JP2003198249A - 発振器 - Google Patents
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- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/08—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance
- H03B5/12—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device
- H03B5/1231—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device the amplifier comprising one or more bipolar transistors
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
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- H03B5/12—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device
- H03B5/1206—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device using multiple transistors for amplification
- H03B5/1212—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device using multiple transistors for amplification the amplifier comprising a pair of transistors, wherein an output terminal of each being connected to an input terminal of the other, e.g. a cross coupled pair
- H03B5/1215—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device using multiple transistors for amplification the amplifier comprising a pair of transistors, wherein an output terminal of each being connected to an input terminal of the other, e.g. a cross coupled pair the current source or degeneration circuit being in common to both transistors of the pair, e.g. a cross-coupled long-tailed pair
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- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
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- H03B5/12—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device
- H03B5/1237—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator
- H03B5/124—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator the means comprising a voltage dependent capacitance
- H03B5/1243—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator the means comprising a voltage dependent capacitance the means comprising voltage variable capacitance diodes
Landscapes
- Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 発振周波数の可変範囲の広い発振器を得る。
【解決手段】 発振器において、制御電圧に応じた容量
値を示す電圧制御容量素子と、電圧制御容量素子の両端
に接続された第一、第二の容量素子と、電圧制御容量素
子と第一、第二の容量素子との接続部分にそれぞれ接続
された第一、第二の抵抗素子と、を備えた第一、第二の
抵抗容量体と、出力端子と、抵抗容量体に並列に接続さ
れた2つのインダクタ素子と、一方の抵抗容量体の第一
の容量素子にコレクタが接続され、かつ、他方の抵抗容
量体の第二の容量素子にベースが接続され、かつ、互い
にエミッタが接続された一対のトランジスタと、インダ
クタ素子に接続された第一の電源端子と、エミッタに接
続された電流源と、電流源及び第一の抵抗素子に接続さ
れた第二の電源端子と、第二の抵抗素子に接続された第
一の制御端子と、ベースに第三の抵抗素子介して接続さ
れたバイアス電源端子とを備える。
値を示す電圧制御容量素子と、電圧制御容量素子の両端
に接続された第一、第二の容量素子と、電圧制御容量素
子と第一、第二の容量素子との接続部分にそれぞれ接続
された第一、第二の抵抗素子と、を備えた第一、第二の
抵抗容量体と、出力端子と、抵抗容量体に並列に接続さ
れた2つのインダクタ素子と、一方の抵抗容量体の第一
の容量素子にコレクタが接続され、かつ、他方の抵抗容
量体の第二の容量素子にベースが接続され、かつ、互い
にエミッタが接続された一対のトランジスタと、インダ
クタ素子に接続された第一の電源端子と、エミッタに接
続された電流源と、電流源及び第一の抵抗素子に接続さ
れた第二の電源端子と、第二の抵抗素子に接続された第
一の制御端子と、ベースに第三の抵抗素子介して接続さ
れたバイアス電源端子とを備える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は発振器に関する。
【0002】
【従来の技術】図9は、従来の発振器の構成例を示す回
路図である。図9に示される発振器は、NPNバイポー
ラトランジスタを用いて構成した発振器500の例を示
す。発振器500は、共振回路510と、正帰還回路5
20とを備えている。共振回路510と、正帰還回路5
20とは、出力端子40及び140間で、並列に接続さ
れている。
路図である。図9に示される発振器は、NPNバイポー
ラトランジスタを用いて構成した発振器500の例を示
す。発振器500は、共振回路510と、正帰還回路5
20とを備えている。共振回路510と、正帰還回路5
20とは、出力端子40及び140間で、並列に接続さ
れている。
【0003】正帰還回路520は2つのトランジスタ2
0、120を備えている。これらのトランジスタ20、
120は、差動トランジスタ対を構成している。2つの
トランジスタ20及び120のエミッタは、互いに接続
されている。また、トランジスタ20のベースは、容量
素子30を介して、他方のトランジスタ120のコレク
タに接続され、同時に、抵抗素子36を介してバイアス
入力端子42に接続されている。一方、トランジスタ1
20のベースは、容量素子130を介して、トランジス
タ20のコレクタに接続され、同時に、抵抗素子136
を介して、バイアス入力端子142に接続されている。
また、これらのトランジスタ20、120のエミッタ
は、共に、バイアス電流を供給する定電流源8に接続さ
れている。定電流源8は電源端子4に接続されている。
0、120を備えている。これらのトランジスタ20、
120は、差動トランジスタ対を構成している。2つの
トランジスタ20及び120のエミッタは、互いに接続
されている。また、トランジスタ20のベースは、容量
素子30を介して、他方のトランジスタ120のコレク
タに接続され、同時に、抵抗素子36を介してバイアス
入力端子42に接続されている。一方、トランジスタ1
20のベースは、容量素子130を介して、トランジス
タ20のコレクタに接続され、同時に、抵抗素子136
を介して、バイアス入力端子142に接続されている。
また、これらのトランジスタ20、120のエミッタ
は、共に、バイアス電流を供給する定電流源8に接続さ
れている。定電流源8は電源端子4に接続されている。
【0004】上述したように、正帰還回路520は、差
動トランジスタ対20、120、定電流源8、容量素子
30、130、抵抗素子36、136、及びバイアス入
力端子42、142を含んで構成される。
動トランジスタ対20、120、定電流源8、容量素子
30、130、抵抗素子36、136、及びバイアス入
力端子42、142を含んで構成される。
【0005】共振回路510は、バラクタダイオード1
2、112と、インダクタ素子14、114とを備えて
いる。バラクタダイオード12のアノード側は、容量素
子16を介して、出力端子40に接続され、同時に、抵
抗素子32を介して電源端子4に接続されている。バラ
