,02),又は、磁気ディ
スク装置(DASD01,02) ユニットコントロールブロック(UCB) メジャメントブロック(MB) 装置識別情報テーブル (装置IDテーブル) テストモジュール/装置対応テーブル テストスケジュールテーブル テスト定義テーブル 入出力命令の発行間隔(DL 値)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 溝川 桂子 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】計算機システムに接続されているオンライ
    ン状態の全てのディスク装置(4) に対して全面アクセス
    を行って診断する際の自動スケジュール方法であって、 該計算機システムに接続されている各ディスク装置(4)
    の制御情報ブロック (, 又は、) を参照して、該デ
    ィスク装置(4) の、指定された期間のビジー状態から、
    各ディスク装置に対して発行する入出力命令の発行間隔
    ()を動的に変更, 設定して、各ディスク装置(4) に
    対応してテストモジュール名と, 該入出力命令の発行間
    隔 () を設定したテストスケジュールテーブル ()
    を生成し、該生成されたテストスケジュールテーブル
    () に基づいて、該ディスク装置(4) を診断すること
    を特徴とするディスク装置のオンライン診断における自
    動スケジュール方法。
  2. 【請求項2】請求項1に記載のディスク装置のオンライ
    ン診断における自動スケジュール方法であって、 該求めた入出力命令の発行間隔()と、該計算機シス
    テムに接続されている各ディスク装置(4) 別のトラック
    数, 及び、各ディスク装置(4) 別の平均トラックアクセ
    ス時間を基に、該計算機システムにオンライン接続され
    ている各ディスク装置(4) に対する全面アクセス完了日
    時を予測することを特徴とするディスク装置のオンライ
    ン診断における自動スケジュール方法。
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