JP2003076947A - Rf−idの検査システム - Google Patents
Rf−idの検査システムInfo
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Abstract
するRF−IDの検査システムに関し、確実に対象検査
片を特定することで誤検査を防止して不良品流出の防止
を図ることを目的とする。 【解決手段】シート12上に形成された一のRF−ID
21を対象する検査片21Xと、通信を行うためのシス
テム側アンテナ14との間にシールド部材13を介在さ
せ、当該シールド部材13に形成された開口部22から
当該システム側アンテナ14を対象の検査片21Xに対
向させてシステム側アンテナ14より検査片21Xに情
報を送信し、その応答に応じて当該検査片21Xの良否
を判定する構成とする。
Description
IDの良否を検査するRF−IDの検査システムに関す
る。
quency Identification)と称さ
れる非接触型識別媒体(非接触型ICカード等)に関す
る技術が急速に進歩してきており、その使用も多岐にわ
たっている。このようなRF−IDは、リーダ・ライタ
との間で性能に応じた通信距離が定められており、通信
測定の向上、および歩留りの向上が望まれている。
アンテナコイルが形成され、これにICモジュールが搭
載されたものとして、これらが製造段階で所定大のフィ
ルムベース上に所定数形成されるのが一般的となってい
る。そして、単体とされる前に検査対象の単一のICモ
ジュールおよびアンテナコイル毎に対して通信距離の測
定を行い、製品の良否を検査することが行われている。
通信距離の測定は、リーダ・ライタとの間でその性能に
応じて定められた通信距離が確保されているか否かで良
否判定がなされる。
ような通信距離の検査を行う場合、RF−IDが単体と
される前の段階で行われることから、RF−IDリーダ
・ライタからの通信に対する応答が、本来の検査対象の
検査片からのものと、隣接されたRF−IDからのもの
とが混在して受信されることとなり、受信データの信頼
性がなくなるだけでなく、検査対象の検査片が不良品の
場合、隣接されたRF−IDからのデータが受信され
て、検査片が本来不良品であるにも拘わらず、良品と判
定されることとなり、不良品が流出してしまうという問
題がある。
もので、確実に対象検査片を特定することで誤検査を防
止して不良品流出の防止を図るRF−IDの検査システ
ムを提供することを目的とする。
に、請求項1の発明では、検査対象であるICモジュー
ル、アンテナを備えるRF−IDが同一面上に複数形成
され、一のRF−IDを対象とする検査片に対して通信
を行い、良否を検査するRF−IDの検査システムであ
って、通信を行うためのシステム側アンテナと、前記シ
ステム側アンテナと前記検査片との間に介在され、当該
システム側アンテナを対象の当該検査片に対向させる開
口部が形成されるシールド部材と、前記システム側アン
テナを対象の前記検査片に対して通信させるために、当
該システム側アンテナおよび前記シールド部材を移動さ
せる駆動部と、前記検査片に前記システム側アンテナを
介して所定の情報を送信し、当該検査片からの応答に応
じて当該検査片の良否判定を行う処理部と、を有する構
成とする。
ルド部材の周縁部分を、前記検査片からの距離を前記開
口部が形成される面より大とさせる」構成であり、「前
記シールド部材を電気的に接地させる」構成である。
査片と、通信を行うためのシステム側アンテナとの間に
シールド部材を介在させ、当該シールド部材に形成され
た開口部から当該システム側アンテナを対象の検査片に
対向させてシステム側アンテナより検査片に情報を送信
し、その応答に応じて当該検査片の良否を判定する。す
なわち、シールド部材によりシステム側アンテナからの
送信情報を対象の検査片以外のRF−IDに受信させな
いことから、対象の検査片のみの応答に対して良否判定
を行わせることが可能となり、確実に対象検査片を特定
することが可能となって、誤検査が防止されて不良品流
出の防止を図ることが可能となるものである。
を図により説明する。ここで、本発明に係るRF−ID
は、非接触型ICカードはもちろん、非接触型のラベ
ル、タグ等の非接触で識別情報等のデータ送受が行える
媒体である。
ステムにおける基本構成の分解構成図を示す。図1にお
いて、RF−IDの検査システム11は、大別して、シ
ート12と、シールド部材13と、システム側アンテナ
14を搭載する駆動部15とを備えるものであるが、検
査処理を行う処理部は省略してある。上記シート12