クタダイオード112のアノード側は、容量素子116
を介して出力端子140に接続され、同時に、抵抗素子
132を介して電源端子4に接続されている。また、バ
ラクタダイオード12、112のカソード側は、共に、
抵抗素子10を介して、制御端子6に接続されている。
また、インダクタ素子14、114の一端は、共に、電
源端子2に接続されている。一方、インダクタ素子1
4、114の他端は、それぞれ、出力端子40、140
に接続されている。電源端子2には、回路内の最高電
位、電源端子4には、回路内の最低電位が供給される。
2、112と、インダクタ素子14、114とを備えて
いる。バラクタダイオード12のアノード側は、容量素
子16を介して、出力端子40に接続され、同時に、抵
抗素子32を介して電源端子4に接続されている。バラ
クタダイオード112のアノード側は、容量素子116
を介して出力端子140に接続され、同時に、抵抗素子
132を介して電源端子4に接続されている。また、バ
ラクタダイオード12、112のカソード側は、共に、
抵抗素子10を介して、制御端子6に接続されている。
また、インダクタ素子14、114の一端は、共に、電
源端子2に接続されている。一方、インダクタ素子1
4、114の他端は、それぞれ、出力端子40、140
に接続されている。電源端子2には、回路内の最高電
位、電源端子4には、回路内の最低電位が供給される。
【0006】共振回路510は、このように接続された
バラクタダイオード12、112と、インダクタ素子1
4、114、容量素子16、116、バラクタダイオー
ドのアノード側の抵抗素子32、132、カソード側の
抵抗素子10、及び制御端子6を含んで構成されてい
る。
バラクタダイオード12、112と、インダクタ素子1
4、114、容量素子16、116、バラクタダイオー
ドのアノード側の抵抗素子32、132、カソード側の
抵抗素子10、及び制御端子6を含んで構成されてい
る。
【0007】正帰還回路520においては、バイアス入
力端子42、142から、抵抗素子36、136を介し
てトランジスタ20、120にバイアス電圧が供給さ
れ、トランジスタ20、120が、能動領域で作動する
ようになっている。この状態で、正帰還回路520は、
共振回路510を負荷として、電源投入の直後の過渡時
には発振を起動し、十分時間のたった安定時には発振を
維持するように機能する。
力端子42、142から、抵抗素子36、136を介し
てトランジスタ20、120にバイアス電圧が供給さ
れ、トランジスタ20、120が、能動領域で作動する
ようになっている。この状態で、正帰還回路520は、
共振回路510を負荷として、電源投入の直後の過渡時
には発振を起動し、十分時間のたった安定時には発振を
維持するように機能する。
【0008】共振回路510において、2つのバラクタ
ダイオード12及び112のカソード側に、共に、抵抗
素子10を介して制御端子6の電位が供給されている。
また、それらのアノード側には、抵抗素子32、132
を介して電源端子4の電位が供給されている。このため
バラクタダイオード12及び112には、制御端子6の
電位に応じた制御電圧を加えることができ、これによっ
て、バラクタダイオード12及び112の容量値を変化
させることができる。
ダイオード12及び112のカソード側に、共に、抵抗
素子10を介して制御端子6の電位が供給されている。
また、それらのアノード側には、抵抗素子32、132
を介して電源端子4の電位が供給されている。このため
バラクタダイオード12及び112には、制御端子6の
電位に応じた制御電圧を加えることができ、これによっ
て、バラクタダイオード12及び112の容量値を変化
させることができる。
【0009】ところで、このような発振器500の発振
周波数は、回路全体のインダクタンスL、容量値Cによ
って決まる。発振器500において、インダクタンスL
は、2つのインダクタ素子14及び114によって決ま
る固定値である。一方、発振器500全体の容量値C
は、バラクタダイオード12、112の容量値に応じて
変化する。
周波数は、回路全体のインダクタンスL、容量値Cによ
って決まる。発振器500において、インダクタンスL
は、2つのインダクタ素子14及び114によって決ま
る固定値である。一方、発振器500全体の容量値C
は、バラクタダイオード12、112の容量値に応じて
変化する。
【0010】従って、発振器500の発振周波数の可変
範囲は、バラクタダイオード12、112の容量可変範
囲で決定される。また、このように容量値を変化させる
ことにより、共振回路510のLC共振周波数は変化
し、これによって、発振器500の発振周波数を制御す
ることができるようになっている。
範囲は、バラクタダイオード12、112の容量可変範
囲で決定される。また、このように容量値を変化させる
ことにより、共振回路510のLC共振周波数は変化
し、これによって、発振器500の発振周波数を制御す
ることができるようになっている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかし、発振器500
の発振周波数が、主として共振回路510のLC共振周
波数で決まるのは、共振回路510の出力端子40、1
40間において、正帰還路520の容量値が、共振回路
510のLC回路に対して無視できる場合である。つま
り、発振器500の発振周波数の可変範囲の、バラクタ
ダイオード12、112の容量可変範囲に対する感度
は、正帰還回路520の容量値が無視できなくなると悪
化する。これについて以下に説明する。
の発振周波数が、主として共振回路510のLC共振周
波数で決まるのは、共振回路510の出力端子40、1
40間において、正帰還路520の容量値が、共振回路
510のLC回路に対して無視できる場合である。つま
り、発振器500の発振周波数の可変範囲の、バラクタ
ダイオード12、112の容量可変範囲に対する感度
は、正帰還回路520の容量値が無視できなくなると悪
化する。これについて以下に説明する。
【0012】図10は、トランジスタの接合容量を説明
するための図である。より具体的には、図10(a)
は、トランジスタ20の接合容量を示し、図10(b)
は、トランジスタ120の接合容量を示している。
するための図である。より具体的には、図10(a)
は、トランジスタ20の接合容量を示し、図10(b)
は、トランジスタ120の接合容量を示している。
【0013】図10(a)及び図10(b)に示すよう
に、トランジスタ20、120の接合容量は、エミッ
タ、ベース間の容量素子22、122、ベース、コレク
タ間の容量素子24、124、コレクタと基板間の容量
素子26、126とに分けて考えることができる。
に、トランジスタ20、120の接合容量は、エミッ
タ、ベース間の容量素子22、122、ベース、コレク
タ間の容量素子24、124、コレクタと基板間の容量
素子26、126とに分けて考えることができる。
【0014】図11は、発振器500の回路から、イン
ダクタ成分及び容量成分を抽出して描いた等価回路図で
ある。以下、図11に示す等価回路を、発振器500の
LC回路501と称する。
ダクタ成分及び容量成分を抽出して描いた等価回路図で
ある。以下、図11に示す等価回路を、発振器500の
LC回路501と称する。
【0015】図11に示すように、LC回路501にお
いて、共振回路510と正帰還回路520は、並列に接
続されている。従って、LC回路501全体の容量値C
50 1は、共振回路全体510の容量値をC510、正
帰還回路520全体の容量値をC520とすれば、 C501=C510+C520 ・・・・(1) と、表すことができる。即ち、LC回路501の実際の
容量値C501は、共振回路510の容量値C 510の
みでは決まらず、正帰還回路520の容量値C520も
含めて、決まる値である。
いて、共振回路510と正帰還回路520は、並列に接
続されている。従って、LC回路501全体の容量値C
50 1は、共振回路全体510の容量値をC510、正
帰還回路520全体の容量値をC520とすれば、 C501=C510+C520 ・・・・(1) と、表すことができる。即ち、LC回路501の実際の
容量値C501は、共振回路510の容量値C 510の
みでは決まらず、正帰還回路520の容量値C520も
含めて、決まる値である。
【0016】従って、共振回路510の容量値が、正帰
還回路520の容量値よりも十分に大きい場合には、正
帰還回路520の容量値C520を無視して、共振回路
510の容量値C510のみを考えることができる。し
かし、正帰還回路520の容量値C520が大きな場合
には、これを無視することはできず、発振器500の発
振周波数は、正帰還回路520の容量値C520によっ
ても大きく影響される。
還回路520の容量値よりも十分に大きい場合には、正
帰還回路520の容量値C520を無視して、共振回路
510の容量値C510のみを考えることができる。し
かし、正帰還回路520の容量値C520が大きな場合
には、これを無視することはできず、発振器500の発
振周波数は、正帰還回路520の容量値C520によっ
ても大きく影響される。
【0017】例えば、ギガヘルツ(GHz)を超えるよ
うな高い発振周波数の発振器500を構成するために
は、LC共振回路の条件から、共振回路510のインダ
クタ成分及び容量成分は小さくしなければならない。し
かし、共振回路510の容量値C510が小さくなれ
ば、正帰還回路520の容量値C520は無視できず、
