JPH0467217B2 - - Google Patents
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- JPH0467217B2 JPH0467217B2 JP61220153A JP22015386A JPH0467217B2 JP H0467217 B2 JPH0467217 B2 JP H0467217B2 JP 61220153 A JP61220153 A JP 61220153A JP 22015386 A JP22015386 A JP 22015386A JP H0467217 B2 JPH0467217 B2 JP H0467217B2
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Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
〔概要〕
故障発生時のロギングデータを分析し、環境を
再現して、故障修復の確認を行なう過程を自動化
した方法。 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子計算機の周辺系である磁気デイ
スク等の記憶装置において装置異常が発生した
際、テストデータを自動生成して故障環境を再現
し、障害修復の確認を行なう方法に関する。 〔従来の技術〕 装置の保守には装置異常の早期発見、迅速な分
析、修復が要求され、修復したらそれで正常な状
態に戻つたか否かの修復確認の作業が要求され
る。装置に異常が発生するとセンスデーダ、
LOG（ログ）情報などを元に保守担当員が故障箇
所を推定し、プリント板交換などの修理を行な
い、次いで修復の確認を行なうが、これには予め
用意されているテストプログラムを走行させ、正
常に実行されるかどうかを見る。 〔発明が解決しようとする問題点〕 このテストプログラムはあらゆる種類の障害を
想定し、それに対処するものであるので、膨大な
量があり、作成が相当に厄介である。また修復時
には保守担当員が持つ知識経験をベースに装置が
異常を起した状態に対応していると思われるテス
トプログラム、テストデータを選択、実行して、
修復確認する。これはいわば各種各様の動作を行
なわせるからその中には故障を生じた動作も含ま
れているであろう、それが正常に実行されたとい
うことは障害が修復されたということであるとす
る、というものであり、このためテストプログラ
ムの走行は例えば５時間などの長時間に亘るもの
であつた。また、保守担当員の経験、知識が修復
確認作業の手際に大きく左右するという問題点が
あつた。 本発明はかゝる点を改善し、障害発生時にその
障害に対するテストプログラム（テストデータ）
を自動生成させ、保守担当員が障害箇所の修復を
したら直ちにそのテストプログラムを走行させ
て、迅速、適確な確認を可能にしようとするもの
である。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、磁気デイスク等の記憶装置を電子計
算機の周辺系として備え、電子計算機の動作に対
応して、各部の動作状態を含むログデータが採集
記録される電子計算機における障害修復の確認方
法において、前記記憶装置に障害が発生すると起
動するテストデータ自動生成機構を設け、該テス
トデータ自動生成機構は、前記記録されたログデ
ータから障害発生時のログデータを読出して、そ
の中の障害箇所情報、エラー種別を表す事象コー
ド及び障害発生前後の履歴情報から、障害発生時
の状況を再現するコマンドを含むテストデータを
生成し、障害状況に対応する修復後に該テストデ
ータによるテストを行うことを特徴とするもので
ある。 〔作用〕 この方法によれば、装置の修復確認を保守担当
者の能力に依存することなく、また莫大なテスト
データ群を用意することなく行なうことができ、
テストデータが自動生成されることから診断時間
の短縮された信頼性の高い診断が可能となり、テ
ストデータの開発に関しても工数を短縮すること
が可能になる。 〔実施例〕 第１図は、外部大容量記憶装置（磁気デイス
ク）における本発明のテストデータの自動生成の
実施例を示す。１０は該記憶装置、１２はテスト
データ自動生成機構である。該機構１２は記憶装
置１０に関するLOGデータを常時採取してメモ
リに循環的に格納しており、従つて記憶装置１０
に障害例えば訂正不可能な読取りデータが発生す
ると、LOGデータメモリを読出すことによりそ
の読取りエラーが発生した箇所（場所）情報、読
取りエラーであることの事象コード、およびそれ
以前は何をしていたかの履歴情報が得られる。保
守担当員はこのLOGデータ１４をみて障害原因
ひいては修理すべき部分を推定し、修復する。 前記により保守者がLOGデータメモリ（図示
せず）からLOGデータ１４を読出すことにより、
障害原因及び修理すべき部分を推定して修復した
後、図１に示すようにテストデータ自動生成機構
１２は該LOGデータ１４に含まれた「箇所情