は、ICモジュール21Aおよびアンテナ21Bを備え
るRF−ID21が例えばフィルムベース上の同一面上
で規則的に複数形成されたもので、各RF−ID21が
検査対象の検査片21Xとなる。
が、例えばポリエチレンテレフタレート(PET)上に
銅箔をエポキシ系接着剤で接着し、エッチングによりコ
イル状に巻回された各アンテナ21Bを形成し、各アン
テナ21Bに対してそれぞれICモジュール21Aをリ
フローはんだ付けにより接続するもので、その後シート
状態またはロール状態とされて駆動装置15の上方で図
示しない搬送手段により長手方向に搬送される。そし
て、これらRF−ID21は、検査後にそれぞれ単体と
されて例えばカードに搭載されて非接触型のICカード
等とされるものである。
脂等の導電性物質により板状、または網状に形成される
もので、システム側アンテナ14と検査片21Xとの間
に介在される。また、シールド部材13は、当該システ
ム側アンテナ14を対象の当該検査片21Xに対向させ
る開口部22が形成されたもので、その周縁部分を、検
査片21Xからの距離を前記開口部22が形成される面
より大とさせている。
いが、当該シート12に対してシステム側アンテナ14
が搭載される駆動部15で一体的に上下方向、および当
該シート12の幅方向(水平方向)に駆動される。そし
て、上記駆動部15は、シート12の下方であって、上
記シールド部材13の下方に配置されるもので、システ
ム側アンテナ14を搭載して当該シート12の幅方向に
移動させるY駆動と、上下方向に移動させるZ駆動とを
行う。
示す。図2(A)は、RF−ID21が所定数形成され
たシート12と、シールド部材13と、駆動部15に搭
載されたシステム側アンテナ14との位置関係が示さ
れ、シールド部材13はシート12のRF−ID21が
形成された裏面に、その開口部22を検査対象の検査片
21Xに対応するように当接される。
22の下方であって、検査片21Xより所定距離に位置
されるものである。なお、シールド部材13は、シート
12の裏面に当接させる場合を示しているが、システム
側アンテナ14と当該シールド部材13とを一体的に移
動(上下動および水平移動)させる場合として、当該シ
ステム側アンテナ14と検査片21Xとの距離が変化す
ることによってシート12との間に間隙を生じさせても
よい。
2(B)により説明すると、シート12の基材(例えば
厚さ50μm)上に、例えばT1(=2mm)間隔でア
ンテナ21B(ICモジュール21A)が例えば長手方
向R(=60mm)、幅方向20mmで形成されてお
り、例えば厚さ5mmのアルミ製のシールド部材13の
開口部22は検査片21Xより一回り大きい長さS(=
64mm)であって奥行き24mmで形成される。ここ
での開口部22の大きさは、該当の検査片21Xの周辺
のRF−ID21に跨らない大きさとされ、上記間隔T
1を2mmとしていることで、検査片21Xの大きさよ
り各4mm大きい値とされる。また、システム側アンテ
ナ14は、例えば一辺の長さA(=60mm)、幅20
mm程度のサイズで検査片21Xの下方の距離L(例え
ば15mm)に位置されるものである。
波数を有しており、システム側アンテナ14からの電波
に反応して共振することにより受信を行う。したがっ
て、シールド部材13が、検査対象の検査片21Xの周
囲のRF−ID21に対してシールド機能を発揮するこ
とで、これらのRF−IDは電気特性(インダクタンス
L、キャパシタンスC)が変化して共振周波数が変化す
ることから、システム側アンテナ14からの電波に反応
しなくなり、通信不可能となる。よって、システム側ア
ンテナ14からの電波に対して検査片21Xのみが反応
することとなることから、確実に対象検査片を特定する
ことができることになるものである。
ることから、誤検査が防止されて不良品流出の防止が図
られるものである。また、RF−ID21を単体とする
以前の生産ライン上におけるシート12の段階で全RF
−ID21を検査することができ、不良発生の早期発
見、修正が可能となり、全数検査による高精度の品質管
理を行うことができるものである。
するとシールド効果を向上させることができる。すなわ
ち、積層構造とすることで、各層間に境界面ができ、各
境界面で前の層を透過した電波を次の層で反射、吸収さ
せることを繰り返すこととなり、シールと効果を向上さ
せることができるものである。さらに、これら積層構造
の所定層間に電波吸収部材を介在させることでも電波吸
収性を向上させることができるものである。
れた電波は、シールド中を伝播して当該シールド部材1