発振器500の発振周波数は、共振回路510のLC共
振周波数から導かれる値とは、ずれることになる。
うな高い発振周波数の発振器500を構成するために
は、LC共振回路の条件から、共振回路510のインダ
クタ成分及び容量成分は小さくしなければならない。し
かし、共振回路510の容量値C510が小さくなれ
ば、正帰還回路520の容量値C520は無視できず、
発振器500の発振周波数は、共振回路510のLC共
振周波数から導かれる値とは、ずれることになる。
【0018】また、共振回路の容量値C510に対する
LC回路501の感度は、共振回路510の容量値C
510に対して、正帰還回路520の容量値C520が
大きくなると低下する。従って、正帰還回路の容量値C
520が無視できない状況下では、共振回路510の容
量値C510の可変範囲、即ち、バラクタダイオード1
2、112の容量可変範囲に対して、発振器500の発
振周波数の可変範囲は、狭くなってしまう。
LC回路501の感度は、共振回路510の容量値C
510に対して、正帰還回路520の容量値C520が
大きくなると低下する。従って、正帰還回路の容量値C
520が無視できない状況下では、共振回路510の容
量値C510の可変範囲、即ち、バラクタダイオード1
2、112の容量可変範囲に対して、発振器500の発
振周波数の可変範囲は、狭くなってしまう。
【0019】発振器を半導体基板に集積化する場合、各
素子の製造ばらつきにより共振周波数にはずれが生じ易
い。このため、より大きな周波数のずれに対して所望周
波数への補正を可能とする意味で、発振周波数の可変範
囲は広い方が望ましい。つまり、発振器500において
は、発振周波数の可変範囲が広いほど製造歩留りを向上
させることができる。
素子の製造ばらつきにより共振周波数にはずれが生じ易
い。このため、より大きな周波数のずれに対して所望周
波数への補正を可能とする意味で、発振周波数の可変範
囲は広い方が望ましい。つまり、発振器500において
は、発振周波数の可変範囲が広いほど製造歩留りを向上
させることができる。
【0020】従ってこの発明は、上述のような問題を解
決し、広い周波数可変範囲を持ち、共振回路の周波数に
よって所望周波数の発振を得られるような発振器を提案
するものである。
決し、広い周波数可変範囲を持ち、共振回路の周波数に
よって所望周波数の発振を得られるような発振器を提案
するものである。
【0021】
【課題を解決するための手段】この発明の発振器は、制
御電圧に応じた容量値を示す電圧制御容量素子と、前記
電圧制御容量素子の両端にそれぞれ直列に接続された第
一及び第二の容量素子と、前記電圧制御容量素子と前記
第一及び第二の容量素子との接続部分にそれぞれ接続さ
れた第一及び第二の抵抗素子と、を備えた第一及び第二
の抵抗容量体と、前記第一及び第二の抵抗容量体を挟ん
で接続された出力端子と、前記抵抗容量体に並列に、か
つ前記出力端子の間に接続された2つのインダクタ素子
と、前記第一の抵抗容量体の前記第一の容量素子の、前
記電圧制御容量素子と反対側にコレクタが接続され、か
つ、前記第二の抵抗容量体の前記第二の容量素子の、前
記電圧制御容量素子と反対側にベースが接続された第一
のトランジスタと、前記第二の抵抗容量体の前記第一の
容量素子の、前記電圧制御容量素子と反対側にコレクタ
が接続され、かつ前記第一の抵抗容量体の前記第二の容
量素子の、前記電圧制御容量素子と反対側にベースが接
続され、かつ、エミッタが、前記第一のトランジスタの
エミッタと接続された第二のトランジスタと、前記イン
ダクタ素子の接続部分に接続された第一の電源端子と、
前記第一及び第二のトランジスタの前記エミッタの接続
部分に接続された電流源と、前記電流源及び前記第一の
抵抗素子とに接続された第二の電源端子と、前記第二の
抵抗素子に接続された第一の制御端子と、前記第一及び
第二のトランジスタのベースにそれぞれ接続された第三
の抵抗素子と、前記第三の抵抗素子にそれぞれ接続され
たバイアス電源端子と、を備えたものである。
御電圧に応じた容量値を示す電圧制御容量素子と、前記
電圧制御容量素子の両端にそれぞれ直列に接続された第
一及び第二の容量素子と、前記電圧制御容量素子と前記
第一及び第二の容量素子との接続部分にそれぞれ接続さ
れた第一及び第二の抵抗素子と、を備えた第一及び第二
の抵抗容量体と、前記第一及び第二の抵抗容量体を挟ん
で接続された出力端子と、前記抵抗容量体に並列に、か
つ前記出力端子の間に接続された2つのインダクタ素子
と、前記第一の抵抗容量体の前記第一の容量素子の、前
記電圧制御容量素子と反対側にコレクタが接続され、か
つ、前記第二の抵抗容量体の前記第二の容量素子の、前
記電圧制御容量素子と反対側にベースが接続された第一
のトランジスタと、前記第二の抵抗容量体の前記第一の
容量素子の、前記電圧制御容量素子と反対側にコレクタ
が接続され、かつ前記第一の抵抗容量体の前記第二の容
量素子の、前記電圧制御容量素子と反対側にベースが接
続され、かつ、エミッタが、前記第一のトランジスタの
エミッタと接続された第二のトランジスタと、前記イン
ダクタ素子の接続部分に接続された第一の電源端子と、
前記第一及び第二のトランジスタの前記エミッタの接続
部分に接続された電流源と、前記電流源及び前記第一の
抵抗素子とに接続された第二の電源端子と、前記第二の
抵抗素子に接続された第一の制御端子と、前記第一及び
第二のトランジスタのベースにそれぞれ接続された第三
の抵抗素子と、前記第三の抵抗素子にそれぞれ接続され
たバイアス電源端子と、を備えたものである。
【0022】また、この発明の発振器は、制御電圧に応
じた容量値を示す電圧制御容量素子と、前記電圧制御容
量素子の両端にそれぞれ直列に接続された第一及び第二
の容量素子と、前記電圧制御容量素子と前記第一及び第
二の容量素子との接続部分にそれぞれ接続された第一及
び第二の抵抗素子と、をそれぞれ備えた第一及び第二の
抵抗容量体と、前記第一及び第二の抵抗容量体を挟んで
接続された出力端子と、前記抵抗容量体に並列に、かつ
前記出力端子の間に接続された2つのインダクタ素子
と、前記第一の抵抗容量体の前記第一の容量素子の、前
記電圧制御容量素子と反対側にドレインが接続され、か
つ、前記第二の抵抗容量体の前記第二の容量素子の、前
記電圧制御容量素子と反対側にゲートが接続された第一
のトランジスタと、前記第二の抵抗容量体の前記第一の
容量素子の、前記電圧制御容量素子と反対側にドレイン
が接続され、かつ前記第一の抵抗容量体の前記第二の容
量素子の、前記電圧制御容量素子と反対側にゲートが接
続され、かつ、ソースが、前記第一のトランジスタのソ
ースと接続された第二のトランジスタと、前記インダク
タ素子の接続部分に接続された第一の電源端子と、前記
第一及び第二のトランジスタの前記ソースの接続部分に
接続された電流源と、前記電流源と第一の抵抗素子とに
接続された第二の電源端子と、前記第二の抵抗素子に接
続された第一の制御端子と、前記第一及び第二のトラン
ジスタのゲートにそれぞれ接続された第三の抵抗素子
と、前記第三の抵抗素子にそれぞれ接続されたバイアス
電源端子と、を備えたものである。
じた容量値を示す電圧制御容量素子と、前記電圧制御容
量素子の両端にそれぞれ直列に接続された第一及び第二
の容量素子と、前記電圧制御容量素子と前記第一及び第
二の容量素子との接続部分にそれぞれ接続された第一及
び第二の抵抗素子と、をそれぞれ備えた第一及び第二の
抵抗容量体と、前記第一及び第二の抵抗容量体を挟んで
接続された出力端子と、前記抵抗容量体に並列に、かつ
前記出力端子の間に接続された2つのインダクタ素子
と、前記第一の抵抗容量体の前記第一の容量素子の、前
記電圧制御容量素子と反対側にドレインが接続され、か
つ、前記第二の抵抗容量体の前記第二の容量素子の、前
記電圧制御容量素子と反対側にゲートが接続された第一
のトランジスタと、前記第二の抵抗容量体の前記第一の
容量素子の、前記電圧制御容量素子と反対側にドレイン
が接続され、かつ前記第一の抵抗容量体の前記第二の容
量素子の、前記電圧制御容量素子と反対側にゲートが接
続され、かつ、ソースが、前記第一のトランジスタのソ
ースと接続された第二のトランジスタと、前記インダク
タ素子の接続部分に接続された第一の電源端子と、前記
第一及び第二のトランジスタの前記ソースの接続部分に
接続された電流源と、前記電流源と第一の抵抗素子とに
接続された第二の電源端子と、前記第二の抵抗素子に接
続された第一の制御端子と、前記第一及び第二のトラン
ジスタのゲートにそれぞれ接続された第三の抵抗素子
と、前記第三の抵抗素子にそれぞれ接続されたバイアス
電源端子と、を備えたものである。
【0023】また、この発明の発振器は、前記第一、第
二のトランジスタの前記ベースと前記エミッタとの間
に、それぞれ、第三の容量素子を備えたものである。
二のトランジスタの前記ベースと前記エミッタとの間
に、それぞれ、第三の容量素子を備えたものである。
【0024】また、この発明の発振器は、前記第一、第
二のトランジスタの前記ゲートと前記ソースとの間に、
それぞれ、第三の容量素子を備えたものである。
二のトランジスタの前記ゲートと前記ソースとの間に、
それぞれ、第三の容量素子を備えたものである。
【0025】また、この発明の発振器は、前記電流源
に、制御電圧を供給するための制御端子を備えたもので
ある。
に、制御電圧を供給するための制御端子を備えたもので
ある。
【0026】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して、この発明の