報」、「事象コード」及び「履歴」を元に障害発生
時の状態を再現するテストデータを作成する。こ
のLOGデータの具体例は後で説明する図２に示
されているが、各LOGデータの意味及びLOGデ
ータからテストデータ用の情報を発生する構成を
説明する。 LOGデータ中の「箇所情報」は、障害発生前
や、障害が発生した箇所を表す情報であり、磁気
デイスクの場合、シリンダ、ヘツドが含まれ、リ
ード、ライトの動作の場合は更にレコード番号が
含まれる。この箇所情報が図１の回路に入力す
ると、回路は記憶装置（ヘツド）を該当位置へ
動かすための位置情報（アドレス）を作成する。
すなわち、ヘツドのシーク（SEEK）情報を作成
する。この回路の機能は、障害箇所の情報をシ
ーク情報のフオーマツトに変換するものであり、
回路は簡単な変換回路で実行される。 例えば、障害箇所情報が次の場合、 シリンダ：０２ ヘツダ ：０２ レコード： ３ 回路で作成されるシーク情報は、次のような
アドレス情報（CCHHRの形式）となる。 「0002000203」 次にLOGデータの「事象コード」は、エラー
種別（障害発生時の動作）を表し、例えばシーク
エラー、ポジシヨニングエラー、リードエラー、
ライトエラー等がある。図１の回路は、この事
象コードか入力すると、予め事象コードに対応し
て記憶されている中から対応する動作を実行させ
るためのコマンドを含むテストパターン（シーク
動作、リード動作、ライト動作等のテストの内
容）及びテストデータパターンを生成する。この
ような機能は、ROMや、PLA（プロブラマブ
ル・ロジツク・アレイ）等の回路により構成す
る。なお、テストデータパターンの中で、シーク
等のコマンドに対して付加されるアドレスとして
障害発生前や、障害発生時の位置情報を与える場
合は、上記回路で発生した障害箇所情報を使用
することができる。 次に、LOGデータの「履歴」は、障害発生前
のSFM・SEEK変位情報の記録や、障害発生時
のリード・ライトデータ情報等であり、障害発生
前の状態を表す。磁気デイスクの場合、障害発生
以前のヘツドの位置や、動作内容（付加情報）で
構成する。この「履歴」は、図１の回路に入力
すると、履歴を元に障害発生前の状態を再現させ
る初期設定データ（テスト時の環境設定データ）
を生成する。 具体的には、履歴情報として、履歴情報の個数
及び履歴情報（以前の位置及びその時の動作を表
す付加情報を含む）が回路に入力する。なお、
付加情報は以前実行されていた処理を表す情報を
表し、リードなら０１、ライトなら０２…のよう
に表す。 回路では、履歴情報から初期設定として必要
なテストデータを選択する。 例えば、付加情報が「01」なら初期パターンと
して「01」を選択する。このパターンの選択は履
歴情報の個数分、組み合わせて行う。この回路
の機能も回路と同様の回路を用いて構成するこ
とができる。テストデータ生成部はこれらを基に
テストデータ（テストプログラム）を作成し、メ
モリの各CCW（チヤネル コマンド ワード）域
１６に逐次書込む。回路，，はリード／ラ
イト別のワーストパターンをデフオルトとし、履
歴のデータを応用するPLA手法の応用回路とす
る。なお回路〜はソフトウエアで構成するこ
ともできる。 保守担当員は障害を修復すると、上記作成され
たテストプログラムによりテストを行なう。この
テストプログラムは上記のようにして作成され、
発生した障害に対応するものであるから、何回か
繰り返し実行することで障害を起した状態が再現
され、それが正常に実行されることで修復完了を
確認することができる。 LOGデータの具体例を第２図に示す。磁気デ
イスク（DASD）から読取り処理を実行している
ときシークエラーが発生したとすると、箇所情報
としてはCCHHR即ち、シークエラーが発生した
ときのシリンダ（CC）ナンバ（本例では０２）、
該当ヘツド（HH）ナンバ（同０２）、およびレ
コード（Ｒ）ナンバ（同３）が採用され、本例で
は02023が該箇所情報になる。事象コードは、こ
れは０１はシークエラー、０２はリードエラー、
０３はライトエラーなどと予め定めておき、本例
ではシークエラーであるから０１とする。履歴情
報はヘツドの以前の位置、付加情報即ち以前実行
されていた処理の情報（リードなら０１、ライト
なら０２、……）および履歴情報の個数で構成す
る。 次に自動生成されるテストデータの一例を示
す。 SFM XXXXXXXX SEEK addr1（以前の位置情報） SEEK addr2（障害発生の位置情報） SIDEQ addr3 TIC ＊−８ READ−DATA XXXXXXXX addr1：0000050001（OOCCHH） addr2：0000020002（OOCCHH） addr3：000200D200（CCHHR） 上記、テストデータの一例において、「SFM」、
「SEEK」、「SIDEQ」…等はコマンドを表し、障
害発生前から障害発生時の状態の動作を実行させ
る。各コマンドによる動作させる位置情報として