3の端部より放出されることから、その端部近傍のRF
−ID21が反応する場合があり、正規の検査片21X
以外のRF−IDとも通信する場合がある。そのため、
図示の如くシールド部材13の周縁部分を、検査片21
Xからの距離を開口部22が形成される面より大とさせ
る形状として、他のRF−ID21に電波が届かないよ
うにしている。一方で、他のRF−ID21に電波を届
かないようにする場合として、シールド部材13を電気
的に接地させる方法がある。
材を電気的接地した場合の説明図を示す。図3(A)
は、シールド部材13Aを平面形状として電気的に接地
を行った場合を示している。すなわち、電気的接地によ
って、シールド部材13で吸収された電波がシールド中
を伝播しても端部より放出されることがなく、端部近傍
のRF−ID21を反応させないものである。また、図
3(B)は、シールド部材13を図1および図2に示す
ような周縁部分の形状とし、さらにこれを電気的に接地
させたものである。すなわち、システム側アンテナ14
の出力の大きさや、当該シールド部材13の周縁部分の
弧の大きさによっては検査片21X以外のRF−ID2
1が反応することを回避させるためのものである。
や、電波強度に応じて電気的に接地させることで、より
確実に対象検査片を特定でき、誤検査が防止されて不良
品流出の防止が図られるものである。
3およびシステム側アンテナ14をシート12の下方に
配置する場合を示したが、シート12の上方、すなわち
RF−ID21が形成されている面側に配置することと
してもよい。
ブロック構成図を示すと共に、図5に図4の検査処理部
の一例のブロック構成図を示す。図4において、本発明
に係る第1形態のRF−IDの検査システム11Aは、
シート12の各RF−ID21における検査対象の検査
片21Xに対し、駆動構造手段31および検査処理手段
32を含んで構成される。
42および復調部43で構成されるICモジュール21
Aと、アンテナ21Bにより構成される。アンテナ21
Bは、上述のように平面上でコイル状に巻回されたもの
で、検査システム11Aからの信号を受信し、または当
該検査片21Xより検査システム11A(システム側ア
ンテナ14)にデータを送信する役割をなす。
リ42は当該カードとしての種々の情報を記憶するため
のものである。上記復調部43は、アンテナ21Bで受
信した電波から制御信号、データを復調し、適宜コード
変換する。そして、処理部41は、プログラムにより、
受信した制御信号、データをメモリ42に記憶させ、ま
たメモリに記憶したデータを送信する処理を行う。
およびアンテナ駆動部52で構成され、上記検査片21
Xとの通信を行うシステム側アンテナ14を搭載する。
上記搬送駆動部51は、検査片21Xが製造段階でフィ
ルムベース上に所定数形成されたシート12状態で当該
検査を行う際に、該当の検査片21Xを検査位置に搬送
移動させるためのものである。上記アンテナ駆動部52
は、上述のようにシステム側アンテナ14を検査片21
Xの方向に上下動させるZ移動させ、当該シート12の
幅方向の検査片21X間でY移動させる。なお、このア
ンテナ駆動部52は、上記シールド部材13(13A)
およびシステム側アンテナ14を移動させるものであ
る。
良否判定を行う処理部を構成するものとして、制御部6
1、検査処理部62、データメモリ63を備え、電力増
幅部64、変調部65、発信部66、検波部67、デー
タ変換部68、搬送駆動制御部69、アンテナ駆動制御
部70、インターフェース(IF)部71および表示手
段72を備える。
の全体を統括制御するもので、これに応じたプログラム
がセットされている。上記検査処理部62は、詳細は図
5で説明するが、プログラムによる検査ルーチンで基準
片21Xに対する検査処理、判定を行うものある。上記
データメモリ63は、種々のデータを記憶すると共に、
適宜検査判定のための一時記憶領域(バッファであっ
て、検査処理部62に備えさせてもよい)としての役割
をもなす。上記種々のデータには、例えば、検査片21
X毎のメモリ42に記憶させるための情報(例えば識別
情報)や、検査のための種々の設定値等がある。
対して情報を送信する場合の情報を例えば「1」、
「0」に変換し、また当該検査片21Xからの送信デー
タを例えば「1」、「0」に変換する。上記変調部65
は、発信部66からの発信出力に基づいて上記データ変
換部68で変換された情報を例えばFSK(周波数偏位
変調)変調波に変調する。上記電力増幅部64は、変調
部65で変調された変調波を電力増幅するもので、この
増幅された変調波がシステム側アンテナ14より送信さ