実施の形態について説明する。なお、各図において、同
一または相当する部分には同一符号を付してその説明を
省略ないし簡略化する。
実施の形態について説明する。なお、各図において、同
一または相当する部分には同一符号を付してその説明を
省略ないし簡略化する。
【0027】実施の形態1.図1は、この発明の実施の
形態1における発振器200の構成を示す回路図であ
る。図1に示す発振器200は、2つの抵抗容量体21
0、220を備えている。発振器200においては、抵
抗容量体210、220を用いて、共振回路、正帰還回
路が一体となって構成されている。
形態1における発振器200の構成を示す回路図であ
る。図1に示す発振器200は、2つの抵抗容量体21
0、220を備えている。発振器200においては、抵
抗容量体210、220を用いて、共振回路、正帰還回
路が一体となって構成されている。
【0028】抵抗容量体210は、バラクタダイオード
12、容量素子16及び18、抵抗素子32及び34を
含んで構成され、抵抗容量体220は、バラクタダイオ
ード112、容量素子116及び118、抵抗素子13
2及び134を含んで構成される。
12、容量素子16及び18、抵抗素子32及び34を
含んで構成され、抵抗容量体220は、バラクタダイオ
ード112、容量素子116及び118、抵抗素子13
2及び134を含んで構成される。
【0029】バラクタダイオード12のアノード側は容
量素子16を介して出力端子40に接続され、同時に、
抵抗素子32を介して電源端子4に接続されている。バ
ラクタダイオード112のアノード側は、容量素子11
6を介して出力端子140に接続され、抵抗素子132
を介して電源端子4に接続されている。電源端子4に
は、回路内の最低電位が供給される。また、バラクタダ
イオード12のカソード側は、容量素子18の一端と、
抵抗素子34の一端とに接続されている。バラクタダイ
オード112のカソード側は、容量素子118の一端
と、抵抗素子134の一端とに接続されている。抵抗素
子34、134は他端において、共に制御端子6に接続
されている。
量素子16を介して出力端子40に接続され、同時に、
抵抗素子32を介して電源端子4に接続されている。バ
ラクタダイオード112のアノード側は、容量素子11
6を介して出力端子140に接続され、抵抗素子132
を介して電源端子4に接続されている。電源端子4に
は、回路内の最低電位が供給される。また、バラクタダ
イオード12のカソード側は、容量素子18の一端と、
抵抗素子34の一端とに接続されている。バラクタダイ
オード112のカソード側は、容量素子118の一端
と、抵抗素子134の一端とに接続されている。抵抗素
子34、134は他端において、共に制御端子6に接続
されている。
【0030】ここで、容量素子16、18及び116、
118は、抵抗容量体210、220の容量値をバラク
タダイオード12、112の容量値に近似することがで
きるようにバラクタダイオード12、112の容量値に
対して、十分に大きな容量値を持つものを用いる。ま
た、容量素子16と116、容量素子18と118、バ
ラクタダイオード12と112とは、それぞれ、同じ容
量値を有する。したがって抵抗容量体210と220と
の容量値は同じである。更に、抵抗素子32と132、
抵抗素子34と134とは、それぞれ、同じ大きさの抵
抗値を有する。
118は、抵抗容量体210、220の容量値をバラク
タダイオード12、112の容量値に近似することがで
きるようにバラクタダイオード12、112の容量値に
対して、十分に大きな容量値を持つものを用いる。ま
た、容量素子16と116、容量素子18と118、バ
ラクタダイオード12と112とは、それぞれ、同じ容
量値を有する。したがって抵抗容量体210と220と
の容量値は同じである。更に、抵抗素子32と132、
抵抗素子34と134とは、それぞれ、同じ大きさの抵
抗値を有する。
【0031】また、発振器200は、2つのトランジス
タ20、120を備える。これらの2つのトランジスタ
20、120は、差動トランジスタ対を構成している。
トランジスタ20及び120のエミッタは、共に、定電
流源8に接続されている。トランジスタ20のコレクタ
は、容量素子16を介して抵抗容量体210に接続され
ている。トランジスタ120のコレクタは、容量素子1
16を介して、抵抗容量体220に接続されている。ま
た、トランジスタ20のベースは、容量素子118を介
して抵抗容量体220に接続されると共に、抵抗素子3
6を介して、バイアス入力端子42に接続されている。
トランジスタ120のベースは、容量素子18を介して
抵抗容量体210に接続されると共に、抵抗素子136
を介して、バイアス入力端子142に接続されている。
タ20、120を備える。これらの2つのトランジスタ
20、120は、差動トランジスタ対を構成している。
トランジスタ20及び120のエミッタは、共に、定電
流源8に接続されている。トランジスタ20のコレクタ
は、容量素子16を介して抵抗容量体210に接続され
ている。トランジスタ120のコレクタは、容量素子1
16を介して、抵抗容量体220に接続されている。ま
た、トランジスタ20のベースは、容量素子118を介
して抵抗容量体220に接続されると共に、抵抗素子3
6を介して、バイアス入力端子42に接続されている。
トランジスタ120のベースは、容量素子18を介して
抵抗容量体210に接続されると共に、抵抗素子136
を介して、バイアス入力端子142に接続されている。
【0032】トランジスタ20、120は、等しい容量
値を有している。また、抵抗素子36と136とはそれ
ぞれ同じ大きさの抵抗値を有している。
値を有している。また、抵抗素子36と136とはそれ
ぞれ同じ大きさの抵抗値を有している。
【0033】発振器200において正帰還回路は、上述
のように接続された差動トランジスタ対20、120、
抵抗容量体210、220、定電流源8、抵抗素子3
6、136、バイアス入力端子42、142を含んで構
成されている。
のように接続された差動トランジスタ対20、120、
抵抗容量体210、220、定電流源8、抵抗素子3
6、136、バイアス入力端子42、142を含んで構
成されている。
【0034】また、発振器200は、2つのインダクタ
素子14、114を備えている。インダクタ素子14、
114は一端において、共に電源端子2に接続されてい
る。電源端子2には、回路内の最高電位が供給される。
また、インダクタ素子14の他端は、出力端子40、抵
抗容量体210の容量素子16、及びトランジスタ20
のコレクタに接続されている。また、インダクタ素子1
14の他端は、出力端子140、抵抗容量体220の容
量素子116、及びトランジスタ120のコレクタに接
続されている。
素子14、114を備えている。インダクタ素子14、
114は一端において、共に電源端子2に接続されてい
る。電源端子2には、回路内の最高電位が供給される。
また、インダクタ素子14の他端は、出力端子40、抵
抗容量体210の容量素子16、及びトランジスタ20
のコレクタに接続されている。また、インダクタ素子1
14の他端は、出力端子140、抵抗容量体220の容
量素子116、及びトランジスタ120のコレクタに接
続されている。
【0035】発振器200において共振回路は、上述の
ように接続されたインダクタ素子14、114、抵抗容
量体210、220、出力端子40及び140を含んで
構成されている。
ように接続されたインダクタ素子14、114、抵抗容
量体210、220、出力端子40及び140を含んで
構成されている。
【0036】バイアス入力端子42及び142からは、
トランジスタ20及び120が、それぞれ能動領域で動
作するように、バイアス電圧が供給される。正帰還回路
は、バイアス電圧が供給された状態で、発振器200に
おいて共振回路を負荷として、電源投入の直後の過渡時
には、発振を起動し、十分時間のたった安定時には、発
振を維持する役割を果たす。
トランジスタ20及び120が、それぞれ能動領域で動
作するように、バイアス電圧が供給される。正帰還回路
は、バイアス電圧が供給された状態で、発振器200に
おいて共振回路を負荷として、電源投入の直後の過渡時
には、発振を起動し、十分時間のたった安定時には、発
振を維持する役割を果たす。
【0037】抵抗容量体210、220においては、制
御端子6と電源端子4の間で、抵抗素子32,34及び
132、134を介して供給される制御電圧を変化させ
ることにより、バラクタダイオード12、112の容量
値を変化させることができる。発振器200は、このよ
うに容量値を変化させることにより、発振周波数を変化
させることができる。
御端子6と電源端子4の間で、抵抗素子32,34及び
132、134を介して供給される制御電圧を変化させ
ることにより、バラクタダイオード12、112の容量
値を変化させることができる。発振器200は、このよ
うに容量値を変化させることにより、発振周波数を変化
させることができる。
【0038】図2は、この発明の実施の形態1における
発振器200からインダクタ成分及び容量成分を抽出し
て描いた等価回路図である。以下、図2に示す等価回路
を、発振器200のLC回路201と称する。ここで、
トランジスタ20、120の接合容量は、図9(a)及
び図9(b)に示すように、エミッタ、ベース間の容量
素子22及び122、ベース、コレクタ間の容量素子2