「addr1」，「addr2」，「addr3」が用いられる。こ
のような、テストデータは、図１のテストデータ
自動生成機構１２の各CCW域１６に書込まれ、
テストが起動すると順次実行される。 SEEKエラーが発生した際は、ヘツドが正常に
シークを行ない、その地点で基本的動作（リー
ド）を正常に行なうか否かを確認する。リードデ
ータが正しいか否かのチエツクではない。 〔発明の効果〕 以上説明したことから明らかなように本発明に
よれば、装置の修復確認を保守担当者の能力に依
存することなく、また莫大なテストデータ群を用
意することなく行なうことができ、テストデータ
が自動生成されることから診断時間の短縮された
信頼性の高い診断が可能となり、テストデータの
開発に関しても工数を短縮することが可能にな
る。
再現して、故障修復の確認を行なう過程を自動化
した方法。 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子計算機の周辺系である磁気デイ
スク等の記憶装置において装置異常が発生した
際、テストデータを自動生成して故障環境を再現
し、障害修復の確認を行なう方法に関する。 〔従来の技術〕 装置の保守には装置異常の早期発見、迅速な分
析、修復が要求され、修復したらそれで正常な状
態に戻つたか否かの修復確認の作業が要求され
る。装置に異常が発生するとセンスデーダ、
LOG（ログ）情報などを元に保守担当員が故障箇
所を推定し、プリント板交換などの修理を行な
い、次いで修復の確認を行なうが、これには予め
用意されているテストプログラムを走行させ、正
常に実行されるかどうかを見る。 〔発明が解決しようとする問題点〕 このテストプログラムはあらゆる種類の障害を
想定し、それに対処するものであるので、膨大な
量があり、作成が相当に厄介である。また修復時
には保守担当員が持つ知識経験をベースに装置が
異常を起した状態に対応していると思われるテス
トプログラム、テストデータを選択、実行して、
修復確認する。これはいわば各種各様の動作を行
なわせるからその中には故障を生じた動作も含ま
れているであろう、それが正常に実行されたとい
うことは障害が修復されたということであるとす
る、というものであり、このためテストプログラ
ムの走行は例えば５時間などの長時間に亘るもの
であつた。また、保守担当員の経験、知識が修復
確認作業の手際に大きく左右するという問題点が
あつた。 本発明はかゝる点を改善し、障害発生時にその
障害に対するテストプログラム（テストデータ）
を自動生成させ、保守担当員が障害箇所の修復を
したら直ちにそのテストプログラムを走行させ
て、迅速、適確な確認を可能にしようとするもの
である。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、磁気デイスク等の記憶装置を電子計
算機の周辺系として備え、電子計算機の動作に対
応して、各部の動作状態を含むログデータが採集
記録される電子計算機における障害修復の確認方
法において、前記記憶装置に障害が発生すると起
動するテストデータ自動生成機構を設け、該テス
トデータ自動生成機構は、前記記録されたログデ
ータから障害発生時のログデータを読出して、そ
の中の障害箇所情報、エラー種別を表す事象コー
ド及び障害発生前後の履歴情報から、障害発生時
の状況を再現するコマンドを含むテストデータを
生成し、障害状況に対応する修復後に該テストデ
ータによるテストを行うことを特徴とするもので
ある。 〔作用〕 この方法によれば、装置の修復確認を保守担当
者の能力に依存することなく、また莫大なテスト
データ群を用意することなく行なうことができ、
テストデータが自動生成されることから診断時間
の短縮された信頼性の高い診断が可能となり、テ
ストデータの開発に関しても工数を短縮すること
が可能になる。 〔実施例〕 第１図は、外部大容量記憶装置（磁気デイス
ク）における本発明のテストデータの自動生成の
実施例を示す。１０は該記憶装置、１２はテスト
データ自動生成機構である。該機構１２は記憶装
置１０に関するLOGデータを常時採取してメモ
リに循環的に格納しており、従つて記憶装置１０
に障害例えば訂正不可能な読取りデータが発生す
ると、LOGデータメモリを読出すことによりそ
の読取りエラーが発生した箇所（場所）情報、読
取りエラーであることの事象コード、およびそれ
以前は何をしていたかの履歴情報が得られる。保
守担当員はこのLOGデータ１４をみて障害原因
ひいては修理すべき部分を推定し、修復する。 前記により保守者がLOGデータメモリ（図示
せず）からLOGデータ１４を読出すことにより、
障害原因及び修理すべき部分を推定して修復した
後、図１に示すようにテストデータ自動生成機構
１２は該LOGデータ１４に含まれた「箇所情
報」、「事象コード」及び「履歴」を元に障害発生
時の状態を再現するテストデータを作成する。こ
のLOGデータの具体例は後で説明する図２に示
されているが、各LOGデータの意味及びLOGデ