れるものである。そして、検波部67は、システム側ア
ンテナ14で受信した検査片21Xからの送信電波を検
波して復調する。
21Xを順次検査するために搬送する上述の搬送駆動部
51を駆動させるための制御信号を制御部61からの指
令に基づき生成してIF部71を介して当該搬送駆動部
51に送出する。また、上記アンテナ駆動制御部70
は、検査片21Xに対してシールド部材13(13A)
およびシステム側アンテナ14を上下方向に移動させ、
対象のアンテナ21Bとの距離(通信距離)を制御する
信号を制御部61の指令に基づいて生成し、IF部71
を介してアンテナ駆動部52に送出するものである。
は、プログラム処理の機能として、処理手段81、受信
データ取得手段82、送信データ取得手段83、判定手
段84を備える。上記処理手段81は、当該検査処理部
62全体の処理を統括する。上記受信データ取得手段8
2は、検査片21Xから送信されてくるデータが受信さ
れたときに取得するもので、適宜データメモリ63に記
憶させる(当該受信データ取得手段82がバッファを備
える場合にはバッファに一時格納してもよい)。
1Xに通信によりメモリ42に書き込ませる識別情報等
をデータメモリ63より読み出して取得する。そして、
判定手段84は、上記取得されて送信された送信データ
と、検査片21Xより送信されてきた受信データとを比
較し、一致していれば良品と判定し、不一致のときには
不良品と判定するもので、送信データが検査片21Xの
メモリ42に実際に書き込まれたか否かをデータ比較に
よる通信状態の良否としてとらえたものである。
テムにおける検査処理のフローチャートを示す。図6に
おいて、まず、シート12における検査対象の幅方向の
所定行を検査位置に搬送する搬送量を、制御部61の指
令により搬送駆動制御部69がIF部71を介して搬送
駆動部51に出力する(ステップ(S)1)。また、ア
ンテナ駆動制御部70では、制御部61の指令により検
査位置の行のうち対象の検査片21Xに対してシールド
部材13(13A)およびシステム側アンテナ14を下
方に位置させる駆動量(Y)をアンテナ駆動部52のY
方向駆動量とし、また当該システム側アンテナ14を検
査片21X(アンテナ21B)に対してあらかじめ定め
られてデータメモリ63に記憶された距離(L)とする
駆動量(Z)をZ方向駆動量として出力する(S2)。
報)をデータメモリ63より取得して検査片21Xに送
信し(S3)、当該検査片21Xからの返信データを受
信して、上記のように判定手段84が送信データと受信
データとのマッチングを行う(S4)。マッチングの結
果において(S5)、一致したときには良品と判定し
(S6)、不一致のときには不良品と判定し(S7)、
これらの判定結果をデータメモリ63に記憶させる(S
8)。
の測定がある場合には、当該同じ行において総ての検査
片21Xに対してS2〜S8を繰り返して判定結果をデ
ータメモリ63に記憶させる(S9)。そして、次の行
の検査片21Xがある場合には、S1〜S9を繰り返し
て総ての行の総ての検査片21Xに対して良否を判定し
てデータメモリ63に記憶させる(S10)。そして、
シート12における総ての検査片21Xの良否がデータ
メモリ63に記憶されたときに、検査結果を適宜表示部
72に表示させるものである(S11)。なお、検査結
果の表示を、検査片21X毎、または所定数の検査片2
1Xの検査結果毎に行ってもよい。
ID(検査片21X)に対してデータの送受で検査を行
うに際して、シールド部材13(13A)によりシステ
ム側アンテナ14からの送信情報を対象の検査片21X
以外のRF−IDに受信させないことから、対象の検査
片21Xのみの応答に対して良否判定を行わせることが
できることで、確実に対象検査片21Xを特定すること
ができ、誤検査が防止されて不良品流出の防止を図るこ
とができるものである。また、上述のように、RF−I
D(検査片21)を単体とする以前の生産ライン上にお
けるシート12の段階で全RF−ID(検査片21)を
検査することができ、不良発生の早期発見、修正が可能
となり、全数検査による高精度の品質管理を行うことが
できるものである。
ムのブロック構成図を示すと共に、図8に図7の検査処
理部の一例のブロック構成図を示す。図7に示す第2形
態としてのRF−IDの検査システム11Bは、図4に
示す検査システム11Aにおける駆動構造手段31のア
ンテナ14の近傍に電波強度としての電界強度を計測す
るプローブ91を設けたもので、他の構成は図4と同様
であり、説明を省略する。なお、検査処理部62の構成
は図8で説明する。