4及び124、コレクタと基板28、128間の容量素
子26、126とに分けて考えることができる。LC回
路201において、トランジスタ20、120の容量成
分は、上述した各容量素子に分けた状態で示している。
発振器200からインダクタ成分及び容量成分を抽出し
て描いた等価回路図である。以下、図2に示す等価回路
を、発振器200のLC回路201と称する。ここで、
トランジスタ20、120の接合容量は、図9(a)及
び図9(b)に示すように、エミッタ、ベース間の容量
素子22及び122、ベース、コレクタ間の容量素子2
4及び124、コレクタと基板28、128間の容量素
子26、126とに分けて考えることができる。LC回
路201において、トランジスタ20、120の容量成
分は、上述した各容量素子に分けた状態で示している。
【0039】尚、本実施の形態においては、トランジス
タ20及び120は同じ容量値を有するものであり、容
量素子22と122、容量素子24と124、容量素子
26と126とはそれぞれ同じ容量値を有する。
タ20及び120は同じ容量値を有するものであり、容
量素子22と122、容量素子24と124、容量素子
26と126とはそれぞれ同じ容量値を有する。
【0040】図2に示すLC回路201において、発振
周波数は、LC回路201全体のインダクタンスL
201及び容量値C201によって決定される。回路2
01全体のインダクタンスL201は、インダクタ素子
14、114によって決まる値であり、ここでは固定値
である。一方、容量値C201は、バラクタダイオード
12、112の容量値C12、C112の容量値が変化
する値であるから、この変化に伴って変化する。従っ
て、発振器200の発振周波数は、容量値Cの変化によ
って変化する。
周波数は、LC回路201全体のインダクタンスL
201及び容量値C201によって決定される。回路2
01全体のインダクタンスL201は、インダクタ素子
14、114によって決まる値であり、ここでは固定値
である。一方、容量値C201は、バラクタダイオード
12、112の容量値C12、C112の容量値が変化
する値であるから、この変化に伴って変化する。従っ
て、発振器200の発振周波数は、容量値Cの変化によ
って変化する。
【0041】また、回路全体の容量値Cは、トランジス
タ20、120の容量素子22、24、26、122、
124、126の容量値C22、C24A、C26、C
12 2、C124A、C126及び抵抗容量体210、
220の容量値C210、C 220によって影響を受け
る。
タ20、120の容量素子22、24、26、122、
124、126の容量値C22、C24A、C26、C
12 2、C124A、C126及び抵抗容量体210、
220の容量値C210、C 220によって影響を受け
る。
【0042】ところで、図3は、ミラー効果について説
明するための図である。図3に示すように、A倍の利得
をもつ反転増幅器150に大きさC152の容量素子1
52を介して負帰還をかけると、これらの回路の入出力
間は、ミラー効果により、等価的に、 C=(1+A)C152 ・・・・(2) の容量値を示す。
明するための図である。図3に示すように、A倍の利得
をもつ反転増幅器150に大きさC152の容量素子1
52を介して負帰還をかけると、これらの回路の入出力
間は、ミラー効果により、等価的に、 C=(1+A)C152 ・・・・(2) の容量値を示す。
【0043】図2において、トランジスタ20のコレク
タ、ベース間の容量素子24は、図3における帰還容量
152に相当するため、その容量は、本来の値C
24(トランジスタ20オフ時の値)に、(1+A)を
掛け合わせた値となる。但し、Aは、トランジスタ20
の利得である。このため、この明細書において、容量素
子24の容量は添字24Aを付して、C24Aと表すも
のとする。同様に、容量素子124の容量値について
も、容量値C124Aと表すものとする。
タ、ベース間の容量素子24は、図3における帰還容量
152に相当するため、その容量は、本来の値C
24(トランジスタ20オフ時の値)に、(1+A)を
掛け合わせた値となる。但し、Aは、トランジスタ20
の利得である。このため、この明細書において、容量素
子24の容量は添字24Aを付して、C24Aと表すも
のとする。同様に、容量素子124の容量値について
も、容量値C124Aと表すものとする。
【0044】LC回路201において出力端子40、1
40間においては、同じ容量値を有する容量素子がブリ
ッジ状に対称に配置されている。この場合、容量素子1
22、22の両側に位置するg点とh点とは同相の関係
になる。従って、LC回路201において、容量素子1
22、22の容量値C22、C122は無視することが
できる。
40間においては、同じ容量値を有する容量素子がブリ
ッジ状に対称に配置されている。この場合、容量素子1
22、22の両側に位置するg点とh点とは同相の関係
になる。従って、LC回路201において、容量素子1
22、22の容量値C22、C122は無視することが
できる。
【0045】一般に、回路全体の容量値C0は、例えば
2つのコンデンサが直列に接続されている場合、この2
つのコンデンサの容量値をC1、C2とすれば、 C0=C1×C2/(C1+C2)=C1/(1+C1/C2) ・・・(3) と表すことができる。また、2つのコンデンサが並列に
接続されている場合には、 C0=C1+C2 ・・・・(4) と、表すことができる。
2つのコンデンサが直列に接続されている場合、この2
つのコンデンサの容量値をC1、C2とすれば、 C0=C1×C2/(C1+C2)=C1/(1+C1/C2) ・・・(3) と表すことができる。また、2つのコンデンサが並列に
接続されている場合には、 C0=C1+C2 ・・・・(4) と、表すことができる。
【0046】直列接続の場合、容量値C1に対してC2
が十分大きな値であれば、(3)式において、C1/C
2≒0と考えて、C0≒C1と近似することができる。
即ち、直列接続の場合、容量値C1に対してC2が十分
大きな値であれば、全体の容量値C0に対して、容量の
大きなコンデンサが与える影響は小さい。
が十分大きな値であれば、(3)式において、C1/C
2≒0と考えて、C0≒C1と近似することができる。
即ち、直列接続の場合、容量値C1に対してC2が十分
大きな値であれば、全体の容量値C0に対して、容量の
大きなコンデンサが与える影響は小さい。
【0047】一方、並列接続の場合、回路全体の容量値
は、(4)式に示すように、各コンデンサの容量値の和
になる。従って、直列の場合とは逆に、回路全体の容量
値C 0に対して、容量の大きなコンデンサが与える影響
は大きくなる。
は、(4)式に示すように、各コンデンサの容量値の和
になる。従って、直列の場合とは逆に、回路全体の容量
値C 0に対して、容量の大きなコンデンサが与える影響
は大きくなる。
【0048】ここで、図2に示すLC回路201につい
て考察すると、抵抗容量体210では、容量素子16、
18と、バラクタダイオード12が直列に接続されてい
る。本実施の形態において、容量素子16、18の容量
値C16、C18はバラクタダイオード12の容量値C
12に対して、十分に大きな値を取っている。このた
め、容量値C16、C18が抵抗容量体210の容量値
C210に与える影響は少なく、抵抗容量体210の容
量値C210は、バラクタダイオード12の容量値C
12に近似して、C210≒C12と、考えることがで
きる。抵抗容量体220についても、同様に、直列に接
続された容量素子116、118の影響は小さく、抵抗
容量体220の容量値C220は、バラクタダイオード
112の容量値C112に近似して、C220≒C
112と、考えることができる。
て考察すると、抵抗容量体210では、容量素子16、
18と、バラクタダイオード12が直列に接続されてい
る。本実施の形態において、容量素子16、18の容量
値C16、C18はバラクタダイオード12の容量値C
12に対して、十分に大きな値を取っている。このた
め、容量値C16、C18が抵抗容量体210の容量値
C210に与える影響は少なく、抵抗容量体210の容
量値C210は、バラクタダイオード12の容量値C
12に近似して、C210≒C12と、考えることがで
きる。抵抗容量体220についても、同様に、直列に接
続された容量素子116、118の影響は小さく、抵抗
容量体220の容量値C220は、バラクタダイオード
112の容量値C112に近似して、C220≒C
112と、考えることができる。
【0049】また、図2を参照して、LC回路201
中、a−b間においては、抵抗容量体220と、容量素
子24が、出力端子40及び140間で直列に接続され
ている。容量素子24は、バラクタダイオード112に
対して、十分に大きな値C24 Aを示すことから、a−
b間における容量値Cabに対して、容量素子24の容
量値C24Aが与える影響は小さい。
中、a−b間においては、抵抗容量体220と、容量素
子24が、出力端子40及び140間で直列に接続され
ている。容量素子24は、バラクタダイオード112に
対して、十分に大きな値C24 Aを示すことから、a−
b間における容量値Cabに対して、容量素子24の容
量値C24Aが与える影響は小さい。
【0050】同様に、LC回路201中、c−d間にお
いては、抵抗容量体210と容量素子124が、出力端
子40及び140間で直列に接続されている。容量素子
124は、バラクタダイオード12に対して、十分大き