ータからテストデータ用の情報を発生する構成を
説明する。 LOGデータ中の「箇所情報」は、障害発生前
や、障害が発生した箇所を表す情報であり、磁気
デイスクの場合、シリンダ、ヘツドが含まれ、リ
ード、ライトの動作の場合は更にレコード番号が
含まれる。この箇所情報が図１の回路に入力す
ると、回路は記憶装置（ヘツド）を該当位置へ
動かすための位置情報（アドレス）を作成する。
すなわち、ヘツドのシーク（SEEK）情報を作成
する。この回路の機能は、障害箇所の情報をシ
ーク情報のフオーマツトに変換するものであり、
回路は簡単な変換回路で実行される。 例えば、障害箇所情報が次の場合、 シリンダ：０２ ヘツダ ：０２ レコード： ３ 回路で作成されるシーク情報は、次のような
アドレス情報（CCHHRの形式）となる。 「0002000203」 次にLOGデータの「事象コード」は、エラー
種別（障害発生時の動作）を表し、例えばシーク
エラー、ポジシヨニングエラー、リードエラー、
ライトエラー等がある。図１の回路は、この事
象コードか入力すると、予め事象コードに対応し
て記憶されている中から対応する動作を実行させ
るためのコマンドを含むテストパターン（シーク
動作、リード動作、ライト動作等のテストの内
容）及びテストデータパターンを生成する。この
ような機能は、ROMや、PLA（プロブラマブ
ル・ロジツク・アレイ）等の回路により構成す
る。なお、テストデータパターンの中で、シーク
等のコマンドに対して付加されるアドレスとして
障害発生前や、障害発生時の位置情報を与える場
合は、上記回路で発生した障害箇所情報を使用
することができる。 次に、LOGデータの「履歴」は、障害発生前
のSFM・SEEK変位情報の記録や、障害発生時
のリード・ライトデータ情報等であり、障害発生
前の状態を表す。磁気デイスクの場合、障害発生
以前のヘツドの位置や、動作内容（付加情報）で
構成する。この「履歴」は、図１の回路に入力
すると、履歴を元に障害発生前の状態を再現させ
る初期設定データ（テスト時の環境設定データ）
を生成する。 具体的には、履歴情報として、履歴情報の個数
及び履歴情報（以前の位置及びその時の動作を表
す付加情報を含む）が回路に入力する。なお、
付加情報は以前実行されていた処理を表す情報を
表し、リードなら０１、ライトなら０２…のよう
に表す。 回路では、履歴情報から初期設定として必要
なテストデータを選択する。 例えば、付加情報が「01」なら初期パターンと
して「01」を選択する。このパターンの選択は履
歴情報の個数分、組み合わせて行う。この回路
の機能も回路と同様の回路を用いて構成するこ
とができる。テストデータ生成部はこれらを基に
テストデータ（テストプログラム）を作成し、メ
モリの各CCW（チヤネル コマンド ワード）域
１６に逐次書込む。回路，，はリード／ラ
イト別のワーストパターンをデフオルトとし、履
歴のデータを応用するPLA手法の応用回路とす
る。なお回路〜はソフトウエアで構成するこ
ともできる。 保守担当員は障害を修復すると、上記作成され
たテストプログラムによりテストを行なう。この
テストプログラムは上記のようにして作成され、
発生した障害に対応するものであるから、何回か
繰り返し実行することで障害を起した状態が再現
され、それが正常に実行されることで修復完了を
確認することができる。 LOGデータの具体例を第２図に示す。磁気デ
イスク（DASD）から読取り処理を実行している
ときシークエラーが発生したとすると、箇所情報
としてはCCHHR即ち、シークエラーが発生した
ときのシリンダ（CC）ナンバ（本例では０２）、
該当ヘツド（HH）ナンバ（同０２）、およびレ
コード（Ｒ）ナンバ（同３）が採用され、本例で
は02023が該箇所情報になる。事象コードは、こ
れは０１はシークエラー、０２はリードエラー、
０３はライトエラーなどと予め定めておき、本例
ではシークエラーであるから０１とする。履歴情
報はヘツドの以前の位置、付加情報即ち以前実行
されていた処理の情報（リードなら０１、ライト
なら０２、……）および履歴情報の個数で構成す
る。 次に自動生成されるテストデータの一例を示
す。 SFM XXXXXXXX SEEK addr1（以前の位置情報） SEEK addr2（障害発生の位置情報） SIDEQ addr3 TIC ＊−８ READ−DATA XXXXXXXX addr1：0000050001（OOCCHH） addr2：0000020002（OOCCHH） addr3：000200D200（CCHHR） 上記、テストデータの一例において、「SFM」、
「SEEK」、「SIDEQ」…等はコマンドを表し、障
害発生前から障害発生時の状態の動作を実行させ
る。各コマンドによる動作させる位置情報として
「addr1」，「addr2」，「addr3」が用いられる。こ
のような、テストデータは、図１のテストデータ
自動生成機構１２の各CCW域１６に書込まれ、
テストが起動すると順次実行される。 SEEKエラーが発生した際は、ヘツドが正常に