送信データ出力時の電界強度を検出するもので、検出値
はデータ変換部68により「1」、「0」のデータに変
換され、データメモリ63に記憶される。なお、プロー
ブ91は、システム側アンテナ14と同様に、検査片2
1Xに対してあらかじめ定められてデータメモリ63に
記憶された距離で駆動移動されるもので、電界強度の測
定値が、あらかじめ定められてデータメモリ63に記憶
された設定電界強度を基準に照合されて通信可能距離で
あるか否かとして当該検査片21Xの良否の判定に供さ
れるものである。
に示す検査処理部42において電界強度データ取得手段
92を備える。この電界強度データ取得手段92はデー
タメモリ63より基準とする設定された電界強度データ
を取得するものである。また、判定手段84は、プロー
ブ91を介して測定された電界強度に基づき、図9で説
明するデータメモリ63に記憶されている基準の電界強
度、または図10で説明する段階的な電界強度に対応す
る通信距離との比較で検査片21Xの良否を判定する。
ステムにおける検査処理のフローチャートを示す。図9
において、まず、シート12における検査対象の幅方向
の所定行を検査位置に搬送する搬送量を、制御部68の
指令により搬送駆動制御部69がIF部71を介して搬
送駆動部51に出力する(S21)。また、アンテナ駆
動制御部70では、制御部61の指令により検査位置の
行のうち対象の検査片21Xに対してシールド部材13
(13A)およびシステム側アンテナ14を下方に位置
させる駆動量(Y)をアンテナ駆動部52のY方向駆動
量とし、また当該システム側アンテナ14を検査片21
X(アンテナ21B)に対してあらかじめ定められてデ
ータメモリ63に記憶された距離(L)とする駆動量
(Z)をZ方向駆動量として出力する(S22)。
報)をデータメモリ63より取得して検査片21Xに送
信し(S23)し、当該検査片21Xからの返信データ
を受信するときにプローブ91を介して電界強度を測定
する(S24)。そして、電界強度データ取得手段92
がデータメモリ63より基準の電界強度設定値を取得す
ると共に、判定手段84が基準の電界強度データの設定
値と測定した電界強度を照合し、測定値が当該設定値以
上か否かを判定する(S25)。判定の結果において、
電界強度の測定値が設定値以上のときには良品と判定し
(S26)、設定値未満のときには不良品と判定し(S
27)、これらの判定結果をデータメモリ63に記憶さ
せる(S28)。
の測定がある場合には、当該同じ行において総ての検査
片21Xに対してS2〜S8を繰り返して判定結果をデ
ータメモリ63に記憶させる(S9)。そして、次の行
の検査片21Xがある場合には、S1〜S9を繰り返し
て総ての行の総ての検査片21Xに対して良否を判定し
てデータメモリ63に記憶させる(S10)。そして、
シート12における総ての検査片21Xの良否がデータ
メモリ63に記憶されたときに、検査結果を適宜表示部
72に表示させるものである(S11)。なお、検査結
果の表示を、検査片21X毎、または所定数の検査片2
1Xの検査結果毎に行ってもよい。
Bの構成とすることによっても、シールド部材13(1
3A)により、上記同様に確実に対象検査片21Xを特
定することができ、誤検査が防止されて不良品流出の防
止を図ることができ、不良発生の早期発見、修正が可能
となり、全数検査による高精度の品質管理を行うことが
できるものである。
システムにおける他の検査処理のフローチャートを示
す。ここでは、検査片21Xからの電界強度を距離に応
じて段階的に測定して設定電界強度のときの距離により
良否の判定を行うもので、段階的な距離および設定電界
強度のデータがあらかじめデータメモリ63に記憶させ
ておくものである。
る検査対象の幅方向の所定行を検査位置に搬送する搬送
量を、制御部68の指令により搬送駆動制御部69がI
F部71を介して搬送駆動部51に出力する(S4
1)。また、アンテナ駆動制御部70では、制御部61
の指令により検査位置の行のうち対象の検査片21Xに
対してシールド部材13(13A)およびシステム側ア
ンテナ14を下方に位置させる駆動量(Y)をアンテナ
駆動部52のY方向駆動量とし、また当該システム側ア
ンテナ14を検査片21X(アンテナ21B)に対して
あらかじめ定められてデータメモリ63に記憶された距
離のうち、最初の距離(L(1))とする駆動量(Z
(1))をZ方向駆動量として出力する(S42)。
報)をデータメモリ63より取得して検査片21Xに送
信し(S43)し、当該検査片21Xからの返信データ
を受信するときにプローブ91を介して電界強度を測定