な値C124Aを示すことから、c−d間の容量値C
cdに対して、容量素子124の容量値C124Aが与
える影響は小さい。
いては、抵抗容量体210と容量素子124が、出力端
子40及び140間で直列に接続されている。容量素子
124は、バラクタダイオード12に対して、十分大き
な値C124Aを示すことから、c−d間の容量値C
cdに対して、容量素子124の容量値C124Aが与
える影響は小さい。
【0051】また、e−f間の容量値Cefは、容量素
子26、126によって決まる値であり、この部分の容
量値の変化はない。
子26、126によって決まる値であり、この部分の容
量値の変化はない。
【0052】LC回路全体の容量値C201は、a−
b、c−d、e−fの部分がそれぞれ並列にあることか
ら、 C201=Cab+Ccd+Cef ・・・・(5) と、表すことができる。
b、c−d、e−fの部分がそれぞれ並列にあることか
ら、 C201=Cab+Ccd+Cef ・・・・(5) と、表すことができる。
【0053】即ち、LC回路201の容量値C
201は、ほぼ抵抗容量体210及び220のなかのバ
ラクタダイオード12、112において決定される容量
値の変化によって共振周波数を変化させ、これによって
発振周波数も変化するものと考えることができる。
201は、ほぼ抵抗容量体210及び220のなかのバ
ラクタダイオード12、112において決定される容量
値の変化によって共振周波数を変化させ、これによって
発振周波数も変化するものと考えることができる。
【0054】以上説明した通り、本実施の形態の構成に
よれば、正帰還回路と共振回路とを抵抗容量体210、
220により一体化した状態で形成することができ、こ
れによって、トランジスタ20、120の容量成分の一
部を、バラクタダイオード12、112と直列に接続す
ることができる。この場合、正帰還回路の容量値が回路
全体の容量値に与える影響を小さくすることができ、バ
ラクタダイオードの容量値の変化を直接LC回路201
の共振周波数の変化に寄与させることができる。
よれば、正帰還回路と共振回路とを抵抗容量体210、
220により一体化した状態で形成することができ、こ
れによって、トランジスタ20、120の容量成分の一
部を、バラクタダイオード12、112と直列に接続す
ることができる。この場合、正帰還回路の容量値が回路
全体の容量値に与える影響を小さくすることができ、バ
ラクタダイオードの容量値の変化を直接LC回路201
の共振周波数の変化に寄与させることができる。
【0055】更に、ここでは、2つのバラクタダイオー
ド12、112が、出力端子に対して並列に接続されて
いる。このように並列に接続されたとき容量値は、2つ
のバラクタダイオードの容量値の和と考えることができ
る。従って、回路全体において、バラクタダイオードの
容量値を、直列に接続された場合よりも大きく影響させ
ることができ、容量値の変動範囲を大きく取ることがで
きる。これによって、発振周波数の可変範囲を大きくす
ることができる。
ド12、112が、出力端子に対して並列に接続されて
いる。このように並列に接続されたとき容量値は、2つ
のバラクタダイオードの容量値の和と考えることができ
る。従って、回路全体において、バラクタダイオードの
容量値を、直列に接続された場合よりも大きく影響させ
ることができ、容量値の変動範囲を大きく取ることがで
きる。これによって、発振周波数の可変範囲を大きくす
ることができる。
【0056】なお、ここでは、正帰還回路においてバイ
ポーラトランジスタを用いたが、これに限るものではな
く、MOSトランジスタを用いるものであってもよい。
この場合には、バイポーラトランジスタのエミッタの代
わりにMOSトランジスタのソースを接続し、ベースの
代わりに、ゲートを接続し、コレクタの代わりにドレイ
ンを接続すればよい。
ポーラトランジスタを用いたが、これに限るものではな
く、MOSトランジスタを用いるものであってもよい。
この場合には、バイポーラトランジスタのエミッタの代
わりにMOSトランジスタのソースを接続し、ベースの
代わりに、ゲートを接続し、コレクタの代わりにドレイ
ンを接続すればよい。
【0057】実施の形態2.図4は、この発明の実施の
形態2における発振器300の構成を示す回路図であ
る。また、図5は、この発明の実施の形態2における発
振器300からインダクタ成分及び容量成分を抽出して
描いた等価回路図である。以下、図5に示す等価回路
を、発振器300のLC回路301と称する。
形態2における発振器300の構成を示す回路図であ
る。また、図5は、この発明の実施の形態2における発
振器300からインダクタ成分及び容量成分を抽出して
描いた等価回路図である。以下、図5に示す等価回路
を、発振器300のLC回路301と称する。
【0058】図4に示すように、発振器300において
は、トランジスタ20のエミッタとベースとの間に容量
素子38が、また、トランジスタ120のエミッタとベ
ースとの間に容量素子138がそれぞれ接続されてい
る。これらの容量素子38、138は、図5に示すLC
回路301では、容量素子22、122と並列に接続さ
れた素子として機能する。以下、容量素子22、122
及び38、138を含むユニットを容量体310と称す
る。その他の構成は、実施の形態1で説明した発振器2
00と同じであるから説明を省略する。
は、トランジスタ20のエミッタとベースとの間に容量
素子38が、また、トランジスタ120のエミッタとベ
ースとの間に容量素子138がそれぞれ接続されてい
る。これらの容量素子38、138は、図5に示すLC
回路301では、容量素子22、122と並列に接続さ
れた素子として機能する。以下、容量素子22、122
及び38、138を含むユニットを容量体310と称す
る。その他の構成は、実施の形態1で説明した発振器2
00と同じであるから説明を省略する。
【0059】本実施の形態において、容量素子38、1
38は同じ容量値を有している。この容量値は、抵抗容
量体210、220の容量値C210、C220、及び
トランジスタの容量素子22、24、122、124の
容量値C22、C24A、C 122、C124A、に対
して、十分に大きな値である。
38は同じ容量値を有している。この容量値は、抵抗容
量体210、220の容量値C210、C220、及び
トランジスタの容量素子22、24、122、124の
容量値C22、C24A、C 122、C124A、に対
して、十分に大きな値である。
【0060】容量体310は、上述の如く、容量値の大
きな容量素子38、138を有しているため、交流信号
に対して、容量体310全体として極めて小さなインピ
ーダンスを示す。従って、発振器300において、この
部分は、容量値C22、C1 22が小さな値であって
も、交流的には短絡しているものとみなすことができ
る。
きな容量素子38、138を有しているため、交流信号
に対して、容量体310全体として極めて小さなインピ
ーダンスを示す。従って、発振器300において、この
部分は、容量値C22、C1 22が小さな値であって
も、交流的には短絡しているものとみなすことができ
る。
【0061】図6は、上述した容量体310が短絡して
いるものとして描かれた等価回路図である。実施の形態
1においても、容量素子22及び122の容量値は無視
した。しかし、この容量値を、LC回路201おいて無
視できるのは、抵抗容量体210と抵抗容量体220と
が同一の容量値を有し、かつ、容量素子24と124と
が同一の容量値を有する場合である。即ち、それぞれの
容量値が同一でない場合、ブリッジ回路のバランスが崩
れ、実施の形態1では、容量素子22及び122を無視
できない事態が生じる。
いるものとして描かれた等価回路図である。実施の形態
1においても、容量素子22及び122の容量値は無視
した。しかし、この容量値を、LC回路201おいて無
視できるのは、抵抗容量体210と抵抗容量体220と
が同一の容量値を有し、かつ、容量素子24と124と
が同一の容量値を有する場合である。即ち、それぞれの
容量値が同一でない場合、ブリッジ回路のバランスが崩
れ、実施の形態1では、容量素子22及び122を無視
できない事態が生じる。
【0062】しかし、容量体310を用いれば、LC回
路302に示すように、容量値がそれぞれで一致しない
場合にも、確実に、この部分を短絡したものと見ること
ができ、容量素子22と122を含む容量体310の容
量値を無視することが可能となる。
路302に示すように、容量値がそれぞれで一致しない
場合にも、確実に、この部分を短絡したものと見ること
ができ、容量素子22と122を含む容量体310の容
量値を無視することが可能となる。
【0063】従って、本実施の形態では、発振器300
の製造ばらつき等に影響されることなく、回路全体の容
量値C300を常に次式(6)で表される値として把握
することができる。 C301=0.5×(C24A+C12+C26) =0.5×(C124A+C112+C126) ・・・・(6)
の製造ばらつき等に影響されることなく、回路全体の容
量値C300を常に次式(6)で表される値として把握
することができる。 C301=0.5×(C24A+C12+C26) =0.5×(C124A+C112+C126) ・・・・(6)
【0064】なお、本実施の形態2でも、トランジスタ
20、120は、バイポーラトランジスタであるものと
して説明したが、バイポーラトランジスタの代わりにM
OSトランジスタを用いるものであってもよい。