シークを行ない、その地点で基本的動作（リー
ド）を正常に行なうか否かを確認する。リードデ
ータが正しいか否かのチエツクではない。 〔発明の効果〕 以上説明したことから明らかなように本発明に
よれば、装置の修復確認を保守担当者の能力に依
存することなく、また莫大なテストデータ群を用
意することなく行なうことができ、テストデータ
が自動生成されることから診断時間の短縮された
信頼性の高い診断が可能となり、テストデータの
開発に関しても工数を短縮することが可能にな
る。
第１図は本発明の実施例を示す説明図、第２図
はLOGデータの具体例を示す説明図である。 第１図で１２はテストデータ自動生成機構、１
４はLOGデータ、１６はCCW域である。
はLOGデータの具体例を示す説明図である。 第１図で１２はテストデータ自動生成機構、１
４はLOGデータ、１６はCCW域である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 磁気デイスク等の記憶装置を電子計算機の周
辺系として備え、電子計算機の動作に対応して、
各部の動作状態を含むログデータが採集記録され
る電子計算機における障害修復の確認方法におい
て、 前記記憶装置に障害が発生すると起動するテス
トデータ自動生成機構を設け、 該テストデータ自動生成機構は、前記記録され
たログデータから障害発生時のログデータを読出
して、その中の障害箇所情報、エラー種別を表す
事象コード及び障害発生前後の履歴情報から、障
害発生時の状況を再現するコマンドを含むテスト
データを生成し、 障害状況に対応する修復後に該テストデータに
よるテストを行うことを特徴とする障害修復の確
認方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61220153A JPS6375844A (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | 障害修復の確認方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61220153A JPS6375844A (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | 障害修復の確認方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6375844A JPS6375844A (ja) | 1988-04-06 |
| JPH0467217B2 true JPH0467217B2 (ja) | 1992-10-27 |
Family
ID=16746717
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61220153A Granted JPS6375844A (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | 障害修復の確認方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6375844A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100518596B1 (ko) * | 2003-09-09 | 2005-10-04 | 삼성전자주식회사 | 실제 동작 속도의 테스트 벤치를 생성하는 디스크인터페이스 장치, 및 이를 구비한 디스크 인터페이스시스템, 및 그 방법 |
| JP4935331B2 (ja) * | 2006-12-06 | 2012-05-23 | 日本電気株式会社 | ストレージシステムと記憶領域の選択方法並びにプログラム |
| JP6919311B2 (ja) | 2017-05-08 | 2021-08-18 | 富士通株式会社 | プロセッサの障害再現プログラム実行方法、情報処理装置及び実行時間通知プログラム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59220153A (ja) * | 1983-05-30 | 1984-12-11 | Kagome Kk | 乳酸発酵飲料の製造方法 |
-
1986
- 1986-09-18 JP JP61220153A patent/JPS6375844A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59220153A (ja) * | 1983-05-30 | 1984-12-11 | Kagome Kk | 乳酸発酵飲料の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6375844A (ja) | 1988-04-06 |
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