する(S44)。そして、電界強度データ取得手段92
がデータメモリ63より基準の電界強度設定値を取得す
ると共に、判定手段84が基準の電界強度データの設定
値と測定した電界強度を照合し、測定値が当該設定値以
上か否かを判定する(S45)。判定の結果において、
電界強度の測定値が設定された電界強度より小であれば
当該システム側アンテナ14(プローブ91)の検査片
21X(アンテナ21B)との次の距離(L(x))を
データメモリ63より読み出し、これに応じた駆動量
(Z(x))をZ方向駆動機構85に出力する(S4
6)。
データ(識別情報)をデータメモリ63より取得して検
査片21Xに送信し(S47)、当該検査片21Xから
の返信データを受信する際に、プローブ91により電界
強度を測定する(S48)。そして、判定手段84がデ
ータメモリ63に記憶されている電界強度と、上記測定
した電界強度を比較し(S49)、設定値の基準となる
電界強度より小であれば、総ての設定距離でS46〜S
49を繰り返し、総ての設定距離で測定した電界強度が
基準より小であれば後述の如く当該検査片21Xは不良
品と判定される(S50)。
した電界強度が基準より大であれば、そのときの通信距
離(L(x))がデータメモリ63に設定されて基準の
距離より大か否かが判断される(S51)。そして、通
信距離(L(x))が基準より大であれば当該検査片2
1Xは良品であると判定され(S52)、小であれば不
良品と判定されて(S53)、これらの判定結果をデー
タメモリ63に記憶させる(S54)。
の測定がある場合には、当該同じ行において総ての検査
片21Xに対してS42〜S53を繰り返して判定結果
をデータメモリ63に記憶させる(S54)。そして、
次の行の検査片21Xがある場合には、S41〜S55
を繰り返して総ての行の総ての検査片21Xに対して良
否を判定してデータメモリ63に記憶させる(S5
6)。そして、シート12における総ての検査片21X
の良否がデータメモリ63に記憶されたときに、検査結
果を適宜表示部72に表示させるものである(S5
7)。なお、上記同様に、検査結果の表示を、検査片2
1X毎、または所定数の検査片21Xの検査結果毎に行
ってもよい。
Bの構成で、電界強度を距離に応じて段階的に測定する
ことによっても、シールド部材13(13A)により、
上記同様に確実に対象検査片21Xを特定することがで
き、誤検査が防止されて不良品流出の防止を図ることが
でき、不良発生の早期発見、修正が可能となり、全数検
査による高精度の品質管理を行うことができるものであ
る。
F−IDを対象する検査片と、通信を行うためのシステ
ム側アンテナとの間にシールド部材を介在させ、当該シ
ールド部材に形成された開口部から当該システム側アン
テナを対象の検査片に対向させてシステム側アンテナよ
り検査片に情報を送信し、その応答に応じて当該検査片
の良否を判定することにより、確実に対象検査片を特定
することができ、誤検査が防止されて不良品流出の防止
を図ることができるものである。
る基本構成の分解構成図である。
合の説明図である。
ある。
る。
理のフローチャートである。
図である。
る。
理のフローチャートである。
検査処理のフローチャートである。
Claims (3)
- 【請求項1】検査対象であるICモジュール、アンテナ
を備えるRF−IDが同一面上に複数形成され、一のR
F−IDを対象とする検査片に対して通信を行い、良否
を検査するRF−IDの検査システムであって、 通信を行うためのシステム側アンテナと、 前記システム側アンテナと前記検査片との間に介在さ
れ、当該システム側アンテナを対象の当該検査片に対向
させる開口部が形成されるシールド部材と、 前記システム側アンテナを対象の前記検査片に対して通
信させるために、当該システム側アンテナおよび前記シ
ールド部材を移動させる駆動部と、 前記検査片に前記システム側アンテナを介して所定の情
報を送信し、当該検査片からの応答に応じて当該検査片
の良否判定を行う処理部と、 を有することを特徴とするRF−IDの検査システム。 - 【請求項2】請求項1記載のRF−IDの検査システム
であって、前記シールド部材の周縁部分を、前記検査片
からの距離を前記開口部が形成される面より大とさせる
ことを特徴するRF−IDの検査システム。 - 【請求項3】請求項1または2記載のRF−IDの検査
システムであって、前記シールド部材を電気的に接地さ
せることを特徴とするRF−IDの検査システム。
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