20、120は、バイポーラトランジスタであるものと
して説明したが、バイポーラトランジスタの代わりにM
OSトランジスタを用いるものであってもよい。
【0065】実施の形態3.図7は、この発明の実施の
形態3における発振器400の構成を示す回路図であ
る。本実施の形態において、定電流源8は、電圧制御型
の電流源で構成されている。即ち、定電流源8には、制
御端子50が接続されている。制御端子50には、制御
電圧が入力される。定電流源8は、その制御電圧に応じ
て出力電流値を変化させることができる。その他の部分
は、実施の形態2の発振器300の構成と同様であるか
ら説明を省略する。
形態3における発振器400の構成を示す回路図であ
る。本実施の形態において、定電流源8は、電圧制御型
の電流源で構成されている。即ち、定電流源8には、制
御端子50が接続されている。制御端子50には、制御
電圧が入力される。定電流源8は、その制御電圧に応じ
て出力電流値を変化させることができる。その他の部分
は、実施の形態2の発振器300の構成と同様であるか
ら説明を省略する。
【0066】本実施の形態において、トランジスタ2
0、120は、実施の形態1または2の場合と同様に、
エミッタ接地により用いられている。この場合、トラン
ジスタ20、120の利得Gは G=ZL(q・Ic)/(k・T) ・・・・(7) と、表すことができる。尚、ここで、各記号は以下のと
おりである。 ZL:エミッタ接地トランジスタの負荷インピーダンス
(Ω) q:電子の単位電荷(1.6×10−19(C)) Ic:コレクタ電流(A) k:ボルツマン定数(1.38×1023(J/K)) T:絶対温度(K)
0、120は、実施の形態1または2の場合と同様に、
エミッタ接地により用いられている。この場合、トラン
ジスタ20、120の利得Gは G=ZL(q・Ic)/(k・T) ・・・・(7) と、表すことができる。尚、ここで、各記号は以下のと
おりである。 ZL:エミッタ接地トランジスタの負荷インピーダンス
(Ω) q:電子の単位電荷(1.6×10−19(C)) Ic:コレクタ電流(A) k:ボルツマン定数(1.38×1023(J/K)) T:絶対温度(K)
【0067】また、この場合、トランジスタ20、12
0は、それ自身が図3に示す反転増幅器150に相当
し、更に、それらの容量素子24、124は、図3に示
す帰還容量152に相当する。従って、容量値
C24A、C124Aは、ミラー効果により、次式
(8)のように表すことができる((3)式、(7)式
参照)。 C24A=C124A=(1+G)×C={1+ZL(q・Ic)/(k・T) }×C24 ・・・・(8) 但し、C24は、容量素子24本来の容量値であり、容
量素子124の本来の容量値C124と等しい値であ
る。
0は、それ自身が図3に示す反転増幅器150に相当
し、更に、それらの容量素子24、124は、図3に示
す帰還容量152に相当する。従って、容量値
C24A、C124Aは、ミラー効果により、次式
(8)のように表すことができる((3)式、(7)式
参照)。 C24A=C124A=(1+G)×C={1+ZL(q・Ic)/(k・T) }×C24 ・・・・(8) 但し、C24は、容量素子24本来の容量値であり、容
量素子124の本来の容量値C124と等しい値であ
る。
【0068】上記(8)式により、容量素子24、12
4の容量値C24A,C124Aは、共に、コレクタ電
流Icに依存していることが判る。従って、図7におい
て、発振器400の電流源8が発生電流を変化させ、そ
の結果、トランジスタ20、120を流れる電流Icが
変化すれば、容量素子24、124の容量値C24A、
C124Aには変化が生ずる。これにより、発振器40
0の回路全体の容量値を変化させることができる。
4の容量値C24A,C124Aは、共に、コレクタ電
流Icに依存していることが判る。従って、図7におい
て、発振器400の電流源8が発生電流を変化させ、そ
の結果、トランジスタ20、120を流れる電流Icが
変化すれば、容量素子24、124の容量値C24A、
C124Aには変化が生ずる。これにより、発振器40
0の回路全体の容量値を変化させることができる。
【0069】実施の形態2において、(6)式で述べた
ように、LC回路301全体の容量値は、 C300=0.5×(C24A+C12+C26) =0.5×(C124A+C112+C126) ・・・・(6) と表すことができる。即ち、発振器400において、容
量値は、バラクタダイオード12、112の容量値C
12、C112だけでなく、容量素子24、124のミ
ラー効果による容量値C24A、C124Aによっても
変化させることができる。従って、バラクタダイオード
12、112の容量値変化のみにより、発振周波数を変
化させている場合に比べて、発振周波数の可変範囲を大
きく取ることができる。
ように、LC回路301全体の容量値は、 C300=0.5×(C24A+C12+C26) =0.5×(C124A+C112+C126) ・・・・(6) と表すことができる。即ち、発振器400において、容
量値は、バラクタダイオード12、112の容量値C
12、C112だけでなく、容量素子24、124のミ
ラー効果による容量値C24A、C124Aによっても
変化させることができる。従って、バラクタダイオード
12、112の容量値変化のみにより、発振周波数を変
化させている場合に比べて、発振周波数の可変範囲を大
きく取ることができる。
【0070】図8は、発振器400において、制御端子
6及び制御端子50からの電圧を変化させた場合の発振
周波数の変化を示すグラフである。ここでは、電源端子
2は、3.0V、電源端子4は、0Vとなっている。
6及び制御端子50からの電圧を変化させた場合の発振
周波数の変化を示すグラフである。ここでは、電源端子
2は、3.0V、電源端子4は、0Vとなっている。
【0071】図8に示すように、発振器400は、制御
電圧6及び制御端子50からかけられる制御電圧V6及
びV50とにより、それぞれ独立に発振周波数の制御が
可能である。また、発振器400の発振周波数は、10
(GHz)程度の高さを持つにも関わらず、発振可能な
周波数は、9.45〜11.05(GHz)と、広い可
変範囲を持つことができる。
電圧6及び制御端子50からかけられる制御電圧V6及
びV50とにより、それぞれ独立に発振周波数の制御が
可能である。また、発振器400の発振周波数は、10
(GHz)程度の高さを持つにも関わらず、発振可能な
周波数は、9.45〜11.05(GHz)と、広い可
変範囲を持つことができる。
【0072】なお、本実施の形態においては、実施の形
態2において説明した発振器300において、電流源8
に制御端子50を設けることとした。しかし、これに限
るものではなく、実施の形態1において説明した発振器
200のような発振器の電流源に制御端子を設けるもの
であってもよい。
態2において説明した発振器300において、電流源8
に制御端子50を設けることとした。しかし、これに限
るものではなく、実施の形態1において説明した発振器
200のような発振器の電流源に制御端子を設けるもの
であってもよい。
【0073】なお、この発明における電圧制御容量素子
には、例えば、実施の形態1から3におけるバラクタダ
イオード12、112が該当する。また、第一の容量素
子には、例えば、容量素子16、116が該当し、第二
の容量素子には、たとえば容量素子18、118が該当
する。また、第一の抵抗素子には、本実施の形態におけ
る抵抗素子32、132が該当し、第二の抵抗素子に
は、例えば、抵抗素子34、134が該当する。更に、
第一の抵抗容量体には、例えば、抵抗容量体210が該
当し、第二の抵抗容量体には、抵抗容量体220が該当
する。また、この発明におけるインダクタ素子には、例
えば、実施の形態1から3におけるインダクタ素子1
4、114が該当する。また、この発明における第一の
トランジスタには、例えば、実施の形態1から3におけ
るトランジスタ20が該当し、第二のトランジスタに
は、例えば、トランジスタ120が該当する。
には、例えば、実施の形態1から3におけるバラクタダ
イオード12、112が該当する。また、第一の容量素
子には、例えば、容量素子16、116が該当し、第二
の容量素子には、たとえば容量素子18、118が該当
する。また、第一の抵抗素子には、本実施の形態におけ
る抵抗素子32、132が該当し、第二の抵抗素子に
は、例えば、抵抗素子34、134が該当する。更に、
第一の抵抗容量体には、例えば、抵抗容量体210が該
当し、第二の抵抗容量体には、抵抗容量体220が該当
する。また、この発明におけるインダクタ素子には、例
えば、実施の形態1から3におけるインダクタ素子1
4、114が該当する。また、この発明における第一の
トランジスタには、例えば、実施の形態1から3におけ
るトランジスタ20が該当し、第二のトランジスタに
は、例えば、トランジスタ120が該当する。
【0074】また、この発明における第一の電源端子に
は、例えば、実施の形態1から3における電源端子2が
該当し、第二の電源端子には、たとえば、電源端子4が
該当する。また、電流源には、例えば、電流源8が該当
する。また、第一の制御端子には、例えば、制御端子6
が該当する。また、この発明における第三の抵抗素子に
は、例えば、実施の形態1から3における抵抗素子3
6、136が該当し、バイアス電源端子には、バイアス
電源端子42、142が該当する。
は、例えば、実施の形態1から3における電源端子2が
該当し、第二の電源端子には、たとえば、電源端子4が
該当する。また、電流源には、例えば、電流源8が該当
する。また、第一の制御端子には、例えば、制御端子6
が該当する。また、この発明における第三の抵抗素子に
は、例えば、実施の形態1から3における抵抗素子3
6、136が該当し、バイアス電源端子には、バイアス
電源端子42、142が該当する。
【0075】また、この発明における第三の容量素子に
は、例えば、実施の形態2及び3における抵抗素子3
8、138が該当する。また、この発明における第二の
制御端子には、実施の形態3における制御端子50が該
当する。
は、例えば、実施の形態2及び3における抵抗素子3
8、138が該当する。また、この発明における第二の
制御端子には、実施の形態3における制御端子50が該
当する。
【0076】
【発明の効果】以上説明したように、この発明において
は、抵抗容量体を設けて、これにより、共振回路と正帰
還回路を一体化することができる。これによって、バラ
クタダイオードの容量値の変化に対する発振器全体の容
量値の感度を大きくすることができ、従って、発振周波
数の可変範囲の大きい発振器を得ることができる。
は、抵抗容量体を設けて、これにより、共振回路と正帰
還回路を一体化することができる。これによって、バラ
クタダイオードの容量値の変化に対する発振器全体の容
量値の感度を大きくすることができ、従って、発振周波
数の可変範囲の大きい発振器を得ることができる。
【0077】また、この発明において、トランジスタの
ベースエミッタ間に、並列に、容量の大きな容量素子を
設けるものについては、ベースエミッタ間の容量値を確
実に無視することができ、従って、バラクタダイオード
の容量値の変化を大きくすることができ、発振周波数の
可変範囲の大きい発振器を得ることができる。
ベースエミッタ間に、並列に、容量の大きな容量素子を
設けるものについては、ベースエミッタ間の容量値を確
実に無視することができ、従って、バラクタダイオード
の容量値の変化を大きくすることができ、発振周波数の
可変範囲の大きい発振器を得ることができる。
【0078】また、この発明において、電流源に制御端
子を設けて、電圧を可変とするものについては、トラン
ジスタのエミッタ接地の容量値を変動させることができ
る。これによって、バラクタダイオードの容量値の変動
に加えて、トランジスタの容量値をも変動させることが
できるため、回路全体の容量値の変動を大きく取ること
ができる。したがって、更に、発振周波数の可変範囲の
大きな発振器を得ることができる。
子を設けて、電圧を可変とするものについては、トラン
ジスタのエミッタ接地の容量値を変動させることができ
る。これによって、バラクタダイオードの容量値の変動
に加えて、トランジスタの容量値をも変動させることが
できるため、回路全体の容量値の変動を大きく取ること
ができる。したがって、更に、発振周波数の可変範囲の
大きな発振器を得ることができる。
【図1】 この発明の実施の形態1における発振器の構
成を示す回路図である。
成を示す回路図である。
【図2】 この発明の実施の形態1における発振器から
インダクタ成分及び容量成分を抽出した等価回路図であ
る。
インダクタ成分及び容量成分を抽出した等価回路図であ
る。
【図3】 ミラー効果について説明するための図であ
る。
る。
【図4】 この発明の実施の形態2における発振器の構
成を示す回路図である。
成を示す回路図である。
【図5】 この発明の実施の形態2における発振器から
インダクタ成分及び容量成分を抽出した等価回路図であ
る。
インダクタ成分及び容量成分を抽出した等価回路図であ
る。
【図6】 この発明の実施の形態2における発振器にお
いて、容量体が短絡しているものとして描かれた回路図
である。
いて、容量体が短絡しているものとして描かれた回路図
である。
【図7】 この発明の実施の形態3における発振器の構
成を示す回路図である。
成を示す回路図である。
【図8】 この発明の実施の形態3における発振器にお
いて、制御端子からの電圧を変化させた場合の発振周波
数の変化を示すグラフである。
いて、制御端子からの電圧を変化させた場合の発振周波
数の変化を示すグラフである。
【図9】 従来の発振器の構成例を示す回路図である。
【図10】 トランジスタの接合容量を説明するための
回路図である。
回路図である。
【図11】 従来の発振器の回路から、インダクタ成分
及び容量成分を抽出した等価回路図である。
及び容量成分を抽出した等価回路図である。
200、300、400、500 発振器
201、301、501 LC回路
210、220 抵抗容量体
310 容量体
2、4 電源端子
6 制御端子
8 定電流源
10 抵抗素子
12、112 バラクタダイオード
14、114 インダクタ素子
16、18、116、118 容量素子
20、120 トランジスタ
22、24、26、122、124、126 容量素子
28、128 半導体基板
30、32、34、36、130、132、134,1
36 抵抗素子 38、138 容量素子 40、140 出力端子 42、142 バイアス電源端子 50 制御端子 150 反転増幅器 152 容量素子
36 抵抗素子 38、138 容量素子 40、140 出力端子 42、142 バイアス電源端子 50 制御端子 150 反転増幅器 152 容量素子
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フロントページの続き
Fターム(参考) 5J081 AA03 CC22 DD03 DD11 EE02
EE03 FF09 GG01 KK02 KK09
KK22 LL05 MM01
Claims (5)
- 【請求項1】 制御電圧に応じた容量値を示す電圧制御
容量素子と、 前記電圧制御容量素子の両端にそれぞれ直列に接続され
た第一及び第二の容量素子と、 前記電圧制御容量素子と前記第一及び第二の容量素子と
の接続部分にそれぞれ接続された第一及び第二の抵抗素
子と、 を備えた第一及び第二の抵抗容量体と、 前記第一及び第二の抵抗容量体を挟んで接続された出力
端子と、 前記抵抗容量体に並列に、かつ前記出力端子の間に接続
された2つのインダクタ素子と、 前記第一の抵抗容量体の前記第一の容量素子の、前記電
圧制御容量素子と反対側にコレクタが接続され、かつ、 前記第二の抵抗容量体の前記第二の容量素子の、前記電
圧制御容量素子と反対側にベースが接続された第一のト
ランジスタと、 前記第二の抵抗容量体の前記第一の容量素子の、前記電
圧制御容量素子と反対側にコレクタが接続され、かつ前
記第一の抵抗容量体の前記第二の容量素子の、前記電圧
制御容量素子と反対側にベースが接続され、かつ、 エミッタが、前記第一のトランジスタのエミッタと接続
された第二のトランジスタと、 前記インダクタ素子の接続部分に接続された第一の電源
端子と、 前記第一及び第二のトランジスタの前記エミッタの接続
部分に接続された電流源と、 前記電流源及び前記第一の抵抗素子とに接続された第二
の電源端子と、 前記第二の抵抗素子に接続された第一の制御端子と、 前記第一及び第二のトランジスタのベースにそれぞれ接
続された第三の抵抗素子と、 前記第三の抵抗素子にそれぞれ接続されたバイアス電源
端子と、 を備えたことを特徴とする発振器。 - 【請求項2】 制御電圧に応じた容量値を示す電圧制御
容量素子と、 前記電圧制御容量素子の両端にそれぞれ直列に接続され
た第一及び第二の容量素子と、 前記電圧制御容量素子と前記第一及び第二の容量素子と
の接続部分にそれぞれ接続された第一及び第二の抵抗素
子と、 をそれぞれ備えた第一及び第二の抵抗容量体と、 前記第一及び第二の抵抗容量体を挟んで接続された出力
端子と、 前記抵抗容量体に並列に、かつ前記出力端子の間に接続
された2つのインダクタ素子と、 前記第一の抵抗容量体の前記第一の容量素子の、前記電
圧制御容量素子と反対側にドレインが接続され、かつ、 前記第二の抵抗容量体の前記第二の容量素子の、前記電
圧制御容量素子と反対側にゲートが接続された第一のト
ランジスタと、 前記第二の抵抗容量体の前記第一の容量素子の、前記電
圧制御容量素子と反対側にドレインが接続され、かつ前
記第一の抵抗容量体の前記第二の容量素子の、前記電圧
制御容量素子と反対側にゲートが接続され、かつ、 ソースが、前記第一のトランジスタのソースと接続され
た第二のトランジスタと、 前記インダクタ素子の接続部分に接続された第一の電源
端子と、 前記第一及び第二のトランジスタの前記ソースの接続部
分に接続された電流源と、 前記電流源と第一の抵抗素子とに接続された第二の電源
端子と、 前記第二の抵抗素子に接続された第一の制御端子と、 前記第一及び第二のトランジスタのゲートにそれぞれ接
続された第三の抵抗素子と、 前記第三の抵抗素子にそれぞれ接続されたバイアス電源
端子と、 を備えたことを特徴とする発振器。 - 【請求項3】前記第一、第二のトランジスタの前記ベー
スと前記エミッタとの間に、それぞれ、第三の容量素子
を備えたことを特徴とする請求項1に記載の発振器。 - 【請求項4】前記第一、第二のトランジスタの前記ゲー
トと前記ソースとの間に、それぞれ、第三の容量素子を
備えたことを特徴とする請求項2に記載の発振器。 - 【請求項5】前記電流源に、制御電圧を供給するための
制御端子を備えたことを特徴とする請求項1から4のい
ずれかに記載の発振器。